JPH03255555A - 半導体ディスク装置の転送データチェック方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔目次〕 概要 産業上の利用分野 従来の技術 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段（第１図） 作用（第１図） 実施例（第２図〜第６図） 発明の効果 〔概要〕 半導体ディスク装置のドライブデータチェック方式に関
し。

データネ良を、半導体メモリ部と不揮発性記憶部とのデ
ータ転送中に、ハードウェアにより早期検出し、データ
の同時性、連続性を保証できるよう（二することを目的
とし。

半導体メモリ部と、不揮発性記憶部と、転送回路部と、
制御回路部とを備え、半導体メモリ部内のフィールドデ
ータを、電源切断時に不揮発性記憶部へ書き込んだり、
あるいは前記書き込んだデータを、不揮発性記憶部から
読み出したりする際の転送データをチェックする。半導
体ディスク装置の転送データチェック方式において、転
送回路部に、ＩＤコード付加部と、ＩＤコードチェック
部とを設け、不揮発性記憶部へデータを書き込む時は、
転送データのＩＤ部にチェック用のＩＤコードを付加し
て転送し、不揮発性記憶部からデータを読み出す時は、
転送データからチェック用のＩＤコードを取り出してチ
ェックすることにより。

データの同時性、連続性を保証できるように構成する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は半導体ディスク装置のドライブデータチェック
方式に関し、更に詳しくいえば、コンピュータシステム
を構成する半導体ディスク装置（二おいて、半導体メモ
リ部内のフィールドデータを。

電源切断時や電源投入時に、不揮発性記憶部に対して書
き込み、または読み出しを行う際に用いられ、特に上記
フィールドデータの同時性、連続性を保証できるように
した半導体ディスク装置の転送データチェック方式に関
する。

〔従来の技術〕

近年、コンピュータシステムの高速化要求に伴い、アク
セス頻度の高いデータ等の処理を、磁気ディスク装置の
代わりに、半導体ディスク装置を用いてシステム全体と
しての高速化を実現している０ 半導体ディスク装置は２通常揮発性のメモリを使用して
いるため、サブシステムの電源が切断された場合には、
データが消失してしまう。そのため。

メモリ内にデータの退避用として不揮発性の記憶部を用
意して、電源断時には自動的にデータの退避を行うもの
である。

このような従来の半導体ディスク装置（＝おいては。

外部より電源切断指示があった場合、サービスプロセッ
サ等の制御回路部によりそれを検出し、半導体メモリ部
内のフィールドデータ全てをマイクロプロセッサ等の不
揮発性記憶部へ書き込みを行う０ この半導体メモリ部からデータを読み出し、不揮発性記
憶部への書き込みは、転送回路（二より行われる。また
、外部より電源投入指示があった場合には、制御回路部
によりそれを検出し、不揮発性記憶部内のデータを読み
出し、半導体メモリ部へ書き込みを行う。この半導体メ
モリ部内のデータやマイクロディスク等の不揮発性記憶
部の正常性は、パトロール診断等（二より常時確認され
ている。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記のような従来のものにおいては次のような欠点があ
った。

（１）　　データ転送中において、何らかの障害が発生
し、データの正常性は保たれているが、データの連続性
が失われた場合には、それを検出することができない。

（２）例えば、８ビツトのデータバスによりデータ転送
が行われ、半導体メモリ部内では、４バイトデ一タ群の
パトロール等により診断が行われていた場合、データバ
ス上の転送データは常時チェックが可能であり、半導体
メモリ部内ζ二おいても特定のデータ群単位でデータの
正常性が確認される０ しかし、４バイト単位のデータ群が他の４バイトのデー
タ群と入れ代わっていた場合には、当該デ−夕の不良を
検出することができない。

（３）　　このようなデータネ良の検出は、一連の当該
データ群をマイクロプログラム等が使用することにより
初めて明らかにされるものであり、当該データ群により
マイクロプログラムが動作する場合には、更に二次的障
害を引き起こすことも考えられる。

本発明は、このような従来の欠点を解消し、データネ良
を、半導体メモリ部と不揮発性記憶部とのデータ転送中
に、ハードウェアにより早期検出し、データの同時性、
連続性を保証できるようにすることを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

