JPS6096040A - 光伝送装置の故障診断方式 - Google Patents
光伝送装置の故障診断方式Info
- Publication number
- JPS6096040A JPS6096040A JP58202567A JP20256783A JPS6096040A JP S6096040 A JPS6096040 A JP S6096040A JP 58202567 A JP58202567 A JP 58202567A JP 20256783 A JP20256783 A JP 20256783A JP S6096040 A JPS6096040 A JP S6096040A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light emitting
- emitting element
- optical
- pulse signal
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は送電線の故障点に発生するサージ、あるいは
雷サージなど観測地点におい℃発生した所定事象の検出
のために用いられる光伝送装置の故障診断方式に関する
。
雷サージなど観測地点におい℃発生した所定事象の検出
のために用いられる光伝送装置の故障診断方式に関する
。
従来のこの種装置は第１図に示すように構成されていた
。
。
第１図において１分圧抵抗ｒｉ ｅｒｔ、を流制限抵抗
ｒ、および発光素子１はサージ観測地点の適宜箇所に配
されるものであり、入力端子工を介して所定量以上のサ
ージ電流が流れたときに発光素子１が発光する。該発光
素子１で発光した光は光ファイバ２を経由して監視局３
の受光素子４で受光される。該受光された光は受光素子
４で電気信号に変換された後、光受信器５で増幅され出
力端子Ｐから出力される。この出力信号の波形、レベル
等を観測することにより観測地点に発生したサージを検
出する。
ｒ、および発光素子１はサージ観測地点の適宜箇所に配
されるものであり、入力端子工を介して所定量以上のサ
ージ電流が流れたときに発光素子１が発光する。該発光
素子１で発光した光は光ファイバ２を経由して監視局３
の受光素子４で受光される。該受光された光は受光素子
４で電気信号に変換された後、光受信器５で増幅され出
力端子Ｐから出力される。この出力信号の波形、レベル
等を観測することにより観測地点に発生したサージを検
出する。
上述の構成の他に従来はパルス発生回路６と比較回路７
とが具えられており、これらの構成で光受信器５の故障
をチェックするようにしていた。
とが具えられており、これらの構成で光受信器５の故障
をチェックするようにしていた。
すなわち、パルス発生回路６は任意の時点あるいは周期
的に電気パルス信号を発生し、このパルス信号の直接出
力と光受信器５を介した信号とを比較回路７に入力し、
比較回路２では両信号の波形の比較を行なう。これらの
波形が大きく異なる場合に光受信器５の故障を知ること
ができる。
的に電気パルス信号を発生し、このパルス信号の直接出
力と光受信器５を介した信号とを比較回路７に入力し、
比較回路２では両信号の波形の比較を行なう。これらの
波形が大きく異なる場合に光受信器５の故障を知ること
ができる。
上記従来方式では光受信器５の電気回路部分の故障しか
点検することができないために１本来故障確率の多い発
光素子１．光ファイバ２および受光素子４は点検対象か
ら外され、監視の盲点となる不都合があった。
点検することができないために１本来故障確率の多い発
光素子１．光ファイバ２および受光素子４は点検対象か
ら外され、監視の盲点となる不都合があった。
この発明は上記欠点を除去し、構成要素の全ての部分を
点検対象とすることにより信頼性が高くかつ確実な監視
を行なうことがで、きる光伝送装置の故障診断方式を提
供することを目的とする。
点検対象とすることにより信頼性が高くかつ確実な監視
を行なうことがで、きる光伝送装置の故障診断方式を提
供することを目的とする。
〔発明の概要〕□
この発明では、観測地点（［ｌｉに、光ファイバを介し
て光信号を受光した場合に前記発ｔｅ素子に順バイアス
電圧を印加して該発光素子を発光させるバイアス回路を
具え、前記監視局側に、故障診断用のパルス信号を発生
するパルス発生回路と、該パルス発生回路から発生され
たパルス信号を光パルス信号に変換する発光素子とを具
え、前記パルス発生回路から発生された直後のパルス信
号と、前記パルス発生回路から発生したパルス信号が前
記監視局の発光素子、光ファイバを経て観測地点側に伝
送され、さらに前記バイアス回路、観測地点側の発光素
子、光ファイバを経て監視局の受光素子に受光された後
の信号とを伝送遅延時間を含めた上で比較することによ
り前記光伝送装置の故障診断を行グ。うようにしている
。これにより、故−診断用のパルス信号は光伝送装置の
全ての構成部分を経由した後比較器に入力されることに
なり。
て光信号を受光した場合に前記発ｔｅ素子に順バイアス
電圧を印加して該発光素子を発光させるバイアス回路を
具え、前記監視局側に、故障診断用のパルス信号を発生
するパルス発生回路と、該パルス発生回路から発生され
