JPH0316905A - 結晶質窒化ケイ素粉末の製法 - Google Patents
結晶質窒化ケイ素粉末の製法Info
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- JPH0316905A JPH0316905A JP14956489A JP14956489A JPH0316905A JP H0316905 A JPH0316905 A JP H0316905A JP 14956489 A JP14956489 A JP 14956489A JP 14956489 A JP14956489 A JP 14956489A JP H0316905 A JPH0316905 A JP H0316905A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、高温構造用材料として有用な窒化ケイ素質焼
結体の製造用原料として好適な結晶質窒化ケイ素粉末の
製法に関する。
結体の製造用原料として好適な結晶質窒化ケイ素粉末の
製法に関する。
(従来技術及びその問題点)
非晶質窒化ケイ素粉末及び/又は含窒素シラン化合物を
不活性ガス雰囲気下又は還元性ガス雰囲気下に焼戒して
、結晶質窒化ケイ素粉末を製造する方法は、すでに知ら
れている。ところで、この方法では、焼成時に針状又は
柱状結晶が多数生成するために、得られる結晶質窒化ケ
イ素粉末は、充填密度が小さく、これを焼結用原料とり
て用いた場合には、嵩密度の低い戒形体しか得られない
という欠点がある。
不活性ガス雰囲気下又は還元性ガス雰囲気下に焼戒して
、結晶質窒化ケイ素粉末を製造する方法は、すでに知ら
れている。ところで、この方法では、焼成時に針状又は
柱状結晶が多数生成するために、得られる結晶質窒化ケ
イ素粉末は、充填密度が小さく、これを焼結用原料とり
て用いた場合には、嵩密度の低い戒形体しか得られない
という欠点がある。
そこで、微細な粒状粒子からなる結晶質窒化ケイ素粉末
を製造する方法として、特開昭59−21506号公報
には、焼成前に非晶質窒化ケイ素粉末及び/又は含窒素
シラン化合物を摩砕し、かつ昇温過程において、被焼或
物を1250〜1430゛Cの範囲の温度に1時間以上
保持する方法が提案されている。
を製造する方法として、特開昭59−21506号公報
には、焼成前に非晶質窒化ケイ素粉末及び/又は含窒素
シラン化合物を摩砕し、かつ昇温過程において、被焼或
物を1250〜1430゛Cの範囲の温度に1時間以上
保持する方法が提案されている。
この方法によれば、微細な粒状粒子からなる結晶質窒化
ケイ素粉末を製造することができるが、摩砕条件の制御
が難しく、また昇温スケジュールが複雑で焼或に長時間
を要するため、生産性が低いという問題があった。
ケイ素粉末を製造することができるが、摩砕条件の制御
が難しく、また昇温スケジュールが複雑で焼或に長時間
を要するため、生産性が低いという問題があった。
(発明の目的)
本発明の目的は、前記問題点を解決し、粒子形状及びサ
イズの一定した高品質の結晶質窒化ケイ素粉末を低コス
トで生産できる新規な製法を提供するものである。
イズの一定した高品質の結晶質窒化ケイ素粉末を低コス
トで生産できる新規な製法を提供するものである。
(問題点を解決するための手段)
本発明は、非晶質窒化ケイ素粉末及び/又は含窒素シラ
ン化合物を不活性ガス雰囲気下又は還元性ガス雰囲気下
に焼成して、結晶質窒化ケイ素粉末を製造するに際し、
焼戒前に非晶質窒化ケイ素粉末及び/又は含窒素シラン
化合物をプラズマCVDコーティング法により表面処理
することを特徴とする結晶質窒化ケイ素粉末の製法に関
するものである。
ン化合物を不活性ガス雰囲気下又は還元性ガス雰囲気下
に焼成して、結晶質窒化ケイ素粉末を製造するに際し、
焼戒前に非晶質窒化ケイ素粉末及び/又は含窒素シラン
化合物をプラズマCVDコーティング法により表面処理
することを特徴とする結晶質窒化ケイ素粉末の製法に関
するものである。
本発明における含窒素シラン化合物としては、シリコン
ジイミド、シリコンテI・ラアミド、シリコンニトロゲ
ンイミド、シリコンクロルイミド等が用いられる。これ
らは、公知方法、例えば、四塩化ケイ素、四臭化ケイ素
、四沃化ケイ素等のハロゲン化ケイ素とアンモニアとを
気相で反応させる方法、液状の前記ハロゲン化ケイ素と
液体アンモニアとを反応させる方法などによって製造さ
れる。
ジイミド、シリコンテI・ラアミド、シリコンニトロゲ
ンイミド、シリコンクロルイミド等が用いられる。これ
らは、公知方法、例えば、四塩化ケイ素、四臭化ケイ素
、四沃化ケイ素等のハロゲン化ケイ素とアンモニアとを
気相で反応させる方法、液状の前記ハロゲン化ケイ素と
液体アンモニアとを反応させる方法などによって製造さ
れる。
また、非晶質窒化ケイ素粉末は、公知方法、例えば、前
記含窒素シラン化合物を窒素又はアンモニアガス雰囲気
下に600〜1 2 0 0 ’Cの範囲の温度で加熱
