JP2513095B2 - 端部検出装置 - Google Patents
端部検出装置Info
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- JP2513095B2 JP2513095B2 JP3212914A JP21291491A JP2513095B2 JP 2513095 B2 JP2513095 B2 JP 2513095B2 JP 3212914 A JP3212914 A JP 3212914A JP 21291491 A JP21291491 A JP 21291491A JP 2513095 B2 JP2513095 B2 JP 2513095B2
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- light emitting
- emitting diode
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、投光部と受光部の間に
被測定物を挿入し、端部位置を検出する端部検出装置に
関する。
被測定物を挿入し、端部位置を検出する端部検出装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】走行中のウェブなどの端部位置や中心位
置を測定する方法として、投光部と受光部の間にウェブ
を走行させ、ウェブによって遮光された遮光量を計測す
ることにより、ウェブの端部位置や中心位置を検出する
方法が広く用いられている。
置を測定する方法として、投光部と受光部の間にウェブ
を走行させ、ウェブによって遮光された遮光量を計測す
ることにより、ウェブの端部位置や中心位置を検出する
方法が広く用いられている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】このような検出方法の
場合、投光部の光源の輝度は、光源および周囲の温度変
化や経年変化により変化し、また外乱光なども存在す
る。これらは受光部にとっては受光量の変化となって測
定され、この変化がウェブによる受光量の変化と区別で
きず、ウェブの端部位置や中心位置の検出誤差となって
表れる。
場合、投光部の光源の輝度は、光源および周囲の温度変
化や経年変化により変化し、また外乱光なども存在す
る。これらは受光部にとっては受光量の変化となって測
定され、この変化がウェブによる受光量の変化と区別で
きず、ウェブの端部位置や中心位置の検出誤差となって
表れる。
【０００４】なお、これらを解決するため、いくつかの
技術が開示されている。特開昭６３−２６１１０１号公
報には受光器から出力される制御信号を常に一定に保
ち、帯状物の光の透過率や反射率の変化を保証する技術
が開示されているが、適切な大きさの帯状物が存在しな
いと校正できない。また、特開平２−９１５１６号公報
には検出長が短く、１個のみの投光器の発光素子それ自
体の光度を検出し、その発光周波数を制御して輝度を一
定に保つ技術が開示されている。
技術が開示されている。特開昭６３−２６１１０１号公
報には受光器から出力される制御信号を常に一定に保
ち、帯状物の光の透過率や反射率の変化を保証する技術
が開示されているが、適切な大きさの帯状物が存在しな
いと校正できない。また、特開平２−９１５１６号公報
には検出長が短く、１個のみの投光器の発光素子それ自
体の光度を検出し、その発光周波数を制御して輝度を一
定に保つ技術が開示されている。
【０００５】本発明は、上述の問題点に鑑みてなされた
もので、温度変化による発光部の輝度変化を少なくし、
検出長が長くても外乱光の影響を受けにくく、かつ、パ
スライン変動による影響が小さく、かつ帯状物の存在や
大きさに関係なくオンラインで自動校正する端部検出装
置を提供することを目的とする。
もので、温度変化による発光部の輝度変化を少なくし、
検出長が長くても外乱光の影響を受けにくく、かつ、パ
スライン変動による影響が小さく、かつ帯状物の存在や
大きさに関係なくオンラインで自動校正する端部検出装
置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、投光部と受光部の間に被測定物を挿入し、被測定物
による遮光量からこの被測定物の端部を検出する端部検
出装置において、投光部の光度を制御する光度制御部を
設け、前記投光部を直列に結合した発光ダイオードで構
成し、この発光ダイオードと直列に接続された光度検知
用発光ダイオードを光電変換素子と対向して配置し、こ
の光電変換素子の電流が所定値となるよう前記発光ダイ
オードの電流を制御する。
