JPH03239967A - 導電率および比抵抗測定装置 - Google Patents
導電率および比抵抗測定装置Info
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- JPH03239967A JPH03239967A JP3679390A JP3679390A JPH03239967A JP H03239967 A JPH03239967 A JP H03239967A JP 3679390 A JP3679390 A JP 3679390A JP 3679390 A JP3679390 A JP 3679390A JP H03239967 A JPH03239967 A JP H03239967A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 30
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims abstract description 24
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 abstract description 4
- 231100000989 no adverse effect Toxicity 0.000 abstract description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
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- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、導電率と比抵抗とを同時に測定できる導電率
および比抵抗測定袋！に関する。
および比抵抗測定袋！に関する。
〔従来の技術］
従来、１台の測定装置で測定対象液の導電率と比抵抗を
測定する場合、基準抵抗と測定対象液との接続関係を切
り換えるようにしていた。
測定する場合、基準抵抗と測定対象液との接続関係を切
り換えるようにしていた。
すなわち、測定対象液の導電率を測定する場合には、第
２図に示すように、演算増幅器２ｏの出力側の点２１と
演算増幅器２０の一方の入力端子２２との間に基準抵抗
（その抵抗値をＲとする）２３を接続すると共に、測定
対象液（その抵抗値をＲ８とする）を収容した測定セル
２４を直列に接続して、基準抵抗２３と測定対象液とが
直列になるようにし、演算増幅器２０の他方の入力端子
２５に所定の試験電圧ｅを印加するようにしており、ま
た、測定対象液の比抵抗を測定する場合には、第３図に
示すように、演算増幅器２０の出力側の点２１と演算増
幅器２ｏの一方の入力端子２２との間に測定セル２４を
接続すると共に、この測定セル２４に基準抵抗Ｒを直列
接続し、演算増幅器２０の他方の入力端子２５に所定の
試験電圧ｅを印加するようにしていた。
２図に示すように、演算増幅器２ｏの出力側の点２１と
演算増幅器２０の一方の入力端子２２との間に基準抵抗
（その抵抗値をＲとする）２３を接続すると共に、測定
対象液（その抵抗値をＲ８とする）を収容した測定セル
２４を直列に接続して、基準抵抗２３と測定対象液とが
直列になるようにし、演算増幅器２０の他方の入力端子
２５に所定の試験電圧ｅを印加するようにしており、ま
た、測定対象液の比抵抗を測定する場合には、第３図に
示すように、演算増幅器２０の出力側の点２１と演算増
幅器２ｏの一方の入力端子２２との間に測定セル２４を
接続すると共に、この測定セル２４に基準抵抗Ｒを直列
接続し、演算増幅器２０の他方の入力端子２５に所定の
試験電圧ｅを印加するようにしていた。
なお、前記両図において、ｖｏは演算増幅器２゜の出力
である。
である。
〔発明が解決しようとする課題］
ところで、前記第２図および第３図に示す回路構成によ
って、それぞれ比抵抗および導電率を測定することがで
きるが、その場合、次のような不都合が生ずる。
って、それぞれ比抵抗および導電率を測定することがで
きるが、その場合、次のような不都合が生ずる。
すなわち、第２図に示す回路によって比抵抗を測定する
場合、演算増幅器２０の出力■。は、ｖｏ ＝（１＋
−）・ ｅ ８ と表されるが、測定対象液の抵抗値（以下、測定液抵抗
と云う）Ｒ１１が殆どゼロの場合、Ｖｏが掻めて大きく
なる（無限大に近くなる）が、演算増幅器２０の飽和電
圧には限界があるため、この場合、測定誤差が生ずるこ
とになる。
場合、演算増幅器２０の出力■。は、ｖｏ ＝（１＋
−）・ ｅ ８ と表されるが、測定対象液の抵抗値（以下、測定液抵抗
と云う）Ｒ１１が殆どゼロの場合、Ｖｏが掻めて大きく
なる（無限大に近くなる）が、演算増幅器２０の飽和電
圧には限界があるため、この場合、測定誤差が生ずるこ
とになる。
また、第３図に示す回路によって導電率を測定する場合
、演算増幅器２０の出力ｖ０は、Ｒ８ Ｖ（、＝（１＋ −）・ ｅ と表されるが、測定液抵抗Ｒｘが無限大に近い場合（導
