JPH03160737A - テープボンディング方法 - Google Patents
テープボンディング方法Info
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- JPH03160737A JPH03160737A JP29980489A JP29980489A JPH03160737A JP H03160737 A JPH03160737 A JP H03160737A JP 29980489 A JP29980489 A JP 29980489A JP 29980489 A JP29980489 A JP 29980489A JP H03160737 A JPH03160737 A JP H03160737A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 10
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 8
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は半導体集積回路(IC)や大規模集積回路(L
SI)の半導体部品を製造するテープボンディング装置
に関し、特にテープボンディング装置で1点ボンディン
グを行う場合のテープボンディング方法に関するもので
ある。
SI)の半導体部品を製造するテープボンディング装置
に関し、特にテープボンディング装置で1点ボンディン
グを行う場合のテープボンディング方法に関するもので
ある。
[背景技術]
半導体集積回路(IC)や大規模集積回路(LSI)を
製造する場合には、一M的にフィルム状に形成されたテ
ープ側のリードと位置決め台に位置決めされたチップ上
のバンプとを相対的に一致させる必要がある。したがっ
て、テープボンディング方法においては、テープ側に形
成されたリードとボンディングされるべきチップ上のバ
ンプとが相対的に一致するように被ボンディング部品で
あるチップをθ方向への回転動作及びX方向、Y方向に
変位させて行っている。
製造する場合には、一M的にフィルム状に形成されたテ
ープ側のリードと位置決め台に位置決めされたチップ上
のバンプとを相対的に一致させる必要がある。したがっ
て、テープボンディング方法においては、テープ側に形
成されたリードとボンディングされるべきチップ上のバ
ンプとが相対的に一致するように被ボンディング部品で
あるチップをθ方向への回転動作及びX方向、Y方向に
変位させて行っている。
そして、従来の方法ではテープ側のリードとチップ側の
バンプの位置検出は別々に行われており、この位置検出
はテープ側に予め記憶された任意の2点▲A++▲A.
(図示せず)を操作者がモニタ(図示せず)を見ながら
目合せを行なうか、または画像処理装置(図示せず)に
より検出を行なうことによりXYテーブル上の座標とし
て算出するようにしている。一方、被ボンディング部品
であるチップ側にも同様に任意の2点▲B1,▲B.(
図示せず)が予め記憶されている。このチップ側も操作
者がモニタを見ながら目合せを行なうか、または画像処
理装置により検出を行なうことにより算出している。
バンプの位置検出は別々に行われており、この位置検出
はテープ側に予め記憶された任意の2点▲A++▲A.
(図示せず)を操作者がモニタ(図示せず)を見ながら
目合せを行なうか、または画像処理装置(図示せず)に
より検出を行なうことによりXYテーブル上の座標とし
て算出するようにしている。一方、被ボンディング部品
であるチップ側にも同様に任意の2点▲B1,▲B.(
図示せず)が予め記憶されている。このチップ側も操作
者がモニタを見ながら目合せを行なうか、または画像処
理装置により検出を行なうことにより算出している。
なお、テープ側の孔部及びチップ側の四角形状の各辺の
座標は予め画像処理装置内に記憶されており、この中点
、例えばS及びS゛の座標(図示せず)を基準としてテ
ープ及びチップ側の中点座標を一致させるような補正を
する。しかし、テープ側は位置決め台に固定されている
のでチップ側をXYテーブルによりθ方向への回転動作
及びX方向、Y方向に変位させて一致させる。
座標は予め画像処理装置内に記憶されており、この中点
、例えばS及びS゛の座標(図示せず)を基準としてテ
ープ及びチップ側の中点座標を一致させるような補正を
する。しかし、テープ側は位置決め台に固定されている
のでチップ側をXYテーブルによりθ方向への回転動作
及びX方向、Y方向に変位させて一致させる。
このようにテープ側とチップ側とを相対的に一致させた
後にテープボンディングを行うのであるが、このボンデ
ィングを行う前に画像処理装置によりテープ側の個々の
リードに曲り等があるかどうかを複数本について検出す
る。この検出は画像処理装置内に内蔵されている2値化
