JPH03225628A - 自動焦点制御方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、例えば光デイスク装置における自動焦点制御
方式に係り、特に光デイスク保護基板面上での焦点誤認
識防止し、確実に記録媒体面上で焦点を引込む制御方式
に関する。

〔従来の技術〕

従来の装置は、特開昭６２−７６０３１号公報に記載の
ように自動焦点引込み時に焦点ずれ検出信号は、光ディ
スクとレンズが近づくと焦点近傍で正の方向に急に大き
くなり、さらに近づくと線形領域に入り、焦点ずれが零
の点で零となり、それを過ぎると負の領域に入り、負の
最大値を経て小さくなっていく。そこで、この焦点ずれ
信号が正の所定ピークレベルに達するのをレベル検出手
段により検出してから、最初の零レベルに至るか零レベ
ルをわずかに負側に越した点に来た点を検出したとき、
自動焦点サーボ系の動作を開始することにより、サーボ
動作への引込みを早めるようにしている。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記従来技術は記録媒体表面と光デイスク基板表面での
反射の区別をすることに関して配慮されておらず、焦点
位置を誤認識する可能性があるという問題があった。

本発明の目的は、記録媒体の表面の反射を確認すること
により、記録媒体の記録膜における焦点引込みを確実に
行うことにある。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的を達成するために光ディスクの如き記録媒体の
表面の反射光検出に十分なスライスレベルにより、絞り
込みレンズを移動させて記録媒体の表面であることを認
識させ、次に絞り込みレンズを移動させ検出する光麓の
ビーク部を記録媒体の記録膜における焦点引込み動作を
させたものである。

〔作　用〕

絞込みレンズを光デイスク基板表面の反射光を検出する
のに十分な位置まで降下させた後、絞込みレンズを上昇
させる。光デイスク基板表面の反射を検出するのに必要
なスライスレベルによりこれを検出し、光デイスク基板
表面であることを認識する。

その後このスライスレベルを媒体表面の反射を検出する
のに十分なレベルに変えて、さらに絞り込みレンズを上
昇させて次に反射光のビークを生じさせる記録膜面の反
射を検出し引込み動作を行うため誤動作することがない
。

〔実施例〕

以下本発明の一実施例を第１図乃至第３図により説明す
る。

情報を記録あるいは再生する光デイスク装置の自動焦点
制御系及び位置決め制御系は第１図に示すように構成す
ることができる。媒体である光ディスク１は、情報の記
録面２を有し、スピンドルモータ３によって定速あるい
は可変速にて制御回転させられる。光ディスクへの情報
の記録及び光ディスクからの情報の再生は、半導体レー
ザ８がら発せられた光束を光学系を通過させた後絞り込
みレンズ４によって記録面２に焦点を結ばせ、光点によ
る記録面の物理的変形あるいは物性的変化によって情報
を記録し、またこの記録面からの反射光を光検出器９に
よって検出することにより、記録情報の再生を行う、記
録面上に照射されるレーザ光の光点は、直径１μｍ以下
という微細な寸法が要求され、記録面の上下動等の変動
によっても、常に一定範囲の光点が得られるように制御
するための自動焦点制御が必要である。この自動焦点制
御は記録面２からの反射光を光学系により発光４束より
分離し、光点検出器９によって記録再生面と絞り込まれ
た光点位置の焦点との距離を検出してこのずれが最小と
なるように前記増幅回路１２、切替スイッチ１３．制御
補償回路１４、加キ回路１５．駆動回路１６を通してア
クチエエータ１０に所望の電流を流して、絞り込み光学
系４を駆動することにより、記録面２の動きに追従させ
る制御系である。光点位置決め系は、円板上のトラック
に光点を追従させるため、光点検出器９のトラックずれ
量検出信号により制御回路１１によってミラー７を制御
する系である。記録・再生及び前記制御系のための光源
は、半導体レーザ８の発光によって得られ、発光の制御
はレーザ駆動制御回路１９によって行われている。また
前置増幅器１２の出力は、検出信号のレベルを検出する
低レベル検出回路２０．高レベル検出回路２１に入力さ
れ、それぞれ低レベル検出用スライスレベル３０．高レ
ベル検出用スライスレベル：う１と比較する。さらにこ
れら低レベル検出回路出力２４゜および高レベル検出回
路出力２５は、デコードされ、レジスタ等を含む制御論
理回路１８に接続される。制御論理回路１８の出力は、
制御系切替スイッチ１３、ランプ関数発生回路１７、高
レベル検出用スライスレベル切替スイッチ２２へ入力さ
れる６ランプ関数発生回路出力２８は加算回路１５に入
力される。

