JPH03185600A - 多点測定装置 - Google Patents
多点測定装置Info
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- JPH03185600A JPH03185600A JP32462289A JP32462289A JPH03185600A JP H03185600 A JPH03185600 A JP H03185600A JP 32462289 A JP32462289 A JP 32462289A JP 32462289 A JP32462289 A JP 32462289A JP H03185600 A JPH03185600 A JP H03185600A
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 33
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
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- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、多点測定装置に関するものであり、詳しくは
、スキャナユニットを介して交流信号と直流信号を高精
度で選択的に測定できる多点測定装置に関するものであ
る。
、スキャナユニットを介して交流信号と直流信号を高精
度で選択的に測定できる多点測定装置に関するものであ
る。
〈従来の技術〉
第４図は、従来の多点測定装置の一例を示すブロック図
である６図において、入力端子Ｔ１〜Ｔ−に加えられる
多点の入力信号は選択的に駆動制御される複数のスイッ
チＳＷ、〜５ＷＴＬを含むスキャナユニット１を介して
選択的にゲイン可変型のアンプ２に加えられ、次段のＡ
／Ｄ変換器３の人力範囲に適合するレベル範囲の信号に
調整される。Ａ／Ｄ変換器３の出力データはインタフェ
ース４を介して演算制御部５に加えられる。また演算制
御部５は、インタフェース４を介してスキャナユニット
１．アンプ２およびＡ／Ｄ変換器３の動作を制御する。
である６図において、入力端子Ｔ１〜Ｔ−に加えられる
多点の入力信号は選択的に駆動制御される複数のスイッ
チＳＷ、〜５ＷＴＬを含むスキャナユニット１を介して
選択的にゲイン可変型のアンプ２に加えられ、次段のＡ
／Ｄ変換器３の人力範囲に適合するレベル範囲の信号に
調整される。Ａ／Ｄ変換器３の出力データはインタフェ
ース４を介して演算制御部５に加えられる。また演算制
御部５は、インタフェース４を介してスキャナユニット
１．アンプ２およびＡ／Ｄ変換器３の動作を制御する。
６はＡ／Ｄ変換器３の変換誤差を補正するための校正デ
ータが格納されている不揮発性のランダムアクセスメモ
リ（ＮＶＲＡＭ）であり、演算制御部５はこのメモリ６
に格納されている校正データに基づいてＡ／Ｄ変換器３
の出力データに対する補正演算を行う。
ータが格納されている不揮発性のランダムアクセスメモ
リ（ＮＶＲＡＭ）であり、演算制御部５はこのメモリ６
に格納されている校正データに基づいてＡ／Ｄ変換器３
の出力データに対する補正演算を行う。
〈発明が解決しようとする課題〉
しかし、従来のこのようなスキャナユニットに入力でき
る信号は直流電圧、熱電対（ＴＣ）の出力信号、測温抵
抗体（ＲＴＤ）の出力信号などの直流信号のみであり、
交流信号が測定できるようには考慮されていなかった。
る信号は直流電圧、熱電対（ＴＣ）の出力信号、測温抵
抗体（ＲＴＤ）の出力信号などの直流信号のみであり、
交流信号が測定できるようには考慮されていなかった。
本発明は、このような点に着目したものであり、その目
的は、直流信号だけではなく交流信号も高精度で測定で
きる多点測定装置を提供することにある。
的は、直流信号だけではなく交流信号も高精度で測定で
きる多点測定装置を提供することにある。
〈課題を解決するための手段〉
本発明の多点測定装置は、
スキャナユニットを介して交流信号およびＦｊＬ流信号
を選択的に測定する多点測定装置であって、交流信号を
直流信号に変換する変換回路と、この変換回路の校正デ
ータが格納されたメモリと、この変換回路から出力され
る直流信号を選択的に出力するスイッチを含むスキャナ
ユニットと、交流信号測定時には前記スイッチを選択的