め、投光部と受光部の間に被測定物を挿入し、被測定物
による遮光量からこの被測定物の端部を検出する端部検
出装置において、投光部の光度を制御する光度制御部を
設け、前記投光部を直列に結合した発光ダイオードで構
成し、この発光ダイオードと直列に接続された光度検知
用発光ダイオードを光電変換素子と対向して配置し、こ
の光電変換素子の電流が所定値となるよう前記発光ダイ
オードの電流を制御する。
【０００７】また、前記投光部は発光を間歇的に行うと
共に前記受光部はこの発光に同期して受光する。
共に前記受光部はこの発光に同期して受光する。
【０００８】また、前記受光部の前面に、近赤外付近の
波長のみを通す可視光カットフィルタを設ける。
波長のみを通す可視光カットフィルタを設ける。
【０００９】
【作用】直列に接続された発光ダイオードの１つを光電
変換素子と対向させ、この光電変換素子の電流が所定値
を保持するよう発光ダイオードの電流を制御するので、
発光ダイオードの輝度は温度変化や経年変化による変化
が補償され、一定に保たれる。
変換素子と対向させ、この光電変換素子の電流が所定値
を保持するよう発光ダイオードの電流を制御するので、
発光ダイオードの輝度は温度変化や経年変化による変化
が補償され、一定に保たれる。
【００１０】また、発光部と受光部を同期して間歇的に
発光、受光を行うことにより発光時間が少ないため、発
光部における温度上昇を防止して、外乱光の影響を少な
くする。
発光、受光を行うことにより発光時間が少ないため、発
光部における温度上昇を防止して、外乱光の影響を少な
くする。
【００１１】また、受光部前面に近赤外付近の波長（90
0nm 付近の波長）のみを通す可視光カットフィルタを設
けることにより可視光による外乱を防ぐことができる。
0nm 付近の波長）のみを通す可視光カットフィルタを設
けることにより可視光による外乱を防ぐことができる。
【００１２】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。図１は本実施例の帯状体センター位置検出装置の
構成図である。投光部１より照射された光は一部帯状体
３に遮られ、遮光されない光が受光部２へ到達し、入光
量として検知される。この入光量をＡ1 ，Ａ2 として検
出し、帯状体3 の端部位置や中心位置を検出する演算制
御部４へ送信する。演算・制御部４では帯状体３を走行
させて搬送するラインのセンターと帯状体３のセンター
のずれ量Ｄを次式より求める。
する。図１は本実施例の帯状体センター位置検出装置の
構成図である。投光部１より照射された光は一部帯状体
３に遮られ、遮光されない光が受光部２へ到達し、入光
量として検知される。この入光量をＡ1 ，Ａ2 として検
出し、帯状体3 の端部位置や中心位置を検出する演算制
御部４へ送信する。演算・制御部４では帯状体３を走行
させて搬送するラインのセンターと帯状体３のセンター
のずれ量Ｄを次式より求める。
【００１３】Ｄ＝（Ｌ1 −Ａ1)−（Ｌ2 −Ａ2) このＤが零となる様に、すなわちラインセンターと帯状
体３のセンターが一致する様に帯状体３を制御する。
体３のセンターが一致する様に帯状体３を制御する。
【００１４】図２は図１に示す投光部１と受光部２の詳
細構造を示す図である。図２において、投光部１のＬ1
〜Ｌn は発光ダイオードで直列に接続されており、個々
の発光ダイオードから受光部２の対応するシリコン・フ
ォト・ダイオードに向かって、狭い範囲にしぼられた光
を投射している。Ｓ1 〜Ｓn はシリコン・ホト・ダイオ
ードで出力電流が加算されるよう並列に接続されてい
る。ＳＬは光度検知用発光ダイオードで発光ダイオード
Ｌ1 〜Ｌn と直列に接続されており、このダイオードの
投光範囲は任意でよい。ＳＳは光度検知用シリコン・ホ
ト・ダイオードでＳＬと対向して配置され、ＳＬの発光
を受光して光度を検出する。図３はプリント基板上に配
置されたＳＳ，ＳＬ，Ｌ1 〜Ｌn の構成を示す。
細構造を示す図である。図２において、投光部１のＬ1
〜Ｌn は発光ダイオードで直列に接続されており、個々
の発光ダイオードから受光部２の対応するシリコン・フ
ォト・ダイオードに向かって、狭い範囲にしぼられた光
を投射している。Ｓ1 〜Ｓn はシリコン・ホト・ダイオ
ードで出力電流が加算されるよう並列に接続されてい
る。ＳＬは光度検知用発光ダイオードで発光ダイオード
Ｌ1 〜Ｌn と直列に接続されており、このダイオードの
投光範囲は任意でよい。ＳＳは光度検知用シリコン・ホ
ト・ダイオードでＳＬと対向して配置され、ＳＬの発光
を受光して光度を検出する。図３はプリント基板上に配
置されたＳＳ，ＳＬ，Ｌ1 〜Ｌn の構成を示す。
