JPH02230734A - 薄膜形成装置 - Google Patents
薄膜形成装置Info
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- JPH02230734A JPH02230734A JP4992089A JP4992089A JPH02230734A JP H02230734 A JPH02230734 A JP H02230734A JP 4992089 A JP4992089 A JP 4992089A JP 4992089 A JP4992089 A JP 4992089A JP H02230734 A JPH02230734 A JP H02230734A
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- plasma
- thin film
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- Pending
Links
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Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Formation Of Insulating Films (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、良質な薄膜を形成する薄膜形成装置に関する
。
。
[従来の技術]
従来、真空蒸着時に反応ガスを導入し、蒸発物と基板の
前方に設けられたコイルに高周波( 13.56 }I
HZ)を印hOシて発生されるプラズマとを反応させて
膜を形成するイオンプレーテイング法は公知である。
前方に設けられたコイルに高周波( 13.56 }I
HZ)を印hOシて発生されるプラズマとを反応させて
膜を形成するイオンプレーテイング法は公知である。
[発明が解決しようとする課題1
イオンプレーテイングにおいては、反応ガスを真空室全
体に導入するために高周波プラズマを発生するときの圧
力を上げると、プラズマが不安定になり易く、また蒸発
を行うために、真空苗内を低圧にする必要がある。また
、イオンプレーテイングでは、プラズマと基板との間が
離れている場合にイオン化や反応が不十分になることが
考えられる。
体に導入するために高周波プラズマを発生するときの圧
力を上げると、プラズマが不安定になり易く、また蒸発
を行うために、真空苗内を低圧にする必要がある。また
、イオンプレーテイングでは、プラズマと基板との間が
離れている場合にイオン化や反応が不十分になることが
考えられる。
本発明の目的はプラズマ(主にグロー放電)を基板上に
起こすことによってプラズマと蒸発物の反応を促進し、
高速で成膜でき、かつ良質な薄摸を形成できる薄膜形成
装置を提供することにおる。
起こすことによってプラズマと蒸発物の反応を促進し、
高速で成膜でき、かつ良質な薄摸を形成できる薄膜形成
装置を提供することにおる。
[課題を解決するための手段]
本発明は、真空室内で基板を保持する基板ホルダと、そ
の基板に対向して真空室内に配置された薄膜原料となる
ターゲットを蒸発させるパルスレーザの光源および集光
レンズと、プラズマ発生用補助電極と、該補助電極およ
び前記基板ホルダで形成される所定の空間に反応ガスを
供給する配管系とを備えてなることを特徴とする薄膜形
成装置でおる。
の基板に対向して真空室内に配置された薄膜原料となる
ターゲットを蒸発させるパルスレーザの光源および集光
レンズと、プラズマ発生用補助電極と、該補助電極およ
び前記基板ホルダで形成される所定の空間に反応ガスを
供給する配管系とを備えてなることを特徴とする薄膜形
成装置でおる。
[作用]
直流あるいは高周波のプラズマ中に分子や原子を通過さ
せると、プラズマとの相互作用により原子や分子は反応
物と未反応物になる。両者の比は成膜条件によっても変
化するが、イオンプレーティングでは未反応物をゼロに
することは難しい。
せると、プラズマとの相互作用により原子や分子は反応
物と未反応物になる。両者の比は成膜条件によっても変
化するが、イオンプレーティングでは未反応物をゼロに
することは難しい。
本発明によれば、基板付近に高濃度のグロー放電プラズ
マを発生させることによって蒸発物とプラズマの反応を
より促進することができるようになるため、良質かつ高
速で薄膜が形成できることになる。
マを発生させることによって蒸発物とプラズマの反応を
より促進することができるようになるため、良質かつ高
速で薄膜が形成できることになる。
[実施例]
以下、図面を参照して、本発明の実施例を詳細に説明す
る。
る。
第1図は、本発明の一実施例を示す構成図である。同図
において、薄膜形成装置は、真空至1内で基板2を保持
する基板ホルダ3と、プラズマ発生用の補助電極4と、
基板2に対向して真空室1内に配置ざれ、薄膜原料とな
るターゲット5を蒸発させる高出力パルスレーザの光源
6と、前記基板ホルダ3および補助電極4で形成される
