JPH03231254A - 電子写真感光体 - Google Patents
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- JPH03231254A JPH03231254A JP2654590A JP2654590A JPH03231254A JP H03231254 A JPH03231254 A JP H03231254A JP 2654590 A JP2654590 A JP 2654590A JP 2654590 A JP2654590 A JP 2654590A JP H03231254 A JPH03231254 A JP H03231254A
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Landscapes
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はアモルファスシリコンカーバイド層と有機光半
導体層を積層して成る電子写真感光体に関し、詳細には
逆転電界法による静電電荷潜像形成方法を用いてコント
ラストや光怒度を高めることができた電子写真感光体に
関するものである。
導体層を積層して成る電子写真感光体に関し、詳細には
逆転電界法による静電電荷潜像形成方法を用いてコント
ラストや光怒度を高めることができた電子写真感光体に
関するものである。
C従来技術及びその問題点〕
電子写真感光体の光導電材料にはSe、 5e−Te。
AszSea+ ZnO,CdS、アモルファスシリコ
ンなどの無機材料並びに各種有機材料があり、そのなか
でSeが最初に実用化され、次いでZnO,CdS、ア
モルファスシリコン(以下、a−Siと略す)も実用化
された。他方、有機材料においてはPVKが最初に実用
化され、その後、電荷の発生並びに電荷の輸送という機
能を別々の材料に分担させる機能分離型感光体が提案さ
れた。
ンなどの無機材料並びに各種有機材料があり、そのなか
でSeが最初に実用化され、次いでZnO,CdS、ア
モルファスシリコン(以下、a−Siと略す)も実用化
された。他方、有機材料においてはPVKが最初に実用
化され、その後、電荷の発生並びに電荷の輸送という機
能を別々の材料に分担させる機能分離型感光体が提案さ
れた。
一方、無機光導電層の上に有機光半導体層を積層した電
子写真感光体も提案された。
子写真感光体も提案された。
例えばSe層と有機光半導体層の積層型感光体があり、
既に実用化されたが、この感光体によれば、 Se自体
有害であり、しかも、長波長側の感度に劣るという欠点
もあった。
既に実用化されたが、この感光体によれば、 Se自体
有害であり、しかも、長波長側の感度に劣るという欠点
もあった。
そこで、アモルファスシリコンカーバイド(以下、a−
5iCと略す)から成る光導電層と有機光半導体層から
成る積層型感光体が提案され(特開昭56−14241
号参照)、これにより、上記問題点を解決して無公害性
並びに高光感度な特性が得られた。
5iCと略す)から成る光導電層と有機光半導体層から
成る積層型感光体が提案され(特開昭56−14241
号参照)、これにより、上記問題点を解決して無公害性
並びに高光感度な特性が得られた。
しかしながら、静電電荷潜像形成方法には一般的にカー
ルソン法が採用されているが、上記提案の感光体をカー
ルソン法を用いて潜像形成した場合、未だ満足し得る程
に静電潜像のコントラストが高くなく、そのために更に
一層高感度な電子写真感光体が望まれる。
ルソン法が採用されているが、上記提案の感光体をカー
ルソン法を用いて潜像形成した場合、未だ満足し得る程
に静電潜像のコントラストが高くなく、そのために更に
一層高感度な電子写真感光体が望まれる。
従って本発明は叙上に鑑みて完成されたものであり、そ
の目的は電荷潜像のコントラストを高め、高感度な特性
が得られた電子写真感光体を提供することにある。
の目的は電荷潜像のコントラストを高め、高感度な特性
が得られた電子写真感光体を提供することにある。
本発明の電子写真感光体は導電性基板もしくは可撓性導
電シートの上にa −3i層と組成式S i、−XC8
のX値がQ < x <0.5で表されるa−5iC層
が相互に光学的バンドギャップが異なるように積層し且
つ各層の厚みが20〜500人である無機半導体層、有
機光半導体層並びに透明絶縁層を順次積層して成ること
を特徴とする。