【００１５】11はＳＳの出力電流を電圧に変換する電流
／電圧変換アンプ、12は電流／電圧変換アンプ11の交流
電圧を保持するサンプル・ホールドアンプ、13はサンプ
ル・ホールドアンプ12の出力を正規化するゼロ／スパン
調整アンプ、14は発光ダイオードＬ1 〜Ｌn の光度を設
定する光度設定器、15はゼロ／スパン調整アンプ13と光
度設定器14との差を検出する光度変動検知アンプ、16は
光度変動検出アンプ15の検出した差を零とするよう制御
して発光ダイオードＬ1 〜Ｌn の出力を一定に保持する
パルス点灯電流制御回路、17はサンプル・ホールドアン
プ12のサンプルするタイミングとパルス点灯電流制御回
路16のパルス点灯タイミングを決定するパルス点灯タイ
ミング回路である。
／電圧変換アンプ、12は電流／電圧変換アンプ11の交流
電圧を保持するサンプル・ホールドアンプ、13はサンプ
ル・ホールドアンプ12の出力を正規化するゼロ／スパン
調整アンプ、14は発光ダイオードＬ1 〜Ｌn の光度を設
定する光度設定器、15はゼロ／スパン調整アンプ13と光
度設定器14との差を検出する光度変動検知アンプ、16は
光度変動検出アンプ15の検出した差を零とするよう制御
して発光ダイオードＬ1 〜Ｌn の出力を一定に保持する
パルス点灯電流制御回路、17はサンプル・ホールドアン
プ12のサンプルするタイミングとパルス点灯電流制御回
路16のパルス点灯タイミングを決定するパルス点灯タイ
ミング回路である。
【００１６】21はシリコン・ホト・ダイオードＳ1 〜Ｓ
nの出力電流を電圧に変換する電流／電圧変換アンプ、2
2は電流／電圧変換アンプ21の出力をパルス点灯タイミ
ング回路17のタイミングによりサンプル・ホールドする
サンプル・ホールドアンプ、23は入力を正規化して出力
するゼロ／スパン調整アンプである。５は可視光カット
フィルタで近赤外900nm 近傍の波長のみ通過させる。
nの出力電流を電圧に変換する電流／電圧変換アンプ、2
2は電流／電圧変換アンプ21の出力をパルス点灯タイミ
ング回路17のタイミングによりサンプル・ホールドする
サンプル・ホールドアンプ、23は入力を正規化して出力
するゼロ／スパン調整アンプである。５は可視光カット
フィルタで近赤外900nm 近傍の波長のみ通過させる。
【００１７】次に動作について説明する。まず投光部１
において、パルス点灯タイミング回路17から点灯タイミ
ング・パルスが出てパルス点灯電流制御回路16によっ
て、全ての発光ダイオードＬ1 〜Ｌn , ＳＬがパルス点
灯する。光度検知用発光ダイオードＳＬが発光すると、
その発光光度を光度検知用シリコン・ホト・ダイオード
ＳＳが受光して、その受光量に応じた電流を発生する。
において、パルス点灯タイミング回路17から点灯タイミ
ング・パルスが出てパルス点灯電流制御回路16によっ
て、全ての発光ダイオードＬ1 〜Ｌn , ＳＬがパルス点
灯する。光度検知用発光ダイオードＳＬが発光すると、
その発光光度を光度検知用シリコン・ホト・ダイオード
ＳＳが受光して、その受光量に応じた電流を発生する。
【００１８】この発生した電流は電流／電圧変換アンプ
11で電圧信号となり、コンデンサＣにより直流成分をカ
ットしてサンプル・ホールドアンプ12でパルス点灯タイ
ミング回路17の点灯タイミング・パルスによりホールド
する。
11で電圧信号となり、コンデンサＣにより直流成分をカ
ットしてサンプル・ホールドアンプ12でパルス点灯タイ
ミング回路17の点灯タイミング・パルスによりホールド
する。
【００１９】図４はサンプル・ホールドアンプによって
保持される状態を示す図で、ａはＬ1 〜Ｌn の点灯信
号、ｂは電流／電圧変換アンプ11の出力、ｃは同期信号
となる点灯タイミング・パルス、ｄはサンプル・ホール
ドアンプ12の保持した電圧である。
保持される状態を示す図で、ａはＬ1 〜Ｌn の点灯信
号、ｂは電流／電圧変換アンプ11の出力、ｃは同期信号
となる点灯タイミング・パルス、ｄはサンプル・ホール
ドアンプ12の保持した電圧である。
【００２０】保持した信号は、ゼロ／スパン調整アンプ
13で正規化され、光度変動検知アンプ15で、光度設定器
14に設定された値と突き合わし、発光光度の偏差を求め
る。この偏差信号はパルス点灯電流制御回路16で、次の
点灯タイミング時に、光度偏差を打ち消す方向に電流を
制御して、発光ダイオードＳＬ，Ｌ1 〜Ｌn を点灯す
る。
13で正規化され、光度変動検知アンプ15で、光度設定器
14に設定された値と突き合わし、発光光度の偏差を求め
る。この偏差信号はパルス点灯電流制御回路16で、次の
点灯タイミング時に、光度偏差を打ち消す方向に電流を