所定の空間に反応ガスを供給する配管系としてのガス導
入管7およびバルブ8とを具備している。基板2とター
ゲット5の間には、薄膜原料の移動を遮断するシャッタ
9が介設され、またレーザ光路に当たる真空室1の壁面
には、窓10が設けられていて、レーザ光は集光レンズ
11により、ターゲット5上に集光されるようになって
いる。なお、図中12は直流電源、13は高周波電源で
ある。
において、薄膜形成装置は、真空至1内で基板2を保持
する基板ホルダ3と、プラズマ発生用の補助電極4と、
基板2に対向して真空室1内に配置ざれ、薄膜原料とな
るターゲット5を蒸発させる高出力パルスレーザの光源
6と、前記基板ホルダ3および補助電極4で形成される
所定の空間に反応ガスを供給する配管系としてのガス導
入管7およびバルブ8とを具備している。基板2とター
ゲット5の間には、薄膜原料の移動を遮断するシャッタ
9が介設され、またレーザ光路に当たる真空室1の壁面
には、窓10が設けられていて、レーザ光は集光レンズ
11により、ターゲット5上に集光されるようになって
いる。なお、図中12は直流電源、13は高周波電源で
ある。
本装置の真空至1には、基板2を保持する加熱ヒータ付
基板ホルダ3とターゲット5か対向して配設されている
。また、基板ホルダ3にはプラズマ発生用の補助電極4
が基板2を囲むように設置ざれ、基板2と補助電極4と
の間には前記電源12または13により、電気的に直流
または高周波のバイアスが印加されている。真空室1の
外側に設置された高出力パルスレーザ光源6、例えばエ
キシマ必るいはCO2ガスレーザ光源からの光によって
前記ターゲット5から蒸発物が放出される。ざらに、補
助電極4と基板ホルダ3とにより形成される所定の空間
に反応ガスを供給するため、補助電極4にはガス吹き出
し口が設けられ、該ガス吹きし口にバルブ8を介してガ
ス導入管7が接続されている。
基板ホルダ3とターゲット5か対向して配設されている
。また、基板ホルダ3にはプラズマ発生用の補助電極4
が基板2を囲むように設置ざれ、基板2と補助電極4と
の間には前記電源12または13により、電気的に直流
または高周波のバイアスが印加されている。真空室1の
外側に設置された高出力パルスレーザ光源6、例えばエ
キシマ必るいはCO2ガスレーザ光源からの光によって
前記ターゲット5から蒸発物が放出される。ざらに、補
助電極4と基板ホルダ3とにより形成される所定の空間
に反応ガスを供給するため、補助電極4にはガス吹き出
し口が設けられ、該ガス吹きし口にバルブ8を介してガ
ス導入管7が接続されている。
この装置によって、一例としてCO2ガスレザ光源を用
い、シリコン基板上にAffiN薄膜を形成する場合を
具体的に説明する。
い、シリコン基板上にAffiN薄膜を形成する場合を
具体的に説明する。
まず、拡散ポンプあるいはターボポンプと油回転ポンプ
を用いて真空室1内を1 xlO−7 Torr以下ま
で排気する。次に、補助電極4と基板2との間にガスを
導入するためにバルブ8を開き、高純度のN2ガスを導
入し、真空室1内全体の真空度をl xlO−4 To
rr程度に設定する。この状態で補助電極4と基板ホル
ダ3間に300〜400Vの直流電圧を印加してグロー
放電を起こし、同時にターゲット5の八での板にCO2
ガスレーザ光源6からの光を窓10を通してレンズ11
で集光させて当てることによってA2を蒸発させる。そ
の後、シャッタ9を開き、基板ホルダ3上に取り付けら
れたシリコン基板2上にA!N膜を成長させる。
を用いて真空室1内を1 xlO−7 Torr以下ま
で排気する。次に、補助電極4と基板2との間にガスを
導入するためにバルブ8を開き、高純度のN2ガスを導
入し、真空室1内全体の真空度をl xlO−4 To
rr程度に設定する。この状態で補助電極4と基板ホル
ダ3間に300〜400Vの直流電圧を印加してグロー
放電を起こし、同時にターゲット5の八での板にCO2
ガスレーザ光源6からの光を窓10を通してレンズ11
で集光させて当てることによってA2を蒸発させる。そ
の後、シャッタ9を開き、基板ホルダ3上に取り付けら
れたシリコン基板2上にA!N膜を成長させる。
本実施例では、この状態で約10分間膜形成を行った。
このようにして形成されたAJ!N膜の膜厚は約1μm
であり、その構造は六方品、C軸配向膜であった。この
場合には基板加熱は行っていない。
であり、その構造は六方品、C軸配向膜であった。この
場合には基板加熱は行っていない。
なお、約300゜Cに加熱されたサファイア基板を用い
た時にはエビタキシャル膜が得られた。
た時にはエビタキシャル膜が得られた。
また、この膜の電気機械結合係数を測定したところ、約
5%という値が得られた。この値はマグネトロンスパッ
タ法によって製造されたAR NM膜と同等か、それ以
上の値である。また、薄膜の組成をX線マイクロアナラ
イザで測定したところ、ほほ1:1であった。
5%という値が得られた。この値はマグネトロンスパッ
タ法によって製造されたAR NM膜と同等か、それ以
上の値である。また、薄膜の組成をX線マイクロアナラ
