JPH08334309A - 光学式変位検出装置 - Google Patents
光学式変位検出装置Info
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- JPH08334309A JPH08334309A JP14213295A JP14213295A JPH08334309A JP H08334309 A JPH08334309 A JP H08334309A JP 14213295 A JP14213295 A JP 14213295A JP 14213295 A JP14213295 A JP 14213295A JP H08334309 A JPH08334309 A JP H08334309A
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Abstract
動部を小型・軽量化して応答速度を改善すること。 【構成】被測定面34で反射して対物レンズ33,結像
レンズ32を通過したプローブ光から合焦状態を検出
し、対物レンズ33と被測定面34の相対距離を変化さ
せて焦点位置が検出されたときの対物レンズ33の位置
を検出する光学式変位検出装置であり、測定光を測定対
象物に対して出射し該測定対象物で反射して返って来た
測定光を利用して前記測定対象物までの距離を測定する
測長器41と、測長器41から出射した測定光をプロー
ブ光の光軸と平行になるように対物レンズ側へ反射可能
な反射部材42と、対物レンズ33が固定されるレンズ
保持部材35に保持されプローブ光を透過すると共に反
射部材からの測定光をプローブ光の光軸と平行に反射部
材へ反射する光学素子40とを備える。
Description
係り、特に対物レンズを通したプローブ光のフォーカス
状態を検出して対物レンズを焦点位置へ移動させたとき
の変位を検出する光学式変位検出装置に関する。
に測定するために光学式変位検出装置が用いられること
があった。図5は、実開平5−34512号公報に開示
されている光学式変位計の構成例を示している。かかる
光学式変位計は、半導体レーザ1から放射した光を偏光
ビームスプリッタ2を使って対物光軸上に導光し、1/
4波長板3、結像レンズ4及び対物レンズ5を介して被
測定面6に照射する。そして、被測定面6で反射し再び
対物レンズ5に入射した反射光を結像レンズ4、1/4
波長板3、偏光ビームスプリッタ2を介して焦点位置検
出部7に入射する。焦点位置検出部7がフォーカス状態
を検出する。
に移動させると共に、このときの対物レンズ5の移動距
離をスケール9及び検出器10からなるリニアエンコー
ダ11が検出し、焦点位置検出部7が合焦点を検出した
ときのリニアエンコーダ11の出力を変位信号として出
力する。
開示されている光学式変位計の構成例を示している。か
かる光学式変位計は、半導体レーザ12から放射した光
を対物レンズ13を介して被測定面14に照射し、その
反射光を再び対物レンズ13を介して焦点位置検出系の
4分割ダイオード15に入射している。4分割ダイオー
ド15の出力をサーボ制御回路16へ入力し、サーボ制
御回路16から可動コイル17及び永久磁石18からな
るアクチュエータ19を駆動する。アクチュエータ19
の可動イコル17に連結部材20を介して対物レンズ1
3を一体的に取り付けて、アクチュエータ19の移動量
を対物レンズ13の光軸方向の変位量に代えている。対
物レンズ13の光軸と同軸上に配置され連結部材20に
一体的に取り付けられたエンコーダ21で対物レンズ1
3の変位を検出している。エンコーダ21を対物レンズ
13の光軸と同軸上に配置しているのはアッベ誤差の発
生を抑えるためである。
た図5に示す光学式変位計は、対物レンズ5の光軸とエ
ンコーダ11とが同軸上に配置されておらず、アッベ
(Abbe) の基本定理を満足していない。ここで、アッベ
の基本定理とは、長さを測定する測定器などで測るべき
長さと尺度として使用する分割目盛りとが、その測定方
向において一直線上に並ぶように配置することにより、
最も誤差が少なくなるという定理である。
は、上記したようにアッベの基本定理は満足するが、か
かる基本定理を満足するように構成したことにより装置
全体が大型化すると共に、可動部が大型化して重くなり
応答速度を上げるのが困難になっている。
れたもので、アッベの誤差を除去した高精度な測定が可
能で、可動部を小型・軽量化できて応答速度を改善でき
る光学式変位検出装置を提供することを目的とする。
成するために以下のような手段を講じた。請求項1に対