分解する方法、四塩化ケイ素、四臭化ケイ素、四沃化ケ
イ素等のハロゲン化ケイ素とアンモニアとを高温で反応
させる方法などによって製造されたものが用いられる。
記含窒素シラン化合物を窒素又はアンモニアガス雰囲気
下に600〜1 2 0 0 ’Cの範囲の温度で加熱
分解する方法、四塩化ケイ素、四臭化ケイ素、四沃化ケ
イ素等のハロゲン化ケイ素とアンモニアとを高温で反応
させる方法などによって製造されたものが用いられる。
非晶質窒化ケイ素粉末及び含窒素シラン化合物の平均粒
子径は、通常、0.0 0 5〜0.0 5 amであ
る。
子径は、通常、0.0 0 5〜0.0 5 amであ
る。
本発明においては、焼戒前に非晶質窒化ケイ素粉末及び
/又は含窒素シラン化合物をプラズマCVDコーティン
グ法により表面処理する。
/又は含窒素シラン化合物をプラズマCVDコーティン
グ法により表面処理する。
プラズマとは、正、負の荷電粒子が共存する電気的に中
性な導電性ガス集団のことであり、これには、電子、イ
オン、原子が熱的に平衡状態にある熱プラズマと、電子
温度のみ数万゜Cに上がり、イオンや原子は常温付近と
いう、゛熱的非平衡状態にある低温プラズマがあるが、
本発明においてはいずれも用いられる。
性な導電性ガス集団のことであり、これには、電子、イ
オン、原子が熱的に平衡状態にある熱プラズマと、電子
温度のみ数万゜Cに上がり、イオンや原子は常温付近と
いう、゛熱的非平衡状態にある低温プラズマがあるが、
本発明においてはいずれも用いられる。
プラズマ発生方法としては、直流アークプラズマ、高周
波誘導プラズマ及びこれらを組み合わせたハイブリッド
プラズマ、ECRマグネトロン放電、イオンプレーティ
ングなどの種々のプラズマ発生方法が用いられる。
波誘導プラズマ及びこれらを組み合わせたハイブリッド
プラズマ、ECRマグネトロン放電、イオンプレーティ
ングなどの種々のプラズマ発生方法が用いられる。
プラズマCVDコーティング法における反応性ガスとし
ては、モノシラン、ジクロルシラン、トリクロルシラン
等のシラン系ガスと4窒素、アンモニア、ヒドラジン等
の窒素含有ガスとの混合ガスが用いられる。この方法に
よれば、CVDコーティングにより、被処理物である非
晶質窒化ケイ素及び/又は含窒素シラン化合物の粒子表
面に、窒化ケイ素系化合物(SiNx)が堆積する。
ては、モノシラン、ジクロルシラン、トリクロルシラン
等のシラン系ガスと4窒素、アンモニア、ヒドラジン等
の窒素含有ガスとの混合ガスが用いられる。この方法に
よれば、CVDコーティングにより、被処理物である非
晶質窒化ケイ素及び/又は含窒素シラン化合物の粒子表
面に、窒化ケイ素系化合物(SiNx)が堆積する。
プラズマ処理条件は、プラズマ発生装置、反応性ガスの
種類、非晶質窒化ケイ素粉末及び/又は含窒素シラン化
合物の処理量によって種々異なり、一律に規定すること
はできないが、粒子表面に堆積した化合物層の厚みが1
〜50人となるような条件を選べば十分である。
種類、非晶質窒化ケイ素粉末及び/又は含窒素シラン化
合物の処理量によって種々異なり、一律に規定すること
はできないが、粒子表面に堆積した化合物層の厚みが1
〜50人となるような条件を選べば十分である。
非晶質窒化ケイ素粉末及び/又は含窒素シラン化合物を
プラズマ処理することによって、粒子表面が著しく活性
化され、焼戒時の窒化ケイ素の結晶化速度が高められ、
かつ微粒の粒状粒子が効率良く得られる。この理由は未
だ明らかではないが、プラズマ処理により、粒子表面の
欠陥が増加すると共に、表面原子の電子状態が変化する
ためと考えられる。
プラズマ処理することによって、粒子表面が著しく活性
化され、焼戒時の窒化ケイ素の結晶化速度が高められ、
かつ微粒の粒状粒子が効率良く得られる。この理由は未
だ明らかではないが、プラズマ処理により、粒子表面の
欠陥が増加すると共に、表面原子の電子状態が変化する
ためと考えられる。
本発明においては、プラズマ処理された非晶質窒化ケイ
素粉末及び/又は含窒素シラン化合物を不活性ガス雰囲
気下又は還元性ガス雰囲気下に焼成する。
素粉末及び/又は含窒素シラン化合物を不活性ガス雰囲
気下又は還元性ガス雰囲気下に焼成する。
不活性ガスとしては、窒素、アルゴン、ヘリウム等が挙
げられる。また、還元性ガスとしては、水素、アンモニ
ア、一酸化炭素等が挙げられる。
げられる。また、還元性ガスとしては、水素、アンモニ
ア、一酸化炭素等が挙げられる。
焼或温度は1350〜1700゜Cの範囲が好ましい。
焼或温度が1350゜Cよりも低いと、窒化ケイ素の結
晶化が十分に進行しない。また、焼或温度が1 7 0
0 ’Cを越えると、生戒した窒化ケイ素粉末の分解
が始まるので好ましくない。また、急激な昇温は、粒子
形状を均一にする上で好ましくなく、1150〜135
0゜Cの範囲を1時間以上かけてゆっくり昇温すること
が望ましい。
晶化が十分に進行しない。また、焼或温度が1 7 0