たパルス信号を光パルス信号に変換する発光素子とを具
え、前記パルス発生回路から発生された直後のパルス信
号と、前記パルス発生回路から発生したパルス信号が前
記監視局の発光素子、光ファイバを経て観測地点側に伝
送され、さらに前記バイアス回路、観測地点側の発光素
子、光ファイバを経て監視局の受光素子に受光された後
の信号とを伝送遅延時間を含めた上で比較することによ
り前記光伝送装置の故障診断を行グ。うようにしている
。これにより、故−診断用のパルス信号は光伝送装置の
全ての構成部分を経由した後比較器に入力されることに
なり。
完全かつ信頼性の高い故障診断が可能となる。
以下１本発明を第２図に示す実施例にしたがって詳細に
説明する。
説明する。
第２図において、８はスイッチ、９はＬ Ｅ Ｄなどの
発光素子、１０は発光素子９の駆動回路、１１は光ファ
イバー、１２はフォトトランジスタ、 １３はチョーク
コイル、１４はバイアス抵抗であり、他の構成幾累は第
１１図に示したものと同じであり、同一符号を付してい
る。
発光素子、１０は発光素子９の駆動回路、１１は光ファ
イバー、１２はフォトトランジスタ、 １３はチョーク
コイル、１４はバイアス抵抗であり、他の構成幾累は第
１１図に示したものと同じであり、同一符号を付してい
る。
監視局３に設けられたスイッチ８は故障診断時にパルス
発生回路６から出力されるパルス信号を光受信器５に導
くかあるいは駆動回路１ｏに導くかを切換えるためのも
のである。
発生回路６から出力されるパルス信号を光受信器５に導
くかあるいは駆動回路１ｏに導くかを切換えるためのも
のである。
観測地点側に設けられたフォトトランジスタ１２は光フ
ァイバ１１からの元パルスを受光したときに光電流が流
れ、これにより発光素子１に順方向電流を流す。なお、
チョークコイル１３ハフオドトランジスタ１２に逆電流
が流れることを防止するためのものであり、またバイア
ス抵抗１４によってバイアス電流量が決定される。
ァイバ１１からの元パルスを受光したときに光電流が流
れ、これにより発光素子１に順方向電流を流す。なお、
チョークコイル１３ハフオドトランジスタ１２に逆電流
が流れることを防止するためのものであり、またバイア
ス抵抗１４によってバイアス電流量が決定される。
次に上記実施例の全体的動作を説明する。
通常のサージ検出動作は前述と同様であり、入力端子Ｉ
を介して所定量以上のサージ電流が流れたときに発光素
子１が発光し、この光は光ファイバ２を経由して監視局
３の受光素子４で受光される。該受光された信号は光受
信器５で増幅された後端子Ｐから出力され、波形、信号
レベル等が観測される。
を介して所定量以上のサージ電流が流れたときに発光素
子１が発光し、この光は光ファイバ２を経由して監視局
３の受光素子４で受光される。該受光された信号は光受
信器５で増幅された後端子Ｐから出力され、波形、信号
レベル等が観測される。
次に、周期的あるいは任意の時点におこなわれる故障点
検動作であるが、まず、スイッチ８の接点を駆動回路１
０側に接続した状態で、パルス発生回路６は点検用のパ
ルス信号を発生する。このパルス信号はスイッチ８を介
して駆動回路１０に入力されるとともに比較回路７に入
力される。駆動回路１０に入力されたパルス信号は駆動
回路１ｏおよび発光素子９によって電気信号から光信号
に変換され、その後光ファイバ１１を経由してフォトト
ランジスタ１２で受光される。この光パルス信号の受光
によってフォトトランジスタ１２はオンとなり、発光素
子１に順電流が流れる。この順電流が流れている開発光
素子１は発光し、この光パルス信号は光ファイバ２を経
由して受光素子４で受光される。
検動作であるが、まず、スイッチ８の接点を駆動回路１
０側に接続した状態で、パルス発生回路６は点検用のパ
ルス信号を発生する。このパルス信号はスイッチ８を介
して駆動回路１０に入力されるとともに比較回路７に入
力される。駆動回路１０に入力されたパルス信号は駆動
回路１ｏおよび発光素子９によって電気信号から光信号
に変換され、その後光ファイバ１１を経由してフォトト
ランジスタ１２で受光される。この光パルス信号の受光
によってフォトトランジスタ１２はオンとなり、発光素
子１に順電流が流れる。この順電流が流れている開発光
素子１は発光し、この光パルス信号は光ファイバ２を経
由して受光素子４で受光される。
該受光された光パルス信号は受光素子４で磁気信号に変
換された後、光受信器５を介することによって比較回路
７に入力される。この時点で、比較回路７の他方の入力
には前述したようにパルス発生回路６の直接出力が既に
入力されており、比較回路７は光受信器５から入力され
た信号の伝送遅延時間をさし引いたうえで、両信号のパ
ルス幅、波高値など波形を比較する。そして両信号の波
形が一致した場合は光伝送装置の各部に異常がないと判
定し、また両信号の波形が一致しない場合には発光素子
１、光ファイバー２、受光素子４および光受売器５のい
ずれかに障害が発生したと判定する。
換された後、光受信器５を介することによって比較回路
７に入力される。この時点で、比較回路７の他方の入力
には前述したようにパルス発生回路６の直接出力が既に
入力されており、比較回路７は光受信器５から入力され