応する本発明は、プローブ光を結像レンズ及び対物レン
ズを通して被測定面に照射し、該被測定面から反射して
前記対物レンズ及び結像レンズを通して取り込まれたプ
ローブ光から合焦状態を検出する焦点位置検出手段と、
前記対物レンズと前記被測定面との光軸方向の相対距離
を前記対物レンズを移動して変化させる駆動手段と、測
定光を測定対象物に対して出射し該測定対象物で反射し
て返って来た測定光を利用して前記測定対象物までの距
離を測定する測長器と、前記プローブ光の光軸と平行な
光路上に配置され前記対物レンズと一体的に移動する折
り返し光学系とを備える。前記測長器の測定光の光軸を
前記プローブ光の光軸と平行にし、前記測長器から出射
した測定光を前記折り返し光学系で入射軸と平行に折り
返して再び該測長器に戻すようにした。
を対物レンズを通して被測定面に照射すると共に該被測
定面で反射して前記対物レンズを通過したプローブ光か
ら前記対物レンズの合焦状態を検出し、前記対物レンズ
と前記被測定面との光軸方向の相対距離を変化させて前
記対物レンズの焦点位置が検出されたときの前記対物レ
ンズの位置を検出する光学式変位検出装置において、測
定光を測定対象物に対して出射し該測定対象物で反射し
て返って来た測定光を利用して前記測定対象物までの距
離を測定する測長器と、前記測長器から出射した測定光
をプローブ光の光軸と平行になるように前記対物レンズ
側へ反射可能な反射部材と、前記対物レンズが固定され
るレンズ保持部材に保持され、前記プローブ光を透過す
ると共に前記反射部材から入射する測定光を前記プロー
ブ光の光軸と平行に前記反射部材へ反射する光学素子と
を備える。
を対物レンズを通して被測定面に照射すると共に該被測
定面で反射して前記対物レンズを通過したプローブ光か
ら前記対物レンズの合焦状態を検出し、前記対物レンズ
と前記被測定面との光軸方向の相対距離を変化させて前
記対物レンズの焦点位置が検出されたときの前記対物レ
ンズの位置を検出する光学式変位検出装置において、前
記プローブ光と異なる波長域を持つ測定光を発生し、該
測定光を測定対象物に対して出射し該測定対象物で反射
して返って来た測定光を利用して前記測定対象物までの
距離を測定する測長器と、前記測長器から出射した測定
光をプローブ光の光軸と平行になるように前記対物レン
ズ側へ反射する反射部材と、前記対物レンズが固定され
るレンズ保持部材に保持され、前記プローブ光の波長域
を透過し前記測定光の波長域を反射する透過特性を持
ち、前記反射部材から入射する測定光を前記プローブ光
の光軸と平行に前記反射部材へ反射する波長選択素子と
を備える。
り次のような作用を奏する。請求項1に対応する本発明
によれば、測長器から出射した測定光がプローブ光と平
行に折り返し光学系へ入射し、入射軸と平行に折り返し
て再び測長器へ戻される。駆動手段で対物レンズを移動
して対物レンズと被測定面との光軸方向の相対距離を変
化させると、測定光の光路が変化するので対物レンズの
移動距離が測長器にて検出される。プローブ光の光軸と
測定光の光軸とが平行となっているのでアッベの誤差が
消去され高精度な測定が可能となり、リニアスケール等
の変位測定のための可動部がないので装置の小形化、軽
量化を図ることができる。
器から出射した測定光が反射部材で反射されてプローブ
光の光軸と平行になり、レンズ保持部材を介して対物レ
ンズと一体的に移動する光学素子へ入射する。光学素子
へ入射した測定光は光学素子でプローブ光の光軸と平行
に折り返されて反射部材に再入射し反射部材で反射して
測長器へ戻る。このように、測長器から出射する測定光
の光軸とプローブ光の光軸とが平行で、レーザ光を使用
して光学素子の光軸方向への移動距離を測定するので、
アッベ誤差を解消して高精度な測定が可能になると共
に、可動部を小形化、軽量化できる。
器から出射した測定光が反射部材で反射されてプローブ
光の光軸と平行になり、レンズ保持部材を介して対物レ
ンズと一体的に移動する波長選択素子へ入射する。ここ
で、波長選択素子の透過特性は測定光の波長帯域を反射
するように設定されているので、プローブ光の光軸と平
行に折り返して再び反射部材で反射して測長器に戻る。
また、プローブ光は波長選択素子をそのまま透過する。
従って、波長選択素子をプローブ光の光路上に配置する
ことができ、プローブ光と測定光とを同軸にすることが
できる。
装置の全体構成を示している。
置検出部31から出射したプローブ光を結像レンズ32
に入射して平行光束に変換し、この平行光束からなるプ
