JPH03218422A - センサ - Google Patents

センサ

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JPH03218422A
JPH03218422A JP31378790A JP31378790A JPH03218422A JP H03218422 A JPH03218422 A JP H03218422A JP 31378790 A JP31378790 A JP 31378790A JP 31378790 A JP31378790 A JP 31378790A JP H03218422 A JPH03218422 A JP H03218422A
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JP
Japan
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light
sensor
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JP31378790A
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Yuji Sadakane
貞金 雄治
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Tokico Ltd
Original Assignee
Tokico Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明はセンサに係り、特に光が透過する保護部材の汚
れあるいは取付位置のずれ等の異常を自己診断により検
出できる構成とされたセンサに関する。
従来の技術 従来のセンサとして、例えば第8図に示す炎センサ1が
ある。第8図に示す炎センサlは火災か発生したとき火
災から発せられる紫外線を感知して火災発生を知らせる
火災発生検知器として機能する。この炎センサ1は収納
ケースla内に炎からの紫外線(被検出光)を受光する
センサ部2と、駆動回路3とを内蔵してなる。又、収納
ケース1の前面開口には紫外線を透過する保護部材とし
て透明なガラス4が取付けられている。センサ部2はガ
ラス4を透過した紫外線を受信し、その炎信号を駆動回
路3に出力して火災発生を検知する。
又、別のセンサとしては第9図に示すような投光器5と
受光器6とよりなる光透過型の光センサかある。この光
センサは投光器5の収納ケース5cに収納された発光素
子5aからの光を発光器6の収納ケース6cに収納され
た受光素子6aで受光するようになっている。従って、
投光器5と受光器6との間に検出物体Aがあるとき、発
光素子5aからの被検出光が遮られて受光素子6aに到
達しないことにより物体Aを検知する。発光素子5a及
び受光素子6aの前面には光が透過する保護部材として
のガラス5b.6bが設けられている。
又、上記以外のセンサとして第10図に示すような反射
型光センサもある。
このセンサは収納ケース7内に発光素子8aと受光素子
8bとを有し、発光素子8aからの被検出光が検出物体
Bに反射して受光素子8bで受光されることにより検出
物体Bを検知する構成である。そして、センサの前面に
は光を透過する透明を保護部材としてのガラス9が設け
られている。
発明が解決しようとする課題 しかるに、例えば第8図に示す炎センサlではガラス4
が塵埃等により汚れていると炎検出ができなくなるため
、定期的にガラス4の汚れチェックを行なっている。こ
のガラス4のチェックの方法は、例えばライタ等の炎を
炎センサlに近づけて炎センサ1が正常に作動すること
を確認していた。
ところか、従来は上記のように人手によりガラス4の汚
れチェックをしているため、定期的にしかチェックでき
ず常時監視することかできないといった課題があった。
又、第9図に示す光透過型の光センサ及び第10図に示
す反射型光センサの場合も上記と同様ガラス5a,6a
,9の汚れ具合を人手により定期的にチェックしていた
が、常時汚れ具合をチェックできなかった。
又、第9図に示す投光器5と受光器6とよりなる光セン
サでは、例えば発光素子5aからの光が指向性か高いた
め、発光素子5a又は受光素子6bの取付位置がずれて
