JPH03225248A - 光軸調整・ビーム径測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【目次】

概要 産業上の利用分野 従来の技術（第１６〜１８図） 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段（第１図） 作用 実施例 第１実施例　第２．３図） 第２実施例　第４図 第３実施例　第５図 第４実施例　第６図 第５実施例　第７図 第６実施例　第８図 第７実施例　第９〜ＩＯＤ図） 第８実施例　第１１〜１２Ｂ図） 第９実施例　第１３図） 第１０実施例（第１４〜１５Ｃ図） 発明の効果

【概要】

レーザの光軸調整及びビーム径の測定、調整に用いられ
る光軸調整・ビーム径測定装置に関し、光軸の調整及び
ビーム径の測定、調整を容易迅速に行えるようにするこ
とを目的とし、レーザの光軸を調整するために、該レー
ザから射出されたレーザビームの基準軸に対するずれ景
を測定する光軸調整装置と、入射レーザビームの径を測
定するビーム径測定装置と、該光軸調整装置から該レー
ザビームの一部を取り出して該ビーム径測定装置に入射
させ、該ずれ量が０になった状態で該ビーム径測定装置
に対し正規の位置にレーザビームが入射するように配置
されたレーザビーム分割手段と、備えて構成する。 ｒ産業上の利用分野】 本発明は、レーザの光軸調整及びビーム径の測定、調整
に用いられる光軸調整・ビーム径測定装置に関する。

【従来の技術】

従来では、レーザの光軸調整とビーム径の測定、調整は
それぞれ別個の装置で行なわれていた。 第１６図は従来の光軸調整装置を示す。 レール１０に嵌合されたベース１２上にはホルダ１４が
設置され、ホルダ１４にはレーザ１６がその光軸を調整
自在に保持されている。レール１０にはまた、アパーチ
ャ１８．２０及びスフＩＪ　−ン２２がレールｌＯに沿
って移動自在に嵌合されている。 レーザ１６の光軸調整は、レーザ１６から射出されたホ
ルダ１４がアパーチャ１８のピンホール＋８ａ及びアパ
ーチャ２０のピンホール２０ａを通って、スクリーン２
２に光スポットが形成された状態で完了する。 第１７図は従来のビーム径測定装置を示す。 ベース１２とは別個のベース１３上には、ビーム径検出
器２５に対向して、ホルダ１４に保持されたレーザ１６
が設置される。ビーム径検出器２５は構成要素２５ａ〜
２５ｆからなり、パルスモータ２５ａの回転軸にスリッ
ト円板２５ｂが固着され、スリット円板２５ｂに形成さ
れたナイフェツジ付スリット２５ｃに対向して、ＰＩＮ
ホトダイオード等の光検出器２５ｄが配置されている。 この光検出器２５ｄの出力は、アンプ２５ｅで増幅され
、Ａ／Ｄ変換器２６でデジタル変換されてマイクロコン
ピュータ２７に供給される。マイクロコンピュータ２７
は、ドライバ２５「を介してパルスモータ２５ａを回転
駆動し、この回転に同期してＡ／Ｄ変換器２６から第１
８図に示すような光検出強度を読み込み、光検出強度の
波形からビーム径を算出し、これを表示器２８に表示さ
せる。 光検出器２５ｄを中心としビーム径検出器２５を９０度
回転させた状態でビーム径を測定すれば、回転前と垂直
な方向のビーム径を測定することができる。 レーザ１６は、例え！ｆル−ザダイオード１６ａの前方
にシリンドリカルレンズ１６ｂを介してコリメートレン
ズ１６ｃが配置されており、測定したビーム径が規定範
囲外であれば、これが規定範囲内の値になるようにシリ
ンドリカルレンズ１６ｂ又は／及びコリメートレンズ１
６ｃを調整する。 ビーム径検出器２５は、光軸調整されたレーザ１６をベ