ローブ光を対物レンズ33に入射して被測定面34の所
定位置に集光させる。被測定面34で反射した反射光を
同一経路を経由して焦点位置検出部31へ入射しそのフ
ォーカス状態から焦点位置を検出する。
定して、レンズ保持部材35を駆動部36が光軸方向へ
移動可能に支持している。駆動部36は、レンズ保持部
材35の近傍に光軸と平行に配置されたリードスクリュ
ー37と、このリードスクリュー37を回転させるモー
タ38と、リードスクリュー37に螺合すると共にレン
ズ保持部材35に連結された移動子39とを有する。リ
ードスクリュー37を光軸方向に位置規制することによ
り、移動子39を相対的に光軸方向へ上下動させるよう
になっている。
の光路が形成されており、その光路の一端部開口に対物
レンズ33を嵌め込み、他端部側にいわゆるコーナーキ
ューブとして機能する光学素子40を対物レンズ33と
同心的に嵌め込んでいる。光学素子40が折り返し光学
系を構成する。
示している。光学素子40は、円柱体の外周面に、円柱
体の中心軸を中心として中心軸側へ45度の傾きを持ち
かつ互いに90度の角度をなす3つの反射面(以下、
「傾斜ミラー面」と呼ぶ)40a〜40cを形成した透
光性の部材からできている。図2(b)は光学素子40
を測定面側から見た平面図を現している。同図に示すよ
うに、3つの傾斜ミラー面40a〜40cの中心部には
平面領域40dが形成されている。平面領域40dの内
接円の中心と対物レンズ33との中心とを一致させて光
学素子40をレンズ保持部材35に取り付けている。平
面領域40dは焦点検出可能な径の光束を対物レンズ3
3側へ透過させ得る大きさを有している。
路上に、レーザ測長器41からのレーザ光をプローブ光
の光軸と平行にするリングミラー42を備えている。前
記プローブ光の光軸にレーザ測長器41の光軸を平行に
配置すると共に、プローブ光の光束より外側に配置する
ことにより、レーザ測長器41のレーザ光を光学素子4
0の外周部に配置した傾斜ミラー面40a〜40cを通
して、入射方向に対して平行な光として反射されるよう
にしている。
点位置検出部31からのプローブ光が結像レンズ32で
平行光束に変換され、この平行光束のプローブ光がリン
グミラー32の中央部の開口を通過し、光学素子40の
上端平面に垂直に入射する。光学素子40の上端平面か
ら入射したプローブ光は、光学素子40の下端面に形成
した平面領域40dから出射して対物レンズ33に入射
し被測定面34上に集光する。被測定面34で反射した
光は再び対物レンズ33を通り、光学素子40の平面領
域40dから垂直に入射して上端平面より出射し、リン
グミラー42の中央部の開口を透過して結像レンズ32
に入射する。結像レンズ32により焦点位置検出部31
に入射してフォーカス状態の検出に利用される。
ザ光は、上記した設定により、リングミラー42に入射
して測定面側へ反射されプローブ光の光軸と平行にされ
る。リングミラー42で反射したレーザ光はプローブ光
よりも外側を通って光学素子40の上端平面より垂直に
入射する。光学素子40の上端平面より入射したレーザ
光は傾斜ミラー面40a〜40cのいずれかに入射す
る。例えば、図2(a)に示すように傾斜ミラー面40
bに入射したレーザ光L1は水平方向に反射し、その進
行路上にある傾斜ミラー面40a又は傾斜ミラー面40
cに入射して垂直上方へ反射されレーザ光L2としてプ
ローブ光よりも外側を通って光学素子40の上端平面よ
り出射する。光学素子40の上端平面より出射したレー
ザ光はリングミラー42で反射されてレーザ測長器41
に入射する。レーザ測長器41では光路長の変化情報を
持って戻った来たレーザ光と基準光との位相差から光路
長の変化分を検出する。
ために駆動部36を使って対物レンズ33を移動させ
る。モータ38を所定方向へ回転させると、リードスク
リュー37が回転するので、このリードスクリュー37
に螺合している移動子39がリードスクリュー37に対
して相対的に昇降する。このとき、移動子39に連結さ
れているレンズ保持部材35が対物レンズ33及び光学
素子40を保持したまま光軸方向へ移動することにな
る。このようにして、駆動部36の駆動により光学素子
40が対物レンズ33と同一方向へ同一距離だけ移動す
ると、該光学素子40からのレーザ光をモニタしている
レーザ測長器41にて光学素子40の光軸方向への移動
距離、すなわち対物レンズ33の移動距離が検出され
る。焦点位置検出部31にて合焦点が検出されたときの
レーザ測長器41の検出した移動量が変位信号となる。
