JPH03161956A - 半導体素子搭載用配線板及びその製造法 - Google Patents

半導体素子搭載用配線板及びその製造法

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JPH03161956A
JPH03161956A JP30232489A JP30232489A JPH03161956A JP H03161956 A JPH03161956 A JP H03161956A JP 30232489 A JP30232489 A JP 30232489A JP 30232489 A JP30232489 A JP 30232489A JP H03161956 A JPH03161956 A JP H03161956A
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JP
Japan
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film
section
resist film
photo
copper
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Pending
Application number
JP30232489A
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English (en)
Inventor
Teruhisa Momose
輝寿 百瀬
Hideki Yamanaka
英樹 山中
Masanori Nakamura
正則 中村
Yukihisa Hiroyama
幸久 廣山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Resonac Corp
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は半導体素子搭載用配線板及びその製造法に関す
る。
(従来の技術) 従来の半導体素子搭載用配線板は,セラミックグリーン
シ一ト上にタングステン,モリブデンーマンガン,銅等
のペーストを印刷して回路を形成し,次いでこれらを積
層して焼成し,さらに回路の上面にニッケルめっき,金
めつきを施し,リードピンを銀ロー付して製造するか又
はガラスエポキシ,ビスマレイミドトリアジン等の有機
質基板上に銅の被膜を形成し,これをエッチングなどの
方法で回路を形成し,さらに回路の上面にニッケルめっ
き,金めつきを施し,リードピンをはんだ付して製造し
ていた。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら前者の方法では印刷法によるため配線密度
が低く、ワイヤーボンディング端子数が多いものは多層
化にする必要があり,1た還元雰囲気中で焼成するなど
製造工程が複雑となる欠点がある。
一方後者の方法では基板の熱伝導率が低いため,半導体
素子から発生する熱の放熱性に劣るという欠点がある。
本発明は上記の欠点のない半導体素子搭載用配線板及び
その製造法を提供することを目的とするものである。
(課題を解決するための手段) 本発明は窒化アルミニウム基板のほぼ中央部の半導体素
子が搭載される部分に形成された底面が平坦な四部,四
部を除いた基板上の内側の部分に形成されたワイヤーポ
ンデイング,ワイヤーボンディング部と接して形成され
た導通回路,導通回路及び基板を貫通して形成された通
貫孔,貫通孔内に挿入固着されたピンとからなる半導体
素子搭載用配線板並びに窒化アルミニウム基板のほぼ中
央部に底面が平坦な四部を形成し,その他の任意の個所
に貫通孔を形成した後,基板の表面を化学的に粗化し,
次いでめっき法により金属被膜を形成し,さらにその上
面にレジスト膜を形成し,エッチング法で金属被膜の必
要な部分のみを残して導通回路及びワイヤーボンディン
グ部を形成し,しかる後,貫通孔内にピンを挿入して固
着する半導体素子搭載用配線板の製造法に関する。
本発明に訃ける粗化法については特に制限はなく,例え
ば8nF, m液又はNH4F. (NHa)zSO4
,濃H2SO., H20等の混合溶液からなるフン化
物混合物中に浸漬するか又は加熱したNaOH, KO
H等の融液中に浸漬することによb粗化することができ
る。
金属被膜の形成に用いられる金属としては,ニッケル,
ニッケル合金,銅,銅合金,金等が用いられる。めっき
法については特に制限はないが無電解めっき法で行うこ
とが好筐しい。めっきは例えば無電解鋼めっきを施した
後,その上面にニッケル,金めつき等を施すことが好筐
しい。
レジスト膜は,熱硬化性のレジストを金属被膜の上面に
スクリーン印刷し,加熱,硬化して形成してもよく,感
光性レジストフイルムを金属被膜上に貼付してもよく特
に制限はない。
エッチング法は.レジスト膜の形成方法により適宜選定
するものとし,特に制限はない。
ピンの材質は.特に制限はないが,コパール,42合金
,52合金等のNi系合金,銅,銅合金などが使用でき
る。ピンの長さは挿入して固着する導通回路を形成する
基板より長いものを用いることが好渣し〈,突出長さは
2111m以上あることが好ヰしい。このピンと導通回
路との固着は,半田,銀ろう,金合金,熱硬化性樹脂,
耐熱性熱可塑性樹脂等が用いられる。
(実施例) 以下本発明の実施例を説明する。
実施例1 寸法が44X44mmで厚さが1. 0 mmの窒化ア
ルミニウム基板(徳山曹達製,商品名シュイバル)のほ
ぼ中央部の半導体素子が搭載される部分に第1図に示す
ように底面が平坦な凹部6を形成し,その外側に2. 
5 4 mm間隔で直径0. 6 4 mm(φ)の貫
通孔2を208個形成した後,トリクレン溶液(脱脂液
)(和光純薬製,試薬1級)で洗浄し,水洗−5= を行った後, SnF2溶液(509/V)中に15分
間浸漬して,粗化及び感受性化処理を同時に行い,さら
に水洗後PdCl!2溶液(0.3g/l)に5分間浸
漬して活性化処理を行った。この後無電解銅めつきを1
5分間行い,厚さ0.8μmの銅の被膜を形威した。な
釦無電解めっき液は(日立化成工業製,商品名Cast
 201)を使用した。
続いて水洗後.濃度10重量多の硫酸溶液に浸潰して酸
化被膜を除去後,ソフトエッチング溶液(奥野製薬製,
商品名OPC−91.50献/J)に30秒間浸漬し,
ついで電解銅めっき(硫酸銅めつき)を15分間行い,
厚さ10μmの銅の被膜を形成した。な釦電解銅めっき
液は(荏原電産製,商品名PC−636)を使用した。
次に感光性レジストフィルム(日立化成工業製,商品名
PHT−862AP−40)を前記銅の被膜上全面に貼
付し,さらにその上面に,得られる導通回路と同形状に
透明な部分を形成したネカフィルムを貼付し,露光して
ネガフィルムの透明な部分の下面に配設した感光性レジ
ストフィルムを硬化6 させた。ついでネガフィルムを取り除き,さらに現像し
て硬化していない部分,詳しくは露光していない部分の
感光性レジストフィルムを除去し,塩化鋼エッチング液
でエッチングを行い傳体回路として不必要な部分の銅の
被膜を除去した。
この後,濃度5重it%のNaOH溶液で硬化している
感光性レジストフイルムを剥離し,第2図に示すような
導通回路3を形成した。
次に導通回路3のランド部となる部分とその先端部分を
除いた部分に制めつきレジスト(アサヒ化学研究所製,
商品名CCR506)を塗布した後,ランド部となる部
分とその先端部分の銅の被膜上にワット浴で21μmの
厚さにニンケルめっきを施し,さらにその上面に1+.
:.5μmの厚さに金めつき〔日本エレクトロプレイテ
イングエンジニャーズ(EEJA)製.商品名テンペレ
ックス401:]を施してランド部(図示せず)とワイ
ヤーボンディング部4とを形成した。
次いで第3図に示すように貫通孔2内にすずめつきを1
0±2μmの厚さに施した直径が0.46印で,一方の
端部を〈ぎの頭状に加工した長さが7mmの52合金の
ネールへッドピン5を挿入し,他の一方の端部(端子)
を下面に露出させた後Sn:Pb=10:9(1)半田
により不一ルヘットピン5を固着し,かつ貫通孔2内を
気密封止した半導体素子搭載用配線板を得た。
(発明の効果) 本発明になる半導体素子搭載用配線板は,高密度配線に
優れ、ワイヤーボンディング端子数が多いものでも多層
化にする必要がなく.放熱性に優れるなどの効果を奏す
る半導体素子搭載用配線板である。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は,本発明の実施例における半導体素
子搭載用配線板の製造作業状態を示す一部省略断面図並
びに第3図は本発明の実施例になる半導体素子搭載用配
線板である。 符号の説明 1・・・窒化アルミニウム基板 2・・・貫通孔      3・・・導通回路4・・・
ワイヤーボンディング部 5・・・ネールへッドピン 6・・・凹部 −9−