ース１３上に設置すると、レーザビーム２４がスリット
２５ｃの中心を通るように配置されており、まず光軸調
整を行い、その後にビーム径の測定を行なう。 光軸調整が完了し、ビーム径が規定範囲内であることが
ｍ　認されると、レーザ１６がホルダ１４と一体になっ
て不図示のレーザプリンタ等に組み付けられる。

【発明が解決しようとする課題】

しかし、光軸調整とビーム径測定を別個の装置で行なっ
ていたので、各装置に対し、ホルダ１４に保持されたレ
ーザ１６を設置しなければならず、作業が煩雑であった
。 また、測定したビーム径が規定範囲外であった場合、こ
れが規定範囲内の値になるようにシリンドリカルレンズ
１６ｂ又は／及びコリメートレンズ１６ｃを調整すると
、光軸がずれることがあるので、ホルダ１４に保持され
たレーザ１６を再度光軸調整装置のベース１２に設置し
て光軸調整を行なわなければならず、作業が煩雑であっ
た。 本発明の目的はこのような問題点に鑑み、光軸の調整及
びビーム径の測定、調整を容易迅速に行うことが可能な
光軸調整・ビーム径測定装置を提供することにある。 １課題を解決するための手段】 本発明に係る光軸調整・ビーム径測定装置の原理構成を
第１図に基づいて説明する。 図中、１は光軸調整装置であり、レーザ２の光軸を調整
するために、レーザ２から射出されたレーザビーム３の
基準軸４に対するずれ量を測定する。 ５はビーム径測定装置であり、入射レーザビーム６の径
を測定する。 ７はレーザビーム分割手段であり、光軸調整装置１から
レーザビーム３の一部を取り出してビーム径測定装置５
に入射させ、該ずれ量が０になった状態でビーム径測定
装置５に対し正規の位置にレーザビーム６が入射するよ
うに配置されている。 １作用】 最初に、光軸調整装置ｌを用いてレーザ２の光軸を調整
する。例えば、光軸調整がほぼ完了した段階で、すなわ
ち、レーザビーム３が基準軸４に略一致した段階におい
て、ビーム径測定装置５でレーザビーム６のヒ゛−ム径
をｍ　ｉ忍する。 ビーム径測定値が規定範囲外であれば、これが規定範囲
内の値になるように、レーザに組み込まれている例えば
シリンドリカルレンズ又は／及びコリメートレンズ等を
調整する。 この調整により、光軸が少しずれる場合があるが、光軸
調整はまだ完了していないので、光軸調整の繰り返し作
業を避けることができる。 次に、光軸調整を完了させる。 本発明では、光軸調整装置とビーム径測定装置とが有機
的一体的に結合でいるので、レーザ２を設置変更するこ
となく、光軸調整作業及びビーム径測定、調整作業を容
易迅速に行なうことができる。

【実施例】

以下、図面に基づいて本発明の詳細な説明する。 （１）第１実施例 第２図は第１実施例の光軸調整・ビーム径測定装置を示
す。 ベース１２Ａ上に設置されたホルダ１４には、レーザ１
６がその光軸を調整自在に保持されている。レーザ１６
の前方には、ハーフミラ−２９及び凸レンズ３０を介し
てハーフミラ−３２が配置されており、レーザ１６から
射出されたレーザビーム２４は、ハーフミラ−２９で反
射光束２４Ｃと透過光束とに２分割され、透過光束は、
凸レンズ３０で収束され、ハーフミラ−３２で透過光束
２４八と反射光束２４Ｂとに２分割される。これら透過
光束２４Ａ及び反射光束２４Ｂの位置を検出するために
、ＰＳＤ　（光位置検出器）３４Ａ及び３４Ｂが配置さ
れている。ＰＳＤ３４Ａは、凸レンズ３０の焦点Ｆｌよ
り距離ｄ１だけ凸レンズ３０と反対側へ離れた位置に配
置され、ＰＳＤ３４Ｂは、凸レンズ３０の焦点Ｆ２より
距離ｄ２だけハーフミラ−３２側へ離れた位置に配置さ
れている。また、レーザ１６の光軸調整が完了した状態
