CN115598503A - 一种基于自动检测设备的jtag测试装置 - Google Patents

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王超
韩士雷
王延新
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Tianjin Jinhang Institute of Technical Physics
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Abstract

本申请公开了一种基于自动检测设备的JTAG测试装置。包括:印制电路板,所述印制电路板上设有多个定位点;定位点之间形成安装空间;JTAG插座,所述JTAG插座的数量为多个,且其设置在所述印制电路板上;所述JTAG插座通过带线插头与待测印制电路板插接连接;测试区域,设置在所述印制电路板上,且其位于所述安装空间内;所述测试区域具有多个测试点,且所述测试点与自动检测设备的探针对应设置。测试时,将本装置定位点进行固定,JTAG插座通过带线插头与相应的插头插接连接,自动检测设备的探针落针到相对应的测试点上,即可完成多种型号产品印制电路板上不同位置不同接口的JTAG测试。通过在印制电路板上安装不同型号不同类型的JTAG插座,便于适用各种JTAG接口。

Description

一种基于自动检测设备的JTAG测试装置
技术领域
本公开一般涉及自动检测印制电路板PCB的测试技术领域,具体涉及一种基于自动检测设备的JTAG测试装置。
背景技术
印制电路板焊接完成后,通常会使用自动测试设备对其电流电压、JTAG等各项性能进行检测,自动检测设备的探针与电路板检测接口一一对应进行贴合检测。每一种电路板对应一套检测设备,对小批量、预研型号等电路板需求量少的产品,不具备配置自动检测设备的条件,但所有带有JTAG接口的电路板JTAG测试是必测项,同时JTAG接口种类较少,接口定义相对统一,可以实现一套检测设备对应多个型号的JTAG测试。
多种型号产品的电路板PCB规格大小参差不齐,器件密集度越来越高,JTAG接口在印制电路板上的位置各有差异,自动检测设备探针对检测点大小和坐标要求相对固定统一,无法对任意PCB上的JTAG接口实现统一测试。通常测试手段是对每块电路板PCB配备相对应的自动检测设备,这种唯一性对带有相同JTAG接口不同的电路板在完成JTAG测试时有很大的局限性,而且成本高、效率低。为此,我们提出一种基于自动检测设备的JTAG测试装置来解决上述问题。
发明内容
鉴于现有技术中的上述缺陷或不足,期望提供一种通用性强,降低测试成本,提高测试效率的基于自动检测设备的JTAG测试装置。
第一方面,本申请提供一种基于自动检测设备的JTAG测试装置,包括:
印制电路板,所述印制电路板上设有多个定位点;所述定位点之间形成安装空间;
JTAG插座,所述JTAG插座的数量为多个,且其设置在所述印制电路板上;所述JTAG插座通过带线插头与相应的插头插接连接;
测试区域,设置在所述印制电路板上,且其位于所述安装空间内;所述测试区域具有多个测试点,且所述测试点与自动检测设备的探针对应设置。
根据本申请实施例提供的技术方案,所述印制电路板上设有焊盘,所述焊盘上开设有多个焊接孔,用于安装所述JTAG插座。
根据本申请实施例提供的技术方案,所述测试区域与所述焊盘之间的间距为大于或等于5mm。
根据本申请实施例提供的技术方案,所述JTAG插座包括:JTAG表贴插座和JTAG直插插座。
根据本申请实施例提供的技术方案,所述JTAG插座的引脚与所述测试点一一对应设置。
根据本申请实施例提供的技术方案,所述测试点的中心孔距为大于等于2mm。
根据本申请实施例提供的技术方案,所述带线插头为10针带线插头。
综上所述,本申请具体地公开了一种基于自动检测设备的JTAG测试装置的具体结构。本申请通过在印制电路板上设置多个定位点,定位点之间形成安装空间,在印制电路板上设置多个JTAG插座,且其位于安装空间内,JTAG插座通过带线插头与待测印制电路板插接连接,在印制电路板上设置有测试区域,且其位于安装空间内,测试区域具有多个测试点,且测试点与自动检测设备的探针对应设置;测试时,将本装置定位点进行固定,JTAG插座通过带线插头与相应的插头插接连接,自动检测设备的探针落针到相对应的测试点上,即可完成多种型号产品印制电路板上不同位置不同接口的JTAG测试。
通过在印制电路板上安装不同型号不同类型的JTAG插座,便于适用各种JTAG接口,能够自动检测的不同大小规格的印制电路板,实现通用性强,降低测试成本的目的。
附图说明
通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述,本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显:
图1为基于自动检测设备的JTAG测试装置的结构示意图。
图2为带线插头的结构示意图。
图中标号:1、印制电路板;2、定位点;3、JTAG插座;4、测试区域;5、带线插头;6、焊盘。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关发明,而非对该发明的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与发明相关的部分。
需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。
实施例1
请参考图1所示的本申请提供的一种基于自动检测设备的JTAG测试装置的第一种实施例的结构示意图,包括:
印制电路板1,所述印制电路板1上设有多个定位点2;所述定位点2之间形成安装空间;
JTAG插座3,所述JTAG插座3的数量为多个,且其设置在所述印制电路板1上;所述JTAG插座3通过带线插头5与待测印制电路板插接连接;
测试区域4,设置在所述印制电路板1上,且其位于所述安装空间内;所述测试区域4具有多个测试点,且所述测试点与自动检测设备的探针对应设置。
在本实施例中,印制电路板1,印制电路板1上设有多个定位点2,如图1所示,定位点2的数量为四个,且均匀分布在印制电路板1靠近其边沿的位置上,用于对印制电路板1进行定位固定,定位点2的规格满足自动检测设备定位针的使用要求;并且各个定位点2之间形成安装空间,用于安装JTAG插座3和测试区域4。
JTAG插座3,JTAG插座3的数量为多个,且其设置在印制电路板1上,并且其位于安装空间内;此处,如图1所示,JTAG插座3的数量为四个;JTAG插座3的类型可为JTAG表贴插座和JTAG直插插座。
如图2所示,JTAG插座3通过带线插头5与相应的插头插接连接;带线插头5的类型可为10针带线插头。
测试区域4,设置在印制电路板1上,且其位于安装空间内;测试区域4具有多个测试点,且测试点与自动检测设备的探针对应设置,JTAG插座3的引脚与测试点一一对应设置,便于自动检测设备的探针准确落针,对测试点进行测试,以完成JTAG插座的测试,解决了大密度印制电路板无法满足测试点布放要求的问题。
其中,JTAG插座3的类型可根据实际使用增加,并且测试点也可以同步扩展;测试区域4与焊盘6之间的间距为大于或等于5mm,测试点的中心孔距为大于等于2mm。
传统的测试方式中自动检测设备应用于不同型号产品中,存在JTAG接口位置和检测点大小不固定,操作难度大、效率低等问题;而本申请通过在印制电路板1上安装不同型号不同类型的JTAG插座3,便于适用各种JTAG接口,能够自动检测的不同大小规格的印制电路板,实现通用性强,降低测试成本的目的。
进一步地,所述印制电路板1上设有焊盘6,所述焊盘6上开设有多个焊接孔,用于安装不同型号不同类型的所述JTAG插座3。
自动检测设备对JTAG插座3进行测试时,将本装置按照印制电路板1上的定位点2进行固定,再将待测印制电路板的JTAG插座3与压接好的带线插头5一端进行插接,带线插头5的另一端按照实际线序压接相对应的插头,使得插头与JTAG插座3完成插接连接,自动检测设备的探针落针到相对应的测试点上,即可完成多种型号产品印制电路板上不同位置不同接口的JTAG测试。
相同JTAG插座的印制电路板进行测试只需要将待测端JTAG插头进行插拔即可完成待测印制电路板的更换,不同JTAG插座需要将本装置上测试完成的JTAG插头拔下,与待测印制电路板其他类型JTAG插座进行测试,操作简单,提高测试效率,同时解决了大密度印制电路板无法满足测试点布放要求的问题。
以上描述仅为本申请的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解,本申请中所涉及的发明范围,并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案,同时也应涵盖在不脱离所述发明构思的情况下,由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本申请中公开的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。

