JPH03225251A

JPH03225251A - 光ファイバカプラの損失測定方法

Info

Publication number: JPH03225251A
Application number: JP2142790A
Authority: JP
Inventors: Masumi Fukuma; 眞澄福間
Original assignee: Sumitomo Electric Industries Ltd
Current assignee: Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority date: 1990-01-31
Filing date: 1990-01-31
Publication date: 1991-10-04

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野）本発明は、複数の光ファイバを融着延伸してなる光ファ
イバカプラの損失の測定方法に関するものである。

（従来の技術）光ファイバカプラの製造方法として、複数本の光ファイ
バの長手方向の被覆の一部を除去した後、融着し、延伸
する方法が知られている。この光ファイバカプラの分岐
特性として、分岐比とともに、過剰損失は、重要なファ
クターである。

従来、これらの特性の測定は、光ファイバカプラの一端
における１本の光ファイバから光を入射させ、多端側に
おける各光ファイバの出力光を測定し、測定結果からの
演算により、分岐比ならびに過剰損失の測定を行なって
いる。

ところで、光ファイバカプラにおいて、分岐に関与せず
外部に光が漏れることによる損失、すなわち、過剰損失
は、それが小さいことが要求されている。過剰損失は、
種々の製造条件、特に、延伸時にテーパ形状が滑らかで
あることに関係することが知られている。また、テーパ
形状の滑らかさは、延伸時のファイバの加熱領域の長さ
および延伸時にファイバに加わる張力等に関係すること
も知られているが、これら、加熱条件および延伸時の条
件を決定すること、ならびに、これら条件を安定に得る
ことは困難である。

しかしながら、従来の過剰損失の測定方法によっては、
単に、その合計量が測定できるだけであるから、製造条
件の改良や、品質評価に資するような測定データを得る
ことはできないものであった。特に、光ファイバカプラ
の長手方向のどの場所で光が漏れているかということを
知ることは、加熱領域の温度分布の条件設定の重要な情
報であり、光ファイバカプラ長手方向での光の漏れの発
生箇所を測定することは極めて重要なことであるにもか
かわらず、従来の技術では、その測定はできなかった。

（発明が解決しようとする課題）本発明は、上述した事情に鑑みてなされたもので、光フ
ァイバカプラにおける長手方向の損失の分布を知ること
ができる光ファイバカプラの損失測定方法を提供するこ
とを目的とするものである。

（課題を解決するための手段）本発明は、光ファイバカプラの損失測定方法において、
複数の光ファイバを融着延伸してなる光ファイバカプラ
の少なくとも１本の光ファイバより光を入射させ、前記
光ファイバカプラから漏洩する光を、所定の入射角範囲
をもって、その軸方向に対する分布を測定することを特
徴とするものである。

（作　用）本発明は、光ファイバカプラ本体に光を入射し、実際に
外部に漏れる光を測定するので、光ファイバカプラの過
剰損失の発生箇所を知ることができ、製造条件特に加熱
条件に関する管理を可能とするものである。

光ファイバカプラの過剰損失は、ファイバ外径の減少が
ある程度滑らかであるとモード変換が発生しないため、
光が外部に漏れないことが知られている。しかし、実際
の製造においては、過剰損失の発生原因は、テーパの滑
らかさだけでなく、他の要因があることが分かった。例
えば、細くなった光フアイバ周面に付着するゴミである
。光ファイバ、例えば、カットオフ波長が１．２μｍ。

ＭＦＤが９．５μｍ、ファイバ外径１２５μｍの単一モ
ード光ファイバを用いた場合、約４０μｍ以下に延伸す
ると、光ファイバのコアが光を閉じ込める能力がなくな
り、クラッド部分の表面にまで広がる。このため、細く
なったクラッド表面にゴミが付着していると、光の散乱
およびゴミによる吸収が行なわれるため、カブラの過剰
損失の原因となる。

このような、ゴミ等の付着による過剰損失は、理論的に
光ファイバカプラの構造から推定することはできず、問
題となるが、本発明によれば、構造データを合わせるこ
とにより、推定が可能となる。

単一モード光ファイバカブラに本発明の方法を利用する
際には、カブラに使用する単一モード光ファイバのカッ
トオフ波長より長い波長の光を有する光源を用いるのが
望ましい。しかし、正確にカットオフ波長より長い波長
でなくてもやや短い波長でも、測定は可能である。

