JPH03171736A - 半導体装置の配線構造 - Google Patents
半導体装置の配線構造Info
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- JPH03171736A JPH03171736A JP31107189A JP31107189A JPH03171736A JP H03171736 A JPH03171736 A JP H03171736A JP 31107189 A JP31107189 A JP 31107189A JP 31107189 A JP31107189 A JP 31107189A JP H03171736 A JPH03171736 A JP H03171736A
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 13
- 230000010354 integration Effects 0.000 abstract description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 18
- 238000013461 design Methods 0.000 description 8
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 238000011161 development Methods 0.000 description 4
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
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- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
この発明は、グリッド方式の多層配線を使用している半
導体装置の配線構造に関する。
導体装置の配線構造に関する。
(従来の技術)
近年、半導体技術の急激な発展にともなって、比較的短
かい開発期間で高集積密度の半導体装置を設計すること
が望まれている。このような要求を満足させるために、
設計の自由度が高く、開発工期、開発費用の点でフルカ
スタムLSIに比べて優れているセル方式のLSIが広
く用いられている。
かい開発期間で高集積密度の半導体装置を設計すること
が望まれている。このような要求を満足させるために、
設計の自由度が高く、開発工期、開発費用の点でフルカ
スタムLSIに比べて優れているセル方式のLSIが広
く用いられている。
このセル方式は、予め人手もしくは計算機によって設計
された基本的な論理機能を有するセルを用いて、仕様を
満足するLSIを設計する手法である。
された基本的な論理機能を有するセルを用いて、仕様を
満足するLSIを設計する手法である。
このセル方式のLSIにあって、その配線方法は、比較
的短い時間で配線処理が可能となるグリッド方式が一般
的に用いられている。このグリッド方式は、セルが配置
される半導体基板上に格子状(水平及び垂直の2方向)
の配線グリッドを設定し、この配線グリッド上に配線層
、配線層間の接続(ビア)及び端子等を設けて、LSI
の配線を行なうものである。
的短い時間で配線処理が可能となるグリッド方式が一般
的に用いられている。このグリッド方式は、セルが配置
される半導体基板上に格子状(水平及び垂直の2方向)
の配線グリッドを設定し、この配線グリッド上に配線層
、配線層間の接続(ビア)及び端子等を設けて、LSI
の配線を行なうものである。
このようなグリッド方式の配線方法にあっては、高集積
化が進み、配線が多くなるとともに複雑化すると、水平
方向及び垂直方向の2方向に対応した2層の配線構造に
あっては、配線不可能な領域が発生する可能性がでてく
る。
化が進み、配線が多くなるとともに複雑化すると、水平
方向及び垂直方向の2方向に対応した2層の配線構造に
あっては、配線不可能な領域が発生する可能性がでてく
る。
このため、上記不具合を解決する対策としては、上記し
た2層の配線のさらに上層に第3層の配線層を設け、第
1層の配線と第3層の配線を同一の優先方向を有する配
線層として配線処理を行なう方法が用いられている。
た2層の配線のさらに上層に第3層の配線層を設け、第
1層の配線と第3層の配線を同一の優先方向を有する配
線層として配線処理を行なう方法が用いられている。
しかしながら、このような方法にあっても、水平方向及
び垂直方向の2方向にしか配線方向を設定することがで
きない。このため、配線の自由度が低く、高集積化した
場合には前述したと同様に配線不可能な領域が発生する
おそれがある。
び垂直方向の2方向にしか配線方向を設定することがで
きない。このため、配線の自由度が低く、高集積化した
場合には前述したと同様に配線不可能な領域が発生する