Claims (7)

1.一种基于自动检测设备的JTAG测试装置,其特征在于,包括:
印制电路板(1),所述印制电路板(1)上设有多个定位点(2);所述定位点(2)之间形成安装空间;
JTAG插座(3),所述JTAG插座(3)的数量为多个,且其设置在所述印制电路板(1)上;所述JTAG插座(3)通过带线插头(5)与相应的插头插接连接;
测试区域(4),设置在所述印制电路板(1)上,且其位于所述安装空间内;所述测试区域(4)具有多个测试点,且所述测试点与自动检测设备的探针对应设置。
2.根据权利要求1所述的一种基于自动检测设备的JTAG测试装置,其特征在于,所述印制电路板(1)上设有焊盘(6),所述焊盘(6)上开设有多个焊接孔,用于安装所述JTAG插座(3)。
3.根据权利要求2所述的一种基于自动检测设备的JTAG测试装置,其特征在于,所述测试区域(4)与所述焊盘(6)之间的间距为大于或等于5mm。
4.根据权利要求1所述的一种基于自动检测设备的JTAG测试装置,其特征在于,所述JTAG插座(3)包括:JTAG表贴插座和JTAG直插插座。
5.根据权利要求1所述的一种基于自动检测设备的JTAG测试装置,其特征在于,所述JTAG插座(3)的引脚与所述测试点一一对应设置。
6.根据权利要求1所述的一种基于自动检测设备的JTAG测试装置,其特征在于,所述测试点的中心孔距为大于等于2mm。
7.根据权利要求1所述的一种基于自动检测设备的JTAG测试装置,其特征在于,所述带线插头(5)为10针带线插头。
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