にオンに駆動制御し、前記メモリに格納されている校正
データに基づいて前記変換回路から出力される直流信号
に対する補正演算を行う演算制御部、とで構成されたこ
とを特徴とする。
を選択的に測定する多点測定装置であって、交流信号を
直流信号に変換する変換回路と、この変換回路の校正デ
ータが格納されたメモリと、この変換回路から出力され
る直流信号を選択的に出力するスイッチを含むスキャナ
ユニットと、交流信号測定時には前記スイッチを選択的
にオンに駆動制御し、前記メモリに格納されている校正
データに基づいて前記変換回路から出力される直流信号
に対する補正演算を行う演算制御部、とで構成されたこ
とを特徴とする。
〈作用〉
スキャナユニットの入力端子に加えられる交流電流入力
は交流電圧に変換された後直流電圧に変換されてスイッ
チに加えられ、交流電圧入力は交流電流、交流電圧を経
て直流電圧に変換されてスイッチに加えられる。これら
交流信号が変換された直流信号はスキャナユニットの入
力端子から各スイッチに直接加えられる直流信号と同等
に扱われ、演算制御部によるスイッチの選択駆動制御に
従って選択的にＡ／Ｄ変換器に出力されてデジタル信号
に変換される。
は交流電圧に変換された後直流電圧に変換されてスイッ
チに加えられ、交流電圧入力は交流電流、交流電圧を経
て直流電圧に変換されてスイッチに加えられる。これら
交流信号が変換された直流信号はスキャナユニットの入
力端子から各スイッチに直接加えられる直流信号と同等
に扱われ、演算制御部によるスイッチの選択駆動制御に
従って選択的にＡ／Ｄ変換器に出力されてデジタル信号
に変換される。
交流信号測定時には、演算制御部はスイッチの選択駆動
制御に応じて交流電圧を直流電圧に変換する回路の校正
データをスキャナユニットに設けられているメモリから
読み出して変換誤差を補正するための演算を行う。
制御に応じて交流電圧を直流電圧に変換する回路の校正
データをスキャナユニットに設けられているメモリから
読み出して変換誤差を補正するための演算を行う。
また、演算制御部は、予めメモリに格納されている校正
データに基づいてＡ／Ｄ変換器の変換誤差の補正演算も
行う。
データに基づいてＡ／Ｄ変換器の変換誤差の補正演算も
行う。
〈実施例〉
以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図であり、第
４図と同等部分には同一符号を付けている６図において
、スキャナユニットｌの入力端子Ｔ１−１には交流電流
を交流電圧に変換する交流電流／電圧変換回路７．が接
続され、この交流電流／電圧変換回路７１には交流電圧
を直流電圧に変換する交流／直流変換図Ｆ！Ｍ１８．が
接続されている。交流／直流変換回路８．の出力端子は
スイッチ５ＷＴＬ−１に接続されている。また、入力端
子ＴＴＬとスイッチ５ＷＴＬの間には交流電流／電圧変
換図＃Ｉ７２と交流／直流変換回路８２が直列接続され
ている。そして、スキャナユニット１には、これら交！
／直流変換回Ｒ８１，８２の変換誤差を補正するための
校正データが格納された不揮発性のランダムアクセスメ
モリ（ＮＶＲＡＭ）９が設けられている。
４図と同等部分には同一符号を付けている６図において
、スキャナユニットｌの入力端子Ｔ１−１には交流電流
を交流電圧に変換する交流電流／電圧変換回路７．が接
続され、この交流電流／電圧変換回路７１には交流電圧
を直流電圧に変換する交流／直流変換図Ｆ！Ｍ１８．が
接続されている。交流／直流変換回路８．の出力端子は
スイッチ５ＷＴＬ−１に接続されている。また、入力端
子ＴＴＬとスイッチ５ＷＴＬの間には交流電流／電圧変
換図＃Ｉ７２と交流／直流変換回路８２が直列接続され
ている。そして、スキャナユニット１には、これら交！
／直流変換回Ｒ８１，８２の変換誤差を補正するための
校正データが格納された不揮発性のランダムアクセスメ
モリ（ＮＶＲＡＭ）９が設けられている。
第２図は、第１図で用いる交流電流／電圧変換回路７の
具体例を示す回路図である。交流電圧入力Ａ ＣＶ ｉ
ｒＬは抵抗Ｒ７で交流電流ＩＬｒＬに変換された後トラ
ンスＴの１次巻線に加えられる。トランスＴの２次巻線
には演算増幅器ＯＰ ＞が接続されていて、交流電流Ｉ
ｎ１ｌｔはこの演算増幅器ＯＰ１で交流電圧入力ＡＣ
ＶＱに変換される。なお、交流電流入力の場合には抵抗
Ｒ１を取り除くようにする。これにより、交流電流は交
