JPH0320794Y2 - - Google Patents

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JPH0320794Y2
JPH0320794Y2 JP8678587U JP8678587U JPH0320794Y2 JP H0320794 Y2 JPH0320794 Y2 JP H0320794Y2 JP 8678587 U JP8678587 U JP 8678587U JP 8678587 U JP8678587 U JP 8678587U JP H0320794 Y2 JPH0320794 Y2 JP H0320794Y2
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は検査装置、特に物体の存在、物体に貼
着したラベルの位置ずれ、或は物体の色違等の広
範囲に亘る欠陥を検査し得る欠陥の検査装置に関
するものである。
従来、フオトダイオードを利用した物体の欠陥
検査装置が多種提案されているが、これ等従来の
物体の欠陥検査装置は、1個のフオトダイオード
に対する光の強弱を利用するもので、光の明暗に
対して閾値を設定し、これにより被検査物体の欠
陥を検出している。従つて、従来の欠陥検査装置
は、種々雑多、複雑又は微妙な物体の形状又は模
様等の検査は、殆んど不可能であつた。
更に、従来の欠陥検査装置は、異る色の光を発
する物体の部分を検査することは、殆んど不可能
であつた。
従つて、本考案の主目的は、広範囲に亘る物体
の欠陥の検査をなし得る、物体の検査装置を提供
せんとするものである。
本考案の他の目的は、物体の被検査部が、仮に
異る波長(カラー)の光を発していても、検査を
適確に行い得る検査装置を提供せんとするにあ
る。
以下、図面を参照して、上述した特徴を有する
本考案を説明する。
先づ、第1図を参照して本考案に使用するカラ
ーセンサの一例を説明する。これは、現在市販さ
れている半導体カラーセンサで、第1図Aに示す
如く、1個の半導体(例えばシリコン)サブスト
レイト1の上面より下面に向い順次P型層2、N
型層3及びP型層4が形成されて、2個のPN接
合により2個のフオトダイオードD1及びD2が形
成されている。尚、同図に於て、5は、半導体サ
ブストレイト1の上面に被着した実質的に透明な
絶縁被膜であり、a及びcは、夫々両フオトダイ
オードD1及びD2の一方の電極、bは、両フオト
ダイオードD1及びD2の他方の共通電極である。
従つて、このカラーセンサの等価回路は、第1図
Bの如くなる。
この第1図に示す半導体カラーセンサは、次の
如く作用する。即ち、例えば青色系の短波長の光
は、主として半導体サブストレイト1の表面近傍
で吸収され、赤色系の長波長の光は、主として半
導体サブストレイト1の深部で吸収される。換言
すれば、半導体カラーセンサのサブストレイト1
の厚さが光学フイルタの作用をなし、カラーセン
サの上方又は浅い方のフオトダイオードD1は、
短波長の光に対する感度が高く、下方又は深い方
のフオトダイオードD2は、長波長の光に対する
感度が高くなつている。これは、第2図の波長感
度特性図に於て、フオトダイオードD1及びD2
対応する夫々の曲線A及びBに示される通りであ
る。尚、この曲線A及びBは、サブストレイト1
の特性に応じて変化する。
第3図は本考案の検査装置の回路構成の一例を
示す系統図である。同図に於て、10は第1図に
示す2個のフオトダイオードD1及びD2より成る
カラーセンサで、カラーセンサ10に到来する光
の異る、例えば2種の波長の光に対応するフオト
ダイオードD1及びD2よりの出力電流I1及びI2が、
電極a,b及びcを通じ、オペアンプ11a,1
1b,11c、ダイオードD3,D4等より成る、
光の波長を検出する光波長検出器11に供給され
る。即ち、フオトダイオードD1より得られる短
波長、例えば青色の光に対応しフオトダイオード
D1及びD2並にオペアンプ11a,11bの接地
点を介して流れる検出電流I1が、オペアンプ11
a及びダイオードD3に、又、フオトダイオード
D2より得られる長波長、例えば赤色の光に対応
しフオトダイオードD1及びD2並にオペアンプ1
1a,11bの接地点を介して流れる検出電流I2
が、オペアンプ11b及びダイオードD4に夫々
供給され、夫々対数圧縮され、それ等が、主とし
てオペアンプ11c等より成る減算回路11dに
供給され、そこで減算され、出力電圧V0となる。
この光波長検出器11の出力電圧V0は、次の如
く表わされる。
V0∝logI2−logI1=log(I2/I1) …(1) 上記(1)式より明らかな如く、カラーセンサ10