しまうと、受光素子6aか発光素子5aからの被検出光
を受光できず検出物体Aがあるものとして誤作動してし
まうことかある。よって、従来は誤作動によりはじめて
位置ずれが判明するため、誤作動するまで発光素子5a
又は受光素子6aが位置ずれしていることがわからない
といった課題もあった。
そこで、本発明は上記課題を解決したセンサを提供する
ことを目的とする。
課題を解決するための手段 本発明は、光が透過する保護部材を有する収納ケースと
、該収納ケースの内部に収納され該保護部材を介して被
検出光を検出するセンサ部とを有するセンサにおいて、 前記収納ケースの内部に前記保護部材を透過した光を受
光する補助受光素子を設け、 前記補助受光素子が受光した受光レベルを予め設定され
た基準レベルと比較して異常発生の有無を検出する異常
検出手段を具備してなる。
又、上記センサにおいて、 前記収納ケースの内部に前記保護部材を透過した光を受
光する補助受光素子を設け、 前記補助受光素子が受光した受光レベルと前記センサ部
か受光した受光レベルとを比較して異常発生の有無を検
出する異常検出手段を具備してなる。
又、上記センサにおいて、 前記収納ケースの内部に前記保護部材を透過した光を受
光する複数の補助受光素子を設け、前記複数の補助受光
素子が受光した受光レベルを比較して異常発生の有無を
検出する異常検視手段を具備してなる。
又、上記センサにおいて、 前記収納ケースの内部に前記保護部材を透過した光を受
光する第1の補助受光素子を設け、前記収納ケースの外
壁に第2の補助受光素子を設け、 前記第1,第2の受光素子が受光した受光レベルを比較
して異常発生の存無を検出する異常検出手段を具備して
なる。
又、本発明は、光が透過する保護部材を有する収納ケー
スと、該収納ケースの内部に収納され該保護部材を介し
て外部に光を発光する発光素子とを存するセンサにおい
て、 前記収納ケースの内部に前記保護部材を透過した光を受
光する複数の受光素子を設け、前記複数の受光素子が受
光した受光レベルを比較して異常発生の有無を検出する
異常検出手段を具備してなる。
作用 補助受光素子か保護部材を透過する光を受光したときの
受光レベルを基準レベルと比較し、両レベルの差異によ
り保護部材の汚れ具合等の異常を常に監視する。
又、センサ部と補助受光素子が同質の光を受光し、両者
の受光レベルを比較することにより保護部材の異常を監
視する。
又、複数の補助受光素子が検出した受光レベルを比較し
て保護部材の表面の汚れあるいは受光素子の位置ずれ等
を自己診断する。
実施例 第1図に本発明になるセンサの第1実施例を示す。同図
中、炎センサ1)は収納ケースl2内に炎の紫外線を検
知するセンサ部13と、センサ部l3を駆動する駆動回
路l4とを有してなる。さらに、収納ケースl2内には
可視光を検出する可視光センサ(補助受光素子)16と
、このセンサl6からの照度信号を比較する異常検出手
段としての照度変化検出回路l7とか配設されている。
収納ケース12の前面開口には透明なガラス(保護部材
)18が嵌合している。そして、前記センサ部l3はガ
ラスl8の略中央に対向し、センサ16は夫々ガラスl
8の下部に対向している。
又、照度変化検出回路l7は予めガラスl8を透過する
光の強さ、即ちセンサ部l3が炎を検知するのに必要な
受光レベルの下限値を基準レベルとして設定されている
。この照度変化検出回路l7は常時センサ16が受光し
た受光レベルと予め設定された基準レベルとを比較して
ガラスl8の汚れ具合を監視しており、両信号レベルに
所定以上の差があるとき汚れ検出信号を出力する。
ここで、上記炎センサ1)の動作につき説明する。尚、
センサ部l3及び駆動回路l4の動作は従来例と同じな
ので省略する。
例えば炎センサ1lのガラスl8が汚れていないとき、
センサ16か受光して検出した照度信号は基準レベル以
上であるので検出回路l7は汚れなしと判断し、汚れ検
出信号を出力しない。しかし、ガラス18が汚れると、
センサl6の受光レベルが下がる。
そして、ガラスl8の汚れがひどくなって可視光センサ
16の受光レベルが基準レベル以下になると、照度変化
検出回路l7では汚れありと判断し、汚れ検出信号か出
力される。
この汚れ検出信号により例えばランプが点燈し、作業者
は直ちにガラスl8の表面に付着した汚れを落し、炎セ
ンサ1)が正常に作動するように手入れする。