にふいて、レーザ１６から射出されたレーザビーム２４
が凸レンズ３０の光軸りに一致し、かつ、ＰＳＤ３４Ａ
及び３４Ｂの受光面に形成される光スポットがそれぞれ
の受光面中心位置（原点）に形成されるように、凸レン
ズ３０、ハーフミラ−３２、ＰＳＤ３４Ａ及び３４Ｂが
配置されている。 ここで、第２図に示す如く、レーザビーＡ２４が光軸り
とθ１の角度をなして凸レンズ３０に入射し、かつ、凸
レンズ３０の位置でレーザビーム２４が光軸りからｈだ
け離れている場合に、ＰＳＤ３４Ａ及び３４Ｂの受光面
に形成される光スボットの受光面上の光点位［ＺＡ及び
ＺＢを用いてこれら角度ずれθｌ及び位置ずれｈを求め
ることができることを説明する。 凸レンズ３０の焦点距離をｆとし、凸レンズ３０で屈折
されたレーザビーム２４が光軸りとなす角をθ２とする
と、第２図から次式が成立することがわかる。 θ２　＝　ｊ　ａ　ｎ−’　（ＺＡ−ＺＢ）／（ｄｌ＋
ｄ２））　　・・・　（１）ｈ＝　（ｆ＋ｄｔ）ｔａｎ
　（θ２）−ＺＡ（２） また、θ１とθ２との間には、幾何光学上の公知の関係
が成立する。 したがって、光点位置ＺＡ及びＺＢをそれぞれＰＳＤ３
４Ａ及び３４Ｂで検出することにより、角度ずれθ１及
び位置ずれｈを求めることができる。 第２図において、ＰＳＤ３４Ａの一対の電極から取り出
された光電流は、アンプ３６Ａ及び３８Ａで増幅され電
圧に変換された後、加算器４０Δ及び減算器４２Ａで両
者の和及び差が演算され、次にこの和を差で除した値が
除算器４４Ａで演算され、これが受光面上の光位置とし
てマルチプレクサ４６へ供給される。ＰＳＤ３４Ｂの出
力信号の処理についても同様であり、第２図では、同一
構成要素には同一番号を付しかつＢを付している。 除算器４４Ａ及び４４Ｂの出力は、マルチプレクサ４６
で交互に選択されてＡ／Ｄ変換器４８へ供給され、デジ
タル変換されてマイクロコンピュータ５０へ供給される
。マイクロコンピュータ５０は、光点位置ＺＡ及びＺＢ
を用いて上述の角度ずれθｌ及び位置ずれｈを求め、こ
れらを表示器５２へ供給して表示させる。 なお、第２図では説明の簡単化のために、ＰＳＤ３４Ａ
及び３４Ｂが１次元構成の場合を説明したが、実際には
ＰＳＤ３４Ａ及び３４Ｂは２次元構成のものが用いられ
、紙面垂直方向の光位置も検出される。そして、光軸り
及びレーザビーム２４を含む平面の基準面に対する角度
、この平面内での角度ずれθ１及び位置ずれｈを求め、
又は、互いに直交する両軸の各々について角度ずれθ１
及び位置ずれｈを求めて、これらを表示器５２に表示さ
せる。 一方、ハーフミラ−２９の第２図上方にはビーム径検出
器２５が配置されており、ハーフミラ−２９で反射され
た光束２４Ｃは、ビーム径検出器２５に入射する。ビー
ム径検出器２５は第１７図に示す既述のものと同一構成
であり、その説明を省略する。レーザビーム２４が光軸
りに一致した状態で、レーザビーム２４がスリット円板
２５ｂに対し垂直になり、かつ、スリット円板２５ｂが
所定回転角のときに光束２４Ｃがスリット２５ｃの中心
を通るように、ビーム径検出器２５が配置されている。 アンプ２５ｅの出力は、マルチプレクサ４６及びＡ／Ｄ
変換器４８を介してマイクロコンピュータ５０に供給さ
れ、マイクロコンピュータ５０は、角度ずれθｌ及び位
置ずれｈが共に略０になると、ドライバ２５ｆを介して
パルスモータ２５ａを回転駆動し、この回転に同期して
Ａ／Ｄ変換器４８から第一８図に示すような光検出強度
を読み込み、光検出強度の波形からビーム径を算出し、
これを表示器：１２に表示させる。 ビーＪ・径検出器２５は、不図示のスナップ機構により