レンズ33が図1に示す矢印Aの方向に傾きながら動い
たとしても、レーザ測長器41の光路がプローブ光の光
軸に対して常に平行な状態となるように配置されている
ので、アッベの誤差が消去され、高精度な測定が可能
で、且つ目視観察が可能である。また、対物レンズの変
位測定にレーザ測長器41を用いているので、リニアス
ケール等の部品が不要となり、装置全体を大型化するこ
となくアッベの基本定理を満足でき、装置の小型・軽量
化が可能で応答速度を向上することができる。
るものではなく、プローブ光を透過させると共にレーザ
光に対してコーナーキューブと同様に機能するものであ
れば傾斜ミラー面が3面のものに限らない。例えば、4
面以上の傾斜ミラー面を持つものであっても良い。又は
傾斜ミラー面のみをレンズ保持部材に取り付けたような
ものであっても良い。
学式変位検出装置の全体構成を示している。なお、上記
した第1実施例と同一機能を有する部部には同一符号を
付している。
るレンズ保持部材43にダイクロイックミラー等の波長
選択性の光学素子(以下、「波長選択光学素子」と呼
ぶ)44を取り付けている。波長選択光学素子44は、
対物レンズ33よりも結像レンズ32寄りで光軸に対し
て垂直に配置している。同じ波長選択特性を持つ波長選
択光学素子45を、波長選択光学素子44と結像レンズ
32との間の光路上に45度に傾けて配置する。波長選
択光学素子45はレーザ測長器41のレーザ光の光軸と
プローブ光の光軸とを同軸上に配置している。
とレーザ測長器41が出力するレーザ光との波長を異な
らせており、波長選択光学素子44,45はプローブ光
の波長帯域は透過するがレーザ光の波長帯域は反射する
透過特性にしている。
点位置検出部31から出射したプローブ光が結像レンズ
32を介して波長選択光学素子45に入射する。上記し
たように波長選択光学素子45の透過波長帯域はプロー
ブ光の波長帯域に設定されているので、波長選択光学素
子45、44を透過して対物レンズ33に入射して被測
定面34上に集光される。また、被測定面34で反射し
た光は、再び対物レンズ33、波長選択光学素子44、
45、結像レンズ32を介して焦点位置検出部31に入
射する。焦点位置検出部31ではプローブ光の入射光よ
り焦点位置の検出を行う。
ザ光は、波長選択光学素子45の透過波長帯域とは異な
る波長となっているため、波長選択光学素子45で測定
面側に反射されプローブ光と同軸にされる。波長選択光
学素子45で反射されたレーザ光は、波長選択光学素子
44で反射されて再び波長選択光学素子45を介してレ
ーザ測長器41へ入射する。
させると、移動子39に連結されているレンズ保持部材
43が対物レンズ33及び波長選択光学素子45を保持
したまま光軸方向へ移動する。波長選択光学素子45が
対物レンズ33と同一方向へ同一距離だけ移動すると、
波長選択光学素子44で反射するレーザ光をモニタして
いるレーザ測長器41にて波長選択光学素子44の光軸
方向への移動距離、すなわち対物レンズ33の移動距離
が検出される。焦点位置検出部31にて合焦点が検出さ
れたときのレーザ測長器41の検出した移動量が変位信
号となる。
実施例と同様に、レーザ測長器41のレーザ光の光軸と
プローブ光の光軸とを同軸上に一致させることができ、
常に平行な状態となるので、アッベの誤差が消去され、
高精度な測定が可能で、且つ目視観察が可能である。
学式変位検出装置の全体構成を示している。なお、上記
した第1実施例と同一機能を有する部部には同一符号を
付している。
33との間であってプローブ光より外側の位置に、レー
ザ測長器41からのレーザ光を反射してプローブ光の光
軸と平行にする第1ミラー46を設置している。対物レ
ンズ33が嵌め込まれたレンズ保持部材47の結像レン
ズ側の端面外周に第1ミラー46からのレーザ光が入射
する第2ミラー48aが固定されている。レンズ保持部
材47の結像レンズ側の端面外周であり光軸を挟んで第
2ミラー48aの反対側に第2ミラー48aで反射され
るレーザ光を垂直上方に反射する第3ミラー48bが固
定されている。更に、第2ミラー48aから入射して第
3ミラー48bで反射された光の進行路上にレンズ保持
部材47とは別体に第4ミラー49が設置されている。
即ち、第1〜第4ミラー46,48a,48b,49
は、第2,第3ミラー48a,48bが対物レンズ33
と連動し、、レーザ測長器41から第1ミラー46に入
射したレーザ光を第4ミラー49まで到達させてから再
びレーザ測長器41へ戻すように配置されている。
ーザ測長器41から出射したレーザ光が第1ミラー46