制御して、発光ダイオードＳＬ，Ｌ1 〜Ｌn を点灯す
る。
【００２１】この様に投光部１は発光ダイオードにパル
ス点灯電流を流し、それによる発光光度を測定して輝度
が常に一定となる様に制御されている。
ス点灯電流を流し、それによる発光光度を測定して輝度
が常に一定となる様に制御されている。
【００２２】受光部２においては、光電変換素子である
ホト・ダイオードＳ1 〜Ｓn を並列に接続し、各ホト・
ダイオードの受光量に応じた起電流の総和を電流／電圧
変換アンプ21で電圧信号に変換し、コンデンサＣで直流
をカットし、交流成分のみを取り出し、サンプル・ホー
ルドアンプ22で保持する。
ホト・ダイオードＳ1 〜Ｓn を並列に接続し、各ホト・
ダイオードの受光量に応じた起電流の総和を電流／電圧
変換アンプ21で電圧信号に変換し、コンデンサＣで直流
をカットし、交流成分のみを取り出し、サンプル・ホー
ルドアンプ22で保持する。
【００２３】サンプル・ホールドするタイミングは、パ
ルス点灯タイミング回路17の同期信号によって行われ
る。図４のｅは、この同期信号によってホールドされた
電流と、次の同期信号によってリセットされた状態を示
す。保持された信号はゼロ／スパン調整アンプ23によっ
て正規化され、帯状体３の端部位置出力信号となって演
算・制御部４へ出力される。
ルス点灯タイミング回路17の同期信号によって行われ
る。図４のｅは、この同期信号によってホールドされた
電流と、次の同期信号によってリセットされた状態を示
す。保持された信号はゼロ／スパン調整アンプ23によっ
て正規化され、帯状体３の端部位置出力信号となって演
算・制御部４へ出力される。
【００２４】次に発光ダイオードの温度特性について説
明する。図５（ａ）は横軸を発光ダイオードのケース温
度、縦軸を相対光度とし、片対数目盛りを用いて表す。
ケース温度は点灯電流による自己発熱と周囲温度によっ
て決まる温度で、パルス点灯方式の場合、パルス点灯時
間の約150 倍の時間は消灯しているので、点灯電流によ
る自己発熱は小さく、周囲温度による影響が最も大き
い。
明する。図５（ａ）は横軸を発光ダイオードのケース温
度、縦軸を相対光度とし、片対数目盛りを用いて表す。
ケース温度は点灯電流による自己発熱と周囲温度によっ
て決まる温度で、パルス点灯方式の場合、パルス点灯時
間の約150 倍の時間は消灯しているので、点灯電流によ
る自己発熱は小さく、周囲温度による影響が最も大き
い。
【００２５】本実施例の帯状体センター位置検出器が使
用される周囲温度を10℃〜35℃とすると、25℃の時の光
度を１とした場合、約0.3 の相対光度変化がある。
用される周囲温度を10℃〜35℃とすると、25℃の時の光
度を１とした場合、約0.3 の相対光度変化がある。
【００２６】図５（ｂ）は、受光部２の光電変換素子で
あるホト・ダイオードの光起電流（光電流）と周囲温度
との関係を示す。25℃のときの相対光電流を１とした場
合、周囲温度が10℃〜35℃変化すると、相対光電流変化
は0.04である。
あるホト・ダイオードの光起電流（光電流）と周囲温度
との関係を示す。25℃のときの相対光電流を１とした場
合、周囲温度が10℃〜35℃変化すると、相対光電流変化
は0.04である。
【００２７】このようにホト・ダイオードの温度変化は
発光ダイオードの温度変化の１割程度なので、発光ダイ
オードの光量を一定にするよう制御を行う。なお、発光
ダイオードの温度変化による光量の変化は、帯状体３に
遮光されることによる光量変化と区別することはできな
いので、この発光ダイオードの光量変化は、そのまま帯
状体３の端部位置検出の誤差となって表れる。
発光ダイオードの温度変化の１割程度なので、発光ダイ
オードの光量を一定にするよう制御を行う。なお、発光
ダイオードの温度変化による光量の変化は、帯状体３に
遮光されることによる光量変化と区別することはできな
いので、この発光ダイオードの光量変化は、そのまま帯
状体３の端部位置検出の誤差となって表れる。
【００２８】次に本実施例のテストデータについて説明
する。図６はテストに用いた投光器１、受光器２、帯状
体３の寸法を示す。各寸法は次の通りである。 Ｘ１（測定視野） ：600mm Ｘ２（帯状体測定域） ：300mm Ｙ１（投受光間隔） ：600mm Ｙ２（帯状体パスライン位置）：300mm なお、テストは図２に示すように発光ダイオードの輝度
を一定に制御した場合と、制御を行わない場合につき実
施した。テストは投受光部を恒温槽に入れ、全体の周囲
温度を10〜35℃まで変化させて、図２に示す出力電圧を
