JPH033173B2 - - Google Patents
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- JPH033173B2 JPH033173B2 JP16976180A JP16976180A JPH033173B2 JP H033173 B2 JPH033173 B2 JP H033173B2 JP 16976180 A JP16976180 A JP 16976180A JP 16976180 A JP16976180 A JP 16976180A JP H033173 B2 JPH033173 B2 JP H033173B2
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- Japan
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- laser
- photodetector
- circuit
- light
- detection signal
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
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- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は伝送用光フアイバーのトラブルを検
出して動作する検出安全装置に関するものであ
る。
出して動作する検出安全装置に関するものであ
る。
一般に医療用レーザーメスに用いられる伝送用
光フアイバーには高出力レーザー光が導入される
ので、伝送用光フアイバーの入射端面や出射端面
に付着するゴミや患部からの汚物等によるトラブ
ル発生によつて、レーザー光照射時にエネルギー
が集中し入射端面の熱的破壊を生じる等の欠点が
生じ、これらの破損を防ぐ為に従来種々の装置が
考えられている。
光フアイバーには高出力レーザー光が導入される
ので、伝送用光フアイバーの入射端面や出射端面
に付着するゴミや患部からの汚物等によるトラブ
ル発生によつて、レーザー光照射時にエネルギー
が集中し入射端面の熱的破壊を生じる等の欠点が
生じ、これらの破損を防ぐ為に従来種々の装置が
考えられている。
例えば、本出願人の出願に関る特願昭54−
116429号（名称：レーザーパワー伝送用光フアイ
バーの破損検出装置）に開示されている如く、伝
送用光フアイバーの出射端面からの反射光量を検
知して、その正常な反射光量と出射端面の異常の
場合の反射光量との間に設定レベルを設けて、そ
の設定レベルより大きい反射光量に対しては正常
にフアイバーとし、以下であれば異常フアイバー
の判定を行なつて、シヤツターの作動のON、
OFFを行ない安全性を高めていた。
116429号（名称：レーザーパワー伝送用光フアイ
バーの破損検出装置）に開示されている如く、伝
送用光フアイバーの出射端面からの反射光量を検
知して、その正常な反射光量と出射端面の異常の
場合の反射光量との間に設定レベルを設けて、そ
の設定レベルより大きい反射光量に対しては正常
にフアイバーとし、以下であれば異常フアイバー
の判定を行なつて、シヤツターの作動のON、
OFFを行ない安全性を高めていた。
しかしながらこの方法だと、出射端面からの反
射光量は、出射端面のレーザー出力に応じて増加
する傾向にあるため、設定レベルに近い低出力で
は、検出精度がシビアになるし、又、正常フアイ
バーの低出力部と異常フアイバーの高出力部とを
考慮して設定するレベル調整は、前者の場合と後
者との特性が交差しない条件が必要なため、各出
力における検出巾が限られてくる。そこで参照光
波を用いて、参照光量と反射光量との差で正常フ
アイバーと異常フアイバーとの判定を行う方法を
採れば上記問題点は解決されるが、しかしながら
検知手段において、フアイバー端面からの反射光
の信号光と参照光の信号光とをずらさないと誤検
知してしまう。即ち、フアイバー端面からの反射
光の検出期間内に参照光の検出期間を収めなけれ
ばならない。
射光量は、出射端面のレーザー出力に応じて増加
する傾向にあるため、設定レベルに近い低出力で
は、検出精度がシビアになるし、又、正常フアイ
バーの低出力部と異常フアイバーの高出力部とを
