JPH03282341A - 振動式半導体トランスデューサ - Google Patents

振動式半導体トランスデューサ

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JPH03282341A
JPH03282341A JP8550590A JP8550590A JPH03282341A JP H03282341 A JPH03282341 A JP H03282341A JP 8550590 A JP8550590 A JP 8550590A JP 8550590 A JP8550590 A JP 8550590A JP H03282341 A JPH03282341 A JP H03282341A
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Kyoichi Ikeda
恭一 池田
Masaaki Niiguni
新国 雅章
Kiyoshi Odohira
尾土平 きよし
Yoji Saito
斎藤 洋二
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は振動式半導体トランスデユーサに係り、特にシ
リコン基板上に形成された梁状の振動子をその振動子の
持つ固有振動数で振動させておき、このシリコン基板に
印加される力、圧力、或いは差圧などの物理量の変化に
対応して振動子に生じる固有周波数の変化からこれ等の
物理量を検出する振動式半導体トランスデユーサに関す
る。
〈従来の技術〉 第3図は従来の振動式半導体トランスデユーサの全体構
成を示す構成図である。
10A(IOB)は入力端子11A(IIB)、12A
(12B)と出力端子13A(13B)、14A(14
B)とを有する入力トランスであり、12A(12B)
は共通電位点COMに接続されている。
その出力端子13A (13B)、14A (14B)
はH形をした振動子本体15A(15B)の一方側に接
続されている。その他方側は出力トランス16A(16
B>の入力端子17A(17B)18A(18B>に接
続されている。出力トランス16A(16B)の出力端
子19A(19B)2OA (20B)は増幅器21A
(21B)の入力端子に接続されている。
増幅器21A(21B)の出力端子は入力トランスl0
A(IOB)の入力端子11A(IIB>に接続される
と共に計数回路22A (22B)に接続されている。
マイクロプロセッサ23は計数回路22Aと22Bで得
た周波数信号fA、f、の差を演算し、必要に応じてこ
れ等に対して各種の補正演算を実行して出力端24に出
力する。
次に、以上のように構成された振動子本体が固定される
シリコン基板の具体的な構成について第4図を用いて説
明する。
第4図(イ)はシリコン基板の上面図、第4図(ロ)は
その断面図である。
シリコン基板25は外径が矩形状をなしており、周囲に
肉厚部26を有し中央部に凹部27が形成されて薄肉状
のダイアフラム28とされている。
振動子本体15Aはダイアフラム28の上部の中央部分
に、振動子本体15Bは肉厚部26とダイアフラム28
との境界部にそれぞれ形成されている。そして、第4図
(イ)に示すように振動子本体15AのH形の長手方向
の長さは振動子本体15BのH形の長さに対して、例え
ば短くして振動子本体15Aと15Bとが互いに異なる
固有周波数になるようにされている。なお、シリコン基
板25は円形、或いは多角形でも良い。
第5図(イ)に示すように凹部27側から例えば圧力P
Hが印加されたときは図中に矢印で示すように振動子率
#15Aには引張応力が、振動子本体15Bには圧縮応
力がそれぞれ働く、また、これとは反対にダイアフラム
28の外部から圧力PLが印加されたときは振動子本体
15Aには圧縮応力が、振動子本体15Bには引張応力
がそれぞれ働<、PH=PLである静圧下では等しく圧
縮応力が働く。
このなめ、圧力による振動子本体15Aと15Bとの固
有振動数の変化の差をマイクロプロセッサ23で演算す
ることにより静圧の影響を相殺しながら感度を大きくす
ることができる。
次に、振動子自体の具体的な構成を含む自励発振回路に
付いて説明する。添字がA側の自励発振回路と添字がB
側の自励発振回路の構成は基本的に同一であるので、A
ljlをベースとしてそめ概要について第6図と第7図
を用いて説明する。
第6図は振動子自体の具体的な構成を含む自励発振回路
の構成を示す構成図である。第7図は第6図に示す振動
子本体の要部の構成を示し、第7図(イ)は振動子本体
の上部を覆うシェルを除去したときの上面図、第7図(
ロ)は第7図(イ)のX−X−断面を示している。
振動子本体15Aは、例えば伝導形式がn形のシリコン
単結晶で出来たダイアフラム28の上に一体に形成され
たp形のシリコンで出来た第1振動子29A、30Aと