回路(例えばリードLPの部分は明色化されて読み取ら
れる部分を「1」とし、それ以外の部分は暗色化されて
rOJというようにディジタル化されて読み取る機構)
を用いリードロケータ(検索機構)(図示せず)により
リードの各々の座標を求めることにより行う。このリー
ドロケータによる検出点は各リードの中心を求めるよう
に構成されている。また、同様に同一画像内のバンプ画
像から、バンプの中心を求める。そして、ボンディング
の対象となるリードとバンプの各々の中心の相対的なず
れ量を算出する。この検出結果に基づいて所定範囲内の
ずれ量等であればリードの曲がりがあってもそのままボ
ンディングを行い、所定範囲外のずれ量であるときは不
良と判定してボンディングを行わないという処理がなさ
れている。
後にテープボンディングを行うのであるが、このボンデ
ィングを行う前に画像処理装置によりテープ側の個々の
リードに曲り等があるかどうかを複数本について検出す
る。この検出は画像処理装置内に内蔵されている2値化
回路(例えばリードLPの部分は明色化されて読み取ら
れる部分を「1」とし、それ以外の部分は暗色化されて
rOJというようにディジタル化されて読み取る機構)
を用いリードロケータ(検索機構)(図示せず)により
リードの各々の座標を求めることにより行う。このリー
ドロケータによる検出点は各リードの中心を求めるよう
に構成されている。また、同様に同一画像内のバンプ画
像から、バンプの中心を求める。そして、ボンディング
の対象となるリードとバンプの各々の中心の相対的なず
れ量を算出する。この検出結果に基づいて所定範囲内の
ずれ量等であればリードの曲がりがあってもそのままボ
ンディングを行い、所定範囲外のずれ量であるときは不
良と判定してボンディングを行わないという処理がなさ
れている。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、従来のテープボンディング方法では画像
処理装置によるずれ量の算出は各リード毎にXYテーブ
ル上の座標に換算して1本毎に検出して補正可能ではあ
るが、従来のボンデイング装置ではテープ側とバンプ側
との相対的なずれ量を別々に検出して補正するのみであ
り、しかも1本毎の補正はなされていない。
処理装置によるずれ量の算出は各リード毎にXYテーブ
ル上の座標に換算して1本毎に検出して補正可能ではあ
るが、従来のボンデイング装置ではテープ側とバンプ側
との相対的なずれ量を別々に検出して補正するのみであ
り、しかも1本毎の補正はなされていない。
したがって、テープボンデイング装置で1本ボンディン
グにより1本毎にボンデイングされるものであっても、
リードとバンプとのずれ量の平均的な補正がなされた後
に複数本あるリードの中の1本でも所定のずれ量以上曲
がっていると不良と判定されるか、またはリードとバン
プとがずれた状態でボンディングされてしまうので不良
品が起こり易いという欠点がある。これはボンデイング
がなされる半導体部品が高価である場合には非常に生産
等の効率が悪く好ましくないという欠点がある。しかも
、従来の方法のようにテープ側とチップ側を別々に補正
する方法では装置の組み立て誤差等にも影響され易く各
リード間のバラツキ及びチップ側のバンプのバラツキを
充分補正することができず、リードの多ビン化、小バン
プ化が推進される場合には対応することができないとい
う欠点がある。
グにより1本毎にボンデイングされるものであっても、
リードとバンプとのずれ量の平均的な補正がなされた後
に複数本あるリードの中の1本でも所定のずれ量以上曲
がっていると不良と判定されるか、またはリードとバン
プとがずれた状態でボンディングされてしまうので不良
品が起こり易いという欠点がある。これはボンデイング
がなされる半導体部品が高価である場合には非常に生産
等の効率が悪く好ましくないという欠点がある。しかも
、従来の方法のようにテープ側とチップ側を別々に補正
する方法では装置の組み立て誤差等にも影響され易く各
リード間のバラツキ及びチップ側のバンプのバラツキを
充分補正することができず、リードの多ビン化、小バン
プ化が推進される場合には対応することができないとい
う欠点がある。
そこで、本発明は上記従来技術の欠点に鑑みなされたも
ので、テープ側の各リードとそれに対応するチップ側の
バンプとのずれ量を検出し、該ずれ量を有効ボンディン
グ範囲内に補正した後、テープ側のリードとチップ側の
バンプとを1本毎に確実にボンディングを行うことので
きるテープボンディング方法を提供することを目的とす
る。
ので、テープ側の各リードとそれに対応するチップ側の
バンプとのずれ量を検出し、該ずれ量を有効ボンディン
グ範囲内に補正した後、テープ側のリードとチップ側の
バンプとを1本毎に確実にボンディングを行うことので
きるテープボンディング方法を提供することを目的とす
る。