、光検出器２５ｄを中心とし９０度回転可能となってお
り、ビーム径を互いに直交する方向について測定するこ
とができる。なお、ビーム径検出器：（５を２組配置し
、反射光束２４Ｃを不図示のハーフミラ−でさらに２分
割し、ビーム径を互いに直交する方向について同時に測
定するように構成してもよい。 次に、上記構成の光軸調整・ビーム径測定装置の使用方
法を説明する。 最初に、光軸調整を行なう。 レーザ１６からレーザビーム２４を射出させている間は
常に、その時点でのレーザビーム２４の光軸りに対する
ずれ量が表示器５２に表示される。 したがって、従来装置と異なり、レーザ１６の角度調整
及び位置調整をどの程度行えばよいかが調整中宮に分か
る。このため、レーザ１６の光軸調整を容易迅速に行う
ことができ、しかも、従来よりも高精度で光軸調整を行
なうことができる。 光軸調整手順はホルダ１４の構成により異なるが、例え
ばホルダ１４がレーザ１６の光軸の角度調整と位置調Ｉ
ＩＩ！（角度を一定にしてレーザ１６を平行移動させる
調整）とを独立に行なえる構成であれば、角度調整を先
に行って表示器５２に表示された角度ずれθｌを０にし
、次に、位置調整を行って表示器５２に表示された位置
ずれｈを０にし、あるいはこれと逆に、位置調整を行っ
た後に角度調整を行う。 この際、光軸調整がほぼ完了すると、すなわち、角度ず
れθｌ及び位置ずれｈが共に略０になると、マイクロコ
ンピュータ５０によりビーム径検出器２５が自動的に作
動し、表示器５２にビーム径が表示される。ビーム径検
出器２５を上記の如く９０度回転させると、これが不図
示のリミットスイッチで検出され、その信号がマイクロ
コンピュータ５０に供給され、同様にして、マイクロコ
ンピュータ５０によりビーム径検出器２５が自動的に再
度作動し、表示器５２にビーム径が表示される。 ビーム径測定値が規定範囲外であれば、これが規定範囲
内の値になるように、シリンドリカルレンズ１６ｂ又は
／及びコリメートレンズ１６ｃを調整する。この調整に
より、光軸が少しずれる場合があるが、光軸調整はまだ
完了していないので、光軸調整の繰り返し作業を避ける
ことができる。 次に、上記同様にして光軸調整を完了させる。 本実施例によれば、光軸調整装置とビーム径測定装置と
が有機的一体的に結合でいるので、光軸調整作業及びビ
ーム径測定、調整作業を容易迅速に行なうことができる
。 なお、表示器５２には、角度ずれθｌ及び位置ずれｈを
表示させる代わりに、光点位置ＺＡ及びＺＢを直接表示
させる構成であってもよく、また、光点位置ＺＡ及びＺ
Ｂからレーザ１６自体の位置ずれ量（角度ずれ量はθ１
に等しい）を演算してこれらを表示させる構成であって
もよい。 また、ビーム径検出器２５は、光軸調整中宮に作動し、
または、不図示のスイッチを押したときだけ作動するよ
うにしてもよい。 （２）第２実施例 第４図は第２実施例の光軸調整・ビーム径測定装置の光
学系を示す。 第２図との相違点は、凸レンズ３０とハーフミラ−３２
の配置を逆にし、角度ずれθ１を光点位置に変換するた
めに、凸レンズ３０の焦点Ｆ１にＰＳＤ３４Ａの受光面
中心位置を一致させてＰＳＤ３４Ａを配置し、位置ずれ
ｈを光点位置に変換するために、ハーフミラ−３２によ
る反射光を収束させずに直接ＰＳＤ３４Ｂで検出してい
る点である。不図示の信号処理回路は第２図と同一であ
り、第１０実施例を除き以下の他の実施例についても同
様である。光点位ＩＺＡ及びＺＢと角度ずれθｌ及び位
置ずれｈとの関係は第２図の場合と異なるが、両者の関
係は上記同様に幾何学的に決定される。この点も、以下
の他の実施例について同様である。 この装置を用いた光軸調整は、例えば次のようにして行