た信号の伝送遅延時間をさし引いたうえで、両信号のパ
ルス幅、波高値など波形を比較する。そして両信号の波
形が一致した場合は光伝送装置の各部に異常がないと判
定し、また両信号の波形が一致しない場合には発光素子
１、光ファイバー２、受光素子４および光受売器５のい
ずれかに障害が発生したと判定する。
ところで、この実施例ではスイッチ８の接点を光受信器
５側に切替えた状態でパルス発生回路６よりパルス信号
を発生するようにすれば、第１図に示した従来方式と同
様に光受信器５の障害のみを検出することができる。し
たがって、スイッチ８を駆動回路１０側に接続して発光
素子１、光ファイバ２、受光素子４および光受信器５の
総括的な故障検出を行なう前述の動作と、スイッチ８を
光受信器５側に接続して光受信器５の故障検出を行なう
動作とを組合わせて検出を行なうようにすれば、故障箇
所がツ０受信器５であるか、あるいはそれ以外の部分で
あるかを的確に判別することができる。
５側に切替えた状態でパルス発生回路６よりパルス信号
を発生するようにすれば、第１図に示した従来方式と同
様に光受信器５の障害のみを検出することができる。し
たがって、スイッチ８を駆動回路１０側に接続して発光
素子１、光ファイバ２、受光素子４および光受信器５の
総括的な故障検出を行なう前述の動作と、スイッチ８を
光受信器５側に接続して光受信器５の故障検出を行なう
動作とを組合わせて検出を行なうようにすれば、故障箇
所がツ０受信器５であるか、あるいはそれ以外の部分で
あるかを的確に判別することができる。
かかる本実施例方式によれば、回路部分および光ファイ
バの本数が若干増加するようになるが、従来監視の盲点
となっていた発光素子１、光ファイバ２および受光素子
４の部分をも含めたうえで、光伝送装置を構成する全て
の部分の故障を確実に検出することができ、これにより
偶発的にサージが発生するようなシステムの信頼性を大
幅に向上させることができる。
バの本数が若干増加するようになるが、従来監視の盲点
となっていた発光素子１、光ファイバ２および受光素子
４の部分をも含めたうえで、光伝送装置を構成する全て
の部分の故障を確実に検出することができ、これにより
偶発的にサージが発生するようなシステムの信頼性を大
幅に向上させることができる。
なお、上記実施例では観測信号伝送路として用いられる
光ファイバ２の他に別のファイバ１１を設けて本発明を
実現するようにしたが、不発明はこれに限るわけではな
い。例えば１本の元ファイバを用いて双方向に信号を伝
送するように構成してもよいし、１観測地点、に複数の
観測対象がある場合などには複数の発光素子をスターカ
プラ結合し、光フアイバ本線を削減するようにしてもよ
い。
光ファイバ２の他に別のファイバ１１を設けて本発明を
実現するようにしたが、不発明はこれに限るわけではな
い。例えば１本の元ファイバを用いて双方向に信号を伝
送するように構成してもよいし、１観測地点、に複数の
観測対象がある場合などには複数の発光素子をスターカ
プラ結合し、光フアイバ本線を削減するようにしてもよ
い。
また、上記実施例では観測地点における観測対象を送電
線のサージ、あるいは雷サージとして説明を行ったが、
本発明はこれに限らず他の事象を観測するシステムにも
適用してもよい。本発明の方式は、高い信頼性が要求さ
れる観測システムあるいは偶発的単発現象をとらえる必
要がある観測システムに対して特に有効に作用する。
線のサージ、あるいは雷サージとして説明を行ったが、
本発明はこれに限らず他の事象を観測するシステムにも
適用してもよい。本発明の方式は、高い信頼性が要求さ
れる観測システムあるいは偶発的単発現象をとらえる必
要がある観測システムに対して特に有効に作用する。
以上説明したように、この発明によれば、従来監視の盲
点となっていた箇所の故障を簡易かつ確実に検出するこ
とができ、観測システムの信頼性を向上することができ
るという優れた効果を奏する。
点となっていた箇所の故障を簡易かつ確実に検出するこ
とができ、観測システムの信頼性を向上することができ
るという優れた効果を奏する。
第１図は従来の光伝送装置の構成を示す回路ブロック図
、第２図はこの発明の一実施例構成を示す回路ブロック
図である。 １．９・・・発光素子、２，１１・・・光ファイバ、４
・・・受光素子、５・・・光受信器、６・・・パルス発
生回路、７・・・比較回路、８・・・スイッチ、１０・
・・駆動回路、１２・・・フォトトランジスタ％１３・
・・チョークコイル、 １４・・・バイアス抵抗。 代理人弁理士 則近窓佑（ほか１名）
、第２図はこの発明の一実施例構成を示す回路ブロック
図である。 １．９・・・発光素子、２，１１・・・光ファイバ、４
・・・受光素子、５・・・光受信器、６・・・パルス発
生回路、７・・・比較回路、８・・・スイッチ、１０・
・・駆動回路、１２・・・フォトトランジスタ％１３・
・・チョークコイル、 １４・・・バイアス抵抗。 代理人弁理士 則近窓佑（ほか１名）
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 観測地点において発生した所定事象により発光する発光
素子からの光を光ファイバを介して監視局の受光素子で
