JPH03254197A - 配線基板 - Google Patents
配線基板Info
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- JPH03254197A JPH03254197A JP2053169A JP5316990A JPH03254197A JP H03254197 A JPH03254197 A JP H03254197A JP 2053169 A JP2053169 A JP 2053169A JP 5316990 A JP5316990 A JP 5316990A JP H03254197 A JPH03254197 A JP H03254197A
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- wiring board
- laser
- laser beam
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- 238000009966 trimming Methods 0.000 claims abstract description 33
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 12
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 abstract description 12
- 239000010949 copper Substances 0.000 abstract description 12
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 3
- 238000005476 soldering Methods 0.000 abstract description 2
- 229910019655 synthetic inorganic crystalline material Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- JNDMLEXHDPKVFC-UHFFFAOYSA-N aluminum;oxygen(2-);yttrium(3+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Y+3] JNDMLEXHDPKVFC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
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Landscapes
- Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
A、産業上の利用分野
本発明は、配線基板、特に実装されたチップ抵抗などの
トリミング素子をレーザビームによりトリミングすると
きに好適な配線基板に関する。
トリミング素子をレーザビームによりトリミングすると
きに好適な配線基板に関する。
B、従来の技術
配線基板番こ各種の回路素子を実装して目的の回路を構
成した場合、その回路の特性1機能等を外部から高精度
に調整できるようになっていることが望ましい。
成した場合、その回路の特性1機能等を外部から高精度
に調整できるようになっていることが望ましい。
従来、このような回路調整を高精度に実現できる一方式
としては、第4図に示すように、配線基板1に形成した
配線パターン2.2に角形チップ抵抗3の両端を半田付
は等により接続しておき、このチップ抵抗3の表面にY
AG (イツトリウム・アルミニウム・ガーネット)レ
ーザビームを、例えば、符号4で示す逆り字状のパター
ン形状に照射することにより、予め設定された抵抗値に
トリミングする。
としては、第4図に示すように、配線基板1に形成した
配線パターン2.2に角形チップ抵抗3の両端を半田付
は等により接続しておき、このチップ抵抗3の表面にY
AG (イツトリウム・アルミニウム・ガーネット)レ
ーザビームを、例えば、符号4で示す逆り字状のパター
ン形状に照射することにより、予め設定された抵抗値に
トリミングする。
ところで、YAGレーザに使用されるビーム集束レンズ
の有効焦点深度は約2mmある。このため。
の有効焦点深度は約2mmある。このため。
焦点深度内覧二チップ抵抗が存在すれば、配線基板の撓
み変形などによりチップ抵抗のレーザ照射点がビーム光
軸方向にばらついてもチップ抵抗のレーザトリミングに
は何等支障をきたすことがない。
み変形などによりチップ抵抗のレーザ照射点がビーム光
軸方向にばらついてもチップ抵抗のレーザトリミングに
は何等支障をきたすことがない。
C0発明が解決しようとする課題
しかしながら、レーザの有効焦点深度が約2mであるの
に対し、チップ抵抗の厚さは0.6++n程度であるた
め、レーザビームの焦点をチップ抵抗の表面に合わせた