で反射してプローブ光と平行にされて第2ミラー48a
に入射する。第2ミラー48aで水平方向に反射したレ
ーザ光が第3ミラー48bで垂直上方に反射されて第4
ミラー49に入射する。第4ミラー49で反射したレー
ザ光が再び第3ミラー49b,第2ミラー48a、第1
ミラー46を介してレーザ測長器41に入射する。
間、及び第3ミラー38bと第4ミラー49との間は、
それぞれプローブ光の光軸と平行になっており、駆動部
36によりレンズ保持部材47(対物レンズ33)を移
動させると、上記ミラー間の距離が対物レンズ33の移
動距離と同じ距離だけ変化する。レーザ測長器41にお
いては、この変位を戻ってきたレーザ光を利用すること
により検出する。
施例と同様に、アッベの誤差が消去され、高精度な測定
が可能で、且つ目視観察が可能となる。なお、上記した
焦点位置検出部31は、アクティブ法であってもパッシ
ブ法であっても良い。例えば、アクティブ法としては共
焦点法、ナイフエッジ法、臨界角法などがあり、パッシ
ブ法としてはコントラスト法などがある。
用により、上述の実施例と同様の効果をえられるもので
ある。 (構成)プローブ光を対物レンズを通して被測定面に照
射すると共に該被測定面で反射して前記対物レンズを通
過したプローブ光から前記対物レンズの合焦状態を検出
し、前記対物レンズと前記被測定面との光軸方向の相対
距離を変化させて前記対物レンズの焦点位置が検出され
たときの前記対物レンズの位置を検出する光学式変位検
出装置において、測定光を測定対象物に対して出射し該
測定対象物で反射して返って来た測定光を利用して前記
測定対象物までの距離を測定する測長器と、前記測長器
から出射した測定光をプローブ光の光軸と平行になるよ
うに前記対物レンズ側へ反射可能な反射部材と、前記対
物レンズと一体的に移動する1つ以上のミラーを有し、
前記反射部材から前記ミラーに入射した測定光を前記プ
ローブ光の光軸と平行に前記反射部材へ戻すように組み
合わされた複数のミラーからなる折り返し光学系とを具
備する。
光が反射部材で反射されてプローブ光の光軸と平行にな
り、レンズ保持部材を介して対物レンズと一体的に移動
するミラーに入射する。ミラーで反射した測定光が折り
返し光学系によりプローブ光の光軸と平行に反射部材へ
戻すので、反射部材で反射して測長器へ戻る。従って上
述した実施例と同様の効果を得ることができる。本発明
は上記実施例に限定されるものではなく、本発明の要旨
を逸脱しない範囲内で種々変形実施可能である。
ッベの誤差を除去した高精度な測定が可能で、可動部を
小型・軽量化できて応答速度を改善できる光学式変位検
出装置を提供できる。
の構成図である。
子の斜視図及び底面図である。
の構成図である。
の構成図である。
レンズ、34…測定面、35,43,47…レンズ保持
部材、36…駆動部、40…光学素子、40a〜40c
…傾斜ミラー面、44,45…波長選択光学素子、4
6,48a,48b,49…ミラー。
Claims (3)
- 【請求項1】 プローブ光を結像レンズ及び対物レンズ
を通して被測定面に照射し、該被測定面から反射して前
記対物レンズ及び結像レンズを通して取り込まれたプロ
ーブ光から合焦状態を検出する焦点位置検出手段と、 前記対物レンズと前記被測定面との光軸方向の相対距離
を前記対物レンズを移動して変化させる駆動手段と、 測定光を測定対象物に対して出射し該測定対象物で反射
して返って来た測定光を利用して前記測定対象物までの
距離を測定する測長器と、 前記プローブ光の光軸と平行な光路上に配置され前記対
物レンズと一体的に移動する折り返し光学系とを備え、 前記測長器の測定光の光軸を前記プローブ光の光軸と平
行にし、前記測長器から出射した測定光を前記折り返し
光学系で入射軸と平行に折り返して再び該測長器に戻す
ようにしたことを特徴とする光学式変位検出装置。 - 【請求項2】 プローブ光を対物レンズを通して被測定
面に照射すると共に該被測定面で反射して前記対物レン
ズを通過したプローブ光から前記対物レンズの合焦状態
を検出し、前記対物レンズと前記被測定面との光軸方向
の相対距離を変化させて前記対物レンズの焦点位置が検
出されたときの前記対物レンズの位置を検出する光学式
変位検出装置において、 測定光を測定対象物に対して出射し該測定対象物で反射
して返って来た測定光を利用して前記測定対象物までの
距離を測定する測長器と、 前記測長器から出射した測定光をプローブ光の光軸と平
行になるように前記対物レンズ側へ反射可能な反射部材