おそれがある。
そこで、水平方向及び垂直方向に加えて、この水平方向
及び垂直方向に対して45度及び135度の方向の配線
グリッドを有する配線層を、水平方向及び垂直方向の配
線層の上層の第3層に設ける方法が考えられる。
及び垂直方向に対して45度及び135度の方向の配線
グリッドを有する配線層を、水平方向及び垂直方向の配
線層の上層の第3層に設ける方法が考えられる。
しかしながら、このような配線方法にあっては、第6図
に示すような配線配置にあって、垂直方向の第1層配線
1aと直交している第2層配線2と、第1層配線1aと
隣接して配置されている第1層配線1bとを第3層配線
3を介して接続すると、第1層配線1bと第3層配線3
とを接続するビア4によって、第2層配線を遮断するこ
とになる。
に示すような配線配置にあって、垂直方向の第1層配線
1aと直交している第2層配線2と、第1層配線1aと
隣接して配置されている第1層配線1bとを第3層配線
3を介して接続すると、第1層配線1bと第3層配線3
とを接続するビア4によって、第2層配線を遮断するこ
とになる。
このため、第1層配線1bと直交してビア4を通過する
第2層配線を設けることが不可能となり、配線の自由度
が低下してしまう。
第2層配線を設けることが不可能となり、配線の自由度
が低下してしまう。
(発明が解決しようとする課題)
以上説明したように、グリッド方式によって配線処理が
なされていた半導体装置にあっては、配線方向の自由度
が低いために、配線長が長くなったり、配線の混雑によ
り高密度集積化が困難になるとともに、配線不可能な領
域が発生するといった不具合を招くおそれがあった。
なされていた半導体装置にあっては、配線方向の自由度
が低いために、配線長が長くなったり、配線の混雑によ
り高密度集積化が困難になるとともに、配線不可能な領
域が発生するといった不具合を招くおそれがあった。
そこで、この発明は、上記に鑑みてなされたものであり
、その目的とするところは、配線不可能な領域の発生を
極力抑えて配線処理の自由度を高め、高密度集積化に寄
与することができる半導体装置の配線構造を提供するこ
とにある。
、その目的とするところは、配線不可能な領域の発生を
極力抑えて配線処理の自由度を高め、高密度集積化に寄
与することができる半導体装置の配線構造を提供するこ
とにある。
(課題を躬決するための手段)
上記目的を達成するために、この発明は、水平方向また
は垂直方向の配線が敷設される第1の配線層と、前記第
1の配線層の上層にあって、前記第1′の配線層の配線
と直交する方向の配線が敷設される第2の配線層と、前
記第1の配線層と前記第2の配線層間にあって、前記第
1の配線層の配線に対して所定の角度方向の配線が敷設
される少なくとも1層以上の配線層とからなる。
は垂直方向の配線が敷設される第1の配線層と、前記第
1の配線層の上層にあって、前記第1′の配線層の配線
と直交する方向の配線が敷設される第2の配線層と、前
記第1の配線層と前記第2の配線層間にあって、前記第
1の配線層の配線に対して所定の角度方向の配線が敷設
される少なくとも1層以上の配線層とからなる。
(作用)
上記構成において、この発明は、水平方向及び垂直方向
の配線に加えて、斜め方向の配線を水平方向及び垂直方
向の配線が敷設される配線層間の配線層に敷設して、半
導体装置の配線処理を行なうようにしている。
の配線に加えて、斜め方向の配線を水平方向及び垂直方
向の配線が敷設される配線層間の配線層に敷設して、半
導体装置の配線処理を行なうようにしている。
(実施例)
以下、図面を用いてこの発明の実施例を説明する。
第1図はこの発明の一実施例に係わる半導体装置におけ
る配線構造を示す平面図である。
る配線構造を示す平面図である。
第1図に示す配線構造は、第6図に示した配線構造に対
応したものであり、第1図に示す実施例の特徴とすると
ころは、水平方向及び垂直方向の配線層に対して斜め方
向の配線層を、水平及び垂直方向の配線層間に設けたこ
とにある。すなわち、第1図に示す実施例では、垂直方
向の配線層118.11bを第1層とし、水平方向の配
線層13を第3層とし、垂直方向の配線層11a,ll
bに対して45度の角度をもつ斜め方向の配線層12を
第2層としている。
応したものであり、第1図に示す実施例の特徴とすると
ころは、水平方向及び垂直方向の配線層に対して斜め方
向の配線層を、水平及び垂直方向の配線層間に設けたこ
とにある。すなわち、第1図に示す実施例では、垂直方
向の配線層118.11bを第1層とし、水平方向の配
線層13を第3層とし、垂直方向の配線層11a,ll
bに対して45度の角度をもつ斜め方向の配線層12を
第2層としている。
このような配線構造にあっては、第3層配線13aと第
1層配線1lbを斜め方向の第2層配線l2を介して接
続した場合に、第2層配線12と第1層配線1’lbを