場合、配線基板の表面もレーザの有効焦点深度内に位置
されることになる。
に対し、チップ抵抗の厚さは0.6++n程度であるた
め、レーザビームの焦点をチップ抵抗の表面に合わせた
場合、配線基板の表面もレーザの有効焦点深度内に位置
されることになる。
一方、第4図に示す逆り字形状のトリミングをチップ抵
抗3の表面に形成する場合、レーザビームの照射開始点
はチップ抵抗3の鼻部から離れた基板表面状のPの位置
から開始されるため、実装されたチップをトリミングす
る場合、レーザビームが基板表面上にかならず照射され
、その表面に符号5で示す傷が形成されると共に、その
傷の深さも200μ以上となる。このため、レーザビー
ムの照射エリアには配線パターンを設けないようにする
必要がある。
抗3の表面に形成する場合、レーザビームの照射開始点
はチップ抵抗3の鼻部から離れた基板表面状のPの位置
から開始されるため、実装されたチップをトリミングす
る場合、レーザビームが基板表面上にかならず照射され
、その表面に符号5で示す傷が形成されると共に、その
傷の深さも200μ以上となる。このため、レーザビー
ムの照射エリアには配線パターンを設けないようにする
必要がある。
また、多層配線基板においては9表面配線パターン以外
に内層配線パターンもあるが、この内層配線パターンに
ついても同様の対策を施す必要があり、このため、配線
密度が低下するという問題があった。
に内層配線パターンもあるが、この内層配線パターンに
ついても同様の対策を施す必要があり、このため、配線
密度が低下するという問題があった。
本発明の技術的課題は、基板をトリミング用レーザビー
ムから防御し、品質および配線密度を向上することにあ
る。
ムから防御し、品質および配線密度を向上することにあ
る。
90課題を解決するための手段
一実施例を示す第1図に対応づけて本発明を説明すると
1本発明は、1層以上の配線パターンを有し、かっレー
ザトリミング素子17を実装できる配線基板10に適用
され6レーザトリミング素子17の実装表面部に、基板
表面へのレーザビームの照射を防御するレーザプロテク
ト層を設けることにより上記技術的課題が連成される、
E。作用 レーザトリミング素子のトリミング時に、レーザプロテ
スト層に照射されたレーザビームはレーザプロテクト層
の反射作用で反射され、これにより配線基板表面をレー
ザビームから防御することになる。よって、配線基板の
品質および配g密度を向上し得る。
1本発明は、1層以上の配線パターンを有し、かっレー
ザトリミング素子17を実装できる配線基板10に適用
され6レーザトリミング素子17の実装表面部に、基板
表面へのレーザビームの照射を防御するレーザプロテク
ト層を設けることにより上記技術的課題が連成される、
E。作用 レーザトリミング素子のトリミング時に、レーザプロテ
スト層に照射されたレーザビームはレーザプロテクト層
の反射作用で反射され、これにより配線基板表面をレー
ザビームから防御することになる。よって、配線基板の
品質および配g密度を向上し得る。
なお1本発明の詳細な説明する上記り項およびE項では
1本発明を分かり易くするために実施例の図を用いたが
、これにより本発明が実施例に限定されるものではない
。
1本発明を分かり易くするために実施例の図を用いたが
、これにより本発明が実施例に限定されるものではない
。
F、実施例
以下1本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図および第2図は、本発明による配線基板の第1の
実施例を示すもので、第1図は一部の平面図、第2図は
第1Wiのト]線に沿う断面図である。
実施例を示すもので、第1図は一部の平面図、第2図は
第1Wiのト]線に沿う断面図である。
図において、10は4層の配線パターンを有する配am
板で、その両鍔には、それぞれ外層パターン11.12
が形成され、基板内部には内層パターン13.14が2
層に形成されている。また、15.16は外層パターン
11.12が形成される配線基板10の外表面にそれぞ
れ形成した半田レジスト層である。
板で、その両鍔には、それぞれ外層パターン11.12
が形成され、基板内部には内層パターン13.14が2
層に形成されている。また、15.16は外層パターン
11.12が形成される配線基板10の外表面にそれぞ
れ形成した半田レジスト層である。
17は配線基板10の一方の外層パターン11に半田付
は法などにより接続したレーザトリミング用のチップ抵
抗であり、このチップ抵抗17の裏面および左右の周辺
部と対応する配線基板10の外表面には、これら領域を
カバーするようにレーザビーム防御用の銅パターン18
が形成されている。
は法などにより接続したレーザトリミング用のチップ抵
抗であり、このチップ抵抗17の裏面および左右の周辺
部と対応する配線基板10の外表面には、これら領域を
カバーするようにレーザビーム防御用の銅パターン18
が形成されている。
この嗣パターン】8は、外層パターン11を配線基板1
0の外表面に形成する時に同時に形成されるもので、外