流電圧に変換されることになる。
具体例を示す回路図である。交流電圧入力Ａ ＣＶ ｉ
ｒＬは抵抗Ｒ７で交流電流ＩＬｒＬに変換された後トラ
ンスＴの１次巻線に加えられる。トランスＴの２次巻線
には演算増幅器ＯＰ ＞が接続されていて、交流電流Ｉ
ｎ１ｌｔはこの演算増幅器ＯＰ１で交流電圧入力ＡＣ
ＶＱに変換される。なお、交流電流入力の場合には抵抗
Ｒ１を取り除くようにする。これにより、交流電流は交
流電圧に変換されることになる。
第３図は、第１図で用いる交流／ｌｉｔ：流変換回路８
の具体例を示す回路図である。交流電圧入力ｅ爪の一方
の入力端子は抵抗Ｒ３を介して演算増幅器ＯＰ２の反転
入力端子に接続されるとともに抵抗Ｒ４を介して演算増
幅器ＯＰ３の反転入力端子に接続されている。演算増幅
器ＯＰ２の反転入力端子にはダイオードＤ、のカソード
が接続され、出力端子にはダイオードＤ１のアノードお
よびダイオードＤ２のカソードが接続されている。ダイ
オードＤ１のカソードとダイオードＤ２のアノード間に
は抵抗Ｒ５が接続され、ダイオードＤ２のアノードと抵
抗Ｒ５の接続点は抵抗Ｒ６を介して演算増幅器ＯＰ３の
反転入力端子に接続されている。演算増幅器ＯＰ３の反
転入力端子と出力端子の間には抵抗Ｒ７が接続されてい
る。これら演算増幅器ＯＰ２．ＯＰ３の非反転入力端子
は共通電位点に接続されている。このような回路から出
力される全波整流電圧ｅＣｕＬを図示しないフィルタで
平滑化することにより、直流電圧を得ることができる。
の具体例を示す回路図である。交流電圧入力ｅ爪の一方
の入力端子は抵抗Ｒ３を介して演算増幅器ＯＰ２の反転
入力端子に接続されるとともに抵抗Ｒ４を介して演算増
幅器ＯＰ３の反転入力端子に接続されている。演算増幅
器ＯＰ２の反転入力端子にはダイオードＤ、のカソード
が接続され、出力端子にはダイオードＤ１のアノードお
よびダイオードＤ２のカソードが接続されている。ダイ
オードＤ１のカソードとダイオードＤ２のアノード間に
は抵抗Ｒ５が接続され、ダイオードＤ２のアノードと抵
抗Ｒ５の接続点は抵抗Ｒ６を介して演算増幅器ＯＰ３の
反転入力端子に接続されている。演算増幅器ＯＰ３の反
転入力端子と出力端子の間には抵抗Ｒ７が接続されてい
る。これら演算増幅器ＯＰ２．ＯＰ３の非反転入力端子
は共通電位点に接続されている。このような回路から出
力される全波整流電圧ｅＣｕＬを図示しないフィルタで
平滑化することにより、直流電圧を得ることができる。
このように構成される装置の動作を説明する。
スキャナユニット１のスイッチＳＷ１〜５ＷＴＬは演算
制御部５によりインタフェース４を介して選択的に駆動
制御され、入力端子Ｔ、〜１゛ｌに加えられるいずれか
の入力信号が選択的にアンプ２に加えられる。アンプ２
のゲインはスイッチＳＷ、〜Ｓ Ｗ ＴＬの切換に連動
して演算制御部５によりインタフェース４を介して所定
のゲインに設定される。
制御部５によりインタフェース４を介して選択的に駆動
制御され、入力端子Ｔ、〜１゛ｌに加えられるいずれか
の入力信号が選択的にアンプ２に加えられる。アンプ２
のゲインはスイッチＳＷ、〜Ｓ Ｗ ＴＬの切換に連動
して演算制御部５によりインタフェース４を介して所定
のゲインに設定される。
ここで、入力端子Ｔ、〜ＴＴＬに加えられる入力信号の
内から直流信号が選択された場合には、演算制御部５は
メモリ６に格納されている校正ブタに基づいてＡ／Ｄ変
換器３から出力される出力データに対してＡ／Ｄ変換誤
差を補正する演算を行う。
内から直流信号が選択された場合には、演算制御部５は
メモリ６に格納されている校正ブタに基づいてＡ／Ｄ変
換器３から出力される出力データに対してＡ／Ｄ変換誤
差を補正する演算を行う。
一方、入力端子Ｔ、〜′ｒＴＬに加えられる入力信号の
内から交流信号が選択された場合には、演算制御部５は
スキャナユニット１のメモリ９に格納されている校正デ
ータに基づいて交流／直流変換回路８の変換誤差を補正
する演算を行うとともに、メモリ６に格納されている校
正データに基づいてＡ／Ｄ変換器３から出力される出力
データに対するＡ／Ｄ変換誤差を補正する演算も行う。
内から交流信号が選択された場合には、演算制御部５は
スキャナユニット１のメモリ９に格納されている校正デ
ータに基づいて交流／直流変換回路８の変換誤差を補正
する演算を行うとともに、メモリ６に格納されている校
