JPH03221884A

JPH03221884A - 回路装置の検査システム

Info

Publication number: JPH03221884A
Application number: JP2018219A
Authority: JP
Inventors: Isaburo Kageyama; 影山　伊三郎
Original assignee: Taiyo Yuden Co Ltd
Current assignee: Taiyo Yuden Co Ltd
Priority date: 1990-01-29
Filing date: 1990-01-29
Publication date: 1991-09-30
Anticipated expiration: 2014-05-31
Also published as: JP2896182B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野）本発明は、プログラムに基づいて検査対象の回路装置を
自動的に検査する検査装置を備えた回路装置の検査シス
テムの改良に関するものである。

（従来の技術）従来、ハイブリッドＩＣ等の回路装置は多品種少量生産
が主であるため、この回路装置を検査する際には品種に
対応して検査ラインを設けると共に、この検査ライン毎
に前記回路装置の特性を測定する検査装置を備えて検査
を行っている。この検査装置はＣＰＵを含む制御部を備
え、検査開始時に検査員が入力するプログラムによって
動作するようになっている。

また、同一品種の生産量が多いときには、この品種の検
査ラインを増設して検査を行っている。

この場合、同種の検査装置を検査ラインに対応して設け
ているが、これらの検査装置を構成する部品の許容誤差
、及び配線経路等の違いによって、検査対象の回路装置
に出力する信号の電圧値、電流値、タイミング等が異な
ることがある。このため、検査装置毎に異なる検査手順
を設定したプログラムを製作し、前記信月の電圧値、電
流値、タイミング等を適切なものに修正して検査を行っ
ている。

これにより、検査員が検査開始時に検査装置に対応した
プログラムを入力設定すれば、検査が開始され、検査対
象の回路装置の特性が検査規準に適合するものであるか
否かが自動的に判定される。

（発明が解決しようとする課題）しかしながら前述した従来の検査システムでは、検査装
置毎にプログラムが異なるため、検査員が検査装置にプ
ログラムを人力設定する際に、間違ったプログラムを入
力することが多々ある。このため、プログラムを間違っ
た場合には、検査手順が異なるので、再度適正な検査を
行わなくてはならず、必要以」二に時間がかかってしま
う。また、他の品種の検査装置のプログラムを間違って
入力した場合には、検査手順が大幅に異なることがあり
、検査対象の回路装置を正確に検査できなくなることが
ある。

本発明の目的は上記の問題点に鑑み、検査装置に対応し
た検査手順を確実に設定できる回路装置の検査システム
を提供することにある。

（課題を解決するための手段）本発明は、上記の目的を達成するために請求項（１）で
は、検査対象の回路装置の特性を測定する少なくとも・
一の検査装置と、該検査装置を動作させるプログラムと
からなり、前記検査装置はｃＰＵを含む制御部と、前記
プログラムを前記制御部に入力するプログラム入力手段
とを有する回路装置の検査システムにおいて、前記検査
装置には、該検査装置に対応した所定の識別信号を発生
する識別信号発生回路と、前記識別信号発生回路から出
力される識別信号をディジタルデータとして前記制御部
に出力するデータ出力回路とを備え、前記プログラムに
は、前記各検査装置に対応する検査手順と、該検査手順
のそれぞれに対応する前記検査装置の識別データとが設
定され、さらに該識別データど前記識別信号とを比較す
る比較手段と、該比較手段の比較結果に基づいて、前記
検査装置に対応する検査手順を選択して検査を実行する
検査実行手段とを有する回路装置の検査システムを提案
する。

また、請求項（２）では、請求項（１）記載の回路装置
の検査システムにおいて、前記識別信号発生回路を、所
定の直流定電圧を発生する定電圧発生回路と、複数の抵
抗器からなる分圧回路とから構成すると共に、前記デー
タ出力回路をアナログ／ディジタル変換器により構成し
た回路装置の検査システムを提案する。

（作　用）本発明の請求項（１）によれば、識別信号発生回路によ
り識別信号が発生され、該識別信号はブタ出力回路によ
ってディジタルデータとして制御部に出力される。

さらに、検査員によってプログラム人力手段を介して検
査装置の制御部にプログラムが人力された後に、比較手
段によって識別データと前記識別信号の値とが比較され
、該比較結果に基づいて検査実行手段により、前記検査
装置に対応する検査手順が選択され、検査が実行される
。