0 ’Cを越えると、生戒した窒化ケイ素粉末の分解
が始まるので好ましくない。また、急激な昇温は、粒子
形状を均一にする上で好ましくなく、1150〜135
0゜Cの範囲を1時間以上かけてゆっくり昇温すること
が望ましい。
(実施例)
以下に実施例及び比較例を示し、本発明をさらに具体的
に説明する。実施例及び比較例において、結晶質窒化ケ
イ素粉末の結晶化度は、窯業協会誌93巻p394〜3
97 (1985)に記載の加水分解試験により、α型
結晶含有率は、セラξツク・ブラティン56巻p777
〜780 (1977)に記載のX線回折法に従って算
出し、比表面積は窒素ガス吸着法によるBET法で測定
した。
に説明する。実施例及び比較例において、結晶質窒化ケ
イ素粉末の結晶化度は、窯業協会誌93巻p394〜3
97 (1985)に記載の加水分解試験により、α型
結晶含有率は、セラξツク・ブラティン56巻p777
〜780 (1977)に記載のX線回折法に従って算
出し、比表面積は窒素ガス吸着法によるBET法で測定
した。
実施例1
シリコンジイ宅ドを1000゜Cで加熱分解して得られ
た比表面積39011′r/gの非晶質窒化ケイ素粉末
50gを、容量結合方式の円筒型プラズマCVD装置内
の容器に充填し、380゜Cに加熱後、容器を回転させ
て粉末を流動化させた。ベルジャー内を0. 0 5
Torr以下に真空脱気後、モノシラン(SiH4)
/20XNH3ガスを導入し、系内の圧力を1. 0T
orrに保った。周波数1 3. 5 6 Ml{zの
高周波発振機より、出力100Wの高周波を放電コイル
に印加し、プラズマを発生させて、15分間プラズマC
VD処理を行った。
た比表面積39011′r/gの非晶質窒化ケイ素粉末
50gを、容量結合方式の円筒型プラズマCVD装置内
の容器に充填し、380゜Cに加熱後、容器を回転させ
て粉末を流動化させた。ベルジャー内を0. 0 5
Torr以下に真空脱気後、モノシラン(SiH4)
/20XNH3ガスを導入し、系内の圧力を1. 0T
orrに保った。周波数1 3. 5 6 Ml{zの
高周波発振機より、出力100Wの高周波を放電コイル
に印加し、プラズマを発生させて、15分間プラズマC
VD処理を行った。
処理後の粉末を黒鉛質るつぼに充填し、窒素雰囲気下に
昇温しで1500゜Cで1時間保持した。
昇温しで1500゜Cで1時間保持した。
得られた窒化ケイ素粉末の特性を第1表に示す。
実施例2
プラズマ処理を第1表に示す条件で行ったほかは、実施
例1と同様にして、窒化ケイ素粉末を製造した。
例1と同様にして、窒化ケイ素粉末を製造した。
得られた窒化ケイ素粉末の特性を第1表に示す。
実施例3
シリコンジイミドを1000゜Cで加熱分解して得られ
た比表面積390n{/gの非晶質窒化ケイ素粉末50
gを、ECRプラズマCVD装置の試料室内の容器に充
填し、400゜Cに加熱後、粉末を流動化させた。次い
で、プラズマ生或室及び試料室をI X 1 0−6T
orr以下の高真空に排気後、プラズマ生戒室にはアン
モニアガス、試料室にはモノシラン(SiH4)ガスを
導入し、系内の圧力を5×1 0−”Torrに保った
。周波数2.45(;Hz、出力工00Wのマイクロ波
をプラズマ生戒室内に導き、磁束密度8 7 5Gau
ssの磁界中で窒素プラズマを発生させて、試料室内に
引き出し、粉末層でモノシランと反応させ、粉末表面に
窒化ケイ素(SiNx)膜を形威させた。このプラズマ
CVD処理をl分間行った。
た比表面積390n{/gの非晶質窒化ケイ素粉末50
gを、ECRプラズマCVD装置の試料室内の容器に充
填し、400゜Cに加熱後、粉末を流動化させた。次い
で、プラズマ生或室及び試料室をI X 1 0−6T
orr以下の高真空に排気後、プラズマ生戒室にはアン
モニアガス、試料室にはモノシラン(SiH4)ガスを
導入し、系内の圧力を5×1 0−”Torrに保った
。周波数2.45(;Hz、出力工00Wのマイクロ波
をプラズマ生戒室内に導き、磁束密度8 7 5Gau
ssの磁界中で窒素プラズマを発生させて、試料室内に
引き出し、粉末層でモノシランと反応させ、粉末表面に
窒化ケイ素(SiNx)膜を形威させた。このプラズマ
CVD処理をl分間行った。
処理後の粉末を黒鉛質るつぼに充填し、窒素雰囲気下に
昇温してl450゜Cで1時間保持した。
昇温してl450゜Cで1時間保持した。
得られた窒化ケイ素粉末の特性を第1表に示す。
比較例1〜2
プラズマ処理を行わなかったほかは、実施例1及び実施
例5と同様にして、窒化ケイ素粉末を製造した。
例5と同様にして、窒化ケイ素粉末を製造した。
得られた窒化ケイ素粉末の特性を第1表に示す。
(発明の効果)
本発明によれば、等軸的な粒状粒子からなり、タップ密
度が大きく、充填性の良好な結晶質窒化ケイ素粉末を生
産性良く製造することができ、コストダウンが可能とな
る。
度が大きく、充填性の良好な結晶質窒化ケイ素粉末を生