う。 レーザビーム２４が点線で示す如くなっている場合には
、ＰＳＤ３４Ａ及び３４Ｂの受光面に形成された光スポ
ットはそれぞれその中心位置からずれている。そこで、
レーザ１６の角度調整を行なって、ＰＳＤ３４Ａによる
光点位置ＺＡ（又は角度ずれθｌ）をＯにする。これに
より、レーザビーム２４は同図２点鎖線で示す如く光軸
りと平行になる。次に、レーザ１６の位置調整を行なっ
て、ＰＳＤ３４Ｂによる光点位置ＺＢ（又は位置ずれｈ
）を０にする。この際、光点位置ＺＡ及び角度ずれθ１
は０のままである。したがって、これによりレーザビー
ム２４は光軸りに一致する。 （３）第３実施例 第５図は第３実施例の光軸調整・ビーム径測定装置の光
学系を示す。 この実施例では、ＰＳＤ３４Ａ及び３４Ｂの配置が第２
図と異なる。即ち、ＰＳＤ３４Ａは、角度ずれθ１を光
点位置に変換するためにその受光面中心位置が凸レンズ
３０の焦点Ｆ１に一致するように配置され、ＰＳＤ３４
Ｂは、位置ずれｈを光点位置に変換するためにその受光
面が焦点Ｆ２からハーフミラ−３２と反対側へ離れた位
置に配置されている。 この装置を用いた光軸調整は、例えば次のようにして行
う。 レーザビーム２４が点線で示す如く光軸りと非平行にな
っている場合には、ＰＳＤ３４Ｂによる光点位置ＺＢが
０になっても、ＰＳＤ３４Ａによる光点位置ＺＡは０に
ならない。そこで、最初にレーザ１６の角度調整を行っ
て光点位置ＺＡ（又は角度ずれθ１）を０にする。これ
により、同図２点鎖線で示す如く、レーザビーム２４は
光軸りと平行になる。この時、光点位置ＺＢはＯでなく
、位置ずれｈに比例している。次に、光点位置ＺＢ（又
は位置ずれｈ）が０になるようにレーザ１６の位置調整
を行う。この際、光点位置ＺＡ及び角度ずれθ１は０の
ままである。光点位置ＺＡ及びＺＢが共にＯになると、
同図１点鎖線で示す如く、レーザビーム２４は光軸りに
一致する。 （４）第４実施例 第６図は第４実施例の光軸調整・ビーム径測定装置の光
学系を示す。 この実施例では、ハーフミラ−３２のＰＳＤ３４Ａ側に
凸レンズ３０Ａを配置し、ハーフミラ−３２のＰＳＤ３
４Ｂ側に凸レンズ３０Ｂを配置している点で第４図と異
なっている。他の点は第５図と同一であり、使用方法も
第５図の場合と同一である。 この実施例は、ハーフミラ−３２に対し平行光束を入射
させることができ、かつ、凸レンズ３０Ｂの焦点距離を
短くすることによりハーフミラ−３２とＰＳＤ３４Ｂと
の間隔を第５図の場合よりも短くすることができる点で
、第３実施例よりも優れている。 （５）第５実施例 第７図は第５実施例の光軸調整・ビーム径測定装置の光
学系を示す。 この実施例では、第６図のハーフミラ−３２と凸レンズ
３０Ｂとを反射型ホログラム５４Ａで代用しているので
、部品点数が第６図の構成よりも１つ少なくなり、構成
が簡単になっている。この反射型ホログラム５４Ａは、
透過光束に対してはこれを回折させないが、反射光束に
対してはこれを回折させて焦点Ｆ２に収束させるように
作成されている。他の点は第６図と同一である。 （６）第６実施例 第８図は第６実施例の光軸調整・ビーム径測定装置の光
学系を示す。 この実施例では、第７図に示す反射型ホログラム５４Ａ
の代わりに透過型ホログラム５４Ｂを用いている。他の
点は第７図と同一である。 （７）第７実施例 第９図は第７実施例の光軸調整・ビーム径測定装置の光
学系を示す。 この実施例では、第８図に示す凸レンズ３０の代わりに
透過型ホログラム５４Ｄを用いている。 透過型ホログラム５４Ｃは、その回折角のみが第８図に
示す透過型ホログラム５４Ｂと異なる。また、ハーフミ
