JPH03203803A - 磁気ヘッドのピークシフト測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産ｊＬＥ＠困団り１野− この発明はコンピュータの磁気ディスク装置拳磁気テー
プ装置やビデオテープレコーダ等に用いられる磁気ヘッ
ドのピークシフト測定方法に関し、特に一連の周期的な
再生信号波形から信号位置を区別してピークシフト量を
測定する方法に関する。

従】国Ｕ１１ 従来のピークシフト測定方法を説明する。

ピークシフト量は、時系列的に再生される再生信号波形
から得られ情報位置と、本来得られるべき信号の情報位
置との時間的偏移量として測定される。

一方、ピークシフトの発生する原因は時系列的に並んだ
再生波形の各パルスが相互に干渉し合うことによると考
えることができ、一般に記録方式・変調方式等によって
最もピークシフト量が大きくなる信号パターンが存在す
る。

よって、ピークシフト量の測定はこの信号パターンを試
験パターンとして周期的に磁気記録媒体に記録し、再生
した再生信号波形を時間的に分析することになる。

第３図は従来のピークシフト測定方法による再生系のブ
ロック図である。第３図に沿って従来の構成を説明する
。パーマロイ薄膜等で形成した磁気抵抗効果型磁気ヘッ
ドまたはコイルを形成した誘導型磁気ヘッド等の再生ヘ
ッド２１は、線形に増幅するプリアンプ２２に接続され
、プリアンプ２２は試験パターンの帯域より高いノイズ
成分を除去するローパスフィルタ２３と、試験パターン
の帯域に近くかつ低い不要な周波数成分と直流成分を除
去する微分器２４が、縦列接続されている。微分器２４
の出力に信号の情報位置をゼロクロス位置に変換するた
めの前処理用のローパスフィルタ２５、及び、微分器２
６が接続され、微分器２Ｂの出力はＯｖを基準として２
値化するコンパレータ２７と、ＴＴＬ・０ＭＯ８等、の
ロジックレベル信号に変換するレベルコン、バーク２８
が縦列接続されている。

一方、微分器２４の出力は、Ｏｖ以外のあるレベルを基
準に２値化するレベルコンパレータ２９と、ＴＴＬ・０
ＭＯ８等のロジックレベル信号に変換するレベルコンバ
ータ３０が、縦列接続されている。

それぞれのレベルコンバータ２８，３０の出力は、ＡＮ
Ｄ回路３３に接続され、ＡＮＤ回路３３の出力が、測定
端子となっている。

第４図は第３図の従来のピークシフト測定方法の再生系
のタイミング図である。

第４図に沿って従来の動作を説明する。

磁気ヘッド２１で検出し、プリアンプ２２で増幅しり再
生信号ａ′は、ローパスフィルタ２３と微分器２４で試
験パターンの帯域より高いノイズ成分と低い周波数成分
及び直流成分を除去した一階微分信号り′が得られる。

一階ｍ分信号り′は、ローパスフィルタ２５と微分器２
Ｂでゼロクロス位置に情報をもつ二階微分信号ｃ　”Ｆ
−変換し、コンパレータ２７でＯｖを基準に２値化し、
レベルコンバータ２８でＴＴＬ−０ＭＯ８等のロジック
レベルのコンパレート信号ｄ′に変換される。

一方、−階ｍ分信号ｂ’は、レベルコンパレータ２９で
Ｏｖ以外のあるレベルａ′を基準に２値化し、レベルコ
ンバータ３０でロジックレベルに変換したゲート信号ｇ
′に変換される。

ＡＮＤ回路３３によってコンパレート信号ｄ′とゲート
信号ｇ９のＡＮＤ論理をとり、コンパレート信号ｄ′の
０Ｖ近傍に発生するノイズを除去し、被測定信号ｈ′が
得られる。ピークシフト量は被測定信号ｈ′から、測定
すべきパルス間隔Ｔ′□と試験パターンの周期に相当す
る時間Ｔ′。を、それぞれジッターカウンタ・タイムイ
ンタバルアナライザ等で測定し、Ｔ′、から算出した本
来のパルス幅と測定から得たパルス幅Ｔ□の差を求める
ことで得られる。

