JPS5926891B2 - 色相検査装置の投受光方法 - Google Patents
色相検査装置の投受光方法Info
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- JPS5926891B2 JPS5926891B2 JP51065181A JP6518176A JPS5926891B2 JP S5926891 B2 JPS5926891 B2 JP S5926891B2 JP 51065181 A JP51065181 A JP 51065181A JP 6518176 A JP6518176 A JP 6518176A JP S5926891 B2 JPS5926891 B2 JP S5926891B2
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 5
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 3
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
- G01J3/50—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors
- G01J3/51—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors using colour filters
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- G01J3/501—Colorimeters using spectrally-selective light sources, e.g. LEDs
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は果実類の成熟度をその色相等の色判別によつて
検査、検出する装置における投受光方法に関する。
検査、検出する装置における投受光方法に関する。
上記装置における従来の投受光系は第５図に示す如く発
光色を異にする発光素子（発光ダイオード等）Ｌｉ、Ｌ
２を互に異る斜め方向から被検物（ミカン等）上の投光
部Ｓに照射し、投光部Ｓの真上に位置する受光素子Ｐに
よつて反射光を受光する方法をとつている。
光色を異にする発光素子（発光ダイオード等）Ｌｉ、Ｌ
２を互に異る斜め方向から被検物（ミカン等）上の投光
部Ｓに照射し、投光部Ｓの真上に位置する受光素子Ｐに
よつて反射光を受光する方法をとつている。
図でＲ１、Ｒ２はそれぞれＬｉ、Ｌ２による光の照射面
からの各方向への反射光強度の分布状態を示したもので
ある。このような方法による場合は被検物面が上下した
り、傾いたりした場合に受光素子は上記両発光素子より
の均等な条件の反射光を得ることができない。即ち二色
の投光条件が異ることになる。例えば第６図は被検物面
が正常位置より上昇した場合で、Ｌｉ、Ｌ２よりの照射
光は５１、５２の異つた位置を照射することになるので
、被検部が異ることになり、正しい検査結果が得られな
いことになる。又第７図は被検物面が傾斜した場合であ
つて、Ｌｉよりの正反射に近い反射光が直接受光素子Ｐ
に入射しているが、Ｌ２の正反射光路は受光素子Ｐより
非常に離れているので、Ｐが受光するそれぞれの反射光
強度は非常に異つたものとなり、検査結果が不正確なも
のとなる。本発明はこのように被検物面の位置が変動し
ても正確に色相検査のできる投受光方法を提供しようと
するものであつて、その要旨とする所は複数種の色光毎
に１個又は複数個の発光素子を用い被検物の投光部に対
し等価的光路で照射し、各色光に対する共通の受光素子
を適宜の反射光路又は透過光路に位置させ或は各色光毎
の受光素子を互に近接させて配置すること番こより上記
従来の問題点を解決しようとするものである。
からの各方向への反射光強度の分布状態を示したもので
ある。このような方法による場合は被検物面が上下した
り、傾いたりした場合に受光素子は上記両発光素子より
の均等な条件の反射光を得ることができない。即ち二色
の投光条件が異ることになる。例えば第６図は被検物面
が正常位置より上昇した場合で、Ｌｉ、Ｌ２よりの照射
光は５１、５２の異つた位置を照射することになるので
、被検部が異ることになり、正しい検査結果が得られな
いことになる。又第７図は被検物面が傾斜した場合であ
つて、Ｌｉよりの正反射に近い反射光が直接受光素子Ｐ
に入射しているが、Ｌ２の正反射光路は受光素子Ｐより
非常に離れているので、Ｐが受光するそれぞれの反射光
強度は非常に異つたものとなり、検査結果が不正確なも
のとなる。本発明はこのように被検物面の位置が変動し
ても正確に色相検査のできる投受光方法を提供しようと
するものであつて、その要旨とする所は複数種の色光毎
に１個又は複数個の発光素子を用い被検物の投光部に対
し等価的光路で照射し、各色光に対する共通の受光素子
を適宜の反射光路又は透過光路に位置させ或は各色光毎
の受光素子を互に近接させて配置すること番こより上記
従来の問題点を解決しようとするものである。
次にこれを実施例図について説明する。
第１図においてＬｉ、Ｌ２はそれぞれ例えば赤又は緑色
等の発光色を異にする各色複数個ずつの発光ダイオード
であり、Ｌｌ，Ｌ２の光はゲートＧと同期して交互に点
弧されるようになつており、各色の反射光による受光素
子Ｐの出力は増巾器及びＡ／Ｄ変換回路を通つてゲート
Ｇで振り分けられて、それぞれＬ１記憶回路又はＬ２記
憶回路によつて記臆され、この両値の演算回路によつて
比較して被検物の色相が出力されるようになつている。
第２図はこの場合の出力パルスの例を示している。この
場合各色毎の照射光路が同一で且つ真上よりの照射であ
るので、被検物面の変動による各色毎の照射点のずれが
生じる虞れがない。又被検物面が傾いても各色の受色素
子への反射条件も各色同一である。次に第３図は各色光
源の配置例で各色多数個の発光ダイオードＬ１−１，Ｌ
１−２，・・・及びＬ２−１，Ｌ２−２，・・・を相互
に近接させて交互に配置して各色の光路を投光部８に対
して総体的に近似的等価にしたものであり、第４図は各
色（二色又はそれ以上）多数個の発光ダイオードＡ１・
・・Ａｎを円環状６こ並べて、それぞれＢ１・・・Ｂｎ
の投光点を照射させ、受光素子Ｐを円環状に並べた発光
ダイオードの中心（こ位置させて、やはり総ＬＩ点灯
−ー一』一トＬ′記槻 １２点灯 Ｌ２記礒 Ｔｚ，演算 十 体的に近似的等価な反射光を検出しようとするものであ
る。