ラ−２９、透過型ホログラム５４Ｃ及び５４Ｄが重ね合
わされて互いに接着されているので、装置を小型化でき
る。他の点は第８図の場合と同一である。 なお、透過型ホログラム５４Ｃは、第１０Ａ図に示す如
く、発散する参照光と収束する物体光とを干渉させ、こ
れで感光材料５４ｃを露光することにより記録される。 このようにして記録された透過型ホログラム５４Ｃに対
し、第１０Ｂ図に示す如く、発散波Ｐ１を入射させると
点Ｑ１に収束し、発散波Ｐ２を入射させると点Ｑ１から
少しずれた点Ｑ２に収束する。同様に、透過型ホログラ
ム５４Ｄは、第１０Ｃ図に示す如く、平行な参照光と収
束する物体光とを干渉させ、これで感光材料５４ｄを露
光することにより記録される。このようにして記録され
た透過型ホログラム５４Ｄに対し、第１０Ｄ図に示す如
く、平面波Ｐ３を入射させると点Ｑ３に収束し、平面波
Ｐ４を入射させると点Ｑ３から少しずれた点Ｑ４に収束
する。 上記第３〜７実施例では、ＰＳＤ３４Ｂが焦点Ｆ２から
外側にずれて配置されている場合を説明したが、ＰＳＤ
３４Ｂは焦点Ｆ２から内側にずれて配置してもよい。 また、第３実施例の変形例である第４〜７実施例の考え
方は、上記第１及び第２実施例に関しても適用すること
ができる。 （８）第８実施例 第１１図は第８実施例の光軸調整・ビーム径測定装置の
光学系を示す。 この実施例では、レーザ１６の前方に透過型ホログラム
７０が配置され、この透過型ホログラム７０の後方にＰ
ＳＤ３４Δ、３４Ｂ、３４Ｃ及び３４Ｄが配置されて構
成されている。透過型ホログラム７０は、その光軸（中
心線）Ｌが、光軸調整後にレーザ１６から射出されたレ
ーザビーム２４に一致するように配置されている。透過
型ホログラム７０は同一構成の領域？０Ａ〜７０Ｄから
なり、これらは中心角９０度の扇形である。領域？０Ａ
〜７０Ｄは、各頂点が共通点Ｏとなっている。透過型ホ
ログラム７０は、同図に示す如く、その中心点０に対し
レーザビーム２４を垂直入射させると、中心点０の近傍
の領域？０Ａ〜？０Ｄを通過する光束がそれぞれ、ＰＳ
Ｄ３４Ａ〜３４Ｄの受光面中心位置に収束するように作
成されている。 したがって、ＰＳＤ３４Ａ〜３４Ｄにより検出された光
位置により、レーザビーム２４の光軸りに対するずれを
知得することができる。 透過型ホログラム７０は、第１２Δ図に示す如く、領域
？ＯＡに相当する感光材料７０ａの部分以外をマスクし
、参照光としての平面波を感光材料７０ａに垂直に照射
し、物体光としての発散光を感光材料７０ａに対し参照
光と同一側から照射して、両光の干渉光で感光材料７０
ａを露光することにより領域？ＯＡにホログラムが記録
される。 このようにして記録されたホログラムに対し、第１２Ｂ
図に示す如く、領域？ＯＡに垂直に平面波Ｐを照射する
と、領域？ＯＡを透過した光束は回折されて点Ｑに収束
する。 第１２Ａ図において、マスクをそのままにし、感光材料
のみを９０度回転させて同様に漏光することにより領域
？ＯＢにホログラムが記録される。 領域７０Ｃ及び７０Ｄについても同様である。 （９）第９実施例 第１３図は第９実施例の光軸調整・ビーム径測定装置の
光学系を示す。 この実施例では、第１１図における透過型ホログラム７
０の代わりに反射型ホログラム７２を用い、ＰＳＤ３４
Ａ〜３４Ｄを反射型ホログラム７２のレーザ１６側に配
置している。反射型ホログラム７２の中心点０に対し、
反射型ホログラム７２に垂直にレーザビーム２４を照射
すると、中心点０の近傍の領域？２Ａ〜？２Ｄに照射さ
れた光束はそれぞれ、反射回折されてＰＳＤ３４Ａ〜３
４Ｄの受光面中心位置に収束する。また、ビーム径検出