第１図は本発明の原理図であり２図中、１は半導体メモ
リ部、２は制御回路部、３は転送回路部。

４は不揮発性記憶部、５はＩＤコード付加部、６はＩＤ
コードチェック部、ＩＤはＩＤコード。

ＤＴＩ〜ＤＴｎはデータを示す。

本発明は上記の目的を達成するため。

半導体メモリ部１と、不揮発性記憶部４と、前記半導体
メモリ部１及び不揮発性記憶部４との間のデータ転送を
制御する転送回路部３と、前記転送回路部３ヘデータ転
送の開始を指示する制御回路部２とを備え、上記半導体
メモリ部１内のフィールドデータを、電源切断時に不揮
発性記憶部４へ書き込んだり、あるいは前記書き込んだ
データを、不揮発性記憶部４から読み出したりする際の
転送データをチェックする。半導体ディスク装置の転送
データチェック方式において。

転送回路部３に、転送データにチェック用のＩＤコード
を付加するＩＤコード付加部５と、転送データに付加さ
れたＩＤコードをチェックするＩＤコードチェック部６
とを設け、不揮発性記憶部４ヘデータを書き込む時は、
転送データのＩＤ部にチェック用のＩＤコードを付加し
て転送し。

不揮発性記憶部４からデータを読み出す時は、転送デー
タからチェック用のＩＤコードを取り出してチェックす
ることにより、データの同時性、連続性を保証できるよ
うにしたものである０〔作用〕 本発明は上記のように構成したので２次のような作用が
ある。

半導体メモリ部１と不揮発性記憶部４とのデータ転送に
おいて、転送するデータの前後にＩＤ部を設け、半導体
メモリ部１から不揮発性記憶部４ヘデータＤＴ１〜ＤＴ
ｎの書き込みを行う場合に。

特定のチェック用のＩＤコードをＩＤコード付加部５に
よりＩＤ部に付加しく追加する）９反対に。

不揮発性記憶部４から半導体メモリ部１ヘデータの読み
出しを行う場合にＩＤコードチェック部６によりＩＤ部
をチェックする。

このＩＤ部に書き込まれるコードは、転送を行うデータ
の単位が目的とするデータ群であることを示すだけでな
く、データ群内のデータが連続していることをチェック
するものである。

したがって、半導体メモリ部１から不揮発性記憶部４ヘ
データの書き込みを行った後、当該データの読み出しを
行うことにより、直ちに退避データの同時性、連続性の
チェックをハードウェアにより行うことができる。

〔実施例〕

以下２本発明の実施例を図面に基づいて説明するＯ 第２図乃至第６図は２本発明の１実施例を示した図であ
り、第２図は実施例のブロック図、第３図は、第２図（
二示した転送回路部のブロック図。

第４図は、半導体メモリ部内のデータ構成例、第５図は
、転送データ構成例、第６図は、データ転送処理のフロ
ーチャートである０ 図中、第１図と同符号は同一のものを示し、７は半導体
ディスク装置、８は上位装置、９．１０はセレクタ、を
示す。なお、第６図の各処理番号はカッコ内に示す。

半導体ディスク装置７は、半導体メモリ部１と。

不揮発性記憶部４と、転送回路部３と、制御回路部２と
で構成される（第２図参照）０ 上記半導体メモリ部１は、上位装置８より直接アクセス
されるメモリであり、不揮発性記憶部４は前記半導体メ
モリ部１内のフィールドデータを退避させるものである
。また、転送回路部３は、半導体メモリ部１と不揮発性
記憶部４とのデータ転送を制御するものである。制御回
路部２は、外部からの電源投入や切断指示により、転送
回路部３ヘデータ転送の開始指示を行うものである。

上記転送回路部３は、ＩＤコード付加部５とＩＤコード
チェック部６と、セレクタ９，１０によって構成される
（第３図参照）。

ＩＤコード付加部は、半導体メモリ部１から不揮発性メ
モリ部４にデータを書き込む時の転送データにチェック
用のＩＤコードを付加するものであり、ＩＤコードチェ
ック部６は、不揮発性記憶部４からデータを読み出した
時の転送データから。

付加されたチェック用のＩＤコードを取り出してチェッ
クし、エラーの場合、制御回路部へエラー信号を出すも
のである。

また、セレクタ９，１０はデータの選択を行うものであ
る。

電源切断時に半導体メモリ部１内のフィールドデータを
退避させる際は、セレクタ９，１０を切り替えて、半導
体メモリ部１−セレクタ９−ＩＤコード付加部５−セレ
クタ１〇−不揮発性記憶部４の順でデータを転送し、そ
の際ＩＤコード付加部５でチェック用のＩＤを付加する
。