層パターン11のような回路素子に対する配線機能を全
く有さす、チップ抵抗17をトリミングする時のレーザ
ビームが配線基板表面に照射されるのを防止するのに利
用される。また、チップ抵抗17の実装は、銅パターン
18の形成後になされるものである。
0の外表面に形成する時に同時に形成されるもので、外
層パターン11のような回路素子に対する配線機能を全
く有さす、チップ抵抗17をトリミングする時のレーザ
ビームが配線基板表面に照射されるのを防止するのに利
用される。また、チップ抵抗17の実装は、銅パターン
18の形成後になされるものである。
配線基板lO上に実装されたチップ抵抗17をYAGレ
ーザ等のレーザビームでトリミングする場合は、配線基
板10が載置されるX−Yテーブル(図示せず)を動作
させることにより、第1図に示すごとくチップ抵抗17
の一側趣から所定間隔離れた銅パターン18上の点Pに
レーザビームの照射開始位置を設定する。
ーザ等のレーザビームでトリミングする場合は、配線基
板10が載置されるX−Yテーブル(図示せず)を動作
させることにより、第1図に示すごとくチップ抵抗17
の一側趣から所定間隔離れた銅パターン18上の点Pに
レーザビームの照射開始位置を設定する。
このようにすることで、レーザ源を起動してから、その
レーザ出力が安定するまでの時間を確保し、かつチップ
抵抗17に対するトリミングの開始点を安定化させる。
レーザ出力が安定するまでの時間を確保し、かつチップ
抵抗17に対するトリミングの開始点を安定化させる。
レーザビームの照射開始位置が点Pに割り出されたなら
ば、レーザ源をスタートさせ、同時に図示しないX−Y
テーブルを動かして配線基板10を送り動作させる。こ
れ1こより、チップ抵抗17の表面に符号19で示す逆
り字状番コレーザビームを照射しトリミングする。この
時のレーザビームには、有効焦点深度が2−程度のもの
が使用される。
ば、レーザ源をスタートさせ、同時に図示しないX−Y
テーブルを動かして配線基板10を送り動作させる。こ
れ1こより、チップ抵抗17の表面に符号19で示す逆
り字状番コレーザビームを照射しトリミングする。この
時のレーザビームには、有効焦点深度が2−程度のもの
が使用される。
なお、トリミング時のチップ抵抗17の抵抗値は1図示
しない計測装置により監視されるようになっている。
しない計測装置により監視されるようになっている。
一方、綱パターン18にレーザビームが照射されると、
銅パターン18の表面に形威されている酸化膜が#11
@破壊され、第1図および第2図に示すように僅かな傷
18aが発生するが、酸化膜が破壊された後の銅パター
ン18の地肌は反転率が高いため、レーザビームは反射
され、銅パターン18が貫通されることがない。
銅パターン18の表面に形威されている酸化膜が#11
@破壊され、第1図および第2図に示すように僅かな傷
18aが発生するが、酸化膜が破壊された後の銅パター
ン18の地肌は反転率が高いため、レーザビームは反射
され、銅パターン18が貫通されることがない。
このことは、銅パターン18が外層パターン11と同時
に形成される35μの厚さのものであっても、レーザビ
ームが貫通するようなことがなく。
に形成される35μの厚さのものであっても、レーザビ
ームが貫通するようなことがなく。
実験結果からも確認されている。
このように本実施例にあっては、チップ抵抗17のレー
ザトリミング時に、基板表面に照射されるレーザビーム
を銅パターン18で遮断するから、配線基板10がトリ
ミング用レーザビームによって損傷されるおそれがなく
なる。これに伴いレーザ照射エリアに関係なく内層パタ
ーンを基板内部で自由に引き回すことができ、配線密度
も向上し得るほか、配線基板の品質も向上できる。また
。
ザトリミング時に、基板表面に照射されるレーザビーム
を銅パターン18で遮断するから、配線基板10がトリ
ミング用レーザビームによって損傷されるおそれがなく
なる。これに伴いレーザ照射エリアに関係なく内層パタ
ーンを基板内部で自由に引き回すことができ、配線密度
も向上し得るほか、配線基板の品質も向上できる。また
。
配線基板を構成する基材(紙、ガラス等)およびその結
合材(フェノール樹脂、エポキシ樹脂等)の材質、厚さ
等に関係な(レーザの影響を無視できる。
合材(フェノール樹脂、エポキシ樹脂等)の材質、厚さ
等に関係な(レーザの影響を無視できる。
次に5本発明の第2の実施例を第3@に基づいて説明す
る。
る。
この第2の実施例では、外層パターン11に接続される
レーザトリミング用チップ抵抗17の裏面および左右の
周辺部と対応する配線基板10の外表面に、これら領域
をカバーするように白色パターン20をスクリーン印刷
等により形威し、この白色パターン20によって配線基
板10の外表面をトリミング用レーザビームから防御す
るようにしたものである。
レーザトリミング用チップ抵抗17の裏面および左右の
周辺部と対応する配線基板10の外表面に、これら領域
をカバーするように白色パターン20をスクリーン印刷
