JPH03162732A - 光ディスク複製用スタンパの製造方法 - Google Patents

光ディスク複製用スタンパの製造方法

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JPH03162732A
JPH03162732A JP29278689A JP29278689A JPH03162732A JP H03162732 A JPH03162732 A JP H03162732A JP 29278689 A JP29278689 A JP 29278689A JP 29278689 A JP29278689 A JP 29278689A JP H03162732 A JPH03162732 A JP H03162732A
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Shiyouzou Murata
省蔵 村田
Tadashi Kato
忠 加藤
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕 本発明は、レーザーディスク、コンパクトディスク等の
光ディスク複製用のスタンパの製造方法に関する。
【従来の技術】
従来、光ディスク複製用のスタンパ製造工程においては
、ガラス基板からフォトリソグラフィー法により微細な
凹凸形状を形成し、導電性皮膜を施してなるガラス原盤
をNiめっきして、Niマスターを形成し、このNiマ
スターより小径に規制される半径の異なる同心円状の2
本のOリングを備えためつき治具を用いてNiマザーを
得ていた。即ち、第6図に基づいて説明すると、Niマ
スターlを凹凸面を上向きにして、めっき治具3にセッ
トする。このめっき治具3の上面側には、2つのOリン
グ7、8が押えリング板9および、ねじlOにより取り
付けられている。これら2つのOリング7、8は半径の
異なる同心円状で太さは同じものであり、小径側のOリ
ング7はNiマスター1の上面外周部上に位置し、大径
側のOリング8は、めっき治具3の上面外周部上に位置
するものである。このようなめっき治具3を用いてNi
めっきを行うことにより、Niマスター1上にNiマザ
ー2を複製し、Niマスター1からNiマザー2を剥離
することにより単体のNiマザー2を得ていた。Niマ
ザーからNiサンを得る場合についても同様の方法がと
られていた。 〔発明が解決しようとする課題〕 しかし、前記に述べた方法では、めっき終了後、めっき
治具3がらの離脱時にすぐにNiマザー2の外周の一部
または全部が剥離する。このため次のような欠点が見ら
れた。 ■剥離している部分からめっき液等が浸入いiマザー2
の情報転写面にじみができる。しがもNiマスターlか
らNiマザー2を剥離する前にNiマザー2を裏打ちす
るため、じみの除去が困難である.■裏打ち工程でNi
マザー2に平面度を出すことが不可能である。 そしてこのことはNiマザーからNiサンを得る際にも
あてはまる。 従って、高品質の光ディスク複製用スタンパの製造が極
めて困難な技術課題となっていた。 本発明は上記の点を解決しようとするもので、その目的
は複製終了後、めっき治具がらの離脱時にマザーまたは
サンの外周部が剥離せず、これによるめっき液等の浸入
によるじみの発生もなく、裏打ち工程で平面度を出すこ
とが可能となり、形状転写性の良好な極めて高品質のス
タンパを製造することにある。 〔課題を解決するための手段] 本発明は、光ディスク複製用スタンパ製造工程のマスタ
ーからマザーを複製する際のめっき工程、またはマザー
からサンを複製する際のめっき工程において、マスター
またはマザーを同じ面積で薄くめっきした後にマスター
またはマザーの外径より大径のOリングと小径のOリン
グの2本の同心円状のOリングを具備するめっき治具を
用いてめっきし、該マスターまたは該マザーから剥離し
てマザーまたはサンを得ることを特徴とする光ディスク
複製用スタンパの製造方法および同様のめっき工程にお
いて、マスターまたはマザーの外径より大径のOリング
と小径のOリングの2本の同心円状のOリングを具備し
、かつ、マスターまたはマザーの情報転写面から各々の
Oリングまでの距離が異なるめっき治具を用いてめっき
し、該マスターまたは該マザーから剥離してマザーまた
はサンを得ることを特徴とする光ディスク複製用スタン
パの製造方法を提供するものである。 以下、本発明を第1図(a) . (b) , (c)
