JPH03214602A - 電子回路部品の製造方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、回路基板などの電子部品の特性値のトリミン
グ（調整）を行い、電子回路部品を製造する方法に関す
るものである。

［従来の技術］ 電子部品の電子回路の特性値は、各電子部品の許容差の
バラツキによって左右される。したがって、各電子部品
のバラツキを吸収するため、従来では、たとえば半固定
抵抗を基板にとりつけ、その抵抗値を変化させることで
、最適な特性値を決定していた。

また、特性測定方法も第５図のフローチャートに示すよ
うに、測定と平行して抵抗値を変化させる方法を用いて
おり、特性の測定の目標値到達時に、抵抗値変化を停止
させる方法を採用していた。

［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、前記従来技術の半固定抵抗では、基板上
の面積を占め、高密度実装ができず、また価格アップに
もなる。

特性値の測定方法についても、第４図（ａ），（ｂ）．
（ｃ），　　（ｄ）に示すごとく、単純増加・単純減少
であれば、目標値に達すれば終了するコンパレート方式
でも可能だが、第４図（ｅ），（ｆ）のように、ゼロク
ロス調整や、最大値調整（非単峰）等の複雑な特性につ
いては、対応できない。

また、目標値到達後、抵抗値変化を中止するまでの時間
遅れが発生し、正確なトリミング調整が難しく、さらに
、測定によっては、プリヒート時間や信号安定時間等の
タイミングが必要となり、正確な測定が不可能になると
いう課題がある。

本発明は、前記従来技術の課題を解決するため、どのよ
うな特性の電子回路であってもレーザトリミングによっ
て、最適な特性値調整を迅速に行うことを可能とする電
子回路部品の製造方法を提供することを目的とする。

［課題を解決するための手段］ 前記目的を達成するため本発明は下記の構成からなる。

すなわち本発明は、電子回路部品の機能をトリミングし
、目標値に合わせた電子回路部品を製造する方法におい
て、電子回路の回路特性値を測定する手段と、回路特性
値とトリミング量との相関関係情報を予め入力したテー
ブルより最適なトリミング量を演算する手段とを備え、
前記演算トリミング量に基づき、前記電子回路部品を１
・リミングすることを特徴とする電子回路部品の製造方
法である。

前記した本発明の構成において、さらに、被調整回路の
特性及びロッドの違い毎に、電子回路部品のトリミング
量とその時の回路特性値との関係を入力した複数のテー
ブル群を持つことが好ましい。

［作用コ 前記した本発明の構成によれば、電子回路の回路特性値
を測定する手段と、回路特性値とトリミング量との相関
関係情報を予め入力したテーブルより最適なトリミング
量を演算する手段とを備え、前記演算トリミング量に基
づき、前記電子回路部品をトリミングするようにしたの
で、半固定抵抗が不要となり、たとえば第４図の５、６
のような特殊な特性を持つ電子回路の調整であっても、
電子部品の変化量と特性値とのテーブルにより、最適な
変化量を演算後、電子回路部品をトリミング３ し、電子回路の調整を迅速に行うことが可能となる。

し実施例コ 以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。

第１図において、７はレーザトリミング部、８はトリミ
ング量演算部、９はトリミング量一特性値のテーブル群
、１０は回路特性測定器、１１は被調整電子回路である
。

９のトリミング量一特性値のテーブルは、電子回路のあ
る特性値に対するトリミング量を示したテーブルであり
、同じ回路でもロッドの違い等により複数枚持つことが
可能である。

以上のように構成された機能トリミング方法について、
第１図、及び第２図のフロチャートに従って説明する。

１０の回路特性測定器により回路特性上必要な電圧、信
号等を準備し、まず被測定電子回路の初期測定を行ない
、初期測定値Ｆｏにより、９のテーブル群のうちどのテ
ーブルを選択するかを決定４ する。