電シートの上にa −3i層と組成式S i、−XC8
のX値がQ < x <0.5で表されるa−5iC層
が相互に光学的バンドギャップが異なるように積層し且
つ各層の厚みが20〜500人である無機半導体層、有
機光半導体層並びに透明絶縁層を順次積層して成ること
を特徴とする。
以下、本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明電子写真感光体の層構成を示しており、
導電性基板(1)の上に上記構成の無機半導体層(2)
、有機光半導体層(3)及び透明絶縁層(4)を順次積
層する。そして、無機半導体N(2)には電荷の発生と
いう機能があり、有機光半導体層(3)には電荷輸送と
いう機能がある。
導電性基板(1)の上に上記構成の無機半導体層(2)
、有機光半導体層(3)及び透明絶縁層(4)を順次積
層する。そして、無機半導体N(2)には電荷の発生と
いう機能があり、有機光半導体層(3)には電荷輸送と
いう機能がある。
本発明は上記のような層構成により逆転電界法を採用し
てコントラストを高め、しかも、光感度を高めることが
できた点が特徴である。
てコントラストを高め、しかも、光感度を高めることが
できた点が特徴である。
先ず基板(1)並びに各種層について述べる。
基板(1)には、銅、黄銅、5IIS 、 Aj!、N
iなどの金属導電体、或いはガラス、セラミックスなど
の絶縁体の表面に導電性薄膜をコーティングしたものな
どがある。
iなどの金属導電体、或いはガラス、セラミックスなど
の絶縁体の表面に導電性薄膜をコーティングしたものな
どがある。
この基板(1)はシート状、ベルト状もしくはウェブ状
可撓性導電シートでよい。このようなシートにはA1N
i、ステンレスなどの金属シート、或いはポリエステル
フィルム、ナイロン、ポリイミドなどの高分子樹脂の上
にAl、Niなどの金属もしくはSnO□、インジウム
とスズの複合酸化物:ITO(Indium Tin
0xide)などの透明導電性材料や有機導電性材料を
蒸着など導電処理したものが用いられる。
可撓性導電シートでよい。このようなシートにはA1N
i、ステンレスなどの金属シート、或いはポリエステル
フィルム、ナイロン、ポリイミドなどの高分子樹脂の上
にAl、Niなどの金属もしくはSnO□、インジウム
とスズの複合酸化物:ITO(Indium Tin
0xide)などの透明導電性材料や有機導電性材料を
蒸着など導電処理したものが用いられる。
無機半導体層(2)については、a−3i層とa−5i
C層を組合わせて交互に積層した超格子構造の層構成で
あり、両者の層の光学的バンドギャップ(以下、光学的
バンドギャップをEgと略す)が相互に異なるようにし
、しかも、各々の層の厚みを所定通りの範囲に設定し、
これにより、光キャリアの発生量を高め、また、その光
キャリアの移動度を高めるとともに寿命を長くし、その
結果、光感度が高くなり、残留電位が小さくなる。
C層を組合わせて交互に積層した超格子構造の層構成で
あり、両者の層の光学的バンドギャップ(以下、光学的
バンドギャップをEgと略す)が相互に異なるようにし
、しかも、各々の層の厚みを所定通りの範囲に設定し、
これにより、光キャリアの発生量を高め、また、その光
キャリアの移動度を高めるとともに寿命を長くし、その
結果、光感度が高くなり、残留電位が小さくなる。
上記各々の層の厚みは20〜500人、好適には30〜
300人の範囲に設定すればよく、この範囲により光感
度が顕著に高くなる。各々の層の厚みが20人未満の場
合には、超格子構造内で発生したキャリアのトンネル効
果による伝導が十分に得られず、キャリアの良好な走行
性や寿命が得られない。
300人の範囲に設定すればよく、この範囲により光感
度が顕著に高くなる。各々の層の厚みが20人未満の場
合には、超格子構造内で発生したキャリアのトンネル効
果による伝導が十分に得られず、キャリアの良好な走行
性や寿命が得られない。
また、500 人を越えると、トンネル効果で得たキャ
リアの運動エネルギーが各層内での散乱により失われ、
キャリアの良好な走行性や寿命が得られない。
リアの運動エネルギーが各層内での散乱により失われ、
キャリアの良好な走行性や寿命が得られない。
また上記各々の層はいずれも優れた光導電性があればよ
く、そのためには一方のa−3iC層の組成を次の通り
に設定すればよい。
く、そのためには一方のa−3iC層の組成を次の通り
に設定すればよい。
組成式 5il−XCx
