JPH0317492Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0317492Y2 JPH0317492Y2 JP1984019552U JP1955284U JPH0317492Y2 JP H0317492 Y2 JPH0317492 Y2 JP H0317492Y2 JP 1984019552 U JP1984019552 U JP 1984019552U JP 1955284 U JP1955284 U JP 1955284U JP H0317492 Y2 JPH0317492 Y2 JP H0317492Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- light emitting
- receiving element
- receiving
- section
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000007175 bidirectional communication Effects 0.000 description 2
- 230000006854 communication Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Communication System (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(イ) 考案の分野
この考案は、発光部と受光部が一体的に形成さ
れる発光受光素子の検査装置に関する。
れる発光受光素子の検査装置に関する。
(ロ) 考案の背景
一般に、光フアイバを用いた光通信において、
発光及び受光の両機能をもつた発光受光素子を用
いて、1本の光フアイバで双方向通信を行う方式
は、簡易で経済的なシステムを実現できるという
利点がある。そのため、近年この種の通信方式が
検討され、開発されている。
発光及び受光の両機能をもつた発光受光素子を用
いて、1本の光フアイバで双方向通信を行う方式
は、簡易で経済的なシステムを実現できるという
利点がある。そのため、近年この種の通信方式が
検討され、開発されている。
この単線双方向通信に使用される発光受光素子
としては、例えば第1図に示すものがすでに提案
されている(実願昭57−62541号)。ここに示す発
光受光素子1は、分離溝13をはさんで発光ダイ
オード部(発光部)11とホトダイオード部(受
光部)12とから構成されている。
としては、例えば第1図に示すものがすでに提案
されている(実願昭57−62541号)。ここに示す発
光受光素子1は、分離溝13をはさんで発光ダイ
オード部(発光部)11とホトダイオード部(受
光部)12とから構成されている。
第1図において、2はn+−GaAs基板、3はn-
−GaAs層、4はp−GaAs層、5はn−
Ga0.7Al0.3As層、6はp−Ga0.95Al0.05Asの活
性層、7はp−Ga0.7Al0.3As層、8はカソード
電極、9は発光ダイオード部11のアノード電
極、10はホトダイオード部12のアノード電極
である。この発光受光素子1自体は、上記したよ
うにすでに出願済であるから詳細説明は省略す
る。
−GaAs層、4はp−GaAs層、5はn−
Ga0.7Al0.3As層、6はp−Ga0.95Al0.05Asの活
性層、7はp−Ga0.7Al0.3As層、8はカソード
電極、9は発光ダイオード部11のアノード電
極、10はホトダイオード部12のアノード電極
である。この発光受光素子1自体は、上記したよ
うにすでに出願済であるから詳細説明は省略す
る。
上記発光受光素子を検査するのに、従来は、発
光ダイオード部とホトダイオード部を別々に行つ
ていた。すなわち、発光ダイオード部11を検査
するときは、第2図に示すように、発光ダイオー
ド部11のアノード電極9とカソード電極8間に
駆動電源14を接続し、順電流ILを発光ダイオ
ード部11に流し、放射光aのパワーを光パワー
メータ15等の外部装置でモニタし、ホトダイオ
ード部12を検査するときは、第3図に示すよう
に、外部光源16からの光bをホトダイオード部
12に入射させ、そのときの出力電流IPを電流
計17でモニタするか、第4図に示すように、や
はり外部光源16からの光bをホトダイオード部
12に入射させ、その出力電流IPを負荷抵抗RL
に流し、その両端電圧を電圧計18でモニタして
いた。
光ダイオード部とホトダイオード部を別々に行つ
ていた。すなわち、発光ダイオード部11を検査
するときは、第2図に示すように、発光ダイオー
ド部11のアノード電極9とカソード電極8間に
駆動電源14を接続し、順電流ILを発光ダイオ
ード部11に流し、放射光aのパワーを光パワー
メータ15等の外部装置でモニタし、ホトダイオ
ード部12を検査するときは、第3図に示すよう
に、外部光源16からの光bをホトダイオード部