日 ところで、上記のピークシフト測定方法は試験パターン
に含まれるパルス列のパルス立上りから立下りの間隔即
ちパルス幅に相当する時間の測定には、２チヤンネルを
比較できる測定器が必要であり、例えば第４図のＴ′□
とＴ′２のようにどのパルスのピークシフトかを区分し
て測定するには、連続測定可能な測定器が必要であった
ので、複数の測定回路が必要であったり、高速の測定処
理できる素子や回路が必要となる欠点があった。

５の この発明のピークシフト測定方法は、磁気ヘッドからの
再生信号を０Ｖでない一定の信号レベル内のレベルで２
値化し、生成した各パルスを試験パターンの１ビットに
相当する時間より長く試験パターンの２周期に相当する
時間より短い試験パターンに同期した単パルスに変換し
た信号をゲート信号として、再生信号をＯｖで２値化し
た信号にマスクして被測定信号を得ることを特徴とする
構成になっている。

■ 上記の方法によると、ゲート信号は試験パターンの周期
に同期した単パルスとなるので、パルス幅整形と遅延を
適当に加えることで簡単にパルス幅とパルス周期が得ら
れる。

また、遅延量を掃引することで各パルス位置を区別して
ピークシフトを測定することができる。

災胤阻 以下、この発明について図面を参照して説明する。

第１図はこの発明の一実施例のピークシフト測定方法に
よる再生系のブロック図である。

パーマロイ薄膜等で形成した磁気抵抗効果型の磁気ヘッ
ド１は線形に増幅するプリアンプ２に接続され、プリア
ンプ２は信号パターンの帯域より高いノイズ成分を除去
するローパスフィルタ３と信号パターンの帯域に近くか
つ低い不要な周波数成分と直流成分を除去する微分器４
が縦列接続されている。

微分器４の出力は信号の情報位置をゼロクロス位置に変
換するための前処理用のローパスフィルタ５及び微分器
６が接続され、微分器６の出力はＯｖを基準として２値
化するコンパレータ７と０ＭＯ８等のロジックレベル信
号に変換する第１のレベルコンバータ８が縦列接続され
ている。

一方、微分器４の出力は、実にＯｖ基以外あるレベルを
基準に２値化するレベルコンバータ９と０ＭＯ８等のロ
ジックレベル信号に変換する第２のレベルコンバータ１
０が縦列接続されている。

レベルコンバータｌＯの出力はパルス幅を変換するワン
ショットマルチバイブレータ１１と、信号ハターン周期
に相当する時間の遅延が可能な可変の遅延回路１２が縦
列接続されている。

前記第１のレベルコンバータ８と遅延回路１２との出力
はＡＮＤ回路１３に接続され、ＡＮＤ回路１３の出力が
測定端子となっている。

第２図は第１図の実施例のピークシフト測定方法の再生
系のタイミング図である。

第２図に沿って実施例の動作を説明する。

この実施例では試験パターンに８ビット構成の１１１１
１０００を用い、ＡＮＳｌ　！３８５／８７−０９９，
１９８７１？定められているＤＤ−ＮＲＺＩ記録を行っ
た。

磁気ヘッド１で検出し、プリアンプ２で４０　ｄＢ増幅
した再生信号ａは、ローパスフィルタ３と微分器４で試
験パターンの帯域より高いノイズ成分と、低い周波数成
分及び直流成分を除去した一階微分信号すが得られる。

一階微分信号すはローパスフィルタ５と微分器６でゼロ
クロス位置に情報をもつ二階微分信号Ｃに変！し、コン
パレータ７でＯｖを基準に２値化し、レベルコンバータ
８で０ＭＯ８等のロジックレベルのコンパレート信号ｄ
に変換される。