イザで測定したところ、ほほ1:1であった。
このように、本発明によって低温で良質の薄膜が得られ
ることが分かる。もちろん、この装置によってプラズマ
ガスをN2、蒸発物をボロン(B)とすればBNを合成
できるし、プラズマガスを02、蒸発物をZ口とすれば
ZnOのような酸化物も合成できるし、プラズマガスと
してCH4、蒸発物をTiとすればTiCのような炭化
物も合成できることは言うまでもない。
ることが分かる。もちろん、この装置によってプラズマ
ガスをN2、蒸発物をボロン(B)とすればBNを合成
できるし、プラズマガスを02、蒸発物をZ口とすれば
ZnOのような酸化物も合成できるし、プラズマガスと
してCH4、蒸発物をTiとすればTiCのような炭化
物も合成できることは言うまでもない。
[発明の効果]
以上説明したとおり、本発明によれば、基板周辺に発生
させたグロー敢電によるプラズマと、レザによる蒸発と
を組み合わせることによって、低温で良質な薄膜を形成
でき、機能性誘電体薄膜や半導体膜等への応用も可能な
薄膜形成装置を提供することができる。
させたグロー敢電によるプラズマと、レザによる蒸発と
を組み合わせることによって、低温で良質な薄膜を形成
でき、機能性誘電体薄膜や半導体膜等への応用も可能な
薄膜形成装置を提供することができる。
第1図は本発明による一実施例の薄模形成装置を示す構
成図である。 1・・・真空至 2・・・基板3・・・基板ホ
ルダ 4・・・補助電極5・・・ターゲット 6・・・高出力パルスレーザ光源 7・・・ガス導入管 9・・・シャツタ 11・・・レンズ 代 理 人
成図である。 1・・・真空至 2・・・基板3・・・基板ホ
ルダ 4・・・補助電極5・・・ターゲット 6・・・高出力パルスレーザ光源 7・・・ガス導入管 9・・・シャツタ 11・・・レンズ 代 理 人
Claims (1)
- (1)真空室内で基板を保持する基板ホルダと、その基
板に対向して真空室内に配置された薄膜原料となるター
ゲットを蒸発させるパルスレーザの光源および集光レン
ズと、プラズマ発生用補助電極と、該補助電極および前
記基板ホルダで形成される所定の空間に反応ガスを供給
する配管系とを備えてなることを特徴とする薄膜形成装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4992089A JPH02230734A (ja) | 1989-03-03 | 1989-03-03 | 薄膜形成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4992089A JPH02230734A (ja) | 1989-03-03 | 1989-03-03 | 薄膜形成装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02230734A true JPH02230734A (ja) | 1990-09-13 |
Family
ID=12844450
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4992089A Pending JPH02230734A (ja) | 1989-03-03 | 1989-03-03 | 薄膜形成装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02230734A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06256943A (ja) * | 1992-11-04 | 1994-09-13 | Hughes Aircraft Co | 高インピーダンスプラズマイオン注入方法および装置 |
US6013130A (en) * | 1995-03-22 | 2000-01-11 | Deutsche Forschungsanstalt Fuer Luft- Und Raumfahrt E.V. | Process and device for the production of epitaxial layers |
-
1989
- 1989-03-03 JP JP4992089A patent/JPH02230734A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06256943A (ja) * | 1992-11-04 | 1994-09-13 | Hughes Aircraft Co | 高インピーダンスプラズマイオン注入方法および装置 |
US6013130A (en) * | 1995-03-22 | 2000-01-11 | Deutsche Forschungsanstalt Fuer Luft- Und Raumfahrt E.V. | Process and device for the production of epitaxial layers |
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