[課題を解決するための手段]
本発明は、テープに形成されたリードを位置決めし、テ
ーブル上に配置されたチップを相対的に変位させること
により前記リードと前記チップ上のパンブとを相対的に
一致させた後、前記リードとチップ上のバンプとを1本
毎にボンディングするテープボンディング方法において
、カメラで撮像された任意のリードに相対するボンディ
ングされるべきチップ上のバンプを選択し、リードとバ
ンプとの相対的なずれ量を算出し、該ずれ量をXY方向
及び/又は回転角変位手段により補正して、当該リード
とチップ上のバンプとをボンデイングするようにしたも
のである。
ーブル上に配置されたチップを相対的に変位させること
により前記リードと前記チップ上のパンブとを相対的に
一致させた後、前記リードとチップ上のバンプとを1本
毎にボンディングするテープボンディング方法において
、カメラで撮像された任意のリードに相対するボンディ
ングされるべきチップ上のバンプを選択し、リードとバ
ンプとの相対的なずれ量を算出し、該ずれ量をXY方向
及び/又は回転角変位手段により補正して、当該リード
とチップ上のバンプとをボンデイングするようにしたも
のである。
[実施例コ
次に本発明の実施例について図面を用いて詳細に説明す
る。
る。
第1図は本発明の方法を用いるテーブボンデインク装置
の構成の概略を示す説明図である。
の構成の概略を示す説明図である。
第1図において、1はテープボンデイング装置本体に固
定されたフレームであり、このフレーム1上にはXYテ
ーブル2及びチップ受台テーブル10等が配置されてい
る。XYテーブル2はX方向及びY方向に移動可能に構
成されており、このXYテーブル2上に搭載されている
ボンデイングヘッド3を移動させて位置決めする。この
ボンディングヘッド3にはボンディングツール12をZ
方向に移動する2方向移動機構11及びカメラ9等が搭
載されている。
定されたフレームであり、このフレーム1上にはXYテ
ーブル2及びチップ受台テーブル10等が配置されてい
る。XYテーブル2はX方向及びY方向に移動可能に構
成されており、このXYテーブル2上に搭載されている
ボンデイングヘッド3を移動させて位置決めする。この
ボンディングヘッド3にはボンディングツール12をZ
方向に移動する2方向移動機構11及びカメラ9等が搭
載されている。
一方、被ボンディング部品であるチツプ14はX方向及
びY方向に移動可能に構成されているXYテーブル4と
、該XYテーブル4上に搭載されθ方向に回転可能なθ
テーブル(回転角変位手段)5と、このθテーブル5上
に設けられた受台6とで構成されるチップ受台10で位
置決め固定される。このチップ14上に対向して配置さ
れたテーブl3はテープクランブ8によってクランブさ
れて位置決めされている。このテープクランブ8はZ機
構7によってZ方向、第1図の上下方向に移動可能に構
成されている。
びY方向に移動可能に構成されているXYテーブル4と
、該XYテーブル4上に搭載されθ方向に回転可能なθ
テーブル(回転角変位手段)5と、このθテーブル5上
に設けられた受台6とで構成されるチップ受台10で位
置決め固定される。このチップ14上に対向して配置さ
れたテーブl3はテープクランブ8によってクランブさ
れて位置決めされている。このテープクランブ8はZ機
構7によってZ方向、第1図の上下方向に移動可能に構
成されている。
次に、上記構成よりなるテープボンディング装置によっ
て位置決めされたチップ14はカメラ9を通してクロッ
ク生成回路、水平及び垂直同期信号発生回路、クロック
パルス計数回路及びマイクロプロセッサ等よりなる制御
回路等で構成されている画像処理装置(図示せず)によ
り処理される。この画像処理装置ではリードロケータに
よる検出点と実際のりード15の検出点のずれ量及びチ
ップのバンプ16側のずれ量とを別々に検出して補正す
るのではなく、リード15とバンプ16とを同一視野内
で検出できるようにチップ受台10及びZ機構7等を移
動制御し、リード15とバンプ16の中心のずれ量△X
及びΔyを同時に検出している。そして、このずれ量の
算出を各リード15間で行なうことによりリード15と
バンプl6との相対的なずれ量を求め各リード15に対
応するデータを画像処理装置内の記憶回路にデータとし
て記憶する。このずれ量算出はすべてのりードl5で行
う必要はなく任意のりードl5を適宜選択して行っても
よい。この記憶されたデータを基にして画像処理装置内
の制御回路でデータを平均化してリードl5とバンプl
6とを相対的に位置決め補正する。
て位置決めされたチップ14はカメラ9を通してクロッ
ク生成回路、水平及び垂直同期信号発生回路、クロック
パルス計数回路及びマイクロプロセッサ等よりなる制御
回路等で構成されている画像処理装置(図示せず)によ
り処理される。この画像処理装置ではリードロケータに