第2図に本発明の第2実施例を示す。
第2図中、センサ部13はガラスl8を透過した光を受
光すると、その照度信号を駆動回路l4に出力するとと
もに照度変化検出回路l7に出力する。
検出回路17はセンサ部13から出力された信号の受光
レベルと可視光センサ16から出力された信号の受光レ
ベルとを比較する。センサ部l3はセンサl6と同質の
光を受光するため、ガラスl8の汚れを検知するための
可視光センサとして機能する。
例えば、ガラスl8か汚れていないときは、センサ部l
3が検出した受光レベルがセンサl6から出力された信
号の受光レベルが略同一レベルとなる。その場合、検出
回路l7は汚れなしと判断し、汚れ検出信号を出力しな
い。しかし、ガラスl8か汚れているとき、ガラスl8
の全面か均一に汚れる可能性は極めて低い。ガラスl8
の表面が汚れているときは部分的に汚れることが多いの
で、センサ部3の受光レベルとセンサl6の受光レベル
に差が生ずる。この場合、検出回路l7は汚れありと判
断し、汚れ検出信号を出力する。
第3図に本発明の第3実施例を示す。
第3図中、収納ケースl2内には一対の可視光センサ1
5.16が設けられている。一方のセンサl5はセンサ
部l3の上方に配設され、他方のセンサl6はセンサ部
l3の下方に配設されている。一対のセンサ15.16
は常時照度信号を検出回路l7に供給しており、検出回
路l7では可視光センサ15.16がガラスl8を介し
て受光した受光レベルを比較してガラス18の汚れ具合
を監視している。そして、検出回路l7は一対のセンサ
15,16の受光レベルに所定以上の差かあるとき汚れ
検出信号を出力する。
例えば、ガラスl8のセンサl5の対向部分が汚れ、ガ
ラス18のセンサl6の対向部分が汚れていなければ、
センサl5が検出した照度信号の受光レベルは低下し、
センサl6か検出した照度信号の受光レベルより小さく
なる。これにより検出回路17は汚れありと判断し、汚
れ検出信号を出力する。
尚、本実施例では収納ケース12の内部に一対の可視光
センサ15,16を設けたが、2個以上の可視光センサ
を設けるようにしても良い。その場合、センサ15.1
6の数が増えるとそれだけ汚れチェックの検出性能か高
くなり、又ガラスl8の表面積が大きいほど汚れチェッ
クの検出性能が高まる。又、収納ケース12の前面に光
を透過する透明な保護部材としてガラス18を設けたが
、これに限らず、例えば透明なアクリル板等を設けるよ
うにしても良い。
第4図(A),(B)に本発明の第4実施例として光透
過型の光センサを示す。
第4図(A)中、投光器21は、収納ケース22内に、
発光素子23と、電源回路24と、対の可視光センサ2
5.26と、照度変化検出回路27とを有する。又、収
納ケース22の前面開口には透明なガラス28がはめこ
まれている。照度変化検出回路27は第3実施例と同様
一対のセンサ25,26がガラス28を介して検出した
照度信号の信号レベルを比較して、その差か所定値以上
になったとき汚れ検出信号を出力する。
又、第4図(B)中受光器29は収納ケース30内に投
光器21からの光を受光する受光素子3lと、受光素子
3lを駆動し受光状態によって変化する信号を出力する
電源回路32と、一対の可視光センサ33,34と、一
対の可視光センサ33,34からの照度信号を比較し、
その差が所定値以上になると汚れ検出信号を出力する照
度変化検出回路35とを存する。又、収納ケース30の
前面開口には透明なガラス36がはめこれまでいる。
上記光透過型の光センサの動作原理については従来例で
説明したのでここでは省略する。ガラス28.36が汚
れていないときは、センサ25と26.33と34との
照度信号の信号レベルか略同一であり、投光器21,受
光器29の検出回路27.35はガラス28.36の汚
れなしと判断して汚れ検出信号を出力しない。
一方、投光器2lのガラス28、あるいは受光器29の
ガラス36が汚れているときは、第1実施例と同様ガラ
ス28.36の前面が一様に汚れる可能性が極めて小さ
い。そのため、センサ25と26、あるいは33と34
が検出した照度信号の信号レベルに差が生じる。
例えば投光器21のガラス28において上方のセンサ2
5の対向部分が汚れていて下方のセンサ26の対向部分
が汚れていないとき、上方のセンサ25の信号レベルが
低下し下方のセンサ26の信号レベルより小さくなる。