Q<x<0.5
好適には
0.05 < x <0.4
上記X値が0.5以上の場合には光導電層が著しく低く
なり、光キャリアの励起機能が低下する。
なり、光キャリアの励起機能が低下する。
a −5i層についても優れた光導電層を備えていれば
よく、しかも、上記a−SiC層とPgが異なる範囲内
でa−St層にゲルマニウム(Ge)、スズ(Sn)、
酸素(0)、窒素(N)及びカーボン(C)から選択し
た少なくとも一種の元素を含有させてもよい。
よく、しかも、上記a−SiC層とPgが異なる範囲内
でa−St層にゲルマニウム(Ge)、スズ(Sn)、
酸素(0)、窒素(N)及びカーボン(C)から選択し
た少なくとも一種の元素を含有させてもよい。
このような超格子構造の無機半導体1(2)には水素(
H)元素やハロゲン元素がダングリングポンド終端用に
含有されるが、これらの元素のなかでH元素が終端部に
取り込まれ易く、これによってEgのなかの局在準位密
度が低減するという点で望ましい。また、上記無機半導
体1(2)の厚みは0゜05〜5μm、好適には0.1
〜3μ−の範囲であればよく、この範囲内であれば、高
い光感度が得られ、残留電位が低くなる。
H)元素やハロゲン元素がダングリングポンド終端用に
含有されるが、これらの元素のなかでH元素が終端部に
取り込まれ易く、これによってEgのなかの局在準位密
度が低減するという点で望ましい。また、上記無機半導
体1(2)の厚みは0゜05〜5μm、好適には0.1
〜3μ−の範囲であればよく、この範囲内であれば、高
い光感度が得られ、残留電位が低くなる。
更にまた無機半導体層(2)に周期律表の第ma族元素
(以下、ma族元素と略す)や第Va族元素(以下、V
a族元素と略す)を含有させて負帯電用又は正帯電用に
適した電子写真感光体ができる。
(以下、ma族元素と略す)や第Va族元素(以下、V
a族元素と略す)を含有させて負帯電用又は正帯電用に
適した電子写真感光体ができる。
ma族元素を1 =1000ppm含有させた場合には
負帯電用となり、また、Va族元素を500ppna以
下で含有させた場合もしくはこれらの元素を含有させな
い場合には正帯電用に好適となる。
負帯電用となり、また、Va族元素を500ppna以
下で含有させた場合もしくはこれらの元素を含有させな
い場合には正帯電用に好適となる。
上記nla族元素にはB、 AN、 Ga、 Inなど
の元素があるが、B元素が共有結合性に優れて半導体特
性を敏感に変え得る点で、その上、優れた帯電能及び光
感度が得られるという点で望ましい。
の元素があるが、B元素が共有結合性に優れて半導体特
性を敏感に変え得る点で、その上、優れた帯電能及び光
感度が得られるという点で望ましい。
またVa族元素にはN、 P、 As、 Sb、 B
iなどの元素があるが、P元素を用いる方が上記と同じ
理により望ましい。
iなどの元素があるが、P元素を用いる方が上記と同じ
理により望ましい。
このような無機半導体層(2)を形成するにはグロー放
電分解法、イオンブレーティング法、反応性スパッタリ
ング法、真空蒸着法、CVD法などの薄膜形成方法があ
る。
電分解法、イオンブレーティング法、反応性スパッタリ
ング法、真空蒸着法、CVD法などの薄膜形成方法があ
る。
前記有機光半導体層(3)には電子供与性化合物又は電
子吸引性化合物があり、前者には高分子量のものとして
ポリ−N−ビニルカルバゾール、ポリビニルピレン、ポ
リビニルアントラセン、ピレン−ホルムアルデヒド縮重
合体などがあり、また、低分子量のものとしてオキサジ
アゾール、オキサゾール、ピラゾリン、トリフェニルメ
タン、ヒドラゾン、トリアリールアミン、N−フェニル
カルバゾール、スチルヘンなどがあり、この低分子物質
はポリカーボネート、ポリエステル、メタアクリル樹脂
、ポリアミド、アクリルエポキシ、ポリエチレン、フェ
ノール、ポリウレタン、ブチラール樹脂、ポリ酢酸ビニ
ル、ユリア樹脂などのバインダに分散して用いられる。
子吸引性化合物があり、前者には高分子量のものとして
ポリ−N−ビニルカルバゾール、ポリビニルピレン、ポ
リビニルアントラセン、ピレン−ホルムアルデヒド縮重
合体などがあり、また、低分子量のものとしてオキサジ
アゾール、オキサゾール、ピラゾリン、トリフェニルメ
タン、ヒドラゾン、トリアリールアミン、N−フェニル
カルバゾール、スチルヘンなどがあり、この低分子物質
はポリカーボネート、ポリエステル、メタアクリル樹脂