電率が殆どゼロの場合）、■。が極めて大きくなり（無
限大に近くなる）、この場合も同様に測定誤差が生ずる
ことになる。
、演算増幅器２０の出力ｖ０は、Ｒ８ Ｖ（、＝（１＋ −）・ ｅ と表されるが、測定液抵抗Ｒｘが無限大に近い場合（導
電率が殆どゼロの場合）、■。が極めて大きくなり（無
限大に近くなる）、この場合も同様に測定誤差が生ずる
ことになる。
つまり、従来の回路構成によれば、演算増幅器２０を介
して測定液に試験電圧ｅを印加していたので、ＲＩＩ−
０やＲ，ζ■のときには、高精度に測定することができ
なかった。
して測定液に試験電圧ｅを印加していたので、ＲＩＩ−
０やＲ，ζ■のときには、高精度に測定することができ
なかった。
本発明は、上述の事柄に留意してなされたもので、その
目的とするところは、測定液抵抗が如何なる場合にも導
電率や比抵抗を精度よく測定することができる導電率お
よび比抵抗測定装置を提供することにある。
目的とするところは、測定液抵抗が如何なる場合にも導
電率や比抵抗を精度よく測定することができる導電率お
よび比抵抗測定装置を提供することにある。
上述の目的を達成するため、本発明に係る導電率および
比抵抗測定装置は、基準抵抗と測定セルとを直列接続し
、これら両者間の接続点を演算増幅器の一方の入力端子
に接続すると共に、この演算増幅器の他方の入力端子を
当該演算増幅器の出力点に接続し、前記基準抵抗と測定
セル内の測定対象液とからなる直列回路の両端に交流電
圧を印加するようにした点に特徴がある。
比抵抗測定装置は、基準抵抗と測定セルとを直列接続し
、これら両者間の接続点を演算増幅器の一方の入力端子
に接続すると共に、この演算増幅器の他方の入力端子を
当該演算増幅器の出力点に接続し、前記基準抵抗と測定
セル内の測定対象液とからなる直列回路の両端に交流電
圧を印加するようにした点に特徴がある。
上記特徴的構成よりなる本発明に係る導電率および比抵
抗測定装置によれば、試験電圧をｅ、演算増幅器の出力
ｅ８とするとき、導電率１／ＲＸおよび比抵抗Ｒ８は、 １ｅ−ｅ。
抗測定装置によれば、試験電圧をｅ、演算増幅器の出力
ｅ８とするとき、導電率１／ＲＸおよび比抵抗Ｒ８は、 １ｅ−ｅ。
Ｒｘ ｅｌＩＸＲ
ｅ、ＸＲ
Ｒ，＝
−ｅｇ
とそれぞれ表される。従って、測定液抵抗が如何なる場
合にも、導電率や比抵抗を精度よく測定することができ
る。
合にも、導電率や比抵抗を精度よく測定することができ
る。
以下、本発明の一実施例を第１図を参照しながら説明す
る。
る。
第１図は本発明に係る導電率および比抵抗測定装置の構
成例を示し、この図において、１は発振回路、２は試験
電圧切換え回路で、例えば周波数がＩＫＨｚ〜５０ＫＨ
ｚ、電圧が１０−ν〜１ｖの各種の交流の試験電圧（そ
の電圧値をｅとする）を出力することができる。
成例を示し、この図において、１は発振回路、２は試験
電圧切換え回路で、例えば周波数がＩＫＨｚ〜５０ＫＨ
ｚ、電圧が１０−ν〜１ｖの各種の交流の試験電圧（そ
の電圧値をｅとする）を出力することができる。
３は測定主部で、基準抵抗４（その抵抗値をＲとする）
と、測定対象液（その抵抗値をＲ８とする）を収容する
測定セル５と、バッファとしての演算増幅器６とからな
り、次のように構成されている。すなわち、基準抵抗４
と測定セル５とが直列に接続され、これら両者４．５の
接続点Ａが演算増幅器６の一方の入力端子６ａに接続さ
れ、基準抵抗４の他端側は試験電圧切換え回路２の出力
側に接続されると共に、測定セル５の他端側は接地され
ている。そして、演算増幅器６の他方の入力端子６ｂは
演算増幅器６の出力点６ｃに接続されている。
と、測定対象液（その抵抗値をＲ８とする）を収容する
測定セル５と、バッファとしての演算増幅器６とからな
り、次のように構成されている。すなわち、基準抵抗４
と測定セル５とが直列に接続され、これら両者４．５の
接続点Ａが演算増幅器６の一方の入力端子６ａに接続さ
れ、基準抵抗４の他端側は試験電圧切換え回路２の出力
側に接続されると共に、測定セル５の他端側は接地され
ている。そして、演算増幅器６の他方の入力端子６ｂは
演算増幅器６の出力点６ｃに接続されている。
７は前記測定主部３の出力側に設けられる切換えスイッ
チで、一方の切換え端子７ａは演算増幅器６の出力側に
接続されると共に、他方の切換え端子７ｂは試験電圧切
換え回路２の出力側に連なるようにしてあり、さらに、
切換え切片７Ｃを備えた固定端子７ｃは後述するゲイン
切換え回路８に接続されている。なお、Ｂは基準抵抗４
の他端側と切換え端子７ｂとの接続点である。
チで、一方の切換え端子７ａは演算増幅器６の出力側に
接続されると共に、他方の切換え端子７ｂは試験電圧切
換え回路２の出力側に連なるようにしてあり、さらに、
切換え切片７Ｃを備えた固定端子７ｃは後述するゲイン
切換え回路８に接続されている。なお、Ｂは基準抵抗４
の他端側と切換え端子７ｂとの接続点である。
８はゲイン切換え回路、９は同期整流回路、１０はＡ／