および第2図(a) , (b) . (c)に基づい
て詳しく説明する。 まず第1図(a) , (b) . (c)に示される
ように、フォトリソグラフィー法により微細な凹凸形状
を形成したガラス原盤に導電性皮膜を付与し、Niめっ
きを施して形成されたNiマスターlを得る。このよう
なNiマスター1上に該マスターと同じ面積で薄くめっ
きし、Ni薄膜11を形成して情報転写面全面を被覆し
た後、被覆面を上向きとしてめっき治具3にセットする
。 このめっき治具3(ここで用いられるめっき治具を八治
具とする.)は回転軸4を中心として回転駆動されるも
のであり、中央凹部3a内にはNiマスター1用のSO
S通電板5が設けられている。このSUS通電板5は通
電ブロック6を介して通電がなされるものである。 しかして、前記めっき治具3上面側には、2つのOリン
グ7、8が押えリング板9およびねじ10により取り付
けられている。即ち、これらの0リング7、8は半径の
異なる同心円状のものであり、これらのOリング7、8
自体の太さは同一とされている。まず、小径側のOリン
グ7はNiマスター1の上面外周部上に位置し得る程度
の半径のものとされている。また、大径側のOリング8
はめっき治具3の上面外周部上に位置し得る程度の半径
とされている。 このような装置にて、Niめっきを行うことにより、N
fマスター1上には第1図(b)に示すようにNiマザ
ー2をめっき複製した後、Niマスター1からNiマザ
ー2を剥離することにより、単体のNiマザー2が得ら
れることになる。 このようなめつき工程において、Niマスター1をそれ
と同じ面積で薄くめっきした後に上記のめっき治具を用
いてめっきするためにNiマスター1上に形成されため
っき層は端縁部の剥離がなく密着が良いから、複製終了
後に治具からめつき物を離脱してもめっき層が剥離せず
、その後の裏打ち工程で平面度を出すことが可能となり
、めっき液等の浸入によるしみの発生もなく、極めて高
品質のスタンパの製造を可能にする。 このようなめつき複製工程において、大小2個のOリン
グ7、8が用いられているので、SUS通電板5等の電
気的部分に対するめつき液の浸透は内周、外周側の双方
から確実にシールされることになる。又、Oリング7側
はNiマスター1上の外周部付近に位置しているので、
複製されるNiマザー2の外径をNiマスター1の外径
よりも小さくなる状態に規制することになる。これによ
り、NiマスターlとNiマザー2とは同形ではなくな
るので、両者の剥離が容易となる。よって、無理な剥離
が減少する分、欠陥の発生も減少し、品質の高いNiマ
ザー2が得られる。またこのようなOリング7、8は再
利用できるので、複製コストが安価で済む。 Niマザー2が得られた後は、このNiマザー2に基づ
くめっき複製によりNiサン(Niスタンパ)を作成す
る。この工程については特に図示しないが、配置的には
図面におけるNiマスター1がNiマザーに相当し. 
Ntマザー2がNiサンに相当するものとして考えれば
よい。即ち、NiマザーがNiマスター1よりも小径と
なった分だけ、Oリング7に相当する内周側のOリング
を更に小径のものとし、Niサンの外径がNiマザーの
外径よりも一回り小さくなるようにすればよい(ここで
用いられるめっき治具をB治具とする)。この結果、N
iマスター,−1からNiマザー2のめっき複製に際し
ての効果がそのまま同様に発揮されることになり、品質
の高いスタンパを複製できる。 なお、マスター上に該マスターと同じ面積で薄くめっき
する場合、また、マザー上に該マザーと同じ面積で薄く
めっきする場合において、そのめっき膜厚が好ましくは
20μm〜40μm,より好ましくは20μm〜30μ
mの範囲になるようにめっきする。めっき膜厚を20μ
園〜40μmの範囲に規制することにより裏打ち後、薄
いめっき膜が破壊されることなく、かつ容易に剥離する
ことが可能となり、極めて高品質の光ディスク複製用ス
タンパの製造が可能になる。 ンパの製造方法を第2図(a) , (b) , (c
)に基づいて説明する。まずフォトリソグラフィー法に
より微細な凹凸形状を形成したガラス原盤に導電性皮膜
を付与し、Niめっきを施して形成されたNiマスター
lを得る。このNiマスター1の情報転写面を上向きと
してめっき治具3にセットする。 このめっき治具3(ここで用いられるめっき治具をC治
具とする。)は回転軸4を中心として回転駆動されるも