また、電源投入時に退避していたデータを再び半導体メ
モリ部１へ格納する際は、セレクタ９，１０を切り替え
て、不揮発性記憶部４−セレクタ１０→ＩＤコードチェ
ック部６→セレクタ９→半導体メモリ部１の順でデータ
を転送し、その際、転送データに付加されているチェッ
ク用のＩＤコードを、ＩＤコードチェック部６で取り出
し、チェックを行う。このチェックでもし異常があれば
異常信号を制御回路部２へ送る。

制御回路部２で異常信号を受信すると、データ転送に異
常が発生したことを知り、異常処理を行う。

上記半導体メモリ部１内のデータは２例えば第４図のよ
うに構成されている。図中「ＤＴＸＸＪは１６バイト単
位のデータ群であり、　　「ＩＤＸＸｊは一連のデータ
群につけられたＩＤである。

半導体メモリ部１の内部のデータは２通常上位装置８か
ら自由にアクセスが可能である。この上位装置８とのデ
ータ転送において、データの同時性。

連続性を保証するために、ある特定の意味を持つデータ
群の前後にＩＤを付加する。

例えば「ＩＤＡＯ」からｌ’−ＩＤＡｌｊ、ｌ’−ＩＤ
ＢＯｊからｌ’−ＩＤＢＩＪまでそれぞれが特定のデー
タ群である。通常ＤＡＳＤをアクセスする場合にはＣＫ
Ｄ（カウントキーデータ）フォーマットが使用されるた
め、カウント部、キ一部、データ部というような２％定
のデータ群を−ブロックとしてその前後にＩＤを付加し
ている。

上位装置８から読み出し、書き込みを行うのはこれらの
一ブロック単位であり、半導体ディスク装置内部でのデ
ータを保証するため、上位装置８から転送されたデータ
；二対して半導体ディスク装置７の内部にてＩＤ部を付
加して半導体メモリ部１へ書き込み、上位装置８へ転送
する場合には。

ＩＤ部によるデータの正常性を確認後、実際のデータの
みを転送する。

制御回路部２からの指示により、転送回路部３が半導体
メモリ部１から不揮発性記憶部４ヘデータ転送を行う際
２通常半導体メモリ部１は複数に分割されて管理されて
いるため、それらの単位毎に転送が行われる。

例えば、　　「ＩＤＡＯｊ〜「ＩＤＤｌ」までが管理さ
れる単位であった場合に、第５図のよう（−、ｌ’−Ｉ
ＤＡＯＪ、　　「ＩＤＤＩＪを含む半導体メモリ１内の
データの前後にチェック用のＩＤコードである１’−Ｐ
ＲＥ　ＩＤｊ　、　　「ＰＯ８Ｔ　ＩＤＪを付加して不
揮発性記憶部４へ転送する。

制御回路部２からの指示により、転送回路部３が不揮発
性記憶部４から半導体メモリ部１ヘデータ転送を行う場
合には、付加されているＪＰＲＥ　ＩＤＪと「ＰＯ８Ｔ
　ＩＤＪ　　を取り出してチェックし２元の「ＩＤＡＯ
Ｊから「ＩＤＤｌ」までを半導体メモリ部１へ書き込む
。

上記のデータ書き込み及びデータ読み出し時Ｃ二おける
データ転送は、第６図のようにして処理される。第６図
のＡ図はデータ書き込み処理、Ｂ図はデータ読み出し処
理のフローチャートである。

先ず、半導体メモリ部１から不揮発性記憶部４へのデー
タ書き込み時には、制御回路部２からの転送開始指示に
よりデータ転送を開始する。転送データが送られてくる
と（１００）、ＩＤコード付加部５によりデータの前側
にＪＰＲＥ　ＩＤＪコードを付加して（１０１）データ
転送しく１０２）、後側に「ＰＯ８Ｔ　ＩＤＪ　　コー
ドを付加してデータ転送を行う（１０３）。

この処理を転送データが終了するまで繰り返して実行し
く１００）、終了すると終了処理を行う。

また、退避しであるデータを、不揮発性記憶部４から読
み出し、半導体メモリ部１へ格納する時には、Ｂ図のよ
うに制御回路部２からの転送開始指示によりデータ転送
を開始する。