、ポリアミド、アクリルエポキシ、ポリエチレン、フェ
ノール、ポリウレタン、ブチラール樹脂、ポリ酢酸ビニ
ル、ユリア樹脂などのバインダに分散して用いられる。
また、電子吸引性化合物には2.4.7− トリニトロ
フルオレノンなどがある。
フルオレノンなどがある。
そして、電子供与性化合物を選択した場合、負帯電型電
子写真感光体となり、他方、電子吸引性化合物を選択し
た場合には正帯電型電子写真感光体となる。
子写真感光体となり、他方、電子吸引性化合物を選択し
た場合には正帯電型電子写真感光体となる。
また、有機光半導体N(3)の厚みは10〜50μm、
好適には10〜30μmの範囲内に設定すればよく、こ
の範囲内であれば、高い表面電位が得られ、残留電位が
低くなる。
好適には10〜30μmの範囲内に設定すればよく、こ
の範囲内であれば、高い表面電位が得られ、残留電位が
低くなる。
有機半導体層は浸漬塗工方法又はコーティング法により
形成し、前者は感光材が溶媒中に分散された塗工液の中
に浸漬し、次いで、一定な速度で引き上げ、そして、自
然乾燥及び熱エージング(約150℃、約1時間)を行
うという方法であり、また、後者のコーティング法によ
れば、コーター(塗機)を用いて溶媒に分散された感光
材を塗布し、次いで熱風乾燥を行う。
形成し、前者は感光材が溶媒中に分散された塗工液の中
に浸漬し、次いで、一定な速度で引き上げ、そして、自
然乾燥及び熱エージング(約150℃、約1時間)を行
うという方法であり、また、後者のコーティング法によ
れば、コーター(塗機)を用いて溶媒に分散された感光
材を塗布し、次いで熱風乾燥を行う。
透明絶縁層(4)は有機材料もしくは無機材料のいずれ
によって形成してもよい。
によって形成してもよい。
有機材料であれば、マイラー、ポリカーボネート、ポリ
エステル、ポリパラキシレンなどが挙げられ、それを塗
布或いは蒸着などの方法により形成する。
エステル、ポリパラキシレンなどが挙げられ、それを塗
布或いは蒸着などの方法により形成する。
無機材料としては充分に大きな光学的バンドギャップが
あって可視光に透光性があり、且つ高抵抗な材料が選ば
れ、例えばアモルファス状のシリコン、シリコンカーバ
イド、シリコンナイトライド、シリコンオキサイド、シ
リコンオキシカーバイド、シリコンオキシナイトライド
などがあり、それを薄膜形成手段により形成する。
あって可視光に透光性があり、且つ高抵抗な材料が選ば
れ、例えばアモルファス状のシリコン、シリコンカーバ
イド、シリコンナイトライド、シリコンオキサイド、シ
リコンオキシカーバイド、シリコンオキシナイトライド
などがあり、それを薄膜形成手段により形成する。
透明絶縁層(4)の厚みは2〜50μ蒙、好適には5〜
25μ蒙にすればよく、2μ請未満の場合には、この層
(4)で十分な電位が保持できず、これにより、表面電
位を高めたり、電位コントラストを高めることができな
(なり、また、繰返し使用した場合、摩耗により寿命も
劣る。50μIを越えた場合には精細な電荷パターンを
形成するに当たって、この層(5)中で電界(電気力線
)が膜面方向に広がりを生じ、これにより、解像力の低
下をきたし、十分な解像度が得られない。
25μ蒙にすればよく、2μ請未満の場合には、この層
(4)で十分な電位が保持できず、これにより、表面電
位を高めたり、電位コントラストを高めることができな
(なり、また、繰返し使用した場合、摩耗により寿命も
劣る。50μIを越えた場合には精細な電荷パターンを
形成するに当たって、この層(5)中で電界(電気力線
)が膜面方向に広がりを生じ、これにより、解像力の低
下をきたし、十分な解像度が得られない。
かくして上記構成の電子写真感光体を逆転電界法により
電荷潜像を行った場合、カールソン法による先行する感
光体に比べてコントラストが高くなり、光感度も高める
ことができた。
電荷潜像を行った場合、カールソン法による先行する感
光体に比べてコントラストが高くなり、光感度も高める
ことができた。
また本実施例の逆転電界法を第2図に示す電荷潜像プロ
セスでもって説明する。
セスでもって説明する。
同図(A)によれば、(5)は基板であり、(6)は無
機半導体11i (2)及び有機光半導体層(3)など
から成る感光層であり、(7)は透明絶縁層である。
機半導体11i (2)及び有機光半導体層(3)など
から成る感光層であり、(7)は透明絶縁層である。
(B)においては、透明絶縁層(7)の表面に可視光で