産性良く製造することができ、コストダウンが可能とな
る。
Claims (1)
- 非晶質窒化ケイ素粉末及び/又は含窒素シラン化合物を
不活性ガス雰囲気下又は還元性ガス雰囲気下に焼成して
、結晶質窒化ケイ素粉末を製造するに際し、焼成前に非
晶質窒化ケイ素粉末及び/又は含窒素シラン化合物をプ
ラズマCVDコーティング法により表面処理することを
特徴とする結晶質窒化ケイ素粉末の製法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14956489A JPH0764526B2 (ja) | 1989-06-14 | 1989-06-14 | 結晶質窒化ケイ素粉末の製法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14956489A JPH0764526B2 (ja) | 1989-06-14 | 1989-06-14 | 結晶質窒化ケイ素粉末の製法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0316905A true JPH0316905A (ja) | 1991-01-24 |
JPH0764526B2 JPH0764526B2 (ja) | 1995-07-12 |
Family
ID=15477936
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14956489A Expired - Lifetime JPH0764526B2 (ja) | 1989-06-14 | 1989-06-14 | 結晶質窒化ケイ素粉末の製法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0764526B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6365231B2 (en) | 1998-06-26 | 2002-04-02 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Ammonium halide eliminator, chemical vapor deposition system and chemical vapor deposition process |
US8193356B2 (en) | 2005-09-15 | 2012-06-05 | Aska Pharmaceutical Co., Ltd. | Heterocycle compound, and production process and application thereof |
US9693705B2 (en) | 2009-06-29 | 2017-07-04 | Sony Corporation | Biosignal measurement device |
US9788745B2 (en) | 2009-06-29 | 2017-10-17 | Sony Corporation | Biological signal measuring equipment |
-
1989
- 1989-06-14 JP JP14956489A patent/JPH0764526B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6365231B2 (en) | 1998-06-26 | 2002-04-02 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Ammonium halide eliminator, chemical vapor deposition system and chemical vapor deposition process |
US8193356B2 (en) | 2005-09-15 | 2012-06-05 | Aska Pharmaceutical Co., Ltd. | Heterocycle compound, and production process and application thereof |
US9693705B2 (en) | 2009-06-29 | 2017-07-04 | Sony Corporation | Biosignal measurement device |
US9788745B2 (en) | 2009-06-29 | 2017-10-17 | Sony Corporation | Biological signal measuring equipment |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0764526B2 (ja) | 1995-07-12 |
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