等により形威し、この白色パターン20によって配線基
板10の外表面をトリミング用レーザビームから防御す
るようにしたものである。
なお1本実施例における白色パターン20は、配線基板
10に文字記号等をスクリーン印刷するときに同時に印
刷されるものである。
10に文字記号等をスクリーン印刷するときに同時に印
刷されるものである。
このような第2の実施例において、配線基板10上に実
装されたチップ抵抗17をレーザビームにより、符号2
1で示す逆り字状の形状にトリミングする時、レーザビ
ームが白色パターン20に照射されると、レーザビーム
の一部は白色パターン20によって反射される。このた
め、白色パターン20を貫通して配線基板10の表面に
達するレーザビーム量は大幅に減少し、その結果、配線
基板10の表示に生じる損傷は従来の場合に比し軽微な
ものとなる。
装されたチップ抵抗17をレーザビームにより、符号2
1で示す逆り字状の形状にトリミングする時、レーザビ
ームが白色パターン20に照射されると、レーザビーム
の一部は白色パターン20によって反射される。このた
め、白色パターン20を貫通して配線基板10の表面に
達するレーザビーム量は大幅に減少し、その結果、配線
基板10の表示に生じる損傷は従来の場合に比し軽微な
ものとなる。
因みに、実験結果によれば、トリミングに好適な出力の
YAGレーザビームを直接配線基板10の表面に照射し
た場合、配線基板lOの表面tこ生じる傷の深さが20
0μないしそれ以上であったのに対し、白色パターン2
0を介してYAGレーザビームを照射した時には、配線
基板lOの表面に生じる傷の深さは100μ以下である
ことが確認された。
YAGレーザビームを直接配線基板10の表面に照射し
た場合、配線基板lOの表面tこ生じる傷の深さが20
0μないしそれ以上であったのに対し、白色パターン2
0を介してYAGレーザビームを照射した時には、配線
基板lOの表面に生じる傷の深さは100μ以下である
ことが確認された。
したがって、基板内部の内層パターンはトリミング用レ
ーザの影響を全く受けることがなく、自由に内層パター
ンの引き回しが可能にfJる。
ーザの影響を全く受けることがなく、自由に内層パター
ンの引き回しが可能にfJる。
また、チップ抵抗17をパターンLH1lシてレーザト
リミングを自動的に行う場合、白色パターン20がトリ
ミング抵抗の認識を容易にするほか。
リミングを自動的に行う場合、白色パターン20がトリ
ミング抵抗の認識を容易にするほか。
チップ抵抗のトリミング失敗などにより、新たなチップ
抵抗に交換しようとする時、白色パターン20がトリミ
ングミスの抵抗体の目印となり、その識別が容易になる
。
抵抗に交換しようとする時、白色パターン20がトリミ
ングミスの抵抗体の目印となり、その識別が容易になる
。
なお、上記実施例では、配線基板のレーザプロテクト層
として銅パターンあるいは白色パターンを使用した場合
について説明したが、これに限定されるものではない。
として銅パターンあるいは白色パターンを使用した場合
について説明したが、これに限定されるものではない。
また、本発明は、抵抗体に限らず、コンデンサやインダ
クタなどをトリミングする場合にも適用できる。
クタなどをトリミングする場合にも適用できる。
また、レーザプロテクト層が形成される領域は、第1図
および第3図に示すものに限らず、少なくともトリミン
グ時に基板表面を照射するレーザビーム照射領域をカバ
ーするものであれば良い。
および第3図に示すものに限らず、少なくともトリミン
グ時に基板表面を照射するレーザビーム照射領域をカバ
ーするものであれば良い。
G1発明の詳細
な説明したように、本発明によれば、レーザトリミング
素子の実装表面にレーザプロテクト層を数けたので、配
線基板をトリミング用レーザビームから防御することが
でき、基板の品質および配線密度を向上できる。
素子の実装表面にレーザプロテクト層を数けたので、配
線基板をトリミング用レーザビームから防御することが
でき、基板の品質および配線密度を向上できる。
第1図は本発明の第1の実施例′を示す配線基板の一部
の平面図、第2図は第1図の■−■線に沿う断面図、第
3図は本発明の第2の実施例を示す一部の平面図である
。 第4図は従来の配線基板を示す一部の平面図である。 10:配線基板 11,12:外層パターン
13.14:内層パターン 17:チツプ抵抗18:銅
パターン
の平面図、第2図は第1図の■−■線に沿う断面図、第
3図は本発明の第2の実施例を示す一部の平面図である
。 第4図は従来の配線基板を示す一部の平面図である。 10:配線基板 11,12:外層パターン
13.14:内層パターン 17:チツプ抵抗18:銅
パターン
Claims (1)
- 1層以上の配線パターンを有し、かつレーザトリミング
素子を実装できる配線基板において、前記レーザトリミ
ング素子の実装表面部に、基板表面へのレーザビームの
照射を防御するレーザプロテクト層を設けたことを特徴