全面に露光しながらコロナ帯電を行い、光励起されたキ
ャリアと、基板(5)から注入されたキャリアが感光層
(6))の内部を移動し、その結果、透明絶縁層(7)
の表面にコロナと同極性の電荷が誘起され、透明絶縁層
(7)と感光N(6)との界面に逆極性の電荷が誘起さ
れる。
全面に露光しながらコロナ帯電を行い、光励起されたキ
ャリアと、基板(5)から注入されたキャリアが感光層
(6))の内部を移動し、その結果、透明絶縁層(7)
の表面にコロナと同極性の電荷が誘起され、透明絶縁層
(7)と感光N(6)との界面に逆極性の電荷が誘起さ
れる。
そして、(C)に示す通りX線による画像露光を行いな
がら(B)のコロナ帯電と逆極性のコロナ帯電を行った
場合、画像露光を行った領域(イ)では光励起されたキ
ャリアと、基板(5)から注入されたキャリアにより(
B)にて表面に蓄積された電荷がすみやかに打ち消され
、新たにその逆極性の電荷が誘起される。また、画像露
光を行わない領域(ロ)では透明絶縁層(7)の表面電
荷の一部のみが中和され、透明絶縁層(7)と感光層(
6)の界面に蓄積された電荷は残存する。
がら(B)のコロナ帯電と逆極性のコロナ帯電を行った
場合、画像露光を行った領域(イ)では光励起されたキ
ャリアと、基板(5)から注入されたキャリアにより(
B)にて表面に蓄積された電荷がすみやかに打ち消され
、新たにその逆極性の電荷が誘起される。また、画像露
光を行わない領域(ロ)では透明絶縁層(7)の表面電
荷の一部のみが中和され、透明絶縁層(7)と感光層(
6)の界面に蓄積された電荷は残存する。
次に(D)に示す通り表面の全面に亘って可視光により
一様な露光を行った場合、(C)において領域(ロ)の
透明絶縁層(7)と感光層(6)の界面に蓄積された電
荷は光励起されたキャリアと基板(5)から注入された
キャリアにより透明絶縁層(7)の表面の電荷と同数に
まで減少し、(E)に示す通りになる。その結果、コン
トラストが高められた潜像が得られる。
一様な露光を行った場合、(C)において領域(ロ)の
透明絶縁層(7)と感光層(6)の界面に蓄積された電
荷は光励起されたキャリアと基板(5)から注入された
キャリアにより透明絶縁層(7)の表面の電荷と同数に
まで減少し、(E)に示す通りになる。その結果、コン
トラストが高められた潜像が得られる。
次にAI製製電電性基板上下記方法により各層を形成す
る場合を例にとって実施例を説明する。
る場合を例にとって実施例を説明する。
無機半導体層 ・・・RFプラズマCVD法有機光半導
体層・・・コーティング法 透明絶縁層 ・・・塗布法 また本実施例に用いられるグロー放電分解装置を第3図
により説明する。
体層・・・コーティング法 透明絶縁層 ・・・塗布法 また本実施例に用いられるグロー放電分解装置を第3図
により説明する。
図中、第1タンク(8)、第2タンク(9)、第3タン
ク(10)、第4タンク(If)、第5タンク(12)
にはそれぞれ5iHa、 CJz、 NHx+ BzH
h<Hzガスで希釈されている)及びH2で密封され、
これらのガスは各々対応する第1調整弁(13)、第2
調整弁(14)、第3調整弁(15)、第4調整弁(1
6)及び第5調整弁(17)を開放することにより放出
される。その放出ガスの流量はそれぞれマスフローコン
トローラ(18) (19) (20) (21) (
22)により制御され、各々のガスは混合されて主管(
23)へ送られる。尚、(24)(25)は止め弁であ
る。
ク(10)、第4タンク(If)、第5タンク(12)
にはそれぞれ5iHa、 CJz、 NHx+ BzH
h<Hzガスで希釈されている)及びH2で密封され、
これらのガスは各々対応する第1調整弁(13)、第2
調整弁(14)、第3調整弁(15)、第4調整弁(1
6)及び第5調整弁(17)を開放することにより放出
される。その放出ガスの流量はそれぞれマスフローコン
トローラ(18) (19) (20) (21) (
22)により制御され、各々のガスは混合されて主管(
23)へ送られる。尚、(24)(25)は止め弁であ
る。
主管(23)を通じて流れるガスは反応管(26)へ流
入するが、この反応管(26)の内部には容量結合型放
電用電極(27)が設置され、また、筒状の成膜用基板
(28)が基板支持体(29)の上に載置され、基板支
持体(29)がモータ(30)により回転駆動され、こ
れに伴って基板(28)が回転する。そして、電極(2
7)に電力50W 〜3kW 、周波数1〜50MH2