ビア14により接続しても、このビア14上を第3層配
線13bを通過配線することが可能となる。これにより
、配線の自由度を高めることができるようになる。
1層配線1lbを斜め方向の第2層配線l2を介して接
続した場合に、第2層配線12と第1層配線1’lbを
ビア14により接続しても、このビア14上を第3層配
線13bを通過配線することが可能となる。これにより
、配線の自由度を高めることができるようになる。
このような配線構造を第2図(a)に示すような配線グ
リッドに適用して、端子21と端子22を接続しようと
する場合に、前述した従来の手法では接続は不可能とな
り、また、第3層に斜め方向の配線層を設定した場合で
も同様である。
リッドに適用して、端子21と端子22を接続しようと
する場合に、前述した従来の手法では接続は不可能とな
り、また、第3層に斜め方向の配線層を設定した場合で
も同様である。
しかしながら、上記した実施例で示したような配線グリ
ッドの配線構造を用いることにより、第2図(b)に示
すように、端子21と端子22とを配線することができ
る。すなわち、第2図(b)において、端子21は垂直
方向の第1層配線23aと接続され、第1層配線23a
はビア24aにより斜め方向の第2層配線25と接続さ
れており、この第2層配線25aはビア24bにより第
1層配線23bと接続されている。第1層配線23bは
ビア24cにより第2層配線25bと接続され、第2層
配線25bはビア24dにより第1層配線23cと接続
されており、第1層配線23cは端子22と接続されて
いる。
ッドの配線構造を用いることにより、第2図(b)に示
すように、端子21と端子22とを配線することができ
る。すなわち、第2図(b)において、端子21は垂直
方向の第1層配線23aと接続され、第1層配線23a
はビア24aにより斜め方向の第2層配線25と接続さ
れており、この第2層配線25aはビア24bにより第
1層配線23bと接続されている。第1層配線23bは
ビア24cにより第2層配線25bと接続され、第2層
配線25bはビア24dにより第1層配線23cと接続
されており、第1層配線23cは端子22と接続されて
いる。
このような配線グリッドの配線構造にあっては、斜め方
向の配線層を第2層としているので、垂直方向の第1層
と斜め方向の第2層との接続部分において、水平方向の
第3層の配線層を通過させることができる。したがって
、第2図(b)における端子21と端子22を接続する
ことが可能となり、従来の配線構造では接続不可能であ
った配線を可能にすることができるようになる。
向の配線層を第2層としているので、垂直方向の第1層
と斜め方向の第2層との接続部分において、水平方向の
第3層の配線層を通過させることができる。したがって
、第2図(b)における端子21と端子22を接続する
ことが可能となり、従来の配線構造では接続不可能であ
った配線を可能にすることができるようになる。
第3図は斜め方向の配線グリッドをもつ中間配線層とし
て2つの層を設定し、一方の斜め配線グリッドを45度
方向の配線とし、他方の斜め配線グリッドを135度方
向の配線とした配線グリッドの平面図である。
て2つの層を設定し、一方の斜め配線グリッドを45度
方向の配線とし、他方の斜め配線グリッドを135度方
向の配線とした配線グリッドの平面図である。
すなわち、第3図において、垂直方向の配線グリッドを
第1層とし、45度方向の斜め配線グリッドを第2層と
し、135度方向の斜め配線グリッドを第3層とし、水
平方向の配線グリッドを第4層としている。このような
配線構造にあっては、両斜め方向の配線を交差させるこ
とが可能となり、第3図に示すように、第1層の配線3
1aと第4層の配線34a及び第1層配線31bと第4
層配線34bを、互いに交差する第2!の配線32,第
3層の配線33を介して接続することが可能となる。し
たがって、このような配線構造にあっては、前述したよ
うに中間層として1層を設定するもに比べて、配線の自
由度をより一層高めることができるようになる。
第1層とし、45度方向の斜め配線グリッドを第2層と
し、135度方向の斜め配線グリッドを第3層とし、水
平方向の配線グリッドを第4層としている。このような
配線構造にあっては、両斜め方向の配線を交差させるこ
とが可能となり、第3図に示すように、第1層の配線3
1aと第4層の配線34a及び第1層配線31bと第4
層配線34bを、互いに交差する第2!の配線32,第
3層の配線33を介して接続することが可能となる。し
たがって、このような配線構造にあっては、前述したよ
うに中間層として1層を設定するもに比べて、配線の自
由度をより一層高めることができるようになる。
このように、上述した実施例にあっては、配線の自由度
を高めることができるので、配線を迂回させたり引き回
すことが少なくなり、配線の混雑緩和や配線長の短縮を