考慮して設定するレベル調整は、前者の場合と後
者との特性が交差しない条件が必要なため、各出
力における検出巾が限られてくる。そこで参照光
波を用いて、参照光量と反射光量との差で正常フ
アイバーと異常フアイバーとの判定を行う方法を
採れば上記問題点は解決されるが、しかしながら
検知手段において、フアイバー端面からの反射光
の信号光と参照光の信号光とをずらさないと誤検
知してしまう。即ち、フアイバー端面からの反射
光の検出期間内に参照光の検出期間を収めなけれ
ばならない。
本発明は以上のような問題点を鑑みてなされた
ものであり、伝送用フアイバーが破損した場合、
誤動作なく検出して動作する検出安全装置を提供
するものである。
ものであり、伝送用フアイバーが破損した場合、
誤動作なく検出して動作する検出安全装置を提供
するものである。
以下本発明の実施例を図面に基づいて説明す
る。第１図は本発明のトラブル検出安全装置を医
療用レーザーメスに採用した場合の全体を示す略
式図である。
る。第１図は本発明のトラブル検出安全装置を医
療用レーザーメスに採用した場合の全体を示す略
式図である。
Nd：YAGレーザー、CO2レーザー等の照射用
光源１の光軸上にはレーザー伝送用フアイバー２
の出射端面３からの反射レーザー光のトラブルを
検知して作動するシヤツター４が設けられてい
る。シヤツター４は図示されていないフツトスイ
ツチや、手動スイツチ操作でレーザー照射必要時
に開閉可能にし、フアイバー２のトラブルが生じ
た時、機能を停止することも出来る。又、シヤツ
ター４は全開位置と全閉位置との間で移動可能で
あり、全閉位置から特定の中間位置のまでの間は
レーザー照射を遮断し、この中間位置から全開位
置までの間はレーザー光を通過させる。そして、
この中間位置より全開位置側の任意の所定位置で
接点スイツチ５が作動するようになつている。又
レーザー照射停止のシヤツター作動時では接点ス
イツチ５が解除終了後、レーザー照射が遮断され
る。この実施例では、シヤツター４と連動するト
ラブル検出装置を医療用の内視鏡６とシヤツター
４との間に設けてあり、この検出装置は前記光軸
上に設けたミラー７と該ミラー７の反射光軸上に
第１光検出器８、第１増巾回路９を配置し、一
方、照射用光源１内には図示されていない100％
反射ミラーにより微量通過する洩れレーザー光を
参照光として検知する様に後側光軸上に第２光検
出器１０を設け、シヤツター４が開から閉の時の
接点スイツチ５のOFFからONによつて開くゲー
ト回路１１と、第２増巾回路１２を配置して第１
増巾回路９との後に差動増巾回路１３、比較回路
１４を配置させ、シヤツター制御回路１５とシヤ
ツター４を連動させたものである。
光源１の光軸上にはレーザー伝送用フアイバー２
の出射端面３からの反射レーザー光のトラブルを
検知して作動するシヤツター４が設けられてい
る。シヤツター４は図示されていないフツトスイ
ツチや、手動スイツチ操作でレーザー照射必要時
に開閉可能にし、フアイバー２のトラブルが生じ
た時、機能を停止することも出来る。又、シヤツ
ター４は全開位置と全閉位置との間で移動可能で
あり、全閉位置から特定の中間位置のまでの間は
レーザー照射を遮断し、この中間位置から全開位
置までの間はレーザー光を通過させる。そして、
この中間位置より全開位置側の任意の所定位置で
接点スイツチ５が作動するようになつている。又
レーザー照射停止のシヤツター作動時では接点ス
イツチ５が解除終了後、レーザー照射が遮断され
る。この実施例では、シヤツター４と連動するト
ラブル検出装置を医療用の内視鏡６とシヤツター
４との間に設けてあり、この検出装置は前記光軸
上に設けたミラー７と該ミラー７の反射光軸上に
第１光検出器８、第１増巾回路９を配置し、一
方、照射用光源１内には図示されていない100％
反射ミラーにより微量通過する洩れレーザー光を
参照光として検知する様に後側光軸上に第２光検
出器１０を設け、シヤツター４が開から閉の時の
接点スイツチ５のOFFからONによつて開くゲー
ト回路１１と、第２増巾回路１２を配置して第１
増巾回路９との後に差動増巾回路１３、比較回路
１４を配置させ、シヤツター制御回路１５とシヤ
ツター４を連動させたものである。
尚、本実施例では接点スイツチ５によつて作動
するゲート回路１１により信号伝達制御回路を構