と、 前記対物レンズが固定されるレンズ保持部材に保持さ
れ、前記プローブ光を透過すると共に前記反射部材から
入射する測定光を前記プローブ光の光軸と平行に前記反
射部材へ反射する光学素子とを具備したことを特徴とす
る光学式変位検出装置。 - 【請求項3】 プローブ光を対物レンズを通して被測定
面に照射すると共に該被測定面で反射して前記対物レン
ズを通過したプローブ光から前記対物レンズの合焦状態
を検出し、前記対物レンズと前記被測定面との光軸方向
の相対距離を変化させて前記対物レンズの焦点位置が検
出されたときの前記対物レンズの位置を検出する光学式
変位検出装置において、 前記プローブ光と異なる波長域を持つ測定光を発生し、
該測定光を測定対象物に対して出射し該測定対象物で反
射して返って来た測定光を利用して前記測定対象物まで
の距離を測定する測長器と、 前記測長器から出射した測定光をプローブ光の光軸と平
行になるように前記対物レンズ側へ反射する反射部材
と、 前記対物レンズが固定されるレンズ保持部材に保持さ
れ、前記プローブ光の波長域を透過し前記測定光の波長
域を反射する透過特性を持ち、前記反射部材から入射す
る測定光を前記プローブ光の光軸と平行に前記反射部材
へ反射する波長選択素子とを具備したことを特徴とする
光学式変位検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14213295A JPH08334309A (ja) | 1995-06-08 | 1995-06-08 | 光学式変位検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14213295A JPH08334309A (ja) | 1995-06-08 | 1995-06-08 | 光学式変位検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08334309A true JPH08334309A (ja) | 1996-12-17 |
Family
ID=15308120
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14213295A Pending JPH08334309A (ja) | 1995-06-08 | 1995-06-08 | 光学式変位検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08334309A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010237183A (ja) * | 2009-03-31 | 2010-10-21 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | 低コヒーレンス干渉計及び光学顕微鏡 |
WO2013096660A1 (en) * | 2011-12-23 | 2013-06-27 | Rudolph Technologies, Inc. | On-axis focus sensor and method |
CN111148461A (zh) * | 2017-09-27 | 2020-05-12 | 卡尔蔡司医疗技术股份公司 | 用于塔型裂隙灯的照射单元 |
CN114001931A (zh) * | 2021-11-02 | 2022-02-01 | Oppo广东移动通信有限公司 | 成像组件的测试装置及测试方法 |
-
1995
- 1995-06-08 JP JP14213295A patent/JPH08334309A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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CN111148461B (zh) * | 2017-09-27 | 2023-11-21 | 卡尔蔡司医疗技术股份公司 | 用于塔型裂隙灯的照射单元 |
CN114001931A (zh) * | 2021-11-02 | 2022-02-01 | Oppo广东移动通信有限公司 | 成像组件的测试装置及测试方法 |
CN114001931B (zh) * | 2021-11-02 | 2024-04-30 | Oppo广东移动通信有限公司 | 成像组件的测试装置及测试方法 |
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