図ることが可能となる。このことは、半導体装置の高密
度集積化に寄与することになる。
を高めることができるので、配線を迂回させたり引き回
すことが少なくなり、配線の混雑緩和や配線長の短縮を
図ることが可能となる。このことは、半導体装置の高密
度集積化に寄与することになる。
なお、斜め方向の配線の角度方向は、45@及び135
@に限ることはない。
@に限ることはない。
第4図は高密度集積化をさらに進めるために有効な高密
度配線構造の配線パターンの一例を示す平面図である。
度配線構造の配線パターンの一例を示す平面図である。
同図に示す実施例は、前述したグリッド方式の配線層と
配線領域を任意に設定できるグリッドレス方式の配線層
とを混在させたものであり、水平方向の第1層をグリッ
ド方式、垂直方向の第2層をグリッドレス方式で配線処
理を行なったものである。なお、第4図において、端子
や配線禁止領域は第1層にのみ存在し、第2層にはない
ものとする。
配線領域を任意に設定できるグリッドレス方式の配線層
とを混在させたものであり、水平方向の第1層をグリッ
ド方式、垂直方向の第2層をグリッドレス方式で配線処
理を行なったものである。なお、第4図において、端子
や配線禁止領域は第1層にのみ存在し、第2層にはない
ものとする。
第4図において、ネット(配線網)41とネット42に
あっては、それぞれのネット41.42のビア51a,
51b,52を設計余裕の範囲内で相手方のネット側に
ずらして配置することにより、ビア51a,52と配線
が近接されて配線されている。
あっては、それぞれのネット41.42のビア51a,
51b,52を設計余裕の範囲内で相手方のネット側に
ずらして配置することにより、ビア51a,52と配線
が近接されて配線されている。
ネット43にあっては、端子63と配線とのデザインル
ールにしたがって配置配線されている。
ールにしたがって配置配線されている。
ネット44にあっては、ネット42のビア53とネット
43のビア53と配線とのデザインルールを満足させる
ように、ネット42とネット43のビア52,53を設
計余裕の範囲内でずらして領域を得て、垂直方向にのみ
配線されている。
43のビア53と配線とのデザインルールを満足させる
ように、ネット42とネット43のビア52,53を設
計余裕の範囲内でずらして領域を得て、垂直方向にのみ
配線されている。
ネット45にあっては、端子65とビア55が水平方向
の同一配線グリッド上に隣接して配置されるので、ビア
55と端子65とのデザインルールを満足させるように
、ビア55と端子65とが離れて配線されている。
の同一配線グリッド上に隣接して配置されるので、ビア
55と端子65とのデザインルールを満足させるように
、ビア55と端子65とが離れて配線されている。
ネット46にあっては、ネット41とネット45のビア
51a,51b,55と配線のデザインルールを満足さ
せるように、ビア51a,51bをずらすことでネット
41とネット45との間に領域を確保し、ネット44と
同様にして配置配線されている。
51a,51b,55と配線のデザインルールを満足さ
せるように、ビア51a,51bをずらすことでネット
41とネット45との間に領域を確保し、ネット44と
同様にして配置配線されている。
このように、垂直方向の配線をグリッドレス方式とする
ことにより、第5図に示すように、垂直方向の配線をグ
リッド方式として第4図と同様な接続条件を満足させた
配線パターンに比べて、配線の迂回や折れ曲がり、ビア
の数が低減されている。これにより、配線の混雑を緩和
するとともに配線長を削減して、高密度な配線を実現す
ることができるようになる。
ことにより、第5図に示すように、垂直方向の配線をグ
リッド方式として第4図と同様な接続条件を満足させた
配線パターンに比べて、配線の迂回や折れ曲がり、ビア
の数が低減されている。これにより、配線の混雑を緩和
するとともに配線長を削減して、高密度な配線を実現す
ることができるようになる。
以上説明したように、この発明によれば、水平方向及び
垂直方向の配線に加えて斜め方向の配線を用いて配線処
理を行なうようにしたので、配線の自由度を高めること
ができる。また、斜め方向の配線が敷設される配線層を
水平方向及び垂直方向の配線が敷設される配線層に設け
るようにしたので、水平方向及び垂直方向の配線の妨害
となることなく斜め方向の配線処理を行なうことが可能
となる。
垂直方向の配線に加えて斜め方向の配線を用いて配線処
理を行なうようにしたので、配線の自由度を高めること
ができる。また、斜め方向の配線が敷設される配線層を
水平方向及び垂直方向の配線が敷設される配線層に設け
るようにしたので、水平方向及び垂直方向の配線の妨害
となることなく斜め方向の配線処理を行なうことが可能
となる。
この結果、配線不可能な領域の発生を極力抑えて配線処
理の自由度を高め、配線の混雑緩和及び配線長の削減を