12に入射させ、そのときの出力電流IPを電流
計17でモニタするか、第4図に示すように、や
はり外部光源16からの光bをホトダイオード部
12に入射させ、その出力電流IPを負荷抵抗RL
に流し、その両端電圧を電圧計18でモニタして
いた。
しかしながら、このような検査方法では、発光
部と受光部を別々に検査するものであるから、検
査に時間がかかる上、検査作業も面倒であり、ま
た検査のために多くの装置を必要とする欠点があ
つた。
部と受光部を別々に検査するものであるから、検
査に時間がかかる上、検査作業も面倒であり、ま
た検査のために多くの装置を必要とする欠点があ
つた。
(ハ) 考案の目的
この考案の目的は、上記に鑑み、短時間で、面
倒な作業を要せずに発光受光素子の良否判断検査
がなせる、しかも簡単な構成で実現し得る発光受
光素子の検査装置を提供することである。
倒な作業を要せずに発光受光素子の良否判断検査
がなせる、しかも簡単な構成で実現し得る発光受
光素子の検査装置を提供することである。
(ニ) 考案の構成と効果
上記目的を達成するために、この考案は、発光
部の発光パワーを受光部で受光して信号導出し、
同時に発光部と受光部を検査するようにしてい
る。すなわち、この考案の発光受光素子の検査装
置は、発光部と受光部が一体的に形成される発光
受光素子と、前記発光部を発光させるための駆動
源と、前記発光部の発光に応答してその光が前記
受光部で受光されると受光量に応じた電気信号を
導出する手段と、この電気信号量に応じて前記発
光受光素子の良否を検査する手段とから構成され
ている。
部の発光パワーを受光部で受光して信号導出し、
同時に発光部と受光部を検査するようにしてい
る。すなわち、この考案の発光受光素子の検査装
置は、発光部と受光部が一体的に形成される発光
受光素子と、前記発光部を発光させるための駆動
源と、前記発光部の発光に応答してその光が前記
受光部で受光されると受光量に応じた電気信号を
導出する手段と、この電気信号量に応じて前記発
光受光素子の良否を検査する手段とから構成され
ている。
この考案によれば、発光部と受光部を同時に検
査しているので、短時間に、かつ簡単な作業で検
査を行うことができる。また、光パワーメータや
外部光源が不要であるから、検査の為に多くの装
置を必要としないという利点がある。
査しているので、短時間に、かつ簡単な作業で検
査を行うことができる。また、光パワーメータや
外部光源が不要であるから、検査の為に多くの装
置を必要としないという利点がある。
(ホ) 実施例の説明
以下、実施例により、この考案をさらに詳細に
説明する。
説明する。
第5図は、この考案の1実施例を示す検査装置
の接続図である。同図において、発光受光素子1
は、第1図に示したものと同構造のものである。
20は発光ダイオード部11を発光させるための
駆動電源であり、アノード電極9とカソード電極
8間に接続されている。21は電流計であつて、
ホトダイオード部12のアノード電極10とカソ
ード電極8間に接続されている。
の接続図である。同図において、発光受光素子1
は、第1図に示したものと同構造のものである。
20は発光ダイオード部11を発光させるための
駆動電源であり、アノード電極9とカソード電極
8間に接続されている。21は電流計であつて、
ホトダイオード部12のアノード電極10とカソ
ード電極8間に接続されている。
この検査装置において、駆動電源20より発光
ダイオード部11に順電流ILを流すと、この発
光ダイオード部11の発光源(活性層6)から四
方発光に光Cが放射される。この光が、発光ダイ
オード部11に近接して一体的に形成されている
ホトダイオード部12にも受光される。そして、
ホトダイオード部12に受光電流IPが流れる。
この場合、ホトダイオード部12は逆バイアス電
圧が印加されていないが、光により電子−正孔対
が発生し、受光電流が流れる。受光電流IPに応
じて電流計21が振れる。
ダイオード部11に順電流ILを流すと、この発
光ダイオード部11の発光源(活性層6)から四
方発光に光Cが放射される。この光が、発光ダイ
オード部11に近接して一体的に形成されている
ホトダイオード部12にも受光される。そして、
ホトダイオード部12に受光電流IPが流れる。
この場合、ホトダイオード部12は逆バイアス電
圧が印加されていないが、光により電子−正孔対
が発生し、受光電流が流れる。受光電流IPに応
じて電流計21が振れる。
もし、発光ダイオード部11が故障していれ
ば、ホトダイオード部12に光が入らないので、
電流計21には電流が流れないし、逆に発光ダイ
オード部11が正常であつても、ホトダイオード
部12に故障があれば、やはり電流計21には電
流が流れない。発光ダイオード部11、ホトダイ
オード部12の双方に故障がない場合にのみ、電
流計21に所定の電流が流れる。したがつて、電
流計21の振れにより、発光受光素子1の良否を
検査することができる。