求めた。 周囲温度 10℃ 25℃ 35℃ 輝度補正あり 2.55Ｖ 2.52Ｖ 2.48Ｖ 輝度補正なし 2.65Ｖ 2.55Ｖ 2.35Ｖ 出力電圧は全遮光の場合０Ｖ、全入光で５Ｖである。
する。図６はテストに用いた投光器１、受光器２、帯状
体３の寸法を示す。各寸法は次の通りである。 Ｘ１（測定視野） ：600mm Ｘ２（帯状体測定域） ：300mm Ｙ１（投受光間隔） ：600mm Ｙ２（帯状体パスライン位置）：300mm なお、テストは図２に示すように発光ダイオードの輝度
を一定に制御した場合と、制御を行わない場合につき実
施した。テストは投受光部を恒温槽に入れ、全体の周囲
温度を10〜35℃まで変化させて、図２に示す出力電圧を
求めた。 周囲温度 10℃ 25℃ 35℃ 輝度補正あり 2.55Ｖ 2.52Ｖ 2.48Ｖ 輝度補正なし 2.65Ｖ 2.55Ｖ 2.35Ｖ 出力電圧は全遮光の場合０Ｖ、全入光で５Ｖである。
【００２９】本実施例の輝度補正ありの場合、10〜35℃
の変化で0.07Ｖ、輝度補正がない場合は0.3 Ｖの温度ド
リフトが出ている。故に本実施例は輝度補正がない場合
に対して、10〜35℃の周囲温度変化によるドリフトが1/
4 になった。
の変化で0.07Ｖ、輝度補正がない場合は0.3 Ｖの温度ド
リフトが出ている。故に本実施例は輝度補正がない場合
に対して、10〜35℃の周囲温度変化によるドリフトが1/
4 になった。
【００３０】なお、本実施例では発光ダイオードの点灯
をパルス点灯タイミング回路17のタイミング信号に同期
して点灯しているが、このように間歇的に点灯すること
により、ノイズの防止に役立ち、エネルギを節約し、し
かもピーク信号レベルが大きく、自己加熱を防止する。
をパルス点灯タイミング回路17のタイミング信号に同期
して点灯しているが、このように間歇的に点灯すること
により、ノイズの防止に役立ち、エネルギを節約し、し
かもピーク信号レベルが大きく、自己加熱を防止する。
【００３１】また、可視光カットフィルタ５により、外
部の可視光の照明などによる影響を除く。パルス点灯す
る発光ダイオートの信号に同期して、検出信号を処理す
ることにより、外乱を除去できる。また、光検知用発光
ダイオードＳＬを別に設け、一方、投光部１から受光部
２へ投光するダイオードＬ1 〜Ｌn は投光に方向性があ
るものを用いることにより、帯状体のパスライン（図６
のＹ２の値）が変動しても測定値の変化が少ない。投光
部の輝度の自動校正を行うので、オンラインの状態で帯
状物の有無や大きさに関係なく校正できる。
部の可視光の照明などによる影響を除く。パルス点灯す
る発光ダイオートの信号に同期して、検出信号を処理す
ることにより、外乱を除去できる。また、光検知用発光
ダイオードＳＬを別に設け、一方、投光部１から受光部
２へ投光するダイオードＬ1 〜Ｌn は投光に方向性があ
るものを用いることにより、帯状体のパスライン（図６
のＹ２の値）が変動しても測定値の変化が少ない。投光
部の輝度の自動校正を行うので、オンラインの状態で帯
状物の有無や大きさに関係なく校正できる。
【００３２】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
は、発光ダイオードの輝度を所定の値に保持することに
より、被測定物の端部検出を精度よく行うことができ
る。さらに発光を間歇的に行い、また、可視光カットフ
ィルタを設けることにより外乱の影響を少なくすること
ができる。
は、発光ダイオードの輝度を所定の値に保持することに
より、被測定物の端部検出を精度よく行うことができ
る。さらに発光を間歇的に行い、また、可視光カットフ
ィルタを設けることにより外乱の影響を少なくすること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施例の全体構成図である。
【図２】投光部と受光部の詳細構成図である。
【図３】光度検知用シリコン・ホト・ダイオードと光度
検知用発光ダイオードの配置図である。
検知用発光ダイオードの配置図である。
【図４】本実施例の構成機器のタイミングチャートを示
す図である。
す図である。
【図５】発光ダイオードとホトダイオードの温度特性を
示す図である。
示す図である。
【図６】テスト装置の構成、寸法を示す図である。
１ 投光部 ２ 受光部 ３ 帯状体 ４ 演算・制御部 ５ 可視光カットフィルタ 11,21 電流／電圧変換アンプ 12,22 サンプル・ホールドアンプ 13,23 ゼロ／スパン調整アンプ 14 光度設定器 15 光度変動検知アンプ 16 パルス点灯電流制御回路 17 パルス点灯タイミング回路 ＳＬ 光度検知用発光ダイオード ＳＳ 光度検知用シリコン・ホト・ダイオード Ｌ1 〜Ｌn 発光ダイオード Ｓ1 〜Ｓn シリコン・ホト．ダイオード