受光し、該受光素子の出力に基づき前記観測地点におけ
る所定事象を検出する光伝送装置の故障診断方式におい
℃、観測地点側に。 光ファイバを介して光信号を受光した場合に前記発光素
子に順バイアス電圧を印加して該発光素子を発光させる
バイアス回路を具え、前記監視局に、故障診断用のパル
ス信号を発生するパルス発生回路と、該パルス発生回路
から発生されたパルス信号を光パルス信号に変換する発
光素子とを具え、前記パルス発生回路から発生された直
後のパルス信号と、前記パルス発生回路から発生したパ
ルス信号が前記監視局の発光素子、元ファイバを経て観
測地点側に伝送され、さらに前記バイアス回路、観測地
点側の発光素子、光ファイバを経て監視局の受光素子に
受光された後の信号とを比較することにより前記光伝送
装置の故障診断を行なうようにしたことを特徴とする光
伝送装置の故障診断方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58202567A JPS6096040A (ja) | 1983-10-31 | 1983-10-31 | 光伝送装置の故障診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58202567A JPS6096040A (ja) | 1983-10-31 | 1983-10-31 | 光伝送装置の故障診断方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6096040A true JPS6096040A (ja) | 1985-05-29 |
Family
ID=16459632
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58202567A Pending JPS6096040A (ja) | 1983-10-31 | 1983-10-31 | 光伝送装置の故障診断方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6096040A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4947459A (en) * | 1988-11-25 | 1990-08-07 | Honeywell, Inc. | Fiber optic link noise measurement and optimization system |
| US5140603A (en) * | 1990-05-02 | 1992-08-18 | Scientific-Atlanta, Inc. | Overmodulation protection for amplitude modulated laser diode |
| US5379145A (en) * | 1989-12-01 | 1995-01-03 | Scientific-Atlanta, Inc. | Laser transmitter for light wave (fiber optic) communication espectially of AM modulated CATV signals having means . . . against damage |
| CN104501943A (zh) * | 2014-12-05 | 2015-04-08 | 广东美的制冷设备有限公司 | 空调器及空调器中光敏传感器的自检装置和自检方法 |
-
1983
- 1983-10-31 JP JP58202567A patent/JPS6096040A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4947459A (en) * | 1988-11-25 | 1990-08-07 | Honeywell, Inc. | Fiber optic link noise measurement and optimization system |
| US5379145A (en) * | 1989-12-01 | 1995-01-03 | Scientific-Atlanta, Inc. | Laser transmitter for light wave (fiber optic) communication espectially of AM modulated CATV signals having means . . . against damage |
| US5140603A (en) * | 1990-05-02 | 1992-08-18 | Scientific-Atlanta, Inc. | Overmodulation protection for amplitude modulated laser diode |
| CN104501943A (zh) * | 2014-12-05 | 2015-04-08 | 广东美的制冷设备有限公司 | 空调器及空调器中光敏传感器的自检装置和自检方法 |
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