等の発光色を異にする各色複数個ずつの発光ダイオード
であり、Ｌｌ，Ｌ２の光はゲートＧと同期して交互に点
弧されるようになつており、各色の反射光による受光素
子Ｐの出力は増巾器及びＡ／Ｄ変換回路を通つてゲート
Ｇで振り分けられて、それぞれＬ１記憶回路又はＬ２記
憶回路によつて記臆され、この両値の演算回路によつて
比較して被検物の色相が出力されるようになつている。
第２図はこの場合の出力パルスの例を示している。この
場合各色毎の照射光路が同一で且つ真上よりの照射であ
るので、被検物面の変動による各色毎の照射点のずれが
生じる虞れがない。又被検物面が傾いても各色の受色素
子への反射条件も各色同一である。次に第３図は各色光
源の配置例で各色多数個の発光ダイオードＬ１−１，Ｌ
１−２，・・・及びＬ２−１，Ｌ２−２，・・・を相互
に近接させて交互に配置して各色の光路を投光部８に対
して総体的に近似的等価にしたものであり、第４図は各
色（二色又はそれ以上）多数個の発光ダイオードＡ１・
・・Ａｎを円環状６こ並べて、それぞれＢ１・・・Ｂｎ
の投光点を照射させ、受光素子Ｐを円環状に並べた発光
ダイオードの中心（こ位置させて、やはり総ＬＩ点灯
−ー一』一トＬ′記槻 １２点灯 Ｌ２記礒 Ｔｚ，演算 十 体的に近似的等価な反射光を検出しようとするものであ
る。
又上記実施例は被検物の反射光の検査についてのみ述べ
たが被検物が薄肉状である場合には透過光を検出しても
よく、その場合の受光素子は上述実施例と同様適宜の透
過光光路、又は環状照射の場合はその中心に位置させる
とよい。
たが被検物が薄肉状である場合には透過光を検出しても
よく、その場合の受光素子は上述実施例と同様適宜の透
過光光路、又は環状照射の場合はその中心に位置させる
とよい。
叙上の如く本発明方淘こよつて、被検吻面が変動しても
正確に色相検査のできる投受光方法が提供できることに
なつたのである。
正確に色相検査のできる投受光方法が提供できることに
なつたのである。
第１図は本願方法による色相検査装置の投受光系の正面
図と検出回路のプロツク図の１実施例、第２図はこの色
相検査装置各所の出力パルスの比較図、第３図、第４図
は本願方法による投受光系の斜視図の他の実施例図、第
５図は従来の投受光系の正面図、第６図、第７図は第５
図における被検物面が上昇した時と傾いた時の正面図で
ある。
図と検出回路のプロツク図の１実施例、第２図はこの色
相検査装置各所の出力パルスの比較図、第３図、第４図
は本願方法による投受光系の斜視図の他の実施例図、第
５図は従来の投受光系の正面図、第６図、第７図は第５
図における被検物面が上昇した時と傾いた時の正面図で
ある。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 複数種の色光毎に夫々複数個の発光素子を用い、被
検物の投光部に対する投光光路を近似的等価にするため
に、各色光毎の発光素子を互に近接させて配置し、被検
物からの各色反射光の受光光路を等価にするため、受光
素子を各色共通とし、時分割的に各色光の信号を取出す
ようにしたことを特徴とする色相検査装置の投受光方法
。 ２ 各色光夫々複数個の発光素子を円環状に配置し、そ
の中心部に受光素子を配置したことを特徴とする特許請
求の範囲第１項記載の色相検査装置の投受光方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51065181A JPS5926891B2 (ja) | 1976-06-03 | 1976-06-03 | 色相検査装置の投受光方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51065181A JPS5926891B2 (ja) | 1976-06-03 | 1976-06-03 | 色相検査装置の投受光方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS52148183A JPS52148183A (en) | 1977-12-09 |
| JPS5926891B2 true JPS5926891B2 (ja) | 1984-07-02 |
Family
ID=13279475
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP51065181A Expired JPS5926891B2 (ja) | 1976-06-03 | 1976-06-03 | 色相検査装置の投受光方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5926891B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5594120A (en) * | 1979-01-11 | 1980-07-17 | Matsushita Electric Works Ltd | Color detector |
| JPS5654319A (en) * | 1979-10-09 | 1981-05-14 | Omron Tateisi Electronics Co | Optical detector |
| JPS5654318A (en) * | 1979-10-09 | 1981-05-14 | Omron Tateisi Electronics Co | Detector for color tone |
| JPS5960324A (ja) * | 1982-09-30 | 1984-04-06 | Matsushita Electric Works Ltd | 色測定装置 |
| JPS5994021A (ja) * | 1982-11-22 | 1984-05-30 | Hitachi Maxell Ltd | カラ−センサ |
| JPS601043U (ja) * | 1983-06-15 | 1985-01-07 | 株式会社山武 | 光電スイツチ |
| JPH079392B2 (ja) * | 1989-11-10 | 1995-02-01 | 二國機械工業株式会社 | 流体中の粒子の判別方法およびその装置 |
-
1976
- 1976-06-03 JP JP51065181A patent/JPS5926891B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS52148183A (en) | 1977-12-09 |
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