また、請求項（２）によれば、定電圧発生回路から出力
された直流定電圧は、分圧回路によって検査装置に対応
した電圧の識別信号とされる。さらに、前記分圧回路に
よって分圧された電圧はアナログ／ディジタル変換器に
よってディジタルブタに変換されて制御部に出力される
。

（実施例）第１図は本発明の一実施例の構成を示す図である。図に
おいて、１００〜４００は第１乃至第４の検査装置で、
それぞれ異なる検査ラインに配設され、ハイブリッドＩ
Ｃ等の回路装置の特性を測定して検査を行うようになっ
ている。即ち、第１及び第２の検査装置１００，２００
は第１の品種の回路装置５００の検査ラインに、第３の
検査装置３００は第１の品種とは異なる第２の品種の回
路装置６００の検査ラインに、第４の検査装置４００は
第１及び第２の品種とは異なる第３の品種の回路装置’
ｉｅ　７００の検査ラインにそれぞれ配設されている。

また、第１乃至第４の検査装置１００〜４００は同じプ
ログラム８００によって動作するようになっている。こ
のプログラム８００は、例えばフロッピーディスクに格
納されている。

第２図は検査装置の一例を示す構成図で、例として第１
の検査装置を示しているが他の第２乃至第４の検査装置
２００〜４００も同様の構成である。図において、１０
１は定電圧発生回路で、所定の直流定電圧■１、例えば
直流１２Ｖの電圧を発生する。１０２は分圧回路で、直
列接続された２個の抵抗器Ｒ１，Ｒ２からなり、定電圧
発生回路１０１から出力された電圧■１を分圧した電圧
Ｖ２を出力する。即ち、抵抗器Ｒ１の一端側が定電圧発
生回路１０１の出力に接続されると共に、抵抗器Ｒ２の
他端側かリレーＲｙｌの第１の接点ｒｙｌを介して接地
可能とされ、抵抗器Ｒ１と抵抗器Ｒ２の接続点からリレ
ーＲｙｌの第２の接点ｒｙ１２を介して電圧Ｖ２が出力
される。１０３はアナログ／ディジタル（以下、Ａ／Ｄ
と称す）変換器で、分圧回路１０２から出力される電圧
Ｖ２をディジタル値に変換して出力する。１０４はＣＰ
Ｕを含む制御部で、図示せぬ記憶部を有し、フロッピー
ディスクインタフェース１０５を介して前記記憶部に入
力されたプログラム８００に基づいて動作する。１０６
はリレー駆動回路で、制御部１０４からの制御信号に基
づいて、リレーＲｙ１に通電する。リレーＲｙｌは通電
されたときに第１及び第２の接点を共に閉状態にする。

１０７はスタートスイッチで、制御部１０４に接続され
、検査を開始する際に検査員によってオンにされる。１
０８は検査信号発生回路で、制御部１０４からの制御信
号に基づいて、所定の電圧値、電流値及びタイミングを
有する検査信号をインタフェース１０９を介して、検査
対象の第１の回路装置５００に出力する。インタフェー
ス１０９は、例えばコネクタ等から構成される。１１０
は信号処理回路で、前記検査信号に対応して第１の回路
装置５００から出力される信号をインタフェース１０９
を介して人力し、この信号がアナログ信号の場合はディ
ジタル値に変換した後、所定のフオマット及びタイミン
グにて制御部１０４に出力する。１１１は表示制御部で
、制御部１０４から表示データを入力し、この表示デー
タに基づく表示信号を表示器１１２に出力する。

また、第１乃至第４の検査装置１００〜４００のそれぞ
れにおける分圧回路１０２の抵抗器Ｒ１゜Ｒ２の値は、
例えば第３図に示す値に設定されている。即ち、第１の
検査装置１００では、抵抗器Ｒ１をＩＯＫΩとし、抵抗
器Ｒ２を接続せず、出力電圧ｖ２を１２Ｖにしている。

第２の検査装置２００では、抵抗器Ｒ１をＩＯＫΩに、
抵抗器Ｒ２を２０にΩにそれぞれ設定し、出力電圧ｖ２
を８ｖにしている。第３の検査装置３００では、抵抗器
Ｒ１，Ｒ２のそれぞれを１０　ＫΩに設定して出力電圧
Ｖ２を６Ｖにしている。また、第４の検査装置４００で
は、抵抗器Ｒ１をＩＯＫΩに、抵抗器Ｒ２を５にΩにそ
れぞれ設定し、出力電圧ｖ２を４Ｖにしている。これに
より制御部１０４が自己の検査装置を識別できるように
なっている。