従って、検出回路27は汚れ検出信号を出力する。尚、
受光器29においても上記投光器2lと同様な検出回路
35の自己診断機能により上記異常が検出される。
上記受光器29において、第1図又は第2図に示すよう
に一対のセンサ25.26のうち一方のセンサを使用し
てガラス36の汚れを監視するようにしても良い。
第5図に本発明の第5実施例として光反射型のセンサを
示す。
第5図中、光センサ41は収納ケース42内に発光素子
43,受光素子44を収納しており、発光素子43及び
受光素子44は電源回路45に接続されている。又、収
納ケース42の前面開口にはめこまれたガラス46の内
側には一対の可視光センサ47.48が設けられている
。一対のセンサ47.48は照度変化検出回路49に接
続されている。この照度変化検出回路49は前述の第1
,第2実施例と同様一対のセンサ47.48が検出した
照度信号の信号レベルを比較してガラス46の汚れチェ
ックを行なう。
この光センサ4lもガラス46の前面が均一に汚れるの
ではなく、部分的に汚れ易いため、検出回路49はセン
サ47,48のいずれか一方の信号レベルが低下したと
き汚れ検出信号を出力する。
第6図に本発明の第6実施例を示す。
第6図中、可視光センサ48はガラス46から外れた収
納ケース42の前面(外壁の一部を形成する)42aに
設けられている。従ってセンサ48はガラス46を介さ
せず直接周囲の光を受光する。
検出回路49は下方のセンサ48から出力された信号の
受光レベルを基準値として、センサ47,48からの信
号を比較する。そして、両センサ47,48からの信号
の受光レベルの差が所定値以上となったとき、検出回路
49は汚れ信号を出力する。
尚、上記各実施例では炎センサ及び光センサを例に挙げ
て説明したが、本発明は紫外線.可視光線,赤外線等の
光を利用した他の型式のセンサにも適用可能である。
第7図(A),(B)に本発明の第7実施例を示す。両
図中、5lは透過型センサの受光器で、収納ケース52
の前面に透明なガラス53がはめこまれている。ガラス
53の内側には投光器(図示せず)からの光を受光する
4個の受光素子54a〜54dか配設されている。この
受光素子54a〜54dは夫々第7図(B)に示す如く
ガラス53の四隅近傍に対向する位置に配設されている
又、収納ケース52の内部には各受光素子54a〜54
dに接続された電源回路55と、の受光素子53aに接
続されたセンサ回路56と、各受光素子54a〜54d
に接続された位置ずれ検出千段(異常検出手段)57と
が収納されている。
後述するように受光器5lか投光器と対向するように位
置が調整されるため、各受光素子54a〜54dには投
光器からの光が略均等に照射される。よって、センサ回
路56は一の受光素子54aで検出された照度信号の有
無を監視することにより検出物体(図示せず)を検出で
きる。又、位置ずれ検出回路57は各受光素子54a〜
54dか検出した照度信号の信号レベルを比較し、受光
器51の位置ずれを常時監視する。
ここで、上記受光器5lの位置ずれ検出動作につき説明
する。受光器5lか投光器と正しく対向しているときは
、各受光素子54a〜54dの受光強度は略等しくなる
。そのため、各受光素子54a〜54dで検出された照
度信号の信号レベルが略均一になり、位置ずれ検出回路
57より位置ずれ信号は出力されない。
しかし、受光器51の位置が投光器に対してずれてしま
うと、位置ずれ検出回路57は次のようにしてそのずれ
方向を検出する。
例えば、受光器51か矢印X,方向にずれていると、左
側の受光素子54a.54bの方が右側の受光素子54
c.54dよりも受光強度が小さくなる。この場合位置
ずれ検出回路57は矢印X1方向の位置ずれ信号aを出
力する。
又、受光器51が矢印X,方向にずれていると、左側の
受光素子54a,54bの方が右側の受光素子54c,
54dの方よりも受光強度か大きくなる。この場合位置
ずれ検出回路57は矢印X2方向の位置ずれ信号bを出
力する。
又、受光器5lか矢印Y1方向にずれていると、上側の
受光素子54a,54cの方が下側の受光素子54b,
54dよりも受光強度が小さくなる。
この場合位置ずれ検出回路57は矢印Y1方向の位置ず
れ信号Cを出力する。
又、受光器51か矢印Y2方向にずれていると、上側の
受光素子54a,54cの方か下側の受光素子54b.