Ｄ変換器、１１はＣＰＵである。
Ｄ変換器、１１はＣＰＵである。
而して、上記構成の導電率および比抵抗測定装置におい
て、切換えスイッチ７の切換え切片７Ｃが実線で示す位
置にあるものとする。この状態において、測定セル５内
に測定対象液を収容し、図外の電源スィッチをオンする
と、発振回路１において交流が発生し、この交流は試験
電圧切換え回路２において適宜の周波数と電圧に調整さ
れて試験電圧として出力され、試験電圧は基準抵抗４と
測定セル５内に収容された測定対象液との直列回路に印
加される。
て、切換えスイッチ７の切換え切片７Ｃが実線で示す位
置にあるものとする。この状態において、測定セル５内
に測定対象液を収容し、図外の電源スィッチをオンする
と、発振回路１において交流が発生し、この交流は試験
電圧切換え回路２において適宜の周波数と電圧に調整さ
れて試験電圧として出力され、試験電圧は基準抵抗４と
測定セル５内に収容された測定対象液との直列回路に印
加される。
これによって、演算増幅器６の出力側には、次の（１）
弐で示す出力ｅヨが表れる。
弐で示す出力ｅヨが表れる。
ｗ
この出力ｅ８は切換えスイッチ７を介してゲイン切換え
回路８に入力されて適宜の増幅処理を受けた後、同期整
流回路９において直流レベルにされ、Ａ／Ｄ変換器１０
においてディジタル値に変換された後、ＣＰＵＩＩに入
力される。
回路８に入力されて適宜の増幅処理を受けた後、同期整
流回路９において直流レベルにされ、Ａ／Ｄ変換器１０
においてディジタル値に変換された後、ＣＰＵＩＩに入
力される。
そして、ＣＰＬＩＩＩにおいては、前記出力ｅヨを下記
に示す式に代入して導電率１／Ｒｘ、比抵抗Ｒ８が求め
られる。
に示す式に代入して導電率１／Ｒｘ、比抵抗Ｒ８が求め
られる。
Ｒ菖 ｅ、ＸＲ
ｅ−ｅ。
上記（２）、 （３）式から理解されるように、本発明
に係る導電率および比抵抗測定装置においては、測定対
象液の抵抗が０またはωであっても、導電率１ ／ Ｒ
實および比抵抗Ｒ８をそれぞれ表す式になんら悪影響が
及ぼされることがない、従って、測定対象液の抵抗が如
何なる値であっても、導電率１ ／ Ｒ菖および比抵抗
Ｒ１を精度よく測定することができる。
に係る導電率および比抵抗測定装置においては、測定対
象液の抵抗が０またはωであっても、導電率１ ／ Ｒ
實および比抵抗Ｒ８をそれぞれ表す式になんら悪影響が
及ぼされることがない、従って、測定対象液の抵抗が如
何なる値であっても、導電率１ ／ Ｒ菖および比抵抗
Ｒ１を精度よく測定することができる。
そして、本発明装置による測定に際して、以下の点に注
意すれば、より精度よく広範囲に測定することができる
。すなわち、 ■ 上記（１）式でも明らかなように、試験電圧ｅが安
定しない場合測定誤差が生ずるが、このようなおそれが
あるときには、前記切換えスイッチ７の切換え切片７ｃ
を実線で示す位置に切り換えることによって試験電圧ｅ
を測定し、この測定した試験電圧ｅを上記（２）、 （
３１式に代入する。
意すれば、より精度よく広範囲に測定することができる
。すなわち、 ■ 上記（１）式でも明らかなように、試験電圧ｅが安
定しない場合測定誤差が生ずるが、このようなおそれが
あるときには、前記切換えスイッチ７の切換え切片７ｃ
を実線で示す位置に切り換えることによって試験電圧ｅ
を測定し、この測定した試験電圧ｅを上記（２）、 （
３１式に代入する。
■ 測定データに応じて試験電圧ｅの周波数や電圧レベ
ルを適宜変えることにより、測定セル５における分極影
響を少なくすることができる。
ルを適宜変えることにより、測定セル５における分極影
響を少なくすることができる。
■ Ａ／Ｄ変換器１０に入力される電圧レベルを試験電
圧のレベルに連動して増幅させるようにすればより高精
度に測定することができる。
圧のレベルに連動して増幅させるようにすればより高精
度に測定することができる。
■ 測定データに応して基準抵抗４の値を可変にして適
宜切り換えられるようにすることにより、高範囲の測定
を精度よく行うことができる。
宜切り換えられるようにすることにより、高範囲の測定
を精度よく行うことができる。
■ 測定波形の前側の部分をカントするように同期整流
することにより、ケーブル容量による影響を少なくする
ことができる。
することにより、ケーブル容量による影響を少なくする
ことができる。
［発明の効果］
以上説明したように、本発明に係る導電率および比抵抗
測定装置によれば、測定液抵抗が如何なる場合にも導電
率や比抵抗を精度よく測定することができる。そして、
上記装置は構成が簡単であると共に安価であり、さらに
、測定操作も極めて簡単で使い易いといった利点もある
。
測定装置によれば、測定液抵抗が如何なる場合にも導電
率や比抵抗を精度よく測定することができる。そして、
上記装置は構成が簡単であると共に安価であり、さらに
、測定操作も極めて簡単で使い易いといった利点もある
。
第１図は本発明に係る導電率および比抵抗測定装置の一