器２５を反射型ホログラム７２の後方に配置し、反射型
ホログラム７２を透過したレーザビーム２４をビーム径
検出器２５に入射させている。 他の点は第１１図の場合と同一である。 この反射型ホログラム７２は、第１２Ａ図において、参
照光を図示方向と反対方向から感光材料に照射すること
により作成される。 （１０）第１０実施例 第１４図は第１０実施例の光軸調整・ビーム径測定装置
の光学系を示す。 この実施例では、上記各実施例と構成が本質的に異なっ
ている。すなわち、レーザ１６の前方にハーフミラ−３
２を介して反射干渉器５６が配置され、ハーフミラ−３
２の側方にスクリーン６４及びビーム径検出器２５が配
置されて構成されている。この反射干渉器５６は、平凸
レンズ５８の凸面に反射膜６０が被着され、平凸レンズ
５８の平面に反射率５０％の半透膜６２が被着されてい
る。 上記構成において、レーザ１６から射出されたレーザビ
ーム２４は、ハーフミラ−３２で透過光束と反射光束と
に２分割され、透過光束は、その５０％が半透膜６２で
反射され、残りの５０％が平凸レンズ５８を通って反射
膜６０で反射され、画成射光が合波干渉し、ハーフミラ
−３２へ戻ってその一部がスクリーン６４側に反射され
、スクリーン６４上にニュートンリングの像が形成され
る。また、ハーフミラ−３２で反射された光束は、ビー
ム径検出器２５に入射する。反射干渉器５６は、その光
軸りが、光軸調整後にレーザ１６から射出されたレーザ
ビーム２４と一致するように配置されている。この状態
では、第１５Ａ図に示す如く、スクリーン６４に形成さ
れた十字６６の交点にニュートンリング６８の中心が一
致する。 例えば、レーザビーム２４が、第１４図−点鎖線で示す
如く、光軸りから平行にずれた場合には、スクリーン６
４には第１５Ｂ図に示すようなニュートンリング６８が
映る。これは、半透膜６２での反射角と反射膜６０での
反射角とが異なるので、スクリーン６４上では画成射光
の光スポットがずれるためである。 また、レーザビーム２４が、第１４図点線で示す如（、
光軸りと非平行にになり、かつ、平凸レンズ５８の中心
Ｒを通る場合には、スクリーン６４には第１５Ｃ図に示
すようなニュートンリング６８が映る。 したがって、スクリーン６４上に映ったニュートンリン
グ６８の形状及びその中心点の位置とレーザビーム２４
の状態とを１対１に対応させたものを表にしておけば、
レーザビーム２４の角度及び位置がどの程度ずれている
かを容易に知ることができる。 なお、スクリーン６４の代わりに２次元イメージセンサ
を配置し、画像処理を行ってレーザビーム２４の角度ず
れ０１及び位置ずれｈを求め、これらを表示器に表示さ
せるように構成してもよい。 また、反射干渉器５６の平凸レンズ５８は光路差分布を
付与するものであり、平凸レンズに限定されず、両凸レ
ンズ、平凹レンズ又はメニスカスレンズ等であってもよ
いことは勿論である。さらに、反射干渉器５Ｇは、平凸
レンズ５８に直接反射膜６０及び半透膜６２を被着せず
に、平凸レンズ５８の凸面を平面鏡に当接させてニュー
トンリングを形成する構成であってもよい。 【発明の効果］ 以上説明した如く、本発明に係る光軸調整・ビーム径測
定装置によれば、光軸調整装置とビーム径測定装置とが
有機的一体的に結合しているので、レーザを設置変更す
ることなく、光軸調整作業及びビーム径測定、調整作業
を容易迅速に行なうことができるという優れた効果を奏
する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る光軸調整・ビーム径測定装置の原
