JPH03199974A - バックボード布線試験用ダミーコネクタ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概　要〕 バックボード布線試験用ダミーコネクタに関し、実装形
態の異なるバックボードに対してもその布線試験等を画
一的に行わしめ得る合理的・経済的なダミーコネクタを
提供することを目的とし、電子装置等のバックボードの
電気的な布線試験等を行う際にバックボードに装着して
用い得るダ（１） ミーコネクタであって、バックボードのスルーボールに
弾性係合して自己保持し得る装着部と外部から接触自在
の接触部とを有する導体と、上記導体が複数個規則正し
く貫設される支持体、とを有するよう構成する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、電子装置等のバックボードの電気的な布線試
験等を行う際にバックボードに装着して用い得るダミー
コネクタに関する。

〔従来の技術〕

通信機器、情報機器等の電子装置のシェルフ実装構造に
用いられるバックボード（あるいはバックワイヤリング
ボード）は、例えばその完成時に実装されたコネクタの
半田付けや配線パターン（布線）のオープン・ショート
等の不良を判別するために検査に付される。ここでこの
検査装置の一例を示す第６図を参照すると、検査される
べきバックボード７１　（第７図）は各パレット７２に
（２） 逆さに載置され、パレット毎に加圧検査部に搬送される
。加圧検査部において、搬送後位置決め固定されるバッ
クボード７１の下方側には、図示しないばねにより常に
上方に付勢されたプローブビン７３が２．５４ｍｍピッ
チの基本格子間隔で規則正しくいわゆる剣山のように多
数上向きに植設された接続治具７４が交換自在に配置さ
れ、この接続治具７４（プローブビン７３）に対してバ
ックボード７１が加圧プレート７５により加圧・押圧せ
しめられる。すなわち、第８図（ａ）の如くプローブビ
ン７３に対して上方に位置するコネクタ７６のコネクタ
ビン７７が加圧プレート７５により全体的に下方に移動
せしめられ、プローブピン７３に所定圧力で当接・保合
する（第８図（ｂ））。そして、例えば複数のコネクタ
ビンを選択しこれらを介してバックボードに所定の電気
を流して布線試験等の検査を行うことになる。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかるに、最近、箱形の周壁の内部中央にコネ（３） フタビン７７が多列に亘って植設された標準的なコネク
タ７６に加えて、コネクタビン７８が短く且つ外側に突
出する脱着用レバー７９をその両側に具えた異種コネク
タ８０が僅かながらもバックボード７１に実装されるよ
うになり（第７図）、このためそのコネクタビン７８が
接続治具７４のプローブビン７３と接触しない又は接触
しても不充分であり、あるいはそのレバー７９がプロー
ブビン７３に引っ掛かって破損する又はこれを破損させ
る等といった不都合が生じている。

現状では、バックボードに実装されたコネクタのその実
装形態別の専用の接続治具を多数用意し、これにより暫
定的に対処している。しかしながら、高価なプローブピ
ンを多数植設する構造上、その価格が数百万円にも及ぶ
接続治具を多数用意することは設備効率上、好ましくな
い。また、多数の接続治具の保管やメンテナンス等、あ
るいは実装形態の変更に伴う接続治具の改造等の多くの
解決すべき問題が内在する。

以上の点に鑑み本発明は、上記従来の不都合を（４） 伴うことなく異種コネクタが実装され得る異なる形態の
バックボードに対しても実質的にその布線試験等を画一
的に行わしめ得る極めて経済的・合理的なダミーコネク
タを提供することを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

上記課題を解決するために本発明は、電子装置等のバッ
クボードの電気的な布線試験等を行う際にバックボード
に装着して用い得るダミーコネクタであって、バックボ
ードのスルーホールに弾性係合して自己保持し得る挿着
部と外部から接触自在の接触部とを有する導体と、上記
導体が複数個規則正しく貫設される支持体、とを有する
ことを構成上の特徴とする。

〔作　用〕

ダミーコネクタの支持体に複数個規則正しく貫設された
導体はバックボードのスルーホールに弾性係合して自己
保持し得る挿着部と外部から接触（５） 自在の接触部とを有するために、これをバックボード、
特に異なる実装形態のバックボードに装着してその電気
的な布線試験等を画一的に行うことができ、作業性等が
向上する。