この場合には、不揮発性記憶部４から送られてきた転送
データをＩＤコードチエ７２部６で受け。

１’−ＰＲＥ　ＩＤＪコードを取り出して格納しておき
（２０１）、データを半導体メモリ部１へ送出する。

その後、後側の「ＰＯ８Ｔ　ＩＤＪ　　コードを取り出
し。

上記格納しておいた「ＰＲＥ　ＩＤＪと照合する（２０
３）。

その結果不一致ならば異常ありと判断しく２０４）。

制御回路部２へ通知してエラー処理を行うが。

致すれば正常と判断しく２０４）、転送データが終了す
るまで（２００）上記の処理を継続して行う。

転送データが終了すると（２００）終了処理を実行する
。

上記「ＰＲＥ　ＩＤＪ及びｌ’−ＰＯ８Ｔ　ＩＤＪは、
　「ＩＤＡＯＪ〜「ＩＤＤｌ」が転送を行う単位である
ことを示すチェック用のコードであり２例えばランダム
にスタンプされる値をとりｒＰＲＢ　ＩＤｊ、　　「Ｐ
Ｏ８ＴＩＤＪ　　で同一のものを書き込み、更に「ＰＲ
Ｅ　ＩＤＪ〜「ＰＯ８Ｔ　ｉＤｊ　で挾まれた一連のデ
ータが連続であることを示すコード、例えば、ＳＵＭチ
ェックデータ等が書き込まれたものである。

また、不揮発性記憶部２へのデータ書き込み時には、自
動的に、ノ・−ドウエアにより付加し、逆にデータの読
み出し時には、ノ・−ドウエアにより「ＰＲＥ　ＩＤＪ
と「ＰＯ８Ｔ　ＩＤＪ　をチェックする。

これらのチェックによりエラーが検出された場合には、
マイクロプログラムは予め設定された動作を行い、不意
にマイクロプログラムが暴走することを防止できる。ま
た、不揮発性記憶部４へ転送するデータ（二対し「ＰＲ
Ｅ　ＩＤｊ、ｌ’−ＰＯ８Ｔ　ＩＤｊを付加するか否か
は、マイクロプログラムにより自動的に設定することが
でき、従来技術により不揮発性記憶部４に書き込まれた
データに対しても。

互換性を持たせることができる。

〔発明の効果〕 以上説明したように２本発明によれば次のような効果が
ある。

（１）半導体メモリ部内のフィールドデータを。

電源切断時や投入時において、不揮発性記憶部（二対し
て書き込み、読み出しを行う半導体ディスク装置にて、
当該フィールドデータの同時性と連続性を保証すること
ができる。

（２）　　従来のようにマイクロプログラム等（二より
データを使用する以前に、データの正常性がハードウェ
アにより確認することができるため、早期障害の発見を
行うことができる。

（３）　　プログラムの誤動作等により、二次的障害の
発生を防止することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は２本発明の原理図。 第２図乃至第６図は２本発明の１実施例を示した図であ
り。 第２図は実施例のブロック図。 第３図は転送回路部のブロック図。 第４図は、半導体メモリ部内のデータ構成例。 第５図は、転送データ構成例。 第６図は、データ転送処理の７０−チャートである０ １・・・半導体メモリ部。 ２・・・制御回路部。 ３・・・転送回路部。 ４・・・不揮発性記憶部。 ５・・・ＩＤコード付加部。 ６・・・ＩＤコードチエ ツク部。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 半導体メモリ部（１）と、 不揮発性記憶部（４）と、 上記半導体メモリ部）（１）及び不揮発性記憶部（４）
   との間のデータ転送を制御する転送回路部（３）と、上
   記転送回路部（３）へデータ転送の開始を指示する制御
   回路部（２）とを備え、 上記半導体メモリ部（１）内のフィールドデータを、電
   源切断時に不揮発性記憶部（４）へ書き込んだり、ある
   いは前記書き込んだデータを、不揮発性記憶部（４）か
   ら読み出したりする際の転送データをチェックする、半
   導体ディスク装置の転送データチェック方式において、 転送回路部（３）に、 転送データにチェック用のＩＤコードを付加するＩＤコ
   ード付加部（５）と、 転送データに付加されたＩＤコードをチェックするＩＤ
   コードチェック部（６）とを設け、不揮発性記憶部（４
   ）へデータを書き込む時は、転送データのＩＤ部にチェ
   ック用のＩＤコードを付加して転送し、 不揮発性記憶部（４）からデータを読み出す時は、転送
   データからチェック用のＩＤコードを取り出してチェッ
   クすることにより、データの同時性、連続性を保証でき
   るようにしたことを特徴とする半導体ディスク装置の転
   送データチェック方式。