一方、−階微分信号すは実にレベルコンパレータ９で一
階微分信号のＯｖ近傍のノイズを避けたレベルαを基準
に２値化し、レベルコンバータ１０で０ＭＯ８等のロジ
ックレベルに変換したレベルコンバレー）　信号ｅとな
り実にワンショットマルチバイブレータ等で各パルス幅
を広く変換され、試験パルス列の二周期に同期した同期
パルスｆに変換される。

同期パルスｆは、遅延回路１２で測定すべき情報をもつ
コンパレート信号ｄの測定すべきパルス位置とパルス幅
に従って、ゲート信号ｇのパルス位置とパルス幅に設定
される。

ＡＮＤ回路１３によって、コンパレート信号ｄとゲート
信号ｇの和論理をとり、コンパレート信号ｄの測定すべ
き位置のパルスのみが被測定信号りとなって得られる。

ピークシフト量６丁は被測定信号りから、測定すべきパ
ルス間隔Ｔ１と、試験パターンの周期に相当する時間７
１Ｂをそれぞれジッタカウンタ等で測定し、（式１）か
ら計算できる。

本実施例は磁気抵抗効果型の磁気ヘッドの例であるが、
誘導型の磁気ヘッドの場合もコンパレータ７に入力され
る信号のゼロクロス位置に情報をもつようにローパスフ
ィルタ５及び微分器８を用いるか除くかを選択すること
で同様のピークシフト測定が可能である。

また、本実施例で示した試験パターンは、８ビット即ち
偶数ビット構成なので、同期パルスｆは試験パターンの
２周期に同期した信号となったが、奇数ビット構成の試
験パターンの場合は、同期パルスｆは試験パターンに同
期した信号としてもよい。

発ｌ口Σ塾呆− 以上説明したように、この発明は試験パターンに同期し
た単パルスが簡単な回路を付加することで得られ、適当
な遅延とパルス幅整形をするととで試験パターンの位置
を区別して任意のパルス幅とパルス周期が測定できるの
で試験パターンの位置情報を含めたピークシフト測定が
簡便にできる。

また、測定すべき信号を再生原波形に選ぶことでアシン
メトリの測定にも応用できる効果がある。

１２・・・・・・遅延器。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明のピークシフト測定方法の再生系ブロ
ック図、第２図は第１図のタイミング図、第３図は従来
のピークシフト測定方法の再生系ブロック図、第４図は
第３図のタイミング図である。 １．２１・・・・・・再生ヘッド。 ４、８．２４．２８・・・・・・微分器。 ７．２７・・・・・・コンパレータ、 ９．２ト印・レベルコンパレータ、 １１・・・・・・ワンシロットマルチバイブレータ、１
　　−一一掬生ヘンＹ ２　　−−−プリアンプ ３．５　−ｍ−ローｌ？スフィレ７ ４６−一伏ρト器 ７　　−−・　フ＞Ｉ？レー！ ８　　−−一葛７ｎｙへ゛−レフンにり９　　−−−１
／やレコンｌシＬ　−ＦＩＩ 図 １０−−一負ツ２−レ＾ζル／コン八光？’１　−−−
　　’７シ＞ｉブＬマ＋１−＋７Ｑプレー７＋１２−Ｌ
ゐ（２【 ｄ−−−゛コンマレート４１５ ｇ−一−ゲーｋ１Ｍ３゜ ｈ−−一搬刻影朽 ２１ ２４、２６ ７ ８３０ ・　再主ヘット 確芙介舊 フンｌ（レー７ レベルコ〉バー７ ｄ　　　−−−フンＩぐレートＡン号 ｇ′　−一−ゲ−）Ａｔち ｈ′−−−ｊ嚇（３ヴづ）にミイｔ５ 第 図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 　磁気ヘッドからの再生信号を０Ｖでない一定の信号レ
   ベル内のレベルで２値化し、生成した各パルスを試験パ
   ターンの１ビットに相当する時間より長く試験パターン
   の２周期に相当する時間より短い試験パターンに同期し
   た単パルスに変換した信号をゲート信号として、再生信
   号を０Ｖで２値化した信号にマスクして被測定信号を得
   ることを特徴とする磁気ヘッドのピークシフト測定方法
   。