例を示す構成図である。 る。 ４・・・基準抵抗、５・・・測定セル、６・・・演算増
幅器、６ａ、 ６ｂ・・・入力端子、６Ｃ・・・出力点
。
例を示す構成図である。 る。 ４・・・基準抵抗、５・・・測定セル、６・・・演算増
幅器、６ａ、 ６ｂ・・・入力端子、６Ｃ・・・出力点
。
Claims (1)
- 基準抵抗と測定セルとを直列接続し、これら両者間の接
続点を演算増幅器の一方の入力端子に接続すると共に、
この演算増幅器の他方の入力端子を当該演算増幅器の出
力点に接続し、前記基準抵抗と測定セル内の測定対象液
とからなる直列回路の両端に交流電圧を印加するように
したことを特徴とする導電率および比抵抗測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2036793A JP2553945B2 (ja) | 1990-02-17 | 1990-02-17 | 導電率および比抵抗測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2036793A JP2553945B2 (ja) | 1990-02-17 | 1990-02-17 | 導電率および比抵抗測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03239967A true JPH03239967A (ja) | 1991-10-25 |
| JP2553945B2 JP2553945B2 (ja) | 1996-11-13 |
Family
ID=12479668
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2036793A Expired - Lifetime JP2553945B2 (ja) | 1990-02-17 | 1990-02-17 | 導電率および比抵抗測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2553945B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100344965B1 (ko) * | 1999-10-12 | 2002-07-19 | 서통테크놀로지주식회사 | 리튬이온 전지의 개방전압 및 내부저항 측정장치 |
| CN109188099A (zh) * | 2018-09-12 | 2019-01-11 | 湖南宝德机电设备有限公司 | 一种液体电导率检测系统 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5526405U (ja) * | 1978-07-03 | 1980-02-20 | ||
| JPS5524686A (en) * | 1978-08-11 | 1980-02-21 | Hitachi Cable Ltd | Dc resistance measuring method |
| JPS63243767A (ja) * | 1987-03-30 | 1988-10-11 | Yokogawa Electric Corp | 分極の影響を除去した導電率測定方法及び装置 |
-
1990
- 1990-02-17 JP JP2036793A patent/JP2553945B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5526405U (ja) * | 1978-07-03 | 1980-02-20 | ||
| JPS5524686A (en) * | 1978-08-11 | 1980-02-21 | Hitachi Cable Ltd | Dc resistance measuring method |
| JPS63243767A (ja) * | 1987-03-30 | 1988-10-11 | Yokogawa Electric Corp | 分極の影響を除去した導電率測定方法及び装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100344965B1 (ko) * | 1999-10-12 | 2002-07-19 | 서통테크놀로지주식회사 | 리튬이온 전지의 개방전압 및 내부저항 측정장치 |
| CN109188099A (zh) * | 2018-09-12 | 2019-01-11 | 湖南宝德机电设备有限公司 | 一种液体电导率检测系统 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2553945B2 (ja) | 1996-11-13 |
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Legal Events
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