正データに基づいてＡ／Ｄ変換器３から出力される出力
データに対するＡ／Ｄ変換誤差を補正する演算も行う。
具体例について説明する。
例えば、校正データの零の基準カウントＺＲを０カウン
ト、フルスケールの基準カウントＰＲを２００００カウ
ントとする。そして、ある測定チャンネルを校正した場
合の交流／直流変換回路８の零の校正データＣＺＩは２
カウントでフルスケールの校正データＣＦＩは１８００
０カウント、Ａ／Ｄ変換器３の零の校正データＣＺ２は
５カウントでフルスケールの校正データＣＦ２は１９０
００カウントであり、そのチャンネルでのＡ／Ｄ変換器
３の出力データＭＶが１００００カウントとすると、演
算制御部５はこれらの校正データに基づいて、 ［（ＭＶ−Ｃ２０） ｘ （ＦＲ／ＣＦ２）−ＣＺ１］
ｘ （ＦＲ／ＣＦ１）＝ＴＶの演算を行い、ＴＶ・１
１６８８の真の値を得る。この場合、フルスケールを２
５０ｖとすると、真の測定値は、 ２５０ｘ （１１６Ｊ］８／２００００）：１４６．１
（Ｖ）になる。
ト、フルスケールの基準カウントＰＲを２００００カウ
ントとする。そして、ある測定チャンネルを校正した場
合の交流／直流変換回路８の零の校正データＣＺＩは２
カウントでフルスケールの校正データＣＦＩは１８００
０カウント、Ａ／Ｄ変換器３の零の校正データＣＺ２は
５カウントでフルスケールの校正データＣＦ２は１９０
００カウントであり、そのチャンネルでのＡ／Ｄ変換器
３の出力データＭＶが１００００カウントとすると、演
算制御部５はこれらの校正データに基づいて、 ［（ＭＶ−Ｃ２０） ｘ （ＦＲ／ＣＦ２）−ＣＺ１］
ｘ （ＦＲ／ＣＦ１）＝ＴＶの演算を行い、ＴＶ・１
１６８８の真の値を得る。この場合、フルスケールを２
５０ｖとすると、真の測定値は、 ２５０ｘ （１１６Ｊ］８／２００００）：１４６．１
（Ｖ）になる。
このような構成によれば、スキャナユニット１と演算制
御部５のプログラムを変更することにより、例えば１枚
のプリント基板に実装された１個のスキャナユニットで
交流信号と直ｍ １ｇ号の混在測定が可能になる。そし
て、交流／直流変換回路が実装された各スキャナユニッ
トには各交流／直流変換回路の校正データが格納された
メモリも実装されているので、スキャナユニットが着脱
可能な機種相互間ではスキャナユニットを挿入するだけ
で改めて交流／直流変換部の校正を行うことなく自動的
に全損誤差の補正演算を行うことができる。
御部５のプログラムを変更することにより、例えば１枚
のプリント基板に実装された１個のスキャナユニットで
交流信号と直ｍ １ｇ号の混在測定が可能になる。そし
て、交流／直流変換回路が実装された各スキャナユニッ
トには各交流／直流変換回路の校正データが格納された
メモリも実装されているので、スキャナユニットが着脱
可能な機種相互間ではスキャナユニットを挿入するだけ
で改めて交流／直流変換部の校正を行うことなく自動的
に全損誤差の補正演算を行うことができる。
なお、上記実施例では、交流電流入力および交流電圧入
力がそれぞれ１チヤンネルの例を説明したが、用途に応
じて増減ずればよく、１チヤンネルに限るものではない
。
力がそれぞれ１チヤンネルの例を説明したが、用途に応
じて増減ずればよく、１チヤンネルに限るものではない
。
〈発明の効果〉
以上説明したように、本発明によれば、直流信号だけで
はなく交流信号も高精度で測定できる多点測定装置が実
現できる。
はなく交流信号も高精度で測定できる多点測定装置が実
現できる。
論１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図は
第１図で用いる交流電流／電圧変換回路の具体例を示す
回路図、第３図は第１図で用いる交流／直流変換回路の
具体例を示す回路図、第４図は従来の装置の一例を示す
ブロック図である。 １・・・スキャナユニット、２・・・アンプ、３・・・
Ａ／Ｄ変換器、４・・・インタフェース、５・・・演算
制御部、６ ９・・・不揮発性ランダムアクセスメモリ（ＮＶ ＲＡＭ） ７・・・交流電流／１圧変換回路、 ８・・・交
第１図で用いる交流電流／電圧変換回路の具体例を示す
回路図、第３図は第１図で用いる交流／直流変換回路の
具体例を示す回路図、第４図は従来の装置の一例を示す
ブロック図である。 １・・・スキャナユニット、２・・・アンプ、３・・・
Ａ／Ｄ変換器、４・・・インタフェース、５・・・演算