54dよりも受光強度が大きくなる。
この場合位置ずれ検出回路57は矢印Y2方向の位置ず
れ信号dを出力する。
尚、上記位置ずれ信号a,b.c,dに基づき、受光器
5lの向きを調整する際は手動操作で調整しても良いし
、あるいは位置ずれ信号a.b.c,dか入力されると
自動的に受光器51の向きを補正する自動補正装置を併
設するようにしても良い。
従って、受光器5lは位置ずれ検出回路57により常時
投光器に対向する向きにあるか否かをチェックされ、例
えば外力が加えられたり、あるいは振動,風圧等により
位置がずれても、直ちにそのずれ方向が検出されて調整
される。
尚、上記実施例では4個の受光素子54a〜54dをガ
ラス53の四隅に設けるようにしたか、これに限らず、
各受光素子54a〜54dを対称に配設すれば良い。又
、受光素子の数は4個に限らず、4個以上設けるように
しても良いのは勿論である。
発明の効果 上述の如く、本発明になるセンサは、補助受光素子と異
常検出手段を設けることにより受光素子が受光した受光
レベルと予め設定された基準レベルあるいはセンサ部か
ら出力された信号の受光レベル、あるいは他の受光素子
が受光した発光レベルとを比較して異常発生の有無を検
出できるので、例えば収納ケースに設けられた光透過性
の保護部材の汚れ具合を常時チェックすることができる
従って比較的簡単な構成で保護部材の表面を常に汚れの
ない状態に保つことができ、保護部材の汚れが原因とな
って生ずる誤動作を防止できる。さらに、投光器からの
光を受光する受光器の位置ずれを常時監視することがで
き、例えば受光器の位置がずれても直ちにそのずれ方向
を検知して補正することが可能となる。そのため、受光
器の位置ずれにより誤動作を防止することができ、セン
サの検出動作の信頼性をより高めることができる等の特
長を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明になるセンサの第1実施例の概略構成図
、第2図,第3図は夫々本発明の第2,第3実施例の概
略構成図、第4図(A),(B)は夫々本発明の第4実
施例の投光器,受光器の概略構成図、第5図,第6図は
夫々本発明の第5,第6実施例の概略構成図、第7図(
A),(B)は夫々本発明の第7実施例の投光器.受光
器の概略構成図、第8図乃至第10図ば夫々従来のセン
サを説明するための図である。 1l・・・炎センサ、l2・・・収納ケース、13・・
・センサ部、15,16,25,26,33,34,4
7.48・・・可視光センサ、17,27,35.49
・・・照度変化検出回路、21・・・投光器、23・・
・発光素子、28.36.46.53・・・ガラス、2
9.51−・・受光器、31,44.54a 〜54d
・・・受光素子、4l・・・光センサ、43・・・発光
素子、56・・・センサ回路、57・・・位置ずれ検出
手段。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)光が透過する保護部材を有する収納ケースと、該
    収納ケースの内部に収納され該保護部材を介して被検出
    光を検出するセンサ部とを有するセンサにおいて、 前記収納ケースの内部に前記保護部材を透過した光を受
    光する補助受光素子を設け、 前記補助受光素子が受光した受光レベルを予め設定され
    た基準レベルと比較して異常発生の有無を検出する異常
    検出手段を具備してなることを特徴とするセンサ。 (2)前記異常検出手段は前記複数の補助受光素子の受
    光レベルと前記基準レベルとの差異に基づき前記保護部
    材の汚れ具合を検出することを特徴とする請求項1記載
    のセンサ。(3)光が透過する保護部材を有する収納ケ
    ースと、該収納ケースの内部に収納され該保護部材を介
    して被検出光を検出するセンサ部とを有するセンサにお
    いて、 前記収納ケースの内部に前記保護部材を透過した光を受
    光する補助受光素子を設け、 前記補助受光素子が受光した受光レベルと前記センサ部