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平３−82914（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−176606（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−233504（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−35106（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−17508（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−52506（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−71005（ＪＰ，Ａ) 特開 昭64−64945（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−148305（ＪＰ，Ａ) 実開 昭60−29207（ＪＰ，Ｕ) 特公 平３−81082（ＪＰ，Ｂ２)
Claims (3)
- 【請求項１】 投光部と受光部の間に被測定物を挿入
し、被測定物による遮光量からこの被測定物の端部を検
出する端部検出装置において、投光部の光度を制御する
光度制御部を設け、前記投光部を直列に結合した発光ダ
イオードで構成し、この発光ダイオードと直列に接続さ
れた光度検知用発光ダイオードを光電変換素子と対向し
て配置し、この光電変換素子の電流が所定値となるよう
前記発光ダイオードの電流を制御することを特徴とする
端部検出装置。 - 【請求項２】 前記投光部は発光を間歇的に行うと共
に、前記受光部はこの発光に同期して受光するようにし
たことを特徴とする請求項１記載の端部検出装置。 - 【請求項３】 前記受光部の前面に、近赤外付近の波長
のみを通す可視光カットフィルタを設けたことを特徴と
する請求項１または２記載の端部検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3212914A JP2513095B2 (ja) | 1991-07-30 | 1991-07-30 | 端部検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3212914A JP2513095B2 (ja) | 1991-07-30 | 1991-07-30 | 端部検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0534111A JPH0534111A (ja) | 1993-02-09 |
| JP2513095B2 true JP2513095B2 (ja) | 1996-07-03 |
Family
ID=16630373
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3212914A Expired - Fee Related JP2513095B2 (ja) | 1991-07-30 | 1991-07-30 | 端部検出装置 |
Country Status (1)
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|---|---|
| JP (1) | JP2513095B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN106392187B (zh) * | 2016-06-22 | 2017-10-17 | 河北钢铁股份有限公司邯郸分公司 | 一种基于位置的钢轨长度测量系统的测量方法 |
| JP2018132344A (ja) * | 2017-02-14 | 2018-08-23 | ウインテック株式会社 | 位置検出装置 |
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-
1991
- 1991-07-30 JP JP3212914A patent/JP2513095B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JPH0534111A (ja) | 1993-02-09 |
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