JPH02232371A - 薄膜形成装置 - Google Patents

薄膜形成装置

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Publication number
JPH02232371A
JPH02232371A JP4991889A JP4991889A JPH02232371A JP H02232371 A JPH02232371 A JP H02232371A JP 4991889 A JP4991889 A JP 4991889A JP 4991889 A JP4991889 A JP 4991889A JP H02232371 A JPH02232371 A JP H02232371A
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JP
Japan
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filament
substrate
vacuum chamber
thin film
gaseous
Prior art date
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Pending
Application number
JP4991889A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeki Hoshino
茂樹 星野
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、良質な薄膜を形成する薄膜形成装置に関する
ものである。
[従来の技術] 従来、反応性ガスを導入し、このガスを熱フィラメント
で活性化させて得られるガスの反応物を基板上に堆積さ
せるCVD法はすでによく知られている。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、熱フィラメントCvD法では、ガス中の
イオン化は低く、ラジカルの量も少ないので、ラジカル
量を増やすためにチャンバ内の圧力を高くしなければ充
分な蒸着速度が得られなかった。そのために、フィラメ
ントと基板間距離はかなり接近したものとなり、フィラ
メントの影響を受けやすくなって良質な薄膜が形成でき
なかった。
本発明の目的は、高速で成膜でき、かつ良質な薄膜を形
成できる装置を提供することにある。
[課題を解決するための手段] 本発明は、真空室内に設置ざれて基板を保持する基板ホ
ルダと、前記基板の直上に設置されたフィラメントと、
該フィラメントの上部に設置されたプラズマ発生用電極
とを備えてなることを特徴とする薄膜形成装置である。
本発明の装置は、プラズマを基板の上方で起こさせると
同時に、熱フィラメントによってガスの活性化をより高
め、得られた活性化反応物を用いて基板上に薄膜形成さ
せるものである。
[作用] 本発明では、真空室内に設けられた電極間で発生させた
プラズマの中にあるイオンや電子によって反応した反応
生成物を、その下方に設蹟されたフィラメントによって
ざらに活性化させる。そしてこの活性化生成物により、
良質な薄膜が高速で形成ざれる。
[実施例] 以下、本発明の実施例について図面を参照して詳細に説
明する。
第1図は本発明の一実施例の概略構成図である。
装置の真空室1内部には基板2を戟置する加熱ヒータ付
基板ホルダ3が設けられ、その上方にフィラメント4が
設けられ、さらにその上方に1対のプラズマ発生用の電
極5が設置されている。なお、図中6はバルブ、7は電
源、8はガス導入管である。
上記のように構成された装置による薄膜形成の一例とし
て、ダイヤモンド薄膜を形成する場合を具体的に説明す
る。
まず、拡散ポンプあるいはターボポンプと油回転ポンプ
を用いて真空室1内をI X10−7 Torr以下ま
で排気する。基板を約500゜Cに設定し、次にバルブ
6を開き、高純度のト12ガスと炭化水素カスあるいは
有機化合物ガスをガス導入管8より導入して、真空室1
内全体の真空度を10 ’rorr稈度に設定する。ざ
らにフィラメント4と基板2どの距離を1 cm程度に
設定しておく。この状態で一対の電極5間に300〜4
.OOVの直流電圧を印加L,てグロー敢電を起こし、
それと同時にタングステンフィラメント4に60 Hz
の交流電流を流して約2000℃に加熱して膜を成長さ
せる。
本実施例では、この状態で約10分間膜形成を行った。
このようにして形成されたダイヤモンド膜の膜厚は約1
04であった。その膜をラマン分光法で測定したところ
、1330cm.−tだけに鋭いピクが得られた。
また、この膜のごッカース硬度を測定したところ、約1
2000という値が得られた。この値は天然ダイヤモン
ドと同じ値である。また、薄膜の熱伝導率を測定したと
ころ、約200W/ K−cmという値が得られた。こ
れは高圧合成されたダイヤモンドと同じである。このよ
うに、本発明によって低温で良質のダイヤモンド薄膜が
得られることがわかった。
なあ、本実施例において、フィラメントと基板間にバイ
アスを加えても同様に良質なダイヤモンド膜が{qられ
た。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によればフィラメントの上
方に発生させたプラズマとフィラメントによるガスの活
性化を組み合わせることによって、低温で良質な薄膜を
形成することのできる薄膜形成装置が提供される。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の概略構成図である。 1・・・真空室     2・・・基板3・・・基板ホ
ルダ   4・・・フィラメント5・・・電極    
  6・・・バルブ7・・・電源 8・・・ガス導入管

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)真空室内に設置されて基板を保持する基板ホルダ
    と、前記基板の直上に設置されたフィラメントと、該フ
    ィラメントの上部に設置されたプラズマ発生用電極とを
    備えてなることを特徴とする薄膜形成装置。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04214639A (ja) * 1990-12-12 1992-08-05 Nippon Seiki Co Ltd カルコゲン化合物の製造方法及び製造装置
US5593539A (en) * 1990-12-14 1997-01-14 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Plasma source for etching
JPH10259482A (ja) * 1997-03-19 1998-09-29 Sanyo Electric Co Ltd 硬質炭素被膜の形成方法
US6528115B1 (en) 1997-03-19 2003-03-04 Sanyo Electric Co., Ltd. Hard carbon thin film and method of forming the same
KR20030080574A (ko) * 2002-04-09 2003-10-17 주성엔지니어링(주) 반도체 제조용 챔버
CN102011102A (zh) * 2010-12-22 2011-04-13 郑锦华 高界面强度类金刚石薄膜材料的常温沉积设备及其方法

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