〔実施例〕

以下、図面を参照して本実施例を説明する。

第１図は本発明に係るダミーコネクタの一実施例の斜視
図、第２図は第１図のダミーコネクタの要部長手断面図
である。

本実施例のダミーコネクタｌは、導電性を有する丸棒状
の（標準コネクタのビン長さに等しい）ビン２がその両
端が突出するように多数個貫設（例えばモールド成型）
された支持部３から成る。

第２図において、ビン２のダミーコネクタ１上方側に突
出する部分は、バックボード検査時にプローブピン７３
（第８図参照）が接触する部分である。他方、ダミーコ
ネクタ１下方側に突出する部分は、バックボード７１の
スルーホールに挿入されて内部に弾性係合する部分であ
る。すなわち、（６） 第３図に示すようにそのピン２部分は所定長さだけ割り
ピン状に４等分にされ、これによりスルーホール（孔）
に挿入時にその有する拡径力によりピン２が自己保持し
、従って検査されるべきバックボード７１にダミ−コネ
クタ１全体が（脱着自在に）固定されることになる。

なお、第２図に示すようにダミーコネクタ１の両端凹所
には、ダミーコネクタ１をバックボードから取り外す際
にこれを容易にするためのレバー４が枢着又は軸着され
ている。

また、ダミーコネクタ１が装着される検査されるべきバ
ックボードのスルーホールが２．５４ｍｍ以上のピッチ
を有する場合は、例えば第４図に示すように、プローブ
ピン７３と接触するピン１２の部分１２ａは２．５４＋
ｍｎピッチで、スルーホールニ挿入されるピン部分１２
ｂは適合する所定の大きいピッチで埋設し、支持部１３
内部で電気的に接続するような変換構造にすればよい。

以上の構成を有し得る本ダミーコネクタ１を用いたバッ
クボード７１（第５図）の布線試験につ（７） いて、以下簡単に説明すると、従来では、バックボード
７１を異種コネクタ８０が実装された状態で検査を行っ
ていたために問題が起き易かったが、本実施例において
はこの異種コネクタ８０が実装されていない状態で、そ
してその代わりにそのバックボード部分に上記ダミーコ
ネクタ１を装着した状態（第５図）で検査を行う（第７
図参照）。

これにより、コネクタピンの長さが不揃いによるプロー
ブピンとの接触不良やプローブピンの破損等の上記不都
合が一挙に解決すると共に、特別な場合を除き異種コネ
クタの実装形態に応じた接続治具を多数所有する必要が
全くなくなり、極めて合理的・経済的である。

なお、上記布線試験後にはダミーコネクタｌを取り外し
てその部分に正規の異種コネクタを装着（半田付け）し
、念のためこの異種コネクタの半田付は及び関連する配
線パターンの検査を別途行う。この検査を設けることに
より、新たな作業が形式上増加したことにはなるが、そ
の手間は僅かであり、接続治具を多数製作及び管理並び
に交換（８） 等しなければならなかった従来の不都合を考えると、本
ダミーコネクタを用いた検査方法の方がはるかに作業上
価れると言い得る。

〔発明の効果〕

以上の如（本発明に係るダミーコネクタによれば、バッ
クボードのスルーホール、特に異種コネクタが実装され
得るスルーホールに装着することにより、実装形態の異
なるバックボードに対しても布線試験等を画一的に容易
に行わしめ得るために極めて合理的・経済的である。

【図面の簡単な説明】 第１図は本発明に係るダミーコネクタの一実施例の斜視
図、 第２図は第１図のダミーコネクタの要部長手断面図、 第３図はバックボードのスルーホールに挿入されたダミ
ーコネクタのピンの要部断面図、第４図はピッチが大き
いスルーホールに対応し得るダミーコネクタの要部断面
図、 （９） 第５図はダミーコネクタを装着したバックボードの斜視
図、 第６図は検査装置の全体概略斜視図、 第７図は異種コネクタが実装されたバックボードの斜視
図、 第８図は検査時のバックボード及びプローブビン等の作
動を説明する図である。 １・・・ダミーコネクタ、　　２・・・ピン、３・・・
支持部、　　　　　４・・・レバー１２・・・ピン、　
　　　　　１３・・・支持部、７１・・・バックボード
。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、電子装置等のバックボード（７１）の電気的な布線
   試験等を行う際にバックボード（７１）に装着して用い
   得るダミーコネクタ（１）であって、バックボード（７
   １）のスルーホールに弾性係合して自己保持し得る挿着
   部と外部から接触自在の接触部とを有する導体（２）と
   、上記導体（２）が複数個規則正しく貫設される支持体
   （３）、とを有することを特徴とするダミーコネクタ。