さらにプログラム８００には第１乃至第４の検査スイッ
チ１００〜４００のそれぞれに刻応した、第１乃至第４
の検査手順と、分圧回路１０２から出力される電圧Ｖ２
の値どが設定されている。即ち、プログラム８００には
、第１の検査装置１００によって第１の品種の回路装置
５００を適正に検査できる第１の検査手順と、第２の検
査装置２００によって第１の品種の回路装置５００を適
正に検査できる第２の検査手順と、第３の検査装置３０
０によって第２の品種の回路装置６００を適正に検査で
きる第３の検査手順と、第４の検査装置によって第３の
品種の回路装置７００を適正に検査できる第４の検査手
順とが設定されている。

次に、前述の構成よりなる本実施例の動作を第４図に示
す制御フローチャートに基づいて説明する。

検査員は、第１乃至第３の回路装置５００〜７００の検
査を開始する際に、第１乃至第４の検査装置１００〜４
００のそれぞれにプログラム８００を入力設定した後、
スタートスイッチ１０７をオンにする。

制御部１０４は、プログラム８００が人力されると、リ
レー駆動回路１０６、検査信号発生回路１０８、信号処
理回路１１０及び表示制御部１１１等を初期状態に設定
する（Ｓｌ）。この後、リレー駆動回路１０６を介して
リレーＲｙｌへの通電を開始しくＳ２）、分圧回路１０
２の出力電圧Ｖ２の値をＡ／Ｄ変換器１０３を介してデ
ィジタルデータとして入力する（Ｓ３）。次いで、制御
部１０４はリレーＲｙｌへの通電を停止しくＳ４）、電
圧Ｖ２の値が１２Ｖであるか否かを判定する（Ｓ５）。

この判定の結果、電圧ｖ２の値が１２Ｖのときは、自己
の検査装置が第１の検査装置１００であると判断して、
プログラム８００中の第１の検査手順を選択する（Ｓ６
）。

前記Ｓ４の判定の結果、電圧Ｖ２の値が１２Ｖでないと
きは、電圧Ｖ２の値が８■であるか否かを判定する（Ｓ
７）。この判定の結果、電圧Ｖ２の値が８Ｖのときは、
自己の検査装置が第２の検査装置２００であると判断し
て、プログラム８００中の第２の検査手順を選択する（
Ｓ８）。

前記Ｓ７の判定の結果、電圧Ｖ２の値が８ｖてないとき
は、電圧Ｖ２の値が６ｖであるか否かを判定する（Ｓ９
）。この判定の結果、電圧■２の値が６ｖのときは、自
己の検査装置が第３の検査装置３００であると判断して
、プログラム８００中の第３の検査手順を選択する（Ｓ
　１０’）。

前記Ｓ９の判定の結果、電圧Ｖ２の値が６Ｖでないとき
は、電圧ｖ２の値が４ｖであるか否かを判定する（Ｓ　
１１）。この判定の結果、電圧ｖ２土１の値が４ｖでないときは、自己の検査装置は、プログラ
ム８００が適用できない検査装置であると判断し、プロ
グラム適用不可能を表示器１１２に表示して動作を停止
する（Ｓ　１２）。また、電圧Ｖ２の値が４ｖのときは
、自己の検査装置が第４の検査装置４００であると判断
して、プログラム８００中の第４の検査手順を選択する
（３１３）。

前述した８４〜８１０の中の判定では、所定の許容誤差
、例えば±１０％の許容誤差範囲をもって判定を行って
いる。

この後、制御部１０４は、スタートスイッチ１０７がオ
ンにされたか否かを判定しく８１３）、スタートスイッ
チ１０７がオンにされた後、前述した８４〜Ｓ１０の処
理において選択した検査手順により、検査信号発生回路
１０８、信号処理回路１１０を介して検査対象となる回
路装置５００〜７００の検査を実行する（８１４）。こ
の検査では、前記回路装置５００〜７００の電気的特性
を測定し、この測定結果を図示せぬ記憶部に記憶する。