への入射光の強度変化に関係なく、I2/I1は一定
であるので、光波長検出器11よりの出力電圧
V0は、カラーセンサ10への入射光の強度変化
に対しては、変化しないこと、明らかであろう。
従つて、この出力電圧V0は、第2図に示すカラ
ーセンサ10の入射光に含まれる光の波長の成分
比に応じて変化し、この電圧V0と入射光の波長
との関係は、第4図のグラフの曲線Cの如く変化
する。即ち、入射光の波長成分比に応じて、電圧
V0は、+側又は−側に変化する。
第3図に示す如く、光波長検出器11の出力電
圧V0は、次段のゼロバランス設定器12に供給
される。このゼロバランス設定器12は、オペア
ンプ12a及び可変抵抗器の如き調節器12bを
有し、光波長検出器11の出力電圧V0は、オペ
アンプ12aの一方の入力端に、その他方の入力
端に、調節器12bを介して後述の如き電圧が印
加される。後述の検査の始めに、ゼロバランス設
定器12、即ち、オペアンプ12aの出力電圧
V1がゼロとなるように、調節器12bを調節す
る。即ち、第4図のグラフに示される如く、光波
長検出器11よりの出力電圧V0は、カラーセン
サ10への入射光の含む波長(光の色)の成分比
に応じて、−側から+側に亘つて変化するので、
後述の検査に際して、カラーセンサ10の或る一
定又は基準の視野内の光の色(カラー)成分比に
対応する光波長検出器11の出力電圧V0に対し、
ゼロバランス設定器12の出力電圧V1がゼロと
なるように、調節器12bを調整する(ゼロバラ
ンスを取る)。換言すれば、カラーセンサ10の
視野内の光の基準カラーの状態に対応する光波長
検出器11の出力電圧V0を、それが−側である
にせよ、+側であるにせよ、打消し、ゼロバラン
ス設定器12の出力V1がゼロとなるように、調
節器12bを調節する。このことは、ゼロバラン
ス設定器12を、カラーセンサ10の視野内の光
の基準のカラー成分比にセツトしたことを意味す
る。尚、ゼロバランス設定器12のゼロバランス
が取れたか否かを確認するために、零中央目盛の
電位計12cを、オペアンプ12aの出力側に接
続する。この電位計12cの指針がゼロを指せ
ば、上述のゼロバランスが取れたことが知れる。
尚、このためには、他の多くの手段、又は方法が
考えられること、明らかであろう。
今、ゼロバランス設定器12の出力電圧V1
ゼロに設定した状態で、カラーセンサ10で物体
を見ると、その視野内の物体の光のカラー成分比
が設定以外のカラー成分比の際は、光波長検出器
11の出力電圧V0は、設定以前より、−又は+側
に偏位する。従つて、ゼロバランス設定器12の
出力、即ちオペアンプ12aの出力電圧V1がゼ
ロではなく、−又は+側に偏位する。
ゼロバランス設定器12の次段に、オペアンプ
13a,13b、ダイオードD5,D6、コンパレ
ータ13c等を含む許容誤差設定器13を設け、
ゼロバランス設定器12の出力電圧V1を、オペ
アンプ13a,13bに供給する。この際、オペ
アンプ13a,13bの接続を次の如く選択す
る。即ち、ゼロバランス設定器12の出力電圧
V1が、ゼロより−又は+側に偏位した時は、両
オペアンプ13a,13bは、共に、例えば+側
の偏位としての出力を出す。オペアンプ13a,
13bの出力側に夫々接続したダイオードD5
びD6を介して、オペアンプ13a,13bの+
側の出力のみを取り出すようになし、両ダイオー
ドD5,D6の出力を共通にして(電圧V2として)、
これをコンパレータ13cの一方の入力端に供給
する。このコンパレータ13cの他方の入力端
に、電圧調整手段、例えば可変抵抗器13dの摺
動子を接続し、このコンパレータ13cの他方の
入力端に加える電圧を任意に設定し得るようにな
す。このコンパレータ13cは、可変抵抗器13
dにより設定された以上の電圧が、その一方の入
力端に加わると、出力信号V3を発生する。従つ
て、可変抵抗器13dによる設定電圧を大きく取
つておけば、電圧V2がゼロバランス設定器12
に於て設定されたゼロから、よほど大きく偏位し
ていないかぎり、コンパレータ13cは出力信号
V3を出さないことになる。従つて、大きな誤差
まで許容することができる。この誤差の許容範囲
は、後述の実際の検査基準に合せるもので、可変
抵抗器13dの調整により実施される。
許容誤差設定器13の後段に、検出位置タイミ
ング部14を設ける。これは、外部からのトリガ
信号により、或る規定時間でのカラーセンサ10
からの入力を規定する作用をなす。即ち、例え
ば、第5図に示す如く、ビン15の如き被検査物
体にラベル16が貼つてあるか否か、ラベル16
は適正か否かを、ビン15がベルトコンベア17
上を流れている際に検査する場合、例えば、