とする配線基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2053169A JPH0824218B2 (ja) | 1990-03-05 | 1990-03-05 | 配線基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2053169A JPH0824218B2 (ja) | 1990-03-05 | 1990-03-05 | 配線基板 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03254197A true JPH03254197A (ja) | 1991-11-13 |
JPH0824218B2 JPH0824218B2 (ja) | 1996-03-06 |
Family
ID=12935359
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2053169A Expired - Lifetime JPH0824218B2 (ja) | 1990-03-05 | 1990-03-05 | 配線基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0824218B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7105911B2 (en) | 2002-10-16 | 2006-09-12 | Hitachi, Ltd. | Multilayer electronic substrate, and the method of manufacturing multilayer electronic substrate |
JP2012198098A (ja) * | 2011-03-22 | 2012-10-18 | Seiko Epson Corp | 慣性センサー |
JP2016085180A (ja) * | 2014-10-28 | 2016-05-19 | セイコーエプソン株式会社 | 電子デバイス、電子機器および移動体 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6112201U (ja) * | 1984-06-26 | 1986-01-24 | ソニー株式会社 | 配線回路基板 |
JPS6413171U (ja) * | 1987-07-13 | 1989-01-24 | ||
JPH01138789A (ja) * | 1987-08-05 | 1989-05-31 | Fuji Electric Co Ltd | 混成集積回路の機能トリミング方法 |
JPH03231486A (ja) * | 1990-02-07 | 1991-10-15 | Nippon Chemicon Corp | 回路装置 |
-
1990
- 1990-03-05 JP JP2053169A patent/JPH0824218B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6112201U (ja) * | 1984-06-26 | 1986-01-24 | ソニー株式会社 | 配線回路基板 |
JPS6413171U (ja) * | 1987-07-13 | 1989-01-24 | ||
JPH01138789A (ja) * | 1987-08-05 | 1989-05-31 | Fuji Electric Co Ltd | 混成集積回路の機能トリミング方法 |
JPH03231486A (ja) * | 1990-02-07 | 1991-10-15 | Nippon Chemicon Corp | 回路装置 |
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---|---|---|---|---|
US7105911B2 (en) | 2002-10-16 | 2006-09-12 | Hitachi, Ltd. | Multilayer electronic substrate, and the method of manufacturing multilayer electronic substrate |
JP2012198098A (ja) * | 2011-03-22 | 2012-10-18 | Seiko Epson Corp | 慣性センサー |
JP2016085180A (ja) * | 2014-10-28 | 2016-05-19 | セイコーエプソン株式会社 | 電子デバイス、電子機器および移動体 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0824218B2 (ja) | 1996-03-06 |
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