ば、ホトダイオード部12に光が入らないので、
電流計21には電流が流れないし、逆に発光ダイ
オード部11が正常であつても、ホトダイオード
部12に故障があれば、やはり電流計21には電
流が流れない。発光ダイオード部11、ホトダイ
オード部12の双方に故障がない場合にのみ、電
流計21に所定の電流が流れる。したがつて、電
流計21の振れにより、発光受光素子1の良否を
検査することができる。
上記実施例において、電流計21に代えて負荷
抵抗を接続し、この負荷抵抗に並列に電圧計を接
続してもよい。
抵抗を接続し、この負荷抵抗に並列に電圧計を接
続してもよい。
第6図は、この考案の他の実施例を示すブロツ
ク図である。この実施例は、この考案を光送受信
装置に適用したものであり、発光受光素子が伝送
装置に一体的に組込まれており、直接受光部から
の出力電流をモニタできない場合に、この実施例
が有効となる。同図において、31は第1図の発
光受光素子1をシンボル表現したものであり、
LEDは発光ダイオード、PDはホトダイオード、
32は共通カソード、33は発光ダイオード
LEDのアノード、34はホトダイオードPDのア
ノードである。35は送受切替信号SWに応じ
て、カソード32の電位を切替える切替回路であ
つて、送信の際は送受切替信号SWが例えばロー
で入力され、カソード32を低電位に、受信の際
は送受切替信号SWが例えばハイで入力され、カ
ソード32を高電位とするようになつている。
ク図である。この実施例は、この考案を光送受信
装置に適用したものであり、発光受光素子が伝送
装置に一体的に組込まれており、直接受光部から
の出力電流をモニタできない場合に、この実施例
が有効となる。同図において、31は第1図の発
光受光素子1をシンボル表現したものであり、
LEDは発光ダイオード、PDはホトダイオード、
32は共通カソード、33は発光ダイオード
LEDのアノード、34はホトダイオードPDのア
ノードである。35は送受切替信号SWに応じ
て、カソード32の電位を切替える切替回路であ
つて、送信の際は送受切替信号SWが例えばロー
で入力され、カソード32を低電位に、受信の際
は送受切替信号SWが例えばハイで入力され、カ
ソード32を高電位とするようになつている。
36は送信信号TSに応じて、発光ダイオード
LEDを発光させるための駆動回路、37はホト
ダイオードPDからの受信信号を増幅するための
増幅器、38は増幅器37からの出力を二値化パ
ルスに波形整形して、二値化された受信信号RS
を導出するコンパレータである。
LEDを発光させるための駆動回路、37はホト
ダイオードPDからの受信信号を増幅するための
増幅器、38は増幅器37からの出力を二値化パ
ルスに波形整形して、二値化された受信信号RS
を導出するコンパレータである。
この送受信装置において、発光受光素子31の
検査を行う場合は、送受切替信号SWをローと
し、送信モードとし送信信号TSとして“0”、
“1”の信号を交互に入力し、発光ダイオード部
LEDに断続的に電流を流す。そしてコンパレー
タ38の出力信号RSの状況を調べる。もし発光
ダイオードLEDあるいはホトダイオードPDのい
ずれかに故障があれば、出力信号RSが導出され
ないし、発光ダイオードLED及びホトダイオー
ドPDがともに正常の場合には、出力信号RSが導
出される。したがつて、コンパレータ38の出力
信号RSをモニタすることにより、発光受光素子
31の良否を検査することができる。
検査を行う場合は、送受切替信号SWをローと
し、送信モードとし送信信号TSとして“0”、
“1”の信号を交互に入力し、発光ダイオード部
LEDに断続的に電流を流す。そしてコンパレー
タ38の出力信号RSの状況を調べる。もし発光
ダイオードLEDあるいはホトダイオードPDのい
ずれかに故障があれば、出力信号RSが導出され
ないし、発光ダイオードLED及びホトダイオー
ドPDがともに正常の場合には、出力信号RSが導
出される。したがつて、コンパレータ38の出力
信号RSをモニタすることにより、発光受光素子
31の良否を検査することができる。
第1図は発光部と受光部が一体的に形成される
発光受光素子の断面図、第2図は同発光受光素子
の従来の発光部の検査方法を示す図、第3図、第
4図は同発光受光素子の受光部の検査方法を示す
図、第5図はこの考案の一実施例を示す発光受光
素子の検査装置の接続図、第6図はこの考案の他
の実施例を示す送受信装置のブロツク図である。 1,31……発光受光素子、11……発光ダイ
オード部、12……ホトダイオード部、20……
駆動電源、21……電流計、37……増幅器、3
8……コンパレータ。
発光受光素子の断面図、第2図は同発光受光素子
の従来の発光部の検査方法を示す図、第3図、第
4図は同発光受光素子の受光部の検査方法を示す
図、第5図はこの考案の一実施例を示す発光受光
素子の検査装置の接続図、第6図はこの考案の他