決定したトリミング量一特性値のテーブルと初期測定値
ＦＯにより、目標値Ｆｅのα％の値となるように第１ト
リミング量△ｘ１を８のトリミング量演算部で決定する
。

７のレーザ一部で、一度トリミングすれば、抵抗値を復
元することは不可能であるため、目標値より低い値のト
リミングが必要である。したかって、求めるトリミング
量は、 Ｆ，＝　（Ｆ　　−Ｆｏ）Ｘα＋Ｆ（１ｅ （但し、αはレーザースポット径、及び回路特性により
　０．８＜α〈１　で決定する。）を満たすＦ２に対す
る△ｘ２を求め、△ｘ２分トリミングを行なう。この手
順を繰り返し行い、Ｆ　　＝（Ｆ　　−ＦＴ１−１）Ｘ
α＋Ｆｎ−１ｎｅ のＦｎを満たすトリミング量△ｘｎを求めトリミングを
行う。

ＦｎがＦｅの許容値に入れば、トリミングを終了し、被
調整回路の調整は完了する。

また、トリミング量△ｘｎと回路特性値Ｆｎの変化を第
３図に示す。第３図に示すとおり、目標値とトリミング
量を正確に算出することができる。

以上説明したとおり、本発明の一実施例によれば、特性
値とトリミング量の相関関係を示したテーブルによりト
リミング量を決定するので、工一ジング時間、回路安定
時間等が必要な回路、及び回路特性が特殊な回路でも調
整可能となる。

また、特性値とトリミング量のテーブルで最適なトリミ
ング量を求めるため、回路測定−トリミングの繰り返し
回数も数回に減少し、調整時間の大幅な短縮が可能とな
る。

なお本発明は、半導体チップやチップ抵抗器など様々な
電子部品の製造に適用することが可能である。

［発明の効果コ 以上説明した本発明によれば、電子回路の回路特性値を
測定する手段と、回路特性値とトリミング量との相関関
係情報を予め入力したテーブルより最適なトリミング量
を演算する手段とを備え、前記演算トリミング量に基づ
き、前記電子回路部品を１・リミングするようにしたの
で、半固定抵抗が不要となり、特殊な特性を持つ電子回
路の調整であっても、電子部品の変化量と目標特性値の
テーブルにより、最適な変化量を演算後、電子部品をト
リミングし、電子回路の調整を迅速に行うことが可能と
なるという特別の効果を達成できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の構成図、第２図は同フロー
チャート図、第３図は同トリミング量△ｘｎと回路特性
値Ｆｎの変化相関図、第４図は、一般的な調整機能図、
第５図は従来の回路機能調整方式のフローチャート図で
ある。 １・・・一定値調整（正）図、２・・・一定値調整（負
）図、３・・・最大値調整（単峰）図、４・・・最小値
調整（単峰）図、５・・・ゼロクロス調整図、６・・・
最大値調整（非単峰）図、７・・・レーザトリミング部
、８・・・トリミング量演算部、９・・・トリミング量
一特性値のテーブル群、１０・・・回路特性測定器、１
１・・・被調整電子回路。 特開平３　−　２１４６０２　（４） 特性値 特性値 特性値 特性値 （Ｃ）最大値調整（巣峰） （ｄ）最小値調整（巣峰） 特性値 特性値 （ｅ）ゼロクロス調整 （ｆ）最大値調整（非巣峰） 第４図 一９− 第５図

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）電子回路部品の機能をトリミングし、目標値に合
   わせた電子回路部品を製造する方法において、電子回路
   の回路特性値を測定する手段と、回路特性値とトリミン
   グ量との相関関係情報を予め入力したテーブルより最適
   なトリミング量を演算する手段とを備え、前記演算トリ
   ミング量に基づき、前記電子回路部品をトリミングする
   ことを特徴とする電子回路部品の製造方法。
2. （２）被調整回路の特性及びロッドの違い毎に、電子回
   路部品のトリミング量とその時の回路特性値との関係を
   入力した複数のテーブル群を持つ請求項１記載の電子回
   路部品の製造方法。