JPH03223466A - 薄膜形成装置 - Google Patents
薄膜形成装置Info
- Publication number
- JPH03223466A JPH03223466A JP1479990A JP1479990A JPH03223466A JP H03223466 A JPH03223466 A JP H03223466A JP 1479990 A JP1479990 A JP 1479990A JP 1479990 A JP1479990 A JP 1479990A JP H03223466 A JPH03223466 A JP H03223466A
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- vacuum chamber
- thin film
- rays
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- Pending
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 19
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 19
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 abstract description 7
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 abstract description 6
- 239000010432 diamond Substances 0.000 abstract description 6
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 abstract description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 2
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 abstract description 2
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 abstract description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000001069 Raman spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 1
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
Ｆ産業上の利用分野］
本発明は薄膜形成装置に関し、ざらに詳しくは、良質な
薄膜を高速で形成する装置に関するものである。
薄膜を高速で形成する装置に関するものである。
［従来の技術およびその課題］
従来、ガスを導入し、ＲＦプラズマで活性化させたガス
の反応物を基板上に堆積させるＣＶＤ法による薄膜形成
技術はすでによく知られている。
の反応物を基板上に堆積させるＣＶＤ法による薄膜形成
技術はすでによく知られている。
しかしながら、ＲＦプラズマだけではガス中のイオン化
は低く、ラジカルの鰻も少ないので、ラジカル量を増や
すためにはチャンバ内の圧力を高くしなければ十分な蒸
着速度が得られなかった。しかし、それでも広い面積に
膜を合成する場合には、プラズマの発生が難しかったり
、不安定になりやすい等の欠点があり、高速で良質な薄
膜を形成するのは困難であった。
は低く、ラジカルの鰻も少ないので、ラジカル量を増や
すためにはチャンバ内の圧力を高くしなければ十分な蒸
着速度が得られなかった。しかし、それでも広い面積に
膜を合成する場合には、プラズマの発生が難しかったり
、不安定になりやすい等の欠点があり、高速で良質な薄
膜を形成するのは困難であった。
本発明の目的は、高速で、かつ良質な薄膜を形成するこ
とのできる薄膜形成装置を提供することにある。
とのできる薄膜形成装置を提供することにある。
［課題を解決するための手段］
本発明は、真空槽内に配置されて基板を載置する基板ホ
ルダと、該基板ホルダの上方の真空槽外部に配置されて
ＲＦプラズマを発生させるＲＦコイル電極と、前記真空
槽の側面にＸ線透過窓を介して配置されたＸ線源とを備
え、該Ｘ線源は発生したＸ線が前記基板直上の領域を照
射するように配置されていることを特徴とする薄膜形成
装置である。
ルダと、該基板ホルダの上方の真空槽外部に配置されて
ＲＦプラズマを発生させるＲＦコイル電極と、前記真空
槽の側面にＸ線透過窓を介して配置されたＸ線源とを備
え、該Ｘ線源は発生したＸ線が前記基板直上の領域を照
射するように配置されていることを特徴とする薄膜形成
装置である。
［作用］
本発明の薄膜形成装置では、真空槽の横方向に配置され
たＸ線源から発生したＸ線が基板直上の領域に照射され
る。この結果、真空槽の上部に設けられたＲＦコイル電
極で発生したプラズマがざらに活性化されるので、良質
かつ高速で薄膜が形成される。
たＸ線源から発生したＸ線が基板直上の領域に照射され
る。この結果、真空槽の上部に設けられたＲＦコイル電
極で発生したプラズマがざらに活性化されるので、良質
かつ高速で薄膜が形成される。
［実施例］
以下、本発明の実施例について説明する。
第１図は本発明の一実施例の薄膜形成装置を示す構成図
である。
である。
装置の真空槽１の内部には加熱ヒータ１４が付設された
基板ホルダ２が設けられ、基板３が載置できるようにな
っている。その上方の真空槽外部にはＲＦコイル電極４
が設けられている。ざらに真空槽１の側面にはＸ線透過
窓であるＢｅ窓１２を介してＸ線源５が設置されている