よる検出点と実際のりード15の検出点のずれ量及びチ
ップのバンプ16側のずれ量とを別々に検出して補正す
るのではなく、リード15とバンプ16とを同一視野内
で検出できるようにチップ受台10及びZ機構7等を移
動制御し、リード15とバンプ16の中心のずれ量△X
及びΔyを同時に検出している。そして、このずれ量の
算出を各リード15間で行なうことによりリード15と
バンプl6との相対的なずれ量を求め各リード15に対
応するデータを画像処理装置内の記憶回路にデータとし
て記憶する。このずれ量算出はすべてのりードl5で行
う必要はなく任意のりードl5を適宜選択して行っても
よい。この記憶されたデータを基にして画像処理装置内
の制御回路でデータを平均化してリードl5とバンプl
6とを相対的に位置決め補正する。
この合せ込まれた状態が第2図に示されている。
この合せ込まれた状態で個々のリードとバンプとを1本
毎にボンディングするのであるが、第3図(a)に示す
ようにリード15の中心とバンプl6の中心とが上記補
正後でちなお△X成分ずれている状態でそのままボンデ
ィングを行うとボンディング不良を招く恐れがあるもの
がある。このようなずれは小バンプ化、多ピンリード化
するに伴ない発生し易く、ずれ量の許容範囲、有効ボン
ディング範囲も狭くなる。このとき、本実施例ではXY
テーブル4(場合によりθテーブル5によりθ回転も行
う)により第3図(a)ではX方向に△Xだ.けチップ
14を移動させて第3図(b)のようにリード15の中
心とバンプ16の中心とを一致させてからボンディング
を行う.このボンディング方法ではすでに他のリード1
5とバンプ16とがボンディング接続がなされているこ
とがあるが、この誤差は複数のリード15とバンプ16
とが相対的に補正されているので、上記移動補正を行っ
ても他の接続されているリードとバンプに影響すること
はない。
毎にボンディングするのであるが、第3図(a)に示す
ようにリード15の中心とバンプl6の中心とが上記補
正後でちなお△X成分ずれている状態でそのままボンデ
ィングを行うとボンディング不良を招く恐れがあるもの
がある。このようなずれは小バンプ化、多ピンリード化
するに伴ない発生し易く、ずれ量の許容範囲、有効ボン
ディング範囲も狭くなる。このとき、本実施例ではXY
テーブル4(場合によりθテーブル5によりθ回転も行
う)により第3図(a)ではX方向に△Xだ.けチップ
14を移動させて第3図(b)のようにリード15の中
心とバンプ16の中心とを一致させてからボンディング
を行う.このボンディング方法ではすでに他のリード1
5とバンプ16とがボンディング接続がなされているこ
とがあるが、この誤差は複数のリード15とバンプ16
とが相対的に補正されているので、上記移動補正を行っ
ても他の接続されているリードとバンプに影響すること
はない。
本実施例によれば画像処理装置で検出することが難しい
りード15の長平方向と直交する方向への曲り等がある
場合であってもXYテーブル4をY方向に移動させて補
正することにより確実にボンディング接続を行うことが
できる。
りード15の長平方向と直交する方向への曲り等がある
場合であってもXYテーブル4をY方向に移動させて補
正することにより確実にボンディング接続を行うことが
できる。
[発明の効果]
以上説明したように本発明によれば、テープ側のりード
とチップ側のバンプとに相対的な位置ずれがあっても有
効ボンディング範囲内に補正して自動的にボンディング
を行うことができるという効果がある。また、本発明に
よればリードの曲ったテーブであってち良品として使用
可能となり、しかちりードとバンプとのボンディング不
良がなくなるので製品の品質を向上させる効果がある。
とチップ側のバンプとに相対的な位置ずれがあっても有
効ボンディング範囲内に補正して自動的にボンディング
を行うことができるという効果がある。また、本発明に
よればリードの曲ったテーブであってち良品として使用
可能となり、しかちりードとバンプとのボンディング不
良がなくなるので製品の品質を向上させる効果がある。
第1図は本発明の一実施例であり、本発明が用いられる
テープボンディング装置の構成を示す図、第2図は第1
図の装置内の画像処理装置によりリードとバンプとが合
せ込まれた状態を示す図、第3図(a)及び第3図(b
)は本発明を説明する説明図である。 l・・・フレーム、2・・・XYテーブル、3・・・ボ
ンディングヘッド、4・・・XYテーブル、5・・・θ
テーブル、6・・・受台、7・・・Z機構、8・・・テ
ープクランブ、9・・・カメラ、10・・・チップ受台
テーブル、l1・・・Z方向移動機構、12・ ル、13・ ・テープ、 ・・ボンディングッー l4・ ・チップ、 15・・・リード、16・・・バンプ。
テープボンディング装置の構成を示す図、第2図は第1
図の装置内の画像処理装置によりリードとバンプとが合