理構成を示すブロック図である。 第２図及び第３図は本発明の第１実施例に係り、第２図
は光軸調整・ビーム径測定装置構成図、第３図はＰＳＤ
３４Ａ及び３４Ｂにより検出された光点位置ＺＡ及びＺ
Ｂと角度ずれθ１及び位置ずれｈとの関係を示す図であ
る。 第４図は本発明の第２実施例に係る光軸調整・ビーム径
測定装置の光学系図である。 第５図は本発明の第３実施例に係る光軸調整・ビーム径
測定装置の光学系図である。 第６図は本発明の第４実施例に係る光軸調整・ビーム径
測定装置の光学系図である。 第７図は本発明の第５実施例に係る光軸調整・ビーム径
測定装置の光学系図である。 第８図は本発明の第６実施例に係る光軸調整・ビーム径
測定装置の光学系図である。 第９図乃至第１０Ｄ図は本発明の第７実施例に係り、 第９図は光軸調整・ビーム径測定装置の光学系図、 第１０Ａ図は透過型ホログラム５４Ｃの記録図、第１０
Ｂ図は透過型ホログラム５４Ｃの再生図、第１０Ｃ図は
透過型ホログラム５４Ｄの記録図、第１０Ｄ図は透過型
ホログラム５４Ｄの再生図である。 第１１図乃至第１２Ｂ図は本発明の第８実施例に係り、 第１１図は光軸調整・ビーム径測定装置の光学系斜視図
、 第１２Ａ図は透過型ホログラム７０の記録図、第１２Ｂ
図は透過型ホログラム７ｏの再生図である。 第１３図は本発明の第９実施例に係る光軸調整・ビーム
径測定装置の光学系図である。 第１４図乃至第１５Ｃ図は本発明の第１０実施例に係り
、 第１４図は光軸調整・ビーム径測定装置の光学系図、 第１５Ａ〜１５Ｃ図はスクリーン６４上に映ったニュー
トンリング６８を示す図である。 第１６図乃至第１８図は従来例に係り、第１６図は光軸
調整装置構成図、 第１７図はビーム径測定装置構成図、 第１８図は光検出器２５ｄの出力波形図である。 図中、 １４はホルダ ６はレーザ ５はビーム径検出器 ５ｂはスリット円板 ５ｄは光検出器 ９．３２はハーフミラ− ３４Ａ、３４ＢはＰＳＤ ５４Ａ、？２は反射型ホログラム ５４Ｂ〜５４Ｄ、Ｔｏは透過型ホログラム５６は反射干
渉器 ６４はスクリーン ６８はニュートンリング １ １光轄調整装置 第 図 ３０：凸レンズ ２９．３２：ハーフミラ− ３４Ａ、３４Ｂ　：　ＰＳ；ｌ） ＼ 占ジ〜３４Ｂ 光軸調整・ビーム径測定装置の光学系（第４実施ｆ！Ａ
）第６図 ホログラムの記録 第１２Ａ図 ホログラムの再生 第１２８図 １６：レーザ ２５；ビーム径検出器 ７２；反射型ホログラム ３４　Ａ〜３４Ｄ：　ＰＳＤ 光粒調整 ビーム径測定装置の光学系（第９実施例）第１３図 ビーム径検出器 ハーフミラ− 平凸レンズ 先細調整・ビーム径測定装置の光学系（第１０実施例）
第１４２図 スクリーンに映るニュートンリング 第１５Ａ図 第１５Ｂ図 第１５Ｃ図 １０、レール １４：ホルダ １６：レーザ １８２０ニアパーチヤ ２２ニスクリーン 光軸調整装置（従来技術） 第１６図 光検出器２５ｄの出力波形 第１８図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 レーザ（２）の光軸を調整するために、該レーザから射
   出されたレーザビーム（３）の基準軸（４）に対するず
   れ量を測定する光軸調整装置（１）と、 入射レーザビーム（６）の径を測定するビーム径測定装
   置（５）と、 該光軸調整装置から該レーザビームの一部を取り出して
   該ビーム径測定装置に入射させ、該ずれ量が０になった
   状態で該ビーム径測定装置に対し正規の位置にレーザビ
   ーム（６）が入射するように配置されたレーザビーム分
   割手段（７）と、を有することを特徴とする光軸調整・
   ビーム径測定装置。