。なお、図中６はバルブ、７はＸ線用電源、８はＲＦ電
源、９はガス導入管、１０は真空ポンプ、１３はシャッ
タ、１５はＡＣ電源である。
基板ホルダ２が設けられ、基板３が載置できるようにな
っている。その上方の真空槽外部にはＲＦコイル電極４
が設けられている。ざらに真空槽１の側面にはＸ線透過
窓であるＢｅ窓１２を介してＸ線源５が設置されている
。なお、図中６はバルブ、７はＸ線用電源、８はＲＦ電
源、９はガス導入管、１０は真空ポンプ、１３はシャッ
タ、１５はＡＣ電源である。
次に、この装置を用い、−例としてダイヤモンド薄膜を
形成する場合について具体的に説明する。
形成する場合について具体的に説明する。
まず、拡散ポンプあるいはターボポンプと油回転ポンプ
を用いて真空槽１内をＩ Ｘ １０−７ Ｔｏｒｒ以下
まで排気する。基板３をヒータ１４で加熱して約５００
℃になるように設定し、次に、バルブ６を開いて真空槽
１内に高純度のＨ２ガスと炭化水素ガスあるいは有機化
合物ガスを導入し、真空槽１内全体の真空度を１０ＴＯ
ｒｒ程度に設定する。この状態でＲＦコイル電極４に５
００〜１０００ ＷのＲＦ電力を印加してＲＦプラズマ
を発生させ、同時にＸ線の電源７を所定の条件に設定し
てＸ線源５からＸ線を基板直上の領域に照射して膜を成
長させる。
を用いて真空槽１内をＩ Ｘ １０−７ Ｔｏｒｒ以下
まで排気する。基板３をヒータ１４で加熱して約５００
℃になるように設定し、次に、バルブ６を開いて真空槽
１内に高純度のＨ２ガスと炭化水素ガスあるいは有機化
合物ガスを導入し、真空槽１内全体の真空度を１０ＴＯ
ｒｒ程度に設定する。この状態でＲＦコイル電極４に５
００〜１０００ ＷのＲＦ電力を印加してＲＦプラズマ
を発生させ、同時にＸ線の電源７を所定の条件に設定し
てＸ線源５からＸ線を基板直上の領域に照射して膜を成
長させる。
本実施例ではこの状態で約１０分間膜形成を行った。こ
のようにして形成されたダイヤモンド膜の膜厚は約１岸
であった。形成された膜をラマン分光法で測定したとこ
ろ、１３３０ ｒｉｍ−’だけに鋭いピークが得られた
。
のようにして形成されたダイヤモンド膜の膜厚は約１岸
であった。形成された膜をラマン分光法で測定したとこ
ろ、１３３０ ｒｉｍ−’だけに鋭いピークが得られた
。
また、この膜のビッカース硬度を測定したところ、約１
２０００という値が得られた。この値は天然ダイヤモン
ドと同じ値である。また、薄膜の熱伝導率を測定したと
ころ、約２００ Ｗ／に・ＣＭという値が得られた。こ
れは高圧合成されたダイヤモンドと同じである。このよ
うに、本発明によって低温で良質のダイヤモンド薄膜が
得られることがわかる。
２０００という値が得られた。この値は天然ダイヤモン
ドと同じ値である。また、薄膜の熱伝導率を測定したと
ころ、約２００ Ｗ／に・ＣＭという値が得られた。こ
れは高圧合成されたダイヤモンドと同じである。このよ
うに、本発明によって低温で良質のダイヤモンド薄膜が
得られることがわかる。
［発明の効果］
以上説明したように、本発明によれば、ＲＦプラズマと
、基板直上の領域へのＸ線照射とを組み合わせて、ガス
の活性化を高めることによって、比較的低温で良質な薄
膜を形成することのできる薄膜形成装置が提供される。
、基板直上の領域へのＸ線照射とを組み合わせて、ガス
の活性化を高めることによって、比較的低温で良質な薄
膜を形成することのできる薄膜形成装置が提供される。
第１図は本発明の一実施例の構成図である。
１・・・真空槽 ２・・・基板ホルダ３・・・
基板 ４・−ＲＦコイル電極５・・・Ｘ線源
６・・・バルブ７・・・Ｘ線用電源 ８
・−ＲＦ電源９・・・ガス導入管 １２・・・Ｂｅ窓 １４・・・ヒータ １０・・・真空ポンプ １３・・・シャッタ １５・・・ＡＣ電源
基板 ４・−ＲＦコイル電極５・・・Ｘ線源
６・・・バルブ７・・・Ｘ線用電源 ８
・−ＲＦ電源９・・・ガス導入管 １２・・・Ｂｅ窓 １４・・・ヒータ １０・・・真空ポンプ １３・・・シャッタ １５・・・ＡＣ電源
Claims (1)
- （１）真空槽内に配置されて基板を載置する基板ホルダ
と、該基板ホルダの上方の真空槽外部に配置されてＲＦ
プラズマを発生させるＲＦコイル電極と、前記真空槽の
側面にＸ線透過窓を介して配置されたＸ線源とを備え、
該Ｘ線源は発生したＸ線が前記基板直上の領域を照射す
るように配置されていることを特徴とする薄膜形成装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1479990A JPH03223466A (ja) | 1990-01-26 | 1990-01-26 | 薄膜形成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1479990A JPH03223466A (ja) | 1990-01-26 | 1990-01-26 | 薄膜形成装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03223466A true JPH03223466A (ja) | 1991-10-02 |
Family
ID=11871098
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1479990A Pending JPH03223466A (ja) | 1990-01-26 | 1990-01-26 | 薄膜形成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03223466A (ja) |
-
1990
- 1990-01-26 JP JP1479990A patent/JPH03223466A/ja active Pending
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