図り、高密度集積化に寄与することができる半導体装置
の配線構造を提供することができるようになる。
理の自由度を高め、配線の混雑緩和及び配線長の削減を
図り、高密度集積化に寄与することができる半導体装置
の配線構造を提供することができるようになる。
第1図はこの発明の一実施例に係る半導体装置の配線構
造を示す平面図、 第2図は第1図に示す配線構造を適用した配線例を示す
平面図、 第3図はこの発明の他の実施例の配線構造を示す平面図
、 第4図はグリッド方式とグリッドレス方式を混用した場
合の配線構造を示す平面図、 M5図はグリッドレス方式を用いた場合の配線構造を示
す平面図、 第6図は従来のグリッド方式における配線構造を示す平
面図である。 la.lb.lla,llb,23a,23b,23c
,31a,3lb−・・第1層配線2,12,25a,
25b,32−・・第2層配線、3.13a,13b.
33−第3層配線、4, 14. 24a, 2
4b, 24c, 24d,51a,5lb,52
.53−ビア 21.22,62.・63.65・・・端子、34a,
34b−第4層配線、 41〜46・・・ネット。
造を示す平面図、 第2図は第1図に示す配線構造を適用した配線例を示す
平面図、 第3図はこの発明の他の実施例の配線構造を示す平面図
、 第4図はグリッド方式とグリッドレス方式を混用した場
合の配線構造を示す平面図、 M5図はグリッドレス方式を用いた場合の配線構造を示
す平面図、 第6図は従来のグリッド方式における配線構造を示す平
面図である。 la.lb.lla,llb,23a,23b,23c
,31a,3lb−・・第1層配線2,12,25a,
25b,32−・・第2層配線、3.13a,13b.
33−第3層配線、4, 14. 24a, 2
4b, 24c, 24d,51a,5lb,52
.53−ビア 21.22,62.・63.65・・・端子、34a,
34b−第4層配線、 41〜46・・・ネット。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 水平方向または垂直方向の配線が敷設される第1の配線
層と、 前記第1の配線層の上層にあって、前記第1の配線層の
配線と直交する方向の配線が敷設される第2の配線層と
、 前記第1の配線層と前記第2の配線層間にあって、前記
第1の配線層の配線に対して所定の角度方向の配線が敷
設される少なくとも1層以上の配線層と を有することを特徴とする半導体装置の配線構造。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31107189A JPH03171736A (ja) | 1989-11-30 | 1989-11-30 | 半導体装置の配線構造 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31107189A JPH03171736A (ja) | 1989-11-30 | 1989-11-30 | 半導体装置の配線構造 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03171736A true JPH03171736A (ja) | 1991-07-25 |
Family
ID=18012765
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31107189A Pending JPH03171736A (ja) | 1989-11-30 | 1989-11-30 | 半導体装置の配線構造 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03171736A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012015037A1 (ja) | 2010-07-30 | 2012-02-02 | 森永乳業株式会社 | 抗菌活性増強剤 |
WO2013018169A1 (ja) | 2011-07-29 | 2013-02-07 | 森永乳業株式会社 | 抗菌活性増強剤 |
-
1989
- 1989-11-30 JP JP31107189A patent/JPH03171736A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012015037A1 (ja) | 2010-07-30 | 2012-02-02 | 森永乳業株式会社 | 抗菌活性増強剤 |
WO2013018169A1 (ja) | 2011-07-29 | 2013-02-07 | 森永乳業株式会社 | 抗菌活性増強剤 |
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