の高周波電力を印加し、しかも、基Fi(28)を適当
な加熱手段により約200〜400℃、好適には約20
0〜350℃の温度に加熱する。また、反応管(26)
は回転ポンプ(3I)と拡散ポンプ(32)に連結され
ており、これによってグロー放電による成膜形成時に所
要な真空状態(放電時のガス圧0.01〜2.0Tor
r)が維持される。
入するが、この反応管(26)の内部には容量結合型放
電用電極(27)が設置され、また、筒状の成膜用基板
(28)が基板支持体(29)の上に載置され、基板支
持体(29)がモータ(30)により回転駆動され、こ
れに伴って基板(28)が回転する。そして、電極(2
7)に電力50W 〜3kW 、周波数1〜50MH2
の高周波電力を印加し、しかも、基Fi(28)を適当
な加熱手段により約200〜400℃、好適には約20
0〜350℃の温度に加熱する。また、反応管(26)
は回転ポンプ(3I)と拡散ポンプ(32)に連結され
ており、これによってグロー放電による成膜形成時に所
要な真空状態(放電時のガス圧0.01〜2.0Tor
r)が維持される。
このような構成のグロー放電分解装置を用いて基板(2
8)の上にa−3iC層を形成する場合、第1調整弁(
工3)、第2調整弁(14)及び第5調整弁(17)を
開いて5jH4+ C2)121 Hzの各々のガスを
放出して、その放出量をマスフローコントローラ(1B
) (19)(22)により制御し、各々のガスは混合
されて主管(23)を介して反応管(26)へ流入する
。そして、反応管内部の真空状態、基板温度、電極印加
用高周波電力をそれぞれ所定の条件に設定するとグロー
放電が発生し、ガスの分解に伴ってa−5iC膜が基板
上に高速に形成する。
8)の上にa−3iC層を形成する場合、第1調整弁(
工3)、第2調整弁(14)及び第5調整弁(17)を
開いて5jH4+ C2)121 Hzの各々のガスを
放出して、その放出量をマスフローコントローラ(1B
) (19)(22)により制御し、各々のガスは混合
されて主管(23)を介して反応管(26)へ流入する
。そして、反応管内部の真空状態、基板温度、電極印加
用高周波電力をそれぞれ所定の条件に設定するとグロー
放電が発生し、ガスの分解に伴ってa−5iC膜が基板
上に高速に形成する。
(例1)
第3図のグロー放電分解装置を用いて、Al製基板上に
第1表の成膜条件のRFプラズマCVD法によりa−5
iCIif/a−3i層から成る超格子構造の無機半導
体層(2)を厚み1μmで積層する。尚、この層(2)
の組成はXMA法により測定した。
第1表の成膜条件のRFプラズマCVD法によりa−5
iCIif/a−3i層から成る超格子構造の無機半導
体層(2)を厚み1μmで積層する。尚、この層(2)
の組成はXMA法により測定した。
次に厚み15μmの有機光半導体層を次の通りに形成し
た。
た。
即ち、2.4.7−)リニトロフルオレノンを1.4ジ
オキサンの溶剤に入れて溶かし、更にポリエステル樹脂
(レフサン−LS2−11)を加え、そして、超音波分
散を40分間行った。これによって得られる溶液をバー
・コーターを用いて塗布し、次いで80℃にて熱風乾燥
を行った。
オキサンの溶剤に入れて溶かし、更にポリエステル樹脂
(レフサン−LS2−11)を加え、そして、超音波分
散を40分間行った。これによって得られる溶液をバー
・コーターを用いて塗布し、次いで80℃にて熱風乾燥
を行った。
その後、上記有機半導体層の上にポリエステル樹脂を約
15μmの厚みで塗布形成し、透明絶縁層とした。
15μmの厚みで塗布形成し、透明絶縁層とした。
かくして逆転電界法における明部電位が正帯電型の電子
写真感光体を作製した。
写真感光体を作製した。
また比較例として本例の感光体に対して透明絶縁層を形
成せず、その他の層構成を本例と全く同一にし、正帯電
型感光体を作製した。
成せず、その他の層構成を本例と全く同一にし、正帯電
型感光体を作製した。
そこで、比較例の感光体に対してカールソン法により+
6kVのコロナ帯電を行ったところ、+500■の帯電
を示した。次にその感光体に0,61 ux・secの
白色光を露光したところ、+30vに低下し、約470
vのコントラスト電位(明部と暗部の表面電位差)が得
られた。
6kVのコロナ帯電を行ったところ、+500■の帯電
を示した。次にその感光体に0,61 ux・secの
白色光を露光したところ、+30vに低下し、約470