（実施例）第１図は、本発明の光ファイバカプラの損失測定方法の
一実施例を説明するための概略図である。

図中、１は光ファイバカプラ本体部であり、入力端を２
、出力端を３とする光ファイバと、入力端を４、出力端
を５とする光ファイバとを、それぞれその被覆の一部を
除去して、融着、延伸したものである。なお、入力端、
出力端なる用語は、説明の便宜上から呼んだもので、い
ずれを入力端、出力端とするかは任意である。６は測定
用光ファイバ、７はその入射端、８は集光レンズ、９は
受光素子である。

一方の光ファイバの入力端２からレーザ光を入射する。

カブラ本体部における漏れ光を、光ファイバカプラ本体
部の側面に配置した測定用光ファイバ６の入射端７から
入射させる。測定用光ファイバ６の入射端７は、光ファ
イバカプラ本体部の光の入射する光ファイバの光軸に対
して、所定の角度に保たれる。測定用光ファイバ６は、
その間口角の範囲の光を入射端７から入射し、その出射
端において、集光レンズ８を介して、受光素子９入射さ
せる。受光素子９は、入射光を電気信号に変換する。測
定用光ファイバ６を、光ファイバカプラ本体部の長手方
向に移動しながら受光レベルを測定する。これにより、
光ファイバカプラの軸方向の一側部における受光レベル
の変化を測定でき、光ファイバカプラ本体部からの光の
漏れ箇所を検知することもできる。

また、異なる側部における軸方向の受光レベルを測定す
るようにしてもよく、これを、光ファイバカプラ本体部
の全周にわたって順次測定するようにしてもよい。

また、測定用光ファイバ６の入射端７の、光ファイバカ
プラ本体部の光の入射する光ファイバの光軸に対する角
度を変えて同様の測定を行なってもよい。

第２図は、本発明の光ファイバカプラの損失測定方法の
他の実施例を説明するための概略図である。第１図と同
様な部分は同一の符号を付して説明を省略する。この実
施例においては、光ファイバカプラ本体部からの漏れ光
の測定に赤外ビジコンカメラ１１を用いた。１０は対物
レンズ鏡筒、１２はモニタである。

通常の１．３μｍ帯の単一モードファイバ（クラッド径
１２５μｍ、ＭＦＤが９．５μｍ、カットオフ波長１．
１μｍ）を用いて作成した光ファイバカプラにおいて、
過剰損失が０．６ｄＢのものが製造途中で発生したため
、この実施例により測定した。その光ファイバカプラを
板に固定し、方の入力端２より波長１．０６μｍのＹＡ
Ｇレーザの２００ｍｗの光パワーを入射した。そして光
ファイバカプラ側面より、赤外ビジョンカメラ１１によ
り撮像し、その出力画像をモニタで観測した。その結果
、過剰損失発生箇所において散乱光を検知することが可
能であった。ＹＡＧレーザ等の強い光を光ファイバカプ
ラに入射した方が、受光手段に高感度のものを必要とし
ない利点がある。

第３図は、本発明の光ファイバカプラの損失測定方法の
他の実施例の要部の概略図である。この実施例において
は、凹面鏡１３を用いて、受光素子１４で、光ファイバ
カプラの漏れ光を検知するようにした。光ファイバカプ
ラからの所定角度内の放射光をほぼ全周から受光素子に
集めることができるので、感度のよい測定ができ、入射
光のパワーが弱い場合に効果がある。受光素子１４の代
わりに、他の測定手段を用いることができる。

（発明の効果）以上の説明から明らかなように、本発明によれば、光フ
ァイバカプラにおける過剰損失の分布を測定することが
できるので、カブラの製造条件を管理する上で、極めて
有効な測定データが得られる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の光ファイバカプラの損失測定方法の
一実施例を説明するための概略図、第２図、第３図は、
本発明の他の実施例を説明するための概略図である。１・・・光ファイバカプラ本体部、２，４・・・入力端
、３．５・・・出力端、６・・・測定用光ファイバ、７
・・・その入射端、８・・・集光レンズ、９・・・受光
素子、１１・・・赤外ビジコンカメラ、１３・・・凹面
鏡、１４・・・受光素子。

Claims

【特許請求の範囲】

複数の光ファイバを融着延伸してなる光ファイバカプラ
の少なくとも１本の光ファイバより光を入射させ、前記
光ファイバカプラから漏洩する光を、所定の入射角範囲
をもって、その軸方向に対する分布を測定することを特
徴とする光ファイバカプラの損失測定方法。