    が受光した受光レベルとを比較して異常発生の有無を検
    出する異常検出手段を具備してなることを特徴とするセ
    ンサ。 (4)前記異常検出手段は前記複数の受光素子の受光レ
    ベルと前記センサ部の受光レベルとの差異に基づき前記
    保護部材の汚れ具合を検出することを特徴とする請求項
    3記載のセンサ。 (5)光が透過する保護部材を有する収納ケースと、該
    収納ケースの内部に収納され該保護部材を介して被検出
    光を検出するセンサ部とを有するセンサにおいて、 前記収納ケースの内部に前記保護部材を透過した光を受
    光する複数の補助受光素子を設け、前記複数の補助受光
    素子が受光した受光レベルを比較して異常発生の有無を
    検出する異常検視手段を具備してなることを特徴とする
    センサ。 (6)前記異常検出手段は前記複数の補助受光素子の受
    光レベルの差異に基づき前記保護部材の汚れ具合を検出
    することを特徴とする請求項5記載のセンサ。 (7)前記複数の補助受光素子は発光素子から出力され
    た被検出光を受光するよう設けられ、前記異常検出手段
    は前記複数の補助受光素子が受光した受光レベルの差異
    により前記補助受光素子が前記発光素子に対向する位置
    よりずれて設けられているか否かを判別することを特徴
    とする請求項5記載のセンサ。 (8)光が透過する保護部材を有する収納ケースと、該
    収納ケースの内部に収納され該保護部材を介して被検出
    光を検出するセンサ部を有するセンサにおいて、 前記収納ケースの内部に前記保護部材を透過した光を受
    光する第1の補助受光素子を設け、前記収納ケースの外
    壁に第2の補助受光素子を設け、 前記第1、第2の受光素子が受光した受光レベルを比較
    して異常発生の有無を検出する異常検出手段を具備して
    なることを特徴とするセンサ。 (9)光が透過する保護部材を有する収納ケースと、該
    収納ケースの内部に収納され該保護部材を介して外部に
    光を発光する発光素子とを有するセンサにおいて、 前記収納ケースの内部に前記保護部材を透過した光を受
    光する複数の受光素子を設け、 前記複数の受光素子が受光した受光レベルを比較して異
    常発生の有無を検出する異常検出手段を具備してなるこ
    とを特徴とするセンサ。
JP31378790A 1989-11-20 1990-11-19 センサ Pending JPH03218422A (ja)

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JP31378790A JPH03218422A (ja) 1989-11-20 1990-11-19 センサ

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JP31378790A Pending JPH03218422A (ja) 1989-11-20 1990-11-19 センサ

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0767840A (ja) * 1993-08-31 1995-03-14 Nidek Co Ltd 非接触式眼圧計
JP2000040189A (ja) * 1998-07-24 2000-02-08 Hatta Seisakusho:Kk 炎検知器
JP2012164112A (ja) * 2011-02-07 2012-08-30 Nohmi Bosai Ltd 光電式分離型感知器
JP2014153155A (ja) * 2013-02-07 2014-08-25 Kobe Steel Ltd 溶接センサ
JP2019174337A (ja) * 2018-03-29 2019-10-10 ホーチキ株式会社 炎検出装置

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