第2振動子31Aで構成されるH形の振動子として構成
されている。
ダイアフラム28は、周囲に肉厚部(図示せず)26を
有するn形のシリコン基板の下面の中央部をエツチング
して薄肉として形成されており、測定圧力かこの面に印
加されることによって全体として変位する。このダイア
フラム28の上面の結晶面(Zoo)の一部にはエツチ
ングにより各振動子が収納されるH形状の凹部32Aが
形成されている。
この凹部32Aを跨ぐようにして、梁状の第1振動子2
9A、30Aがそれぞれ結晶軸く001〉に平行にダイ
アフラム28と一体にp形で形成され、これ等の中央部
をこれ等の振動子に直角にp形の梁状の第2振動子31
Aで結合してH形の振動子が形成されている。
この第1振動子29Aの両端には@極33Aと34Aが
、更に第1振動子30Aの両端には電極35Aと36A
が形成されている。
第2振動子31Aの上部にはこれと平行に磁石37Aが
配置され、第1振動子29A、30Aに直角に磁場を発
生させている。
励振手段として機能する入力トランスIOAの出力端子
は電極33A、34Aに、その入力端子11Aは増幅器
21Aの出力端子に、入力端子12Aは共通電位点CO
Mにそれぞれ接続されている。
振動検出手段として機能する出力トランス16Aの入力
端子は電極35A、36Aに接続され、その出力端子1
9A、2OAは増幅器21Aの入力端にそれぞれ接続さ
れている。
なお、以上の第6図、第7図においては説明の便宜上、
ダイアフラム28の上部を覆うシェルを除いて記載して
いるが、実際には第1@動子29A、30A、および第
2振動子31Aの周囲は所定の間隙を以てエピタキシャ
ル成長などの半導体技術でダイアフラム28と一体に覆
われ、更にこの間隙の内部は真空に保持され振動子の振
動に対して高いQファクタが維持されるようになってい
る。
以上の構成において、入力トランスIOAに増幅器21
Aから入力された電圧により、第一振動子29Aが磁石
37Aの磁場との相互作用により励振されて振動する。
この振動により、第一振動子29Aは第二振動子31A
を介して振動させられこの振動は磁石37Aとの相互作
用により出力トランス16Aの入力端に起電力eを発生
させる。
この起電力eは出力トランス16Aを介して増幅器21
Aに入力され増幅されて出力端に取出される。この増幅
された電圧は入力トランスIOAに正帰還され、これが
繰り返されて系が自励発振をする。
以上のように、振動子本体15Aは励振用の第一振動子
29Aと、起電力検出用の第一振動子30Aとに分けら
れ、第二振動子31Aで第一振動子29Aと3OAの振
動の腹の部分を機械的に結合するようにしたので、励振
電流1が起電力eに重畳せず、高い励振成分除去比(S
/N比)が得られる。
〈本発明が解決しようとする課題〉 しかしながら、以上のような従来の振動式半導体トラン
スデユーサでは、静圧を相殺しながら感度を向上させる
なめに自励発振回路を2系統用意する必要があるので、
入力トランス2個と出力トランス2個との合計4個のト
ランスを必要とし、このため実装上多くのスペースをf
i保せねばならず、コスト高となっている。
く課題を解決するための手段〉 本発明は、以上の課題を解決するために、測定すべき歪
が印加されるシリコン基板上に設けられた一対の振動子
本体に入力トランスを介して交流電流が流され、これ等
の振動子本体に印加された磁場との相互作用により発生
する起電力を各出力トランスを介して各増幅器で増幅し
、これ等の増幅器出力を入力トランスに帰還して自励発
振する一対の自励発振ループを有し、各自励発振ループ
で得られる周波数差から歪に対応する出力信号を得る振
動式半導体トランスデユーサにおいて、入力トランスの
入力端子に各増幅器出力をそれぞれ印加して合成し、そ
の出力端子から各振動子本体に共通に交流′r4流を流
すようにしたものである。
く作 用〉 一対の振動子本体による固有振動数はそれぞれ異なって
いるので、2個の自励発振ループに各々含まれる振動子
本体は互いに一方の振動子本体の固有周波数では他方の
振動子本体が振動しない関係にある。
このため、入力トランスの入力端子に各増幅器出力をそ
れぞれ印加して合成し、この入力トランスの出力端子か
ら各振動子本体に共通に交流電流を流しても他の自励発
振ループに影響を与えることはなく、このため入力トラ
ンスを1個とすることができる。
〈実施例〉 以下、本発明の実施例について図を用いて説明する。第
1図は本発明の1実施例の構成を示す構成図である。な
お、従来の振動式半導体トランスデユーサと同一の機能
を有する部分については同一の符号を付して適宜にその
説明を省略する。
40は入力トランスであり、この入力トランス40はN
l、N2の2つの1次巻線と、1つの出力巻線N3を有
している。
入力巻線N1は入力端子41と42に、入力巻線N2は
入力端子43と44に、出力巻線N3は出力端子45.