LSDの如き発光素子18及びフオトダイオード
の如き光電変換素子19より成る位置検出装置2
0を、ベルトコンベア17に関して、所定位置
(検出位置)に設け、ビン15が検出位置に到来
した時、位置検出装置20よりトリガ信号を出す
如くなす。即ち、通常フオトダイオード19が、
発光素子18よりの光を受けているが、ビン15
が所定位置に到来すると、発光素子18よりフオ
トダイオード19への光が、ビン15により遮断
されるが、その時、フオトダイオード19よりト
リガ信号が発生され、これが、第3図に示す検出
位置タイミング部14の入力端14aに供給され
る。この入力端14aは、検出動作期間を定め
る、例えばワンシヨツトマルチバイブレータ14
bの入力端に接続されているので、トリガ信号
が入力端14aを介して、ワンシヨツトマルチバ
イブレータ14bの入力端に供給されると、こ
のバイブレータ14bは、例えば数μsecの短い時
間巾のパルスを、アンド回路14cの一方の入力
端に供給する。マルチバイブレータ14bの出力
パルスの時間巾は、被検査物体が、仮に高速で移
動していても、検査に支障を生じないような範囲
の時間巾に選択されている。通常、この時間巾
は、上述の如く、数μsecで、実用上、問題はな
い。このアンド回路14cの他方の入力端には、
許容誤差設定器13の出力V3が供給されている。
尚、カラーセンサ10は、第5図に示す如く、被
検査物体であるビン15が、所定位置(被検査位
置)に到達した時に、ビン15の被検査部、例え
ばそのラベル16の所定部分が、カラーセンサ1
0の視野内に入るように配置される。
今、ビン15が被検査位置に到達し、トリガ信
号が、位置検出装置20より入力端14aを介し
てワンシヨツトマルチバイブレータ14bに供給
され、これが、上述の如く数μsecの時間巾のパル
スをアンド回路14cに供給する。この時、許容
誤差設定器13の許容誤差を越える電圧V2が、
その内部に発生していると(これは、被検査物体
であるビン15の、例えばラベル16の貼着位置
が悪く、ビン15か欠陥品である場合に相当す
る)、この電圧V2が印加されているコンパレータ
13cは、出力信号V3を発生する(これは、上
述の如く、被検査物体が欠陥品であることを示
す)。この信号V3がアンド回路14cを通じてそ
の出力端14dに、被検査物体が異常又は欠陥品
であることを示す信号として送出される。従つ
て、この被検査物体が異常又は欠陥品であること
を示す出力を、例えばランプ、ブザ等に供給し
て、被検査物体が異常又は欠陥品であることを知
らしめてもよいし、この欠陥品であるビン15
を、ベルト17より排除する排除機構を動作させ
るようにしてもよい。第3図に示す例では、検出
位置タイミング部14の出力端14dの信号を、
駆動回路21を介してブザ又はランプ22に供給
し、警報を発生した例である。一方、位置検出装
置20がトリガパルスを発生した時に、所定の検
出位置に到達しているビン15が正規、或は正規
品と見なし得るものであれば、許容誤差設定器1
3に於ける電圧V2は、ゼロ、又はゼロでないと
しても、コンパレータ13cの許容誤差範囲内に
入つている電圧であるので、コンパレータ13c
は出力を発生しない。従つて、この時は、アンド
回路14cは出力を出さない。従つて、異常の警
報等は行われない。
上述した本考案の一例を、例えば茶色のビンに
白色ラベルが正規に貼着されているか否かを検査
するに適当する場合を例に挙げ、説明しよう。
第6図Aは白色のラベル23が貼着されている
茶色のビン24の正面図、第6図B,C及びDは
第6図Aの〇印で示す被検査部分、即ちカラーセ
ンサ10の視野内の拡大図で、第6図Cはラベル
23が正規の位置(左右方向に於て正規の位置)
に貼着されている場合で、第6図B及びDはラベ
ル23が正規位置に貼着されていない状態(この
例では左右方向にづれている状態)を夫々示して
いる。本考案に於ては、ビン24が被検出位置に
到達した時、〇印で示すカラーセンサ10の視野
が、半分はラベル23の白、残りの半分がビン2
4の茶色の時、即ち第6図Cに示す如く、ラベル
23が正規の位置に貼着されている時、ゼロバラ
ンス設定器12のゼロバランスを取り、且つ許容
誤差範囲を、その設定器13に於て適当な値、例
えば、ラベル23の正規位置よりのズレの許容範
囲(例えば1mm)に対応する値に選択する。
斯くすれば、被検査位置に到達したビン24の
カラーセンサ10の視野内(〇印)が、例えば、
第6図B及びDの如き場合は、出力端に14dに
異常を示す出力が得られ、ビン24に貼着されて
いるラベル23は正規でないことが検出される。
尚、カラーセンサ10の視野内が、第6図Cの如