図２に動作説明のためのタイミング図を示す。

制御論理によって、自動焦点制御のための絞り込み光学
系を起動してランプ関数発生回路１７より光デイスク基
板表面での焦点位置よりも十分に降下させる。その後半
導体レーザ８を発光させ、光点を光ディスク１に漸次近
付けていくと、前置増幅器で増幅された自動焦点誤差検
出信号出力は第２図（ａ）に示すごとく変化する。絞り
込みレンズ４を上昇させるとまず光デイスク基板表面３
２からの反射光出力を検出する。まず正のビークＰ１を
示し、さらに近づけると次に負のビークＰ２を示し、そ
の後光ディスク基板表血２３で焦点の合った位置で零と
なる。この状態を第３図のレンズと光ディスクの位置関
係を示す図の（ａ）に示す。

さらに絞り込みレンズ４を上昇させると正のピークＰ３
、負のピークＰ４を示す。２つ目のピークＰ２に対して
これを検出するのに十分なスライスレベルυ２及び３つ
目のピークに至る前のレベルを検出する低レベルＶ１を
設けることによって、第２図（ｂ）（ｃ）のこれらピー
クにより生ずる信号のシーケンスにより光デイスク基板
表面上の反射光であることを認識する。この認識の後に
絞り込みレンズ４をさらに上昇したときに発生する記録
膜表面からの反射光のピークＰ２’を検出するための高
レベル検出用スライスレベルをスライスレベル切換スイ
ッチ２２に対して制御論理回路１８より切換信号２６を
出力し、Ｖ２からｙ３に切換えて増加させる。その後の
絞り込みレンズの上昇により検出させる記録膜面からの
ピークＰ１′Ｐ２’、Ｐ３’、Ｐ４　’において、２つ
目のピークＰ２′に対しての高レベル検出レベルＶ、及
び第３のピークＰ３’に至る前のレベルを検出する低ス
ライスレベルＶ□により、第３図（ｂ）のレンズと光デ
ィスクの位置関係に示すような真の焦点位置であるピー
クＰ２’とＰ３′の間の出力零の位置を認識する。自動
焦点誤差信号２２が高レベルを検出後光ディスク基板表
面からの反射光をすでに認識済であれば、低レベルを検
出し、低レベル検出回路出力２４の立上りで自動焦点制
御起動信号２９をオンする。

このように光デイスク基板表面からの反射光を検出、認
識した後で記録膜体表面で焦点を引込むことにより、光
デイスク基板表面において焦点を引込むという誤動作を
防止する効果がある。

〔発明の効果〕

本発明によれば記録媒体の表面の反射を確実に検出、認
識した後に記録媒体の記録膜面での焦点引込み動作を行
うことにより、焦点位置の誤認識を防止する効果がある
。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の一実施例による光ディスクＶ装置の
ブロック図、第２図は一実施例のタイムチャート、第３
図は絞り込みレンズと光ディスクの位置関係を示す図で
ある。 １・・・光ディスク、２・・・記録膜面、４・・・絞込
みレンズ、９・・・光検出器、１７・・・ランプ関数発
生回路５１８・・・論理制御回路、２０・・・低レベル
検出回路。 ２１・・高レベル検出回路、２２・・・ｉレベル検出用
スライスレベル切換スイッチ、３２・・・光デイスク基
板表面。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、光束を発生するための光源と、記録媒体上に該光源
   から発生された光束の焦点を結ばせるための絞込み光学
   系と、該記録媒体上に光束の焦点を結ばせるように前記
   光学系を制御する手段を具備する光学的記録又は再生装
   置において、記録媒体に対し絞り込みレンズを移動させ
   、該記録媒体の表面の反射を検出するための手段と、該
   レンズの移動により記録媒体の記録膜からの反射光から
   焦点引込み動作を行う手段とを有することを特徴とする
   自動焦点制御方式。