のであり、中央凹部3a内にはNiマスター1用の導電
性磁石5aが設けられている。この導電性磁石5aは通
電ブロック6を介して通電がなされるものである。 しかして、前記めっき治具3上面側は、2つのOリング
7、8を具備し、Oリング7あるいはOリング7、8は
スポット溶接、接着等により押えリング板9に固着され
ており、これらはねじ10によりめっき治具3の上面側
に取り付けられている。即ち、これらのOリング7、8
は半径の異なる同心円状のものであり、これらのOリン
グ7、のOリング7はNiマスターlの情報転写面の直
上に位置し、その情報転写面までの距離が20μm〜4
0μmであり、好ましくは20μm〜30μmである。 Oリング7と情報転写面の距離が20μm未満の場合、
外周部のめっきの膜厚が20μm未満となるのでめっき
膜自体の強度が弱く、また面が荒れている場合には完全
な膜とならないのでNiマスター1の側面へのめっきが
不完全となる。このためめっき液等が侵入し、また自然
剥離が発生するのでビットの形状転写性が低下する。ま
た、Oリング7と情報転写面の距離が40μmを超える
場合、外周部のめっきの膜厚が40μmより厚くなるの
でめっき膜自体の強度が強くなり、そのため剥離する際
のカッティングが困難で、また無理に剥離するとNiマ
ザー2が変形する恐れがある。 なお、Oリング7はNiマスター1の外径より1 0m
m内側の円周上の直上に位置する。このため、複製され
るNiマザー2の外径をNiマスター1の外径よりも小
さくなる状態に規制することになる。 これにより、NiマスターlとNiマザー2とは同形で
はなくなるので、両者の剥離が容易となる。 よって、無理な剥離が減少する分、欠陥の発生も減少し
、品質の高いNiマザー2が得られる。 また大径側のOリング8はめっき治具3の上面外周部上
に位置し得る程度の半径を有し、かつ、めっき治具3に
接する. このような装置にて、Niめっきを行うことにより、N
iマスター1上には第2図(b)に示すようにNiマザ
ー2をめっき複製した後、Niマスター1からNiマザ
ー2を剥離することにより、単体のNiマザー2が得ら
れることになる. このようなめっき工程において、最初にNiマスター1
全面にNiめっきすることによりNiマスター1の側面
にまでNiめっきさせることができる。これによりめっ
き治具解体時にNiマザー2の外周部の自然剥離を防止
することができ、その後の裏打ち工程で平面度を出すこ
とが可能となり、めっき液等の侵入によるじみの発生も
なく、形状転写性の良好な極めて高品質のスタンパの製
造を可能にする。また、このようなOリング7,8は再
利用できるので複製コストが安価で済む. Niマザー2が得られた後は、このNiマザー2に基づ
くめっき複製によりNiサン(Niスタンパ)を作成す
る。この工程については特に図示しないが、配置的には
図面におけるNiマスター1がNiマザーに相当し、N
iマザー2がNiサンに相当するものとして考えればよ
い。即ち、NiマザーがNiマスター1よりも小径とな
った分だけ、Oリング7に相当する内周側のOリングを
更に小径のものとし、Niサンの外径がNiマザーの外
径よりも一回り小さくなるようにすればよい(ここで用
いられるめっき治具をD治具とする)。この結果、Ni
マスター1からNiマザー2のめつき複製に際しての効
果がそのまま同様に発揮されることになり、品質の高い
スタンパを複製できる。 [実施例] 次に実施例を挙げて本発明を説明する。 実施例l ガラス基板に形成したブリグループパターン上に導体化
膜を形成した後、該導体化膜を陰極としてNiめっきを
行い、裏打ちしてガラス基板を剥離してマスターを得た
。該マスターを剥離皮膜処理後、該マスター全体に40
μmNiめっきした後、本発明の八治具を用いてNiめ
っきし、該マスターから剥離してマザーを得た.該マザ
ーを剥離皮膜処理後、該マザー全体に20μmNiめっ
きした後、本発明のB治具を用いてNiめっきし、該マ
ザーから剥離してサンを得た。マスターおよびサンから
複製したディスクの信号特性を第3図に示す。 第3図から、サンから複製したディスクはマスターから
複製したディスクと信号特性がほとんど変わらず、優れ
た精度で複製が行われたことがわかる。 実施例2 実施例lと同じ方法で、マスターを作製し、マザーを複
製し、該マザーを剥離皮膜処理後、該マザー全体に40
μsNiめっきした後、本発明のB治具な用いてNiめ
っきし、該マザーから剥離してサンを得た。マスターお
よびサンから複製したディスクの信号特性を第4図に示
す。第4図から実施例lと同様優れた結果が得られたこ
とがわかる。 実施例3 実施例1と同じ方法で、マスターを作製し、該マスター
を剥離皮膜処理後、本発明のC治具な用いてNiめっき
し、該マスターから剥離してマザーを得た。該マザーを
剥離皮膜処理後、本発明のD治具を用いてNiめっきし
、該マザーから剥離してサンを得た。但し、C治具、D
治具ともに内側の0リングとマスターおよびマザーの情
報転写面との距離は20μmとした。 実施例4 実施例3と同様の方法でマスターからマザーマザーから
サンを得た.但し、C治具、D治具ともに内側の0リン
グとマスターおよびマザーの情報転写面との距離は30
μmとした。 実施例3,4で得られたサンからそれぞれ複製したディ
スクの信号特性を第5図に示す.第5図から実施例3,
4で得られたサンからそれぞれ複製したディスクの信号
特性がほとんど同じであり、優れた精度で複製が行われ
たことがわかる。 但し、以上の実施例1〜4においてめっき浴の組成は、
スルファミン酸Ni450g/ 12、ホウ酸30g/
I2、50℃、PH4、Be・27、電流密度は8A/
dm”とした。 [発明の効果] 以上の説明で明らかなように、本発明よれば、治具から
の離脱後も情報転写面にめっき液等のしみ込みがなく、
その後の裏打ち工程で平面度を出すことが可能となり、
しかも裏打ち後の剥離が容易で形状転写性の良好な極め
て高品質の光ディスク複製用スタンパを得ることができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図(a) , (b) . (C)および第2図(
a) , (b) . (c)は本発明の製造方法の工
程を示す断面図、第3図は実施例lのマスターおよびサ
ンから複製したディスクの測定結果を示す信号特性図、
第4図は実施例2のマスターおよびサンから複製したデ
ィスクの測定結果を示す信号特性図、第5図は実施例3
および実施例4のサンから複製したディスクの測定結果
を示す信号特性図、第6図(a) . (b) . (
c)は従来の製造方法の工程を示す断面図である。 l・・・Niマスター 2・・・Niマザー  3 3a・・・中央凹部、4 5・・・SUS通電板、 6・・・通電ブロック、 9・・・押えリング板、 1l・・・Ni薄膜。 1a・・・凹凸面、 ・・・めっき治具 ・・・回転軸 5a・・・導電性磁石 7,8・・・Oリング lO・・・ねじ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光ディスク複製用スタンパ製造工程のマスターか
    らマザーを複製する際のめっき工程、またはマザーから
    サンを複製する際のめっき工程において、マスターまた
    はマザーを同じ面積で薄くめっきした後にマスターまた
    はマザーの外径より大径のOリングと小径のOリングの
    2本の同心円状のOリングを具備するめっき治具を用い
    てめっきし、該マスターまたは該マザーから剥離してマ
    ザーまたはサンを得ることを特徴とする光ディスク複製
    用スタンパの製造方法。
  2. (2)光ディスク複製用スタンパ製造工程のマスターか
    らマザーを複製する際のめっき工程、またはマザーから
    サンを複製する際のめっき工程において、マスターまた
    はマザーの外径より大径のOリングと小径のOリングの
    2本の同心円状のOリングを具備し、かつ、マスターま
    たはマザーの情報転写面から各々のOリングまでの距離
    が異なるめっき治具を用いてめっきし、該マスターまた
    は該マザーから剥離してマザーまたはサンを得ることを
    特徴とする光ディスク複製用スタンパの製造方法。
  3. (3)請求項第2項記載のめっき治具において、マスタ
    ーまたはマザーの外径より大径のOリングはめっき治具
    に接し、かつ、マスターまたはマザーの外径より小径の
    Oリングはマスターまたはマザーの情報転写面の直上に
    あり、その情報転写面までの距離が20μm〜40μm
    であることを特徴とする光ディスク複製用スタンパの製
    造方法。
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