くでなく、第6図B及びDの如き場合であつて
も、ラベル23のズレが上述の如く、例えば1mm
以内であれば、これは、コンパレータ13cの許
容誤差範囲内に入るので、出力端14dに信号が
得られないことは、勿論である。
又、上例は、ラベルの左右方向のズレを検出し
たが、上下方向のズレも、カラーセンサ10の視
野を、ラベルの上下方向の線に合せれば(第6図
Aの点線〇印参照)、同様に検出し得ること、明
らかであろう。
更に、茶色と白色との組合せを検出する以外
に、その他任意の色の組合せも、同一のカラーセ
ンサを用いて検出し得ることも、明らかであろ
う。
更に、第3図に示す本考案の回路例では、アナ
ログを主体にして各出力信号を取扱つたが、A/
Dコンバータを用いて、各出力信号をデジタル化
し、論理回路を用いて、同様の検出が出来るこ
と、当該業者には、明らかであろう。
又、3個以上のフオトダイオードを一体に設
け、3種以上の異る色に関連する物体の検査を行
い得ることも、明らかであろう。
尚、透明に、例えば白地の文字、模様等の検査
にも、適当な色のバイアス光を照射すれば、本考
案を適用し得ることは、明らかであろう。
その他、本考案の精神を逸脱することなく、多
くの変化変更がなし得ることは、当該業者に明ら
かであろう。
【図面の簡単な説明】
第1図Aは本考案に使用するカラーセンサの一
例の断面図、第1図Bはその等価回路図、第2図
は第1図に示すカラーセンサの特性図、第3図は
本考案の一例の系統的回路図、第4図は第3図の
回路の一部の出力の特性図、第5図及び第6図は
本考案が適用される被検査物及びその近傍を示す
図である。 図に於て、1及び10はカラーセンサ、11は
光波長検出器、12はゼロバランス設定器、13
は許容誤差設定器、14は検出位置タイミング部
を夫々示す。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 被検査物体よりの複数の異なる波長帯域の光に
    応答して、夫々異なる検出信号を出力する光電変
    換素子をシリコン等の基板上に二段重ねに構成さ
    せたワン・チツプのカラーセンサを使用した検査
    装置に於いて、 上記カラーセンサよりの上記被検査物体に対応
    する検出信号をオペアンプ及びダイオードより成
    る複数個の増幅器で対数圧縮し、該対数圧縮され
    た出力を減算回路に供給して減算出力電圧を得る
    光波長検出器と、 上記減算出力電圧を基準カラーに対応してゼロ
    となるように調節するゼロバランス設定器と、 上記被検査物体の検査の許容誤差範囲を予め設
    定し、上記ゼロバランス設定器の出力を受け、こ
    の入力レベルが該許容誤差範囲のレベルを越えた
    時に異常信号を発生する許容誤差設定器と、 上記被検査物体が所定位置に到達した時に電気
    信号を出力する位置検出器と、 上記位置検出器の出力信号を受けた時のみ上記
    許容誤差設定器よりの異常信号を通過させる検出
    位置タイミング器とよりなることを特徴とする検
    査装置。
JP8678587U 1987-06-04 1987-06-04 Expired JPH0320794Y2 (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007034895A1 (ja) * 2005-09-21 2007-03-29 Ts Tech Co., Ltd. ヘッドレスト戻り阻止機構の検査装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007034895A1 (ja) * 2005-09-21 2007-03-29 Ts Tech Co., Ltd. ヘッドレスト戻り阻止機構の検査装置
GB2444215A (en) * 2005-09-21 2008-05-28 Ts Tech Co Ltd Inspection device for headrest return prevention mechanism
US7784369B2 (en) 2005-09-21 2010-08-31 Ts Tech Co., Ltd. Inspection device for headrest return prevention mechanism

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JPS62197083U (ja) 1987-12-15

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