vのコントラスト電位(明部と暗部の表面電位差)が得
られた。
次に本例の感光体を逆転電界法により帯電と感度を測定
したしたところ、下記の通りの結果が得られた(この場
合、表面電位は比較例に比べて逆極性になる)。
したしたところ、下記の通りの結果が得られた(この場
合、表面電位は比較例に比べて逆極性になる)。
即ち、感光体の全面に白色光を露光しながら一6kVの
電圧を印加したコロナ帯電器により帯電を行ったところ
、約−900Vの帯電を示し、これに+6kVのコロナ
帯電を行いながら白色光による露光(0,61ux−s
ecの露光量)を行い、続けて感光体の全面の白色光の
露光を行って表面電位を測定したところ、暗部(ロ)で
−400v、明部(イ)で+780vとなり、約118
0Vのコントラスト電位が得られた。また、比較例と同
様の約470Vのコントラスト電位は約Q、31 ux
−secの露光量により得られた。
電圧を印加したコロナ帯電器により帯電を行ったところ
、約−900Vの帯電を示し、これに+6kVのコロナ
帯電を行いながら白色光による露光(0,61ux−s
ecの露光量)を行い、続けて感光体の全面の白色光の
露光を行って表面電位を測定したところ、暗部(ロ)で
−400v、明部(イ)で+780vとなり、約118
0Vのコントラスト電位が得られた。また、比較例と同
様の約470Vのコントラスト電位は約Q、31 ux
−secの露光量により得られた。
以上の結果より明らかな通り、本例の感光体は比較例に
比べてほぼ同等の帯電と露光条件により更に高いコント
ラストが得られ、一方、より少ない露光量で同程度のコ
ントラスト1位が得られた。
比べてほぼ同等の帯電と露光条件により更に高いコント
ラストが得られ、一方、より少ない露光量で同程度のコ
ントラスト1位が得られた。
そして、本例の感光体を複写機に搭載して画像の評価を
行ったところ、画像濃度及び解像力ともに優れた電子写
真画像が得られた。
行ったところ、画像濃度及び解像力ともに優れた電子写
真画像が得られた。
(例2)
AN製導電性基板の上に第2表に示す成膜条件によりB
元素を300ppm含有するa−5iC層/a−5iN
層から成る超格子構造の無機半導体層を厚み1μ園で積
層した。
元素を300ppm含有するa−5iC層/a−5iN
層から成る超格子構造の無機半導体層を厚み1μ園で積
層した。
次に厚み15μ醜の有機光半導体層を次の通りに形成し
た。
た。
即ち、ヒドラゾンを1.4−ジオキサンの溶剤に入れて
溶かし、更にポリエステル樹脂(レフサン−LS2−1
1)をヒドラゾンと同重量加え、そして、超音波分散を
40分間行った。これによって得られる溶液をバー・コ
ーターを用いて塗布し、次いで80℃にて熱風乾燥を行
った。
溶かし、更にポリエステル樹脂(レフサン−LS2−1
1)をヒドラゾンと同重量加え、そして、超音波分散を
40分間行った。これによって得られる溶液をバー・コ
ーターを用いて塗布し、次いで80℃にて熱風乾燥を行
った。
その後、上記有機光半導体層の上にポリエステル樹脂を
約15μlの厚みで塗布形成し、透明絶縁層とした。
約15μlの厚みで塗布形成し、透明絶縁層とした。
かくして逆転電界法における明部電位が負帯電型の電子
写真感光体を作製した。
写真感光体を作製した。
また比較例として本例の感光体に対して透明絶縁層を形
成せず、その他の層構成を本例と全く同一にし、負帯電
型感光体を作製した。
成せず、その他の層構成を本例と全く同一にし、負帯電
型感光体を作製した。
そこで、比較例の感光体に対してカールソン法により一
6kVのコロナ帯電を行ったところ、−580vの帯電
を示した0次にその感光体にQ、51 ux・secの
白色光を露光したところ、−30vに低下し、約550
vのコントラスト電位が得られた。
6kVのコロナ帯電を行ったところ、−580vの帯電
を示した0次にその感光体にQ、51 ux・secの
白色光を露光したところ、−30vに低下し、約550
vのコントラスト電位が得られた。
次に本例の感光体を逆転電界法により帯電と感度を測定
したしたところ、下記の通りの結果が得られた(この場
合、表面電位は比較例に比べて逆極性になる)。
したしたところ、下記の通りの結果が得られた(この場
合、表面電位は比較例に比べて逆極性になる)。
即ち、感光体の全面に白色光を露光しながら+6kVの
電圧を印加したコロナ帯電器により帯電を行ったところ
、約+930Vの帯電を示し、これに−6kVのコロナ