46にそれぞれ接続され、さらに入力端子42と43は
それぞれ共通電位点COMに接続されている。さらに、
入力端子41と44は増幅器21Aと21Bの出力端に
それぞれ接続されている。
そして、入力トランス40は回路側の消費電流を低減さ
せるために巻線数をNl、N2>N3の関係になるよう
にして電流増幅作用を持たせ、また出力トランス16A
、16Bは電圧増幅作用を持たせるために、1次巻線数
く2次巻線数、の関係になるように選定されである。
出力端子45は振動子本体15Aの電極33Aと振動子
本体15Bの電極33Bに、出力端子46は振動子本体
15Aの電極34Aと振動子本体15Bの電極34Bに
接続されている。
その他の構成は、第3図〜第7図に示す構成とほぼ同様
な構成である。
以上の構成において、振動子本体15A、出力トランス
16A、増幅器21A、入力トランス40、振動子本体
15Aで構成されるループで固有振動数で1を持つ第1
の発振ループを形成し、振動子本体15B、出力トラン
ス16B、増幅器21B、入力トランス40、振動子本
体15Bで構成されるループで固有振動数で2を持つ第
2の発振ループを形成している。
この場合に、振動子本体15Aは固有振動数で2では共
振せず、逆に振動子本体15Bは固有振動数f1では共
振しない、したがって、入力トランス40を振動子本体
15A側と15B側とに共用しても同等問題が生じない
。これは、振動子本体15A、15Bが各々周波数f1
、f2のバンドパスフィルタを形成するからである。
第2図は本発明の他の実施例を示す構成図である。
この実施例は、第1図に示すように入力トランスそれ自
体に周波数混合の機能を持たせる代りに、1次巻線と2
次巻線を各々1つだけ有する入力トランス41を用いて
この前段に周波数混合用の増幅器42を設けて、この入
力端に増幅器21A、21Bの出力を印加しその出力端
に生じる出力電圧で入力トランス41を駆動するように
したものである。
〈発明の効果〉 以上、実施例と共に具体的に説明したように本発明によ
れば、1対の自励発振ループに共通した入力トランスを
用いるようにしたので、従来に比べて実装スペースが少
なくてすみ、またより安価な振動式半導体トランスデユ
ーサを実現することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の1実施例の構成を示す構成図、第2図
は本発明の他の実施例の構成を示す構成図、第3図は従
来の振動式半導体トランスデユーサの全体構成を示す構
成図、第4図は(イ)はシリコン基板の上面図、第4図
(ロ)はその断面図、第5図(イ)(ロ)は第4図に示
すシリコン基板に圧力が印加されたときの動作について
説明する説明図、第6図は振動子自体の具体的な構成を
含む自励発振回路の構成を示す構成図、第7図は第6図
に示す振動子本体の要部の構成を示す構成図である。 10A、IOB・・・入力トランス、15A、15B・
・・振動子本体、16A、16B・・・出力トランス、
21A、21B・・・増幅器、22A、22B・・・計
数回路、23・・・マイクロプロセッサ、25・・・シ
リコン基板、28・・・ダイアフラム、40.41・・
・入力トランス。 K 〈 げ) 第4 図 第5図 に) 第7図 (イ) (ロ) JzAt!il即

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  測定すべき歪が印加されるシリコン基板上に設けられ
    た一対の振動子本体に入力トランスを介して交流電流が
    流され、これ等の振動子本体に印加された磁場との相互
    作用により発生する起電力を各出力トランスを介して各
    増幅器で増幅し、これ等の増幅器出力を前記入力トラン
    スに帰還して自励発振する一対の自励発振ループを有し
    、各自励発振ループで得られる周波数差から前記歪に対
    応する出力信号を得る振動式半導体トランスデューサに
    おいて、前記入力トランスの入力端子に前記各増幅器出
    力をそれぞれ印加して合成し、その出力端子から各振動
    子本体に共通に交流電流を流すようにしたことを特徴と
    する振動式半導体トランスデューサ。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007263679A (ja) * 2006-03-28 2007-10-11 Yokogawa Electric Corp 振動検出装置、圧力検出装置、振動検出方法及び圧力検出方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007263679A (ja) * 2006-03-28 2007-10-11 Yokogawa Electric Corp 振動検出装置、圧力検出装置、振動検出方法及び圧力検出方法

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