制御部、６ ９・・・不揮発性ランダムアクセスメモリ（ＮＶ ＲＡＭ） ７・・・交流電流／１圧変換回路、 ８・・・交
Claims (1)
- スキャナユニットを介して交流信号および直流信号を選
択的に測定する多点測定装置であって、交流信号を直流
信号に変換する変換回路と、この変換回路の校正データ
が格納されたメモリと、この変換回路から出力される直
流信号を選択的に出力するスイッチを含むスキャナユニ
ットと、交流信号測定時には前記スイッチを選択的にオ
ンに駆動制御し、前記メモリに格納されている校正デー
タに基づいて前記変換回路から出力される直流信号に対
する補正演算を行う演算制御部、とで構成されたことを
特徴とする多点測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1324622A JP2626100B2 (ja) | 1989-12-14 | 1989-12-14 | 多点測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1324622A JP2626100B2 (ja) | 1989-12-14 | 1989-12-14 | 多点測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03185600A true JPH03185600A (ja) | 1991-08-13 |
| JP2626100B2 JP2626100B2 (ja) | 1997-07-02 |
Family
ID=18167874
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1324622A Expired - Fee Related JP2626100B2 (ja) | 1989-12-14 | 1989-12-14 | 多点測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2626100B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0567292A (ja) * | 1991-09-10 | 1993-03-19 | Fujitsu Ltd | 計測値補正方式 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5177263A (ja) * | 1974-12-27 | 1976-07-05 | Hitachi Ltd | Tatendeetasokuteihoho |
| JPS5313941A (en) * | 1976-07-23 | 1978-02-08 | Chino Works Ltd | Data collecting device |
| JPS59135600A (ja) * | 1983-01-24 | 1984-08-03 | 株式会社東芝 | プロセス信号の処理装置 |
-
1989
- 1989-12-14 JP JP1324622A patent/JP2626100B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5177263A (ja) * | 1974-12-27 | 1976-07-05 | Hitachi Ltd | Tatendeetasokuteihoho |
| JPS5313941A (en) * | 1976-07-23 | 1978-02-08 | Chino Works Ltd | Data collecting device |
| JPS59135600A (ja) * | 1983-01-24 | 1984-08-03 | 株式会社東芝 | プロセス信号の処理装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0567292A (ja) * | 1991-09-10 | 1993-03-19 | Fujitsu Ltd | 計測値補正方式 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2626100B2 (ja) | 1997-07-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |