JPH03162611A - はんだ付検査装置 - Google Patents
はんだ付検査装置Info
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- JPH03162611A JPH03162611A JP30271089A JP30271089A JPH03162611A JP H03162611 A JPH03162611 A JP H03162611A JP 30271089 A JP30271089 A JP 30271089A JP 30271089 A JP30271089 A JP 30271089A JP H03162611 A JPH03162611 A JP H03162611A
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 51
- 238000005476 soldering Methods 0.000 title claims description 23
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 7
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 5
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明ははんだ付け検査装置、特に、プリント基板には
んだ付゜けされたＦＩＣのリードのはんだ付け状態を検
査するはんだ付け検査装置に関する． 〔従来の技術〕 従来のはんだ付け検査装置は、はんだ付け部に一定の角
度で光を照射する照明部と、はんだ付け部の画像を取り
込むカメラと、該カメラより取り込んだ画像よりはんだ
付け部からの反射光の有無を判定する判定部とを含んで
構成される。
んだ付゜けされたＦＩＣのリードのはんだ付け状態を検
査するはんだ付け検査装置に関する． 〔従来の技術〕 従来のはんだ付け検査装置は、はんだ付け部に一定の角
度で光を照射する照明部と、はんだ付け部の画像を取り
込むカメラと、該カメラより取り込んだ画像よりはんだ
付け部からの反射光の有無を判定する判定部とを含んで
構成される。
次に従来のはんだ付け検査装置について図面を参照して
詳細に説明する。
詳細に説明する。
第４図の？！！！２０ははんだ２１によりはんだ付けさ
れている。照明２２からは照射光ｐがはんだ２１に照射
される。カメラ２３ははんだ付け部の画像を入力し、判
定部２４へ画像信号ｑを出力する。
れている。照明２２からは照射光ｐがはんだ２１に照射
される。カメラ２３ははんだ付け部の画像を入力し、判
定部２４へ画像信号ｑを出力する。
判定部２４では画像信号ｑを入力し極端に輝度の高い箇
所があるかないかにより照射光ｐの正反射光がカメラ２
３に入射しているかどうか判定し、正反射光カメラ２３
に入射していると判定した場合は正常．そうでない場合
は欠陥と判定している． 〔発明が解決しようとする課題〕 上述した従来のはんだ付け検査装置は、はんだ付け部の
画像よりはんだ付け状態の検査を行っていたが、部品に
位置ずれがあるとはんだ付け部でない部分の画像を取り
込んでしまい、はんだ付け部が精度よく検査できないと
いう欠点があつた。
所があるかないかにより照射光ｐの正反射光がカメラ２
３に入射しているかどうか判定し、正反射光カメラ２３
に入射していると判定した場合は正常．そうでない場合
は欠陥と判定している． 〔発明が解決しようとする課題〕 上述した従来のはんだ付け検査装置は、はんだ付け部の
画像よりはんだ付け状態の検査を行っていたが、部品に
位置ずれがあるとはんだ付け部でない部分の画像を取り
込んでしまい、はんだ付け部が精度よく検査できないと
いう欠点があつた。
〔課題を解決するための手段〕
本発明のはんだ付け検査装置は、検査対象部品に斜め上
方から光を照射する照明と、検査対象部品の画像を取り
込む上方に取り付けられたカメラと、該カメラから取り
込んだ濃淡画像を二値化画像に変換する二値化回路と、
第一の検査領域を記憶する第一の検査領域記憶回路と、
前記二値化回路より出力される二値化画像に前記第一の
検査領域記憶回路に記憶されている第一の検査領域を発
生させる第一のウィンドウ発生回路と、該第一のウィン
ドウ発生回路より出力されるウィンドウ内二値化画像よ
り、検査対象部品の位置ずれ量を求める位置ずれ量検出
回路と、第二の検査領域を記憶する第二の検査領域記憶
回路と、前記位置ずれ量検出回路により検出された位置
ずれ量に応じて、前記第二の検査領域記憶回路に記憶さ
れている第二の検査領域の座標を補正して、前記カメラ
から取り込んだ濃淡画像に補正した第二の検査領域を発
生させる第二のウィンドウ発生回路と、該第二のウィン
ドウ発生回路より出力されるウィンドウ内濃淡画像の濃
淡値の緩和を求める加算回路と、該加算回路から出力さ
れる加算値より検査結果を判定する判定回路とを含んで
構成される．〔実施例〕 次に、本発明の実施例について、図面を参照して詳細に
説明する． 第１図は本発明の一実施例を示すブロック図である． 第１図の検査対象部品１のリード２は、プリント基板３
上のパッド４にはんだ５によりはんだ付けされている。
方から光を照射する照明と、検査対象部品の画像を取り
込む上方に取り付けられたカメラと、該カメラから取り
込んだ濃淡画像を二値化画像に変換する二値化回路と、
第一の検査領域を記憶する第一の検査領域記憶回路と、
前記二値化回路より出力される二値化画像に前記第一の
検査領域記憶回路に記憶されている第一の検査領域を発
生させる第一のウィンドウ発生回路と、該第一のウィン
ドウ発生回路より出力されるウィンドウ内二値化画像よ
り、検査対象部品の位置ずれ量を求める位置ずれ量検出
回路と、第二の検査領域を記憶する第二の検査領域記憶
回路と、前記位置ずれ量検出回路により検出された位置
ずれ量に応じて、前記第二の検査領域記憶回路に記憶さ
れている第二の検査領域の座標を補正して、前記カメラ
から取り込んだ濃淡画像に補正した第二の検査領域を発
生させる第二のウィンドウ発生回路と、該第二のウィン
ドウ発生回路より出力されるウィンドウ内濃淡画像の濃
淡値の緩和を求める加算回路と、該加算回路から出力さ
れる加算値より検査結果を判定する判定回路とを含んで
構成される．〔実施例〕 次に、本発明の実施例について、図面を参照して詳細に
説明する． 第１図は本発明の一実施例を示すブロック図である． 第１図の検査対象部品１のリード２は、プリント基板３
上のパッド４にはんだ５によりはんだ付けされている。
照明６は検査対象部品を斜め上方より照射光ａにより照
射し、カメラ７は前記検査対象部品からの反射光ｂを取
り込み濃淡画像信号Ｃを出力する． 二値化回路８は前記濃淡画像信号Ｃを入力しあらかじめ
設定した二値化レベルにより明るい部分に対応した“１
”と暗い部分に対応した“′Ｏ”に変換し、二値化画像
信号ｂを出力する．第一のウィンドウ発生回路９では、
前記二値化画像信号ｄを入力し第一の検査領域記憶回路
１０に記憶されている第一の検査領域信号ｅにより設定
される検査ウインドウを発生させ、該検査ウインドウ内
の二値化画像のみを抽出したウインドウ内二値化画像信
号ｆを出力する． 第一の検査領域は表面実装ＩＣのモールド部分から外側
に出たリードの下側へ曲がる肩部分に発生させる。
射し、カメラ７は前記検査対象部品からの反射光ｂを取
り込み濃淡画像信号Ｃを出力する． 二値化回路８は前記濃淡画像信号Ｃを入力しあらかじめ
設定した二値化レベルにより明るい部分に対応した“１
”と暗い部分に対応した“′Ｏ”に変換し、二値化画像
信号ｂを出力する．第一のウィンドウ発生回路９では、
前記二値化画像信号ｄを入力し第一の検査領域記憶回路
１０に記憶されている第一の検査領域信号ｅにより設定
される検査ウインドウを発生させ、該検査ウインドウ内
の二値化画像のみを抽出したウインドウ内二値化画像信
号ｆを出力する． 第一の検査領域は表面実装ＩＣのモールド部分から外側
に出たリードの下側へ曲がる肩部分に発生させる。
位置ずれ量検出回路１１では、前記ウインドウ内二値化
画像信号ｆを入力し、該リードの位置ずれ量を検出する
．位置ずれ量の検出はリードの肩部分からの正反射光が
カメラ７に入力することを利用して、例えば“１”の図
形のＸ方向とＹ方向のそれぞれの最小座標の最大座標の
平均座標とあらかじめ位置ずれ量検出回路１１に記憶さ
せてあるリード肩座標の差をとり求めることができる． 位置ずれ量検出回路１１は位置ずれ量信号ｇを第二のウ
ィンドウ発生回路１２に出力する。
画像信号ｆを入力し、該リードの位置ずれ量を検出する
．位置ずれ量の検出はリードの肩部分からの正反射光が
カメラ７に入力することを利用して、例えば“１”の図
形のＸ方向とＹ方向のそれぞれの最小座標の最大座標の
平均座標とあらかじめ位置ずれ量検出回路１１に記憶さ
せてあるリード肩座標の差をとり求めることができる． 位置ずれ量検出回路１１は位置ずれ量信号ｇを第二のウ
ィンドウ発生回路１２に出力する。
第二のウィンドウ発生回路１２は、第二の検査領域記憶
回路１３に記憶されている第二の検査領域信号ｈにより
設定される検査ウィンドウを前記位置ずれ量信号ｇの示
す位置ずれ量に応じて補正して発生させる． 従って部品が位置ずれを起こしていても検査ウィンドウ
は検査対象はんだ付け部に発生させることができる。さ
らに第二のウィンドウ発生回路１２は、濃淡画像信号Ｃ
を入力し前記位置ずれ量に応じて補正して発生させた検
査ウィンドウ内の濃淡画像のみを抽出したウィンドウ内
濃淡画像信号ｉを出力する。
回路１３に記憶されている第二の検査領域信号ｈにより
設定される検査ウィンドウを前記位置ずれ量信号ｇの示
す位置ずれ量に応じて補正して発生させる． 従って部品が位置ずれを起こしていても検査ウィンドウ
は検査対象はんだ付け部に発生させることができる。さ
らに第二のウィンドウ発生回路１２は、濃淡画像信号Ｃ
を入力し前記位置ずれ量に応じて補正して発生させた検
査ウィンドウ内の濃淡画像のみを抽出したウィンドウ内
濃淡画像信号ｉを出力する。
加算回路１４は、前記ウィンドウ内濃淡画像信号ｉを入
力し濃淡値をすべて足し込み加算値を得、該加算値に応
じた加算値信号ｊを判定回路１５に出力する． 判定回路１５では、あらかじめ設定された基準値と入力
された加算値とを比較し、加算値のほうが大きければは
んだ付け検査合格と判定する。
力し濃淡値をすべて足し込み加算値を得、該加算値に応
じた加算値信号ｊを判定回路１５に出力する． 判定回路１５では、あらかじめ設定された基準値と入力
された加算値とを比較し、加算値のほうが大きければは
んだ付け検査合格と判定する。
次に第２図を用いて、位置ずれ量検出の原理を説明する
。
。
第２図より、照明６からの照射光ａがそれぞれリードの
水平な部分１６，リードの下側へ曲がる肩部分１７，リ
ードの斜めになった部分１８に照射し、反射光ｋ，１，
ｍとなる． 反射光ｌのみが上方へ反射しカメラに入射するため、濃
淡画像信号Ｃにおいてリードの肩部分に相当する箇所が
明るくなる。
水平な部分１６，リードの下側へ曲がる肩部分１７，リ
ードの斜めになった部分１８に照射し、反射光ｋ，１，
ｍとなる． 反射光ｌのみが上方へ反射しカメラに入射するため、濃
淡画像信号Ｃにおいてリードの肩部分に相当する箇所が
明るくなる。
従って二値化信号Ｃの明るい部分に対応した“１゜“の
部分の座標と、あらかじめ記憶させておく本来リードの
肩があるべき座標と比較することによりリードの位置ず
れ量を検出することができる。
部分の座標と、あらかじめ記憶させておく本来リードの
肩があるべき座標と比較することによりリードの位置ず
れ量を検出することができる。
次に第３図（ａ），（ｂ）を用いてはんだ付け部の検査
の原理を説明する． 照明６は正常なはんだ付け部がらの反射光ｎがカメラに
入射する方向に取り付けておく。
の原理を説明する． 照明６は正常なはんだ付け部がらの反射光ｎがカメラに
入射する方向に取り付けておく。
第３図（ａ）は正常にはんだ付けが行われている場合で
ある．はんだ付け部に照射された照射光ａは、はんだ付
けが正常に行われている場合、鏡面状になったはんだ５
の表面で正反射しカメラ７に入射し、濃淡画像Ｃのはん
だ付け部は明るくなる． 第３図（ｂ）は、はんだ付けが正常に行われていない場
合であり、はんだ付け部への照射光ａは電極側面または
パッドで乱反射し、反射光Ｏは散乱するため濃淡画像ｂ
のはんだ付け部は暗くなる． 従って、正常にはんだ付けが行われている場合の加算値
と、はんだ付けが正常に行われていない場合の加算値の
間に判定回路１５で用いる基準値を設定しておけば、は
んだ付けが正常に行われているかどうか区別することが
できる。
ある．はんだ付け部に照射された照射光ａは、はんだ付
けが正常に行われている場合、鏡面状になったはんだ５
の表面で正反射しカメラ７に入射し、濃淡画像Ｃのはん
だ付け部は明るくなる． 第３図（ｂ）は、はんだ付けが正常に行われていない場
合であり、はんだ付け部への照射光ａは電極側面または
パッドで乱反射し、反射光Ｏは散乱するため濃淡画像ｂ
のはんだ付け部は暗くなる． 従って、正常にはんだ付けが行われている場合の加算値
と、はんだ付けが正常に行われていない場合の加算値の
間に判定回路１５で用いる基準値を設定しておけば、は
んだ付けが正常に行われているかどうか区別することが
できる。
本発明のはんだ付け検査装置は、まず部品の位置ずれ量
を求めてから、該位置ずれ量に応じて検査箇所の補正を
行い、はんだ付け状態の検査を行うので部品の位置ずれ
に影響されずに精度よく検査を行うことができるという
効果がある。
を求めてから、該位置ずれ量に応じて検査箇所の補正を
行い、はんだ付け状態の検査を行うので部品の位置ずれ
に影響されずに精度よく検査を行うことができるという
効果がある。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図，
第３図（ａ）．（ｂ）は本発明の原理を説明するための
原理図、第４図は従来の一例を示す側面図である． １・・・検査対象部品、２・・・リード、３・・・プリ
ント基板、４・・・パッド、５・・・はんだ、６・・・
照明、７・・・カメラ、８・・・二値化回路、９・・・
第一のウィンドウ発生回路、１０・・・第一の検査領域
記憶回路、１■・・・位置ずれ量検出回路、１２・・・
第二のウィンドウ発生回路、１３・・・第二の検査領域
記憶回路、１４・・・加算回路、１５・・・判定回路、