成している。
するゲート回路１１により信号伝達制御回路を構
成している。
例えば出射端面３が熱で破壊したり、先端が折
損したり、又は図示されてないフアイバー２の入
射端のトラブルが生じた場合には、第１光検出器
８と第２光検出器１０とを以下の様に設定して反
射光の異常を検知すれば良い。これを第２図と第
３図のグラフより説明する。
損したり、又は図示されてないフアイバー２の入
射端のトラブルが生じた場合には、第１光検出器
８と第２光検出器１０とを以下の様に設定して反
射光の異常を検知すれば良い。これを第２図と第
３図のグラフより説明する。
第２図に於いて、Ａは正常フアイバーの出射端
面３でのレーザー出力に対する反射特性を示し、
Ｂは異常フアイバーの反射特性を示している。Ｃ
は参照光の反射特性を示す。但し、Ａ及びＢ曲線
とＣ曲線の相対電流増巾出力レベルは、第１増巾
回路９と第２増巾回路１２を用いて調整出来る。
実施例ではＡ及びＢ曲線よりＣ曲線を高くもつて
きている。
面３でのレーザー出力に対する反射特性を示し、
Ｂは異常フアイバーの反射特性を示している。Ｃ
は参照光の反射特性を示す。但し、Ａ及びＢ曲線
とＣ曲線の相対電流増巾出力レベルは、第１増巾
回路９と第２増巾回路１２を用いて調整出来る。
実施例ではＡ及びＢ曲線よりＣ曲線を高くもつて
きている。
第３図においては、Ｄ曲線は正常フアイバーの
出射端面３でのレーザー出力に対するＣ−Ａの差
動出力特性を示し、Ｅは異常フアイバーのＣ−Ａ
の差動出力特性を示している。Ｆは設定レベルを
示す。このグラフからわかる様にＤの時、Ｆより
下にあり、この時、比較回路１４とシヤツター制
御回路１５を経てシヤツター４を開に保つ。反面
Ｅの時は逆にシヤツター４を閉に作動する。又、
図示されてないフアイバー２の入射面が軸ずれ、
汚れ等の異常があると、レーザー光は出射端面３
からの反射光が０だつたり、著しく低下するのが
当然であり、よつてシヤツター４を閉に作動す
る。
出射端面３でのレーザー出力に対するＣ−Ａの差
動出力特性を示し、Ｅは異常フアイバーのＣ−Ａ
の差動出力特性を示している。Ｆは設定レベルを
示す。このグラフからわかる様にＤの時、Ｆより
下にあり、この時、比較回路１４とシヤツター制
御回路１５を経てシヤツター４を開に保つ。反面
Ｅの時は逆にシヤツター４を閉に作動する。又、
図示されてないフアイバー２の入射面が軸ずれ、
汚れ等の異常があると、レーザー光は出射端面３
からの反射光が０だつたり、著しく低下するのが
当然であり、よつてシヤツター４を閉に作動す
る。
しかしながら、第１図に示した構成において、
トラブル検出回路を作動させる時、レーザー照射
時間に相当する第１光検出器８による反射光検出
結果の出力期間が第２光検出器１０による参照光
検出結果の出力期間より短いと、誤動作を行ない
検知不能となる。さらに詳しく述べるならば、参
照光検出結果の第２増巾回路１２への入力開始時
間が、反射光検出結果の第１増巾回路９への入力
開始時間より遅くないと、反射信号がないとみな
し、この状態は異常フアイバーの状態に相当する
ため、シヤツター４を閉に作動する。次にレーザ
ー照射中で、シヤツター４が開から閉に移ると
き、反射光検出結果の第１増巾回路９への入力停
止時間よりも、参照光検出結果の第２増巾回路１
２への入力停止時間が遅いならば、反射光に異常
が生じたとみなされ、シヤツター４は閉に作動す
る。
トラブル検出回路を作動させる時、レーザー照射
時間に相当する第１光検出器８による反射光検出
結果の出力期間が第２光検出器１０による参照光
検出結果の出力期間より短いと、誤動作を行ない
検知不能となる。さらに詳しく述べるならば、参
照光検出結果の第２増巾回路１２への入力開始時
間が、反射光検出結果の第１増巾回路９への入力
開始時間より遅くないと、反射信号がないとみな
し、この状態は異常フアイバーの状態に相当する
ため、シヤツター４を閉に作動する。次にレーザ
ー照射中で、シヤツター４が開から閉に移ると
き、反射光検出結果の第１増巾回路９への入力停
止時間よりも、参照光検出結果の第２増巾回路１
２への入力停止時間が遅いならば、反射光に異常
が生じたとみなされ、シヤツター４は閉に作動す
る。
第４図において、イは反射光の検出出力期間を
パルスで示し、ロはパルス巾を示している。上述
した問題を解決するには、参照光のパルスハ巾が