帯電を行いながら白色光による露光(0,6fux・3
8Cの露光量)を行い、続けて感光体の全面の白色光の
露光を行って表面電位を測定したところ、暗部(ロ)で
+440V、明部(イ)で−790Vとなり、約123
0Vのコントラスト電位が得られた。また、比較例と同
様の約550vのコントラスト電位は約0.31uχ・
Secの露光量により得られた。
電圧を印加したコロナ帯電器により帯電を行ったところ
、約+930Vの帯電を示し、これに−6kVのコロナ
帯電を行いながら白色光による露光(0,6fux・3
8Cの露光量)を行い、続けて感光体の全面の白色光の
露光を行って表面電位を測定したところ、暗部(ロ)で
+440V、明部(イ)で−790Vとなり、約123
0Vのコントラスト電位が得られた。また、比較例と同
様の約550vのコントラスト電位は約0.31uχ・
Secの露光量により得られた。
以上の結果より明らかな通り、本例の感光体は比較例に
比べてほぼ同等の帯電と露光条件により更に高いコント
ラストが得られ、一方、より少ない露光量で同程度のコ
ントラスト電位が得られた。
比べてほぼ同等の帯電と露光条件により更に高いコント
ラストが得られ、一方、より少ない露光量で同程度のコ
ントラスト電位が得られた。
そして、本例の感光体を複写機に搭載して画像の評価を
行ったところ、画像濃度及び解像力ともに優れた電子写
真画像が得られた。
行ったところ、画像濃度及び解像力ともに優れた電子写
真画像が得られた。
以上の通り、本発明の電子写真感光体によれば、従来の
Se層に比べて短波長側の可視光に対して高感度な無機
半導体層を用いており、これによって高い光感度が得ら
れ、しかも、逆転電界法を用いて電荷潜像のコントラス
トを高めることができた。
Se層に比べて短波長側の可視光に対して高感度な無機
半導体層を用いており、これによって高い光感度が得ら
れ、しかも、逆転電界法を用いて電荷潜像のコントラス
トを高めることができた。
第1図は本発明電子写真感光体の層構成を表す断面図、
第2図(A) (B) (C) (D) (E)は逆転
電界法のプロセスを表す工程図、第3図はグロー放電分
解装夏の概略図である。 2・・・無機半導体層 3・・・有機光半導体層 4・・・透明導電層
第2図(A) (B) (C) (D) (E)は逆転
電界法のプロセスを表す工程図、第3図はグロー放電分
解装夏の概略図である。 2・・・無機半導体層 3・・・有機光半導体層 4・・・透明導電層
Claims (1)
- (1)導電性基板もしくは可撓性導電シートの上にアモ
ルファスシリコン層と組成式Si_1_−_XC_Xの
X値が0<X<0.5で表されるアモルファスシリコン
カーバイド層が相互に光学的バンドギャップが異なるよ
うに積層し且つ各層の厚みが20〜500Åである無機
半導体層と有機光半導体層を順次積層するとともに、上
記有機光半導体層の上に透明絶縁層を積層したことを特
徴とする電子写真感光体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2654590A JPH03231254A (ja) | 1990-02-06 | 1990-02-06 | 電子写真感光体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2654590A JPH03231254A (ja) | 1990-02-06 | 1990-02-06 | 電子写真感光体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03231254A true JPH03231254A (ja) | 1991-10-15 |
Family
ID=12196480
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2654590A Pending JPH03231254A (ja) | 1990-02-06 | 1990-02-06 | 電子写真感光体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03231254A (ja) |
-
1990
- 1990-02-06 JP JP2654590A patent/JPH03231254A/ja active Pending
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