せ込まれた状態を示す図、第3図(a)及び第3図(b
)は本発明を説明する説明図である。 l・・・フレーム、2・・・XYテーブル、3・・・ボ
ンディングヘッド、4・・・XYテーブル、5・・・θ
テーブル、6・・・受台、7・・・Z機構、8・・・テ
ープクランブ、9・・・カメラ、10・・・チップ受台
テーブル、l1・・・Z方向移動機構、12・ ル、13・ ・テープ、 ・・ボンディングッー l4・ ・チップ、 15・・・リード、16・・・バンプ。
Claims (1)
- テープに形成されたリードを位置決めし、テーブル上に
配置されたチップを相対的に変位させることにより前記
リードと前記チップ上のバンプとを相対的に一致させた
後、前記リードとチップ上のバンプとを1本毎にボンデ
ィングするテープボンディング方法において、カメラで
撮像された任意のリードに相対するボンディングされる
べきチップ上のバンプを選択し、リードとバンプとの相
対的なずれ量を算出し、該ずれ量をXY方向及び/又は
回転角変位手段により補正して、当該リードとチップ上
のバンプとをボンディングするようにしたことを特徴と
するテープボンディング方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1299804A JP2592337B2 (ja) | 1989-11-20 | 1989-11-20 | テープボンディング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1299804A JP2592337B2 (ja) | 1989-11-20 | 1989-11-20 | テープボンディング方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03160737A true JPH03160737A (ja) | 1991-07-10 |
JP2592337B2 JP2592337B2 (ja) | 1997-03-19 |
Family
ID=17877133
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1299804A Expired - Lifetime JP2592337B2 (ja) | 1989-11-20 | 1989-11-20 | テープボンディング方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2592337B2 (ja) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56118346A (en) * | 1980-02-25 | 1981-09-17 | Seiko Epson Corp | Gang bonding device |
JPS5818934A (ja) * | 1981-07-27 | 1983-02-03 | Shinkawa Ltd | インナ−リ−ドボンデイング装置における試料監視装置 |
JPS6220339A (ja) * | 1985-07-19 | 1987-01-28 | Marine Instr Co Ltd | テ−プボンデイング装置 |
JPH02299247A (ja) * | 1989-05-15 | 1990-12-11 | Shinkawa Ltd | ボンデイング方法 |
-
1989
- 1989-11-20 JP JP1299804A patent/JP2592337B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56118346A (en) * | 1980-02-25 | 1981-09-17 | Seiko Epson Corp | Gang bonding device |
JPS5818934A (ja) * | 1981-07-27 | 1983-02-03 | Shinkawa Ltd | インナ−リ−ドボンデイング装置における試料監視装置 |
JPS6220339A (ja) * | 1985-07-19 | 1987-01-28 | Marine Instr Co Ltd | テ−プボンデイング装置 |
JPH02299247A (ja) * | 1989-05-15 | 1990-12-11 | Shinkawa Ltd | ボンデイング方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2592337B2 (ja) | 1997-03-19 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
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