の実施例を示す送受信装置のブロツク図である。 1,31……発光受光素子、11……発光ダイ
オード部、12……ホトダイオード部、20……
駆動電源、21……電流計、37……増幅器、3
8……コンパレータ。
Claims (1)
- 発光部と受光部が一体的に形成される発光受光
素子と、前記発光部を発光させるための駆動源
と、前記発光部の発光に応答してその光が前記受
光部で受光されると受光量に応じた電気信号を導
出する手段と、この電気信号量に応じて前記発光
受光素子の良否を検査する手段とからなる発光受
光素子の検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1984019552U JPS60132055U (ja) | 1984-02-13 | 1984-02-13 | 発光受光素子の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1984019552U JPS60132055U (ja) | 1984-02-13 | 1984-02-13 | 発光受光素子の検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60132055U JPS60132055U (ja) | 1985-09-04 |
JPH0317492Y2 true JPH0317492Y2 (ja) | 1991-04-12 |
Family
ID=30509231
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1984019552U Granted JPS60132055U (ja) | 1984-02-13 | 1984-02-13 | 発光受光素子の検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60132055U (ja) |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5566460U (ja) * | 1978-10-31 | 1980-05-08 | ||
JPS58133947U (ja) * | 1982-03-04 | 1983-09-09 | オムロン株式会社 | 半導体素子 |
-
1984
- 1984-02-13 JP JP1984019552U patent/JPS60132055U/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS60132055U (ja) | 1985-09-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH04139850A (ja) | 半導体集積回路装置及びその検査方法 | |
JPH0317492Y2 (ja) | ||
KR20010005773A (ko) | 광전기 변환 집적회로장치 | |
US5164581A (en) | Concentric photoelectric light-receiving element | |
EP1014098B1 (en) | Direct current meter with passive input and galvanic insulation, particularly for high voltage | |
JPH0610277Y2 (ja) | 光ファイバケ−ブル試験装置 | |
CN210243759U (zh) | Led控制器电磁兼容测试系统 | |
CN113324739A (zh) | 一种带点对点多光通路光学部件的MiniLED检测设备的使用方法 | |
JPS6025244A (ja) | 半導体評価用装置 | |
JPS6096040A (ja) | 光伝送装置の故障診断方式 | |
JPH09113411A (ja) | 受光装置 | |
JP2003142707A (ja) | 太陽電池並列アレイの接続確認方法 | |
SU1180801A1 (ru) | Устройство дл измерени тока | |
JPH03179789A (ja) | アラーム回路 | |
JP2697319B2 (ja) | 受光素子アレイ | |
JPH0736443Y2 (ja) | 地絡検出用光変流器 | |
JPS58100739A (ja) | オイル劣化検出装置 | |
JPH0262171B2 (ja) | ||
JPS60155980A (ja) | 波形観測用プロ−ブ | |
JPS6093822A (ja) | 競売回路 | |
JPH0786902A (ja) | 半導体フォト・カプラ | |
JPS6224732A (ja) | 光送信器 | |
JPH0330914B2 (ja) | ||
JPH08254551A (ja) | 光変流器 | |
CN85105916A (zh) | 检测颜色变异的仪器 |