参照光のパルス巾ロ内に入る条件を満たす必要が
ある。そこで、前述したように、シヤツター４が
接点スイツチ５を作動し又は解除する任意の所定
位置を、シヤツター４がレーザー照射を開始し又
は遮断する特定の中間位置よりシヤツター４の全
開位置側に配置したので、第１図のシヤツター４
がレーザー照射時に全閉位置から全開位置に移動
するときには、シヤツターの移動に従つて、接点
スイツチ５がレーザー照射開始時より遅れて作動
し、ゲート回路１１を開として参照光のパルスハ
を立ち上げ、この参照光のパルスハの反射光のパ
ルスイに対する遅延時間ニが設定される。逆に、
レーザー照射停止時にシヤツター４が全開位置か
ら全閉位置に移動する時には、シヤツターの移動
に従つて、接点スイツチ５がレーザー照射の遮断
時に先立つて解除され、ゲート回路１１を閉とし
て参照光のパルスハを立ち下げ、この反射光のパ
ルスイに対する参照光のパルスハに対する遅延時
間ホが設定される。その結果、イのパルス巾内に
入るハのパルス巾が形成される。なお、これら遅
延時間ニ及びホの長さについては、シヤツターの
移動速度、及び、レーザー照射を開始させる特定
の中間位置と接点スイツチが作動し又は解除され
る任意の所定位置との間隔によつて決定される。
パルスで示し、ロはパルス巾を示している。上述
した問題を解決するには、参照光のパルスハ巾が
参照光のパルス巾ロ内に入る条件を満たす必要が
ある。そこで、前述したように、シヤツター４が
接点スイツチ５を作動し又は解除する任意の所定
位置を、シヤツター４がレーザー照射を開始し又
は遮断する特定の中間位置よりシヤツター４の全
開位置側に配置したので、第１図のシヤツター４
がレーザー照射時に全閉位置から全開位置に移動
するときには、シヤツターの移動に従つて、接点
スイツチ５がレーザー照射開始時より遅れて作動
し、ゲート回路１１を開として参照光のパルスハ
を立ち上げ、この参照光のパルスハの反射光のパ
ルスイに対する遅延時間ニが設定される。逆に、
レーザー照射停止時にシヤツター４が全開位置か
ら全閉位置に移動する時には、シヤツターの移動
に従つて、接点スイツチ５がレーザー照射の遮断
時に先立つて解除され、ゲート回路１１を閉とし
て参照光のパルスハを立ち下げ、この反射光のパ
ルスイに対する参照光のパルスハに対する遅延時
間ホが設定される。その結果、イのパルス巾内に
入るハのパルス巾が形成される。なお、これら遅
延時間ニ及びホの長さについては、シヤツターの
移動速度、及び、レーザー照射を開始させる特定
の中間位置と接点スイツチが作動し又は解除され
る任意の所定位置との間隔によつて決定される。
第５図は本発明の全体を示す別実施例の略式図
である。Nd：YAGレーザー等固体レーザー光源
１６内の共振器１７と１８との間にYAGロツド
や励起ランプが収容されている集光器１９と、集
光器１９と共振器１８との間にシヤツター４が光
学的に配置されている。共振器１７はレーザー光
に対して約80％の反射率を持つミラーからなつて
いてレーザー光の出射部にあたる。共振器１８は
反射率100％のミラーであるが、出射部のレーザ
ー出力値に対し0.1〜0.3％程度の微量の透過洩れ
光がある。
である。Nd：YAGレーザー等固体レーザー光源
１６内の共振器１７と１８との間にYAGロツド
や励起ランプが収容されている集光器１９と、集
光器１９と共振器１８との間にシヤツター４が光
学的に配置されている。共振器１７はレーザー光
に対して約80％の反射率を持つミラーからなつて
いてレーザー光の出射部にあたる。共振器１８は
反射率100％のミラーであるが、出射部のレーザ
ー出力値に対し0.1〜0.3％程度の微量の透過洩れ
光がある。
出射端面３からの反射光はミラー７で反射後、
第１光検出器８、第１遅延回路２０が配置され、
一方、共振器１８の透過光を検知する第２光検出
器１０、第２遅延回路２１を配置して、第１遅延
回路２０との後に差動増巾回路１３、比較回路１
４を配置させ、シヤツター制御回路１５とシヤツ
ター４を連動させたものである。
第１光検出器８、第１遅延回路２０が配置され、
一方、共振器１８の透過光を検知する第２光検出
器１０、第２遅延回路２１を配置して、第１遅延
回路２０との後に差動増巾回路１３、比較回路１
４を配置させ、シヤツター制御回路１５とシヤツ
ター４を連動させたものである。
尚、本実施例では第１遅延回路２０及び第２遅
延回路２１によつて信号伝達制御回路を構成して
いる。
延回路２１によつて信号伝達制御回路を構成して
いる。
第６図に於いて、反射光検出期間を示すパルス
イと、レーザー透過洩れ光検出期間を示すパルス
ホとは、レーザー照射時に作動させるシヤツター
４の開閉に伴なつて同一時間で形成される。そこ
で反射光パルスを第１遅延回路２０でトとの蓄積
時間を持つようにしてヘの反射光パルス巾を広
げ、逆に透過光パルスホは第２遅延回路２１でリ
の遅延時間を設けると、チの如く透過光パルス巾
を狭くすることが出来る。この場合、透過光は参
照光とみなしているから、反射光パルスヘのパル
ス巾内に参照光チのパルス巾が入るから誤検出が
排除出来る。
イと、レーザー透過洩れ光検出期間を示すパルス
ホとは、レーザー照射時に作動させるシヤツター
４の開閉に伴なつて同一時間で形成される。そこ
で反射光パルスを第１遅延回路２０でトとの蓄積
時間を持つようにしてヘの反射光パルス巾を広
げ、逆に透過光パルスホは第２遅延回路２１でリ
の遅延時間を設けると、チの如く透過光パルス巾
を狭くすることが出来る。この場合、透過光は参
照光とみなしているから、反射光パルスヘのパル
ス巾内に参照光チのパルス巾が入るから誤検出が
排除出来る。
以上説明したように、この発明によれば、伝送
用光フアイバーの入射端並びに出射端の熱破損
や、フアイバーの端面にピリが生じたり、あるい
はフアイバーの折れ等のトラブルを瞬時に検知し
て、パワーレーザー照射による事故を未然に防止
するとき誤動作なく安定した検出安全装置を提供
するもので、実用的価値も極めて大きい。
用光フアイバーの入射端並びに出射端の熱破損
や、フアイバーの端面にピリが生じたり、あるい
はフアイバーの折れ等のトラブルを瞬時に検知し
て、パワーレーザー照射による事故を未然に防止
するとき誤動作なく安定した検出安全装置を提供
するもので、実用的価値も極めて大きい。
第１図は本発明の一実施例を示す全体略式構成
図、第２図はレーザー光の反射特性を示すグラフ
図、第３図は第２図の差動出力特性を示すグラフ
図、第４図は反射光と参照光のパルス巾を示す
図、第５図は本発明の別実施例を示す全体略式構
成図、第６図は別実施例のパルス巾設定を示す
図。 １：照射用光源、２：フアイバー、４：シヤツ
ター、５：接点スイツチ、８：第１光検出器、
９：第１増幅回路、１０：第２光検出器、１１：
ゲート回路、１２：第２増幅回路、１３：差動増
巾回路、１４：比較回路、１５：シヤツター制御
回路、１６：固体レーザー光源、１７，１８：共
振器、１９：集光器、２０：第１遅延回路、２
１：第２遅延回路。
図、第２図はレーザー光の反射特性を示すグラフ
図、第３図は第２図の差動出力特性を示すグラフ
図、第４図は反射光と参照光のパルス巾を示す
図、第５図は本発明の別実施例を示す全体略式構
成図、第６図は別実施例のパルス巾設定を示す
図。 １：照射用光源、２：フアイバー、４：シヤツ
ター、５：接点スイツチ、８：第１光検出器、
９：第１増幅回路、１０：第２光検出器、１１：
ゲート回路、１２：第２増幅回路、１３：差動増
巾回路、１４：比較回路、１５：シヤツター制御
回路、１６：固体レーザー光源、１７，１８：共
振器、１９：集光器、２０：第１遅延回路、２
１：第２遅延回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 伝送用光フアイバーにレーザー照射光を導入
するレーザー装置を備えたレーザー光応用装置に
おいて、 前記レーザー装置の作動後のレーザー光の照射
時に開き、レーザー照射光の遮断時に閉じるレー
ザー照射光断続用の機械的遮断機構と、 前記伝達用光フアイバーの出射端面からの反射
光を受光する第１光検出器と、 前記レーザー装置のレーザー光の一部を参照光
として受光する第２光検出器と、 前記遮断機構の開閉に連動し、該機構が所定の
位置まで開いた時及び開いている時にのみ作動す
るスイツチと、 このスイツチが作動している時に前記第２光検
出器の検出信号を通過させて前記遮断機構の開閉
時の該信号の通過期間を前記第１光検出器の検出
信号の出力期間より短く調整する信号伝達制御回
路と、 この信号伝達制御回路からの通過検出信号と前
記第１光検出器の検出信号との差を取る差動増幅
回路と、 この差動増幅回路の差動出力と予め定めた設定
レベルとを比較する比較回路と、 この比較回路の比較結果に基づいて前記機械的
遮断機構の開閉を制御する制御回路と、 を設けて構成したことを特徴とする伝送用光フア
イバーのトラブル検出安全装置。 ２ 伝送用光フアイバーにレーザー照射光を導入
するレーザー装置を備えたレーザー光応用装置に
おいて、 前記レーザー装置の作動後のレーザー光の照射
時に開き、レーザー照射光の遮断時に閉じるレー
ザー照射光断続用の遮断手段、 前記伝達用光フアイバーの出射端面からの反射
光を受光する第１光検出器と、 前記レーザー装置のレーザー光の一部を参照光
として受光する第２光検出器と、 前記第２光検出器の第２検出信号の出力開始時
点を遅らせる第２の遅延回路及び前記第１光検出
器の第１検出信号の出力終了時点を遅らせる第１
の遅延回路からなり、第２検出信号の出力期間を
第１検出信号の出力期間より短く調整する信号伝
達制御回路と、 この信号伝達制御回路による調整によつて得た
前記第１、第２の検出信号の差を取る差動増幅回
路と、 この差動増幅回路の差動出力と予め定めた設定
レベルとを比較する比較回路と、 この比較回路の比較結果に基づいて前記遮断手
段の開閉を制御する制御回路と、 を設けて構成したことを特徴とする伝送用光フア
イバーのトラブル検出安全装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16976180A JPS5793228A (en) | 1980-12-02 | 1980-12-02 | Trouble detecting device for optical transmission fiber |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16976180A JPS5793228A (en) | 1980-12-02 | 1980-12-02 | Trouble detecting device for optical transmission fiber |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5793228A JPS5793228A (en) | 1982-06-10 |
| JPH033173B2 true JPH033173B2 (ja) | 1991-01-17 |
Family
ID=15892356
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16976180A Granted JPS5793228A (en) | 1980-12-02 | 1980-12-02 | Trouble detecting device for optical transmission fiber |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5793228A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0212786A1 (en) * | 1985-08-02 | 1987-03-04 | C.R. Bard, Inc. | Laser/optical fiber safety apparatus and method |
| US4994059A (en) * | 1986-05-09 | 1991-02-19 | Gv Medical, Inc. | Laser catheter feedback system |
| US4989971A (en) * | 1989-07-14 | 1991-02-05 | Tektronix, Inc. | Automatic mask trigger for an optical time domain reflectometer |
-
1980
- 1980-12-02 JP JP16976180A patent/JPS5793228A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5793228A (en) | 1982-06-10 |
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