１６・・・リードの水平な部分、１７・・・リードの下
側へ曲がる肩部分、１８・・・リードの斜めになった部
分、２０・・・電極、２１・・・はんだ、２２・・・照
明、２３・・・カメラ、２４・・・判定部。 ａ・・・照射光、ｂ・・・反射光、Ｃ・・・濃淡画像信
号、ｄ・・・二値化画像信号、ｅ・・・第一の検査領域
信号、ｆ・・・ウィンドウ内二値化画像信号、ｇ・・・
位置ずれ量信号、ｈ・・・第二の検査領域信号、ｉ・・
・ウィンドウ内濃淡画像信号、ｊ・・・加算値信号、ｋ
，ｌ，ｍ，ｆｉ，Ｏ・・・反射光、ｐ・・・照射光、ｑ
・・・画像信号。
第３図（ａ）．（ｂ）は本発明の原理を説明するための
原理図、第４図は従来の一例を示す側面図である． １・・・検査対象部品、２・・・リード、３・・・プリ
ント基板、４・・・パッド、５・・・はんだ、６・・・
照明、７・・・カメラ、８・・・二値化回路、９・・・
第一のウィンドウ発生回路、１０・・・第一の検査領域
記憶回路、１■・・・位置ずれ量検出回路、１２・・・
第二のウィンドウ発生回路、１３・・・第二の検査領域
記憶回路、１４・・・加算回路、１５・・・判定回路、
１６・・・リードの水平な部分、１７・・・リードの下
側へ曲がる肩部分、１８・・・リードの斜めになった部
分、２０・・・電極、２１・・・はんだ、２２・・・照
明、２３・・・カメラ、２４・・・判定部。 ａ・・・照射光、ｂ・・・反射光、Ｃ・・・濃淡画像信
号、ｄ・・・二値化画像信号、ｅ・・・第一の検査領域
信号、ｆ・・・ウィンドウ内二値化画像信号、ｇ・・・
位置ずれ量信号、ｈ・・・第二の検査領域信号、ｉ・・
・ウィンドウ内濃淡画像信号、ｊ・・・加算値信号、ｋ
，ｌ，ｍ，ｆｉ，Ｏ・・・反射光、ｐ・・・照射光、ｑ
・・・画像信号。
Claims (1)
- 検査対象部品に斜め上方から光を照射する照明と、検査
対象部品の画像を取り込む上方に取り付けられたカメラ
と、該カメラから取り込んだ濃淡画像を二値化画像に変
換する二値化回路と、第一の検査領域を記憶する第一の
検査領域記憶回路と、前記二値化回路より出力される二
値化画像に前記第一の検査領域記憶回路に記憶されてい
る第一の検査領域を発生させる第一のウィンドウ発生回
路と、該第一のウィンドウ発生回路より出力されるウィ
ンドウ内二値化画像より、検査対象部品の位置ずれ量を
求める位置ずれ量検出回路と、第二の検査領域を記憶す
る第二の検査領域記憶回路と、前記位置ずれ量検出回路
により検出された位置ずれ量に応じて、前記第二の検査
領域記憶回路に記憶されている第二の検査領域の座標を
補正して、前記カメラから取り込んだ濃淡画像に補正し
た第二の検査領域を発生させる第二のウィンドウ発生回
路と、該第二のウィンドウ発生回路より出力されるウィ
ンドウ内濃淡画像の濃淡値の緩和を求める加算回路と、
該加算回路から出力される加算値より検査結果を判定す
る判定回路とを含むことを特徴とするはんだ付け検査装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30271089A JP2819696B2 (ja) | 1989-11-20 | 1989-11-20 | はんだ付検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30271089A JP2819696B2 (ja) | 1989-11-20 | 1989-11-20 | はんだ付検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03162611A true JPH03162611A (ja) | 1991-07-12 |
| JP2819696B2 JP2819696B2 (ja) | 1998-10-30 |
Family
ID=17912254
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30271089A Expired - Lifetime JP2819696B2 (ja) | 1989-11-20 | 1989-11-20 | はんだ付検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2819696B2 (ja) |
-
1989
- 1989-11-20 JP JP30271089A patent/JP2819696B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2819696B2 (ja) | 1998-10-30 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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