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、窒化アルミニウム基板のほぼ中央部の半導体素子が
    搭載される部分に形成された底面が平担な凹部、凹部を
    除いた基板上の内側の部分に形成されたワイヤーボンデ
    ィング部、ワイヤーボンディング部と接して形成された
    導通回路、導通回路及び基板を貫通して形成された貫通
    孔、貫通孔内に挿入固着されたピンとからなる半導体素
    子搭載用配線板。 2、窒化アルミニウム基板のほぼ中央部に底面が平担な
    凹部を形成し、その他の任意の個所に貫通孔を形成した
    後、基板の表面を化学的に粗化し、次いでめつき法によ
    り金属被膜を形成し、さらにその上面にレジスト膜を形
    成し、エッチング法で金属被膜の必要な部分のみを残し
    て導通回路及びワイヤーボンディング部を形成し、しか
    る後貫通孔内にピンを挿入して固着することを特徴とす
    る半導体素子搭載用配線板の製造法。
JP30232489A 1989-11-21 1989-11-21 半導体素子搭載用配線板及びその製造法 Pending JPH03161956A (ja)

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JP (1) JPH03161956A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5455385A (en) * 1993-06-28 1995-10-03 Harris Corporation Multilayer LTCC tub architecture for hermetically sealing semiconductor die, external electrical access for which is provided by way of sidewall recesses
US6753612B2 (en) 2001-04-05 2004-06-22 International Business Machines Corporation Economical high density chip carrier

Cited By (3)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5455385A (en) * 1993-06-28 1995-10-03 Harris Corporation Multilayer LTCC tub architecture for hermetically sealing semiconductor die, external electrical access for which is provided by way of sidewall recesses
US6753612B2 (en) 2001-04-05 2004-06-22 International Business Machines Corporation Economical high density chip carrier
US6998290B2 (en) 2001-04-05 2006-02-14 International Business Machines Corporation Economical high density chip carrier

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