次いで、検査が終了したか否かを監視し　２（Ｓ１５）、検査が終了した後に、予めプログラム８０
０中に設定されている検査対象の回路装置５００〜７０
０に対応する電気的特性の検査規準と前記測定結果とを
比較し、この検査結果が良であるか否かを判定する（Ｓ
ｌ、６）。この判定の結果、検査結果が不良であるとき
は、検査対象の回路装置５００〜７００が不良であるこ
とを表わすメツセージを表示器１１２に表示する（８１
８）。

また、検査結果が良であるときは、検査対象の回路装置
５００〜７００が良であることを表わすメツセージと、
前記測定結果とを表示器１１２に表示する（Ｓ　１９）
。

前述したように本実施例によれば、検査を開始する際に
検査員が、同一のプログラム８００を第１乃至第４の検
査装置１００〜４００に入力設定すれば、これらの検査
装置１００〜４００に対応した検査手順が自動的に選択
されて検査が実行されるので、必要最小限の時間で検査
を行うことができる。さらに、従来のように検査対象の
回路装置５００〜７００を正確に検査できないこともな
くなる。これにより、検査員の精神的負担も軽くするこ
とができる。

尚、本実施例では、検査結果等を表示器１１２に表示す
るようにしたが、プリンタ等で出力するようにしても良
い。

また、本実施例では第１乃至第４の検査装置を有する検
査システムを構成したが、この数に限定されることはな
い。

さらにまた、本実施例では、前記識別信号発生回路を定
電圧発生回路１０１と分圧回路１０２とから構成し、前
記データ出力回路をＡ／Ｄ変換器１０３によって構成し
たがこれに限定されることはない。例えは、前記識別信
号発生回路を４ピツ）・のデイツプスイッチにより構成
するど共に、前記データ出力回路をドライバ回路によっ
て構成し、第１−乃至第４の検査装置１００〜４００の
それぞれに対応した値を前記デイツプスイッチに設定し
てお（ようにしても同様の効果を得ることができる。

（発明の効果）以上説明したように本発明の請求項（１）及び（２〉に
よれば、検査員は、検査装置が異なっても同一のプログ
ラムを入力設定すればよいため、従来のような人為的な
間違いが発生することがなくなる。これにより、必要最
小限の時間で検査を行うことができる。さらに、従来の
ように検査対象の回路装置を正確に検査できないことも
なくなるので、検査員の精神的負担も軽くすることがで
きるという非常に優れた効果を発揮するものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の構成を承り一図、第２図は
検査装置の一例を示す構成図、第３図は一実施例におけ
る分圧回路の抵抗値を示す図、第４図は一実施例におけ
る制御フローチャーＩ・である。１００〜４００・・・検査装置、５００〜７００・・・
回路装置、８００・・・プログラム、１０１・・・定電
圧発生回路、１０２・・・分圧回路、１０３・・・Ａ／
Ｄ変換器、１０４・・・制御部、１０５・・・フロッピ
ーディスクインタフェース、１０６・・・リレー駆動回
路、１０７・・・スタートスイッチ、１０８・・・検査
信号発５

Claims

【特許請求の範囲】

（１）検査対象の回路装置の特性を測定する少なくとも
一の検査装置と、該検査装置を動作させるプログラムと
からなり、前記検査装置はＣＰＵを含む制御部と、前記
プログラムを前記制御部に入力するプログラム入力手段
とを有する回路装置の検査システムにおいて、前記検査装置には、該検査装置に対応した所定の識別信
号を発生する識別信号発生回路と、前記識別信号発生回
路から出力される識別信号をディジタルデータとして前
記制御部に出力するデータ出力回路とを備え、前記プログラムには、前記各検査装置に対応する検査手
順と、該検査手順のそれぞれに対応する前記検査装置の
識別データとが設定され、さらに該識別データと前記識
別信号とを比較する比較手段と、該比較手段の比較結果
に基づいて、前記検査装置に対応する検査手順を選択し
て検査を実行する検査実行手段とを有する、ことを特徴とする回路装置の検査システム。
（２）前記識別信号発生回路を、所定の直流定電圧を発
生する定電圧発生回路と、複数の抵抗器からなる分圧回路とから構成すると共に、前記データ出力回路をアナログ／ディジタル変換器によ
り構成した、ことを特徴とする請求項（１）記載の回路装置の検査シ
ステム。