JPH03159582A - 圧電型振動子を用いる半導体集積回路 - Google Patents

圧電型振動子を用いる半導体集積回路

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JPH03159582A
JPH03159582A JP2074140A JP7414090A JPH03159582A JP H03159582 A JPH03159582 A JP H03159582A JP 2074140 A JP2074140 A JP 2074140A JP 7414090 A JP7414090 A JP 7414090A JP H03159582 A JPH03159582 A JP H03159582A
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oscillation
voltage
clock
semiconductor integrated
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Sukeyuki Abe
祐之 阿部
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    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits

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  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • General Electrical Machinery Utilizing Piezoelectricity, Electrostriction Or Magnetostriction (AREA)
  • Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、発振周波数の安定度の良い水晶振動子やセラ
ミックス振動子などの圧電型振動子を用いる半導体集積
回路に関し、特に、圧電型振動子の発振開始電圧以下の
低電圧電源による付勢だけでも圧電型振動子及び内部回
路の正常動作を可能とする圧電型振動子を用いる半導体
集積回路に関する。
〔従来の技術] 水晶振動子やセラミックス振動子などの圧電型振動子を
用いた水晶発振回路は発振周波数が非常に安定なことか
ら、半導体集積回路のクロック発生器として多用されて
いる。例えば水晶振動子を接続した水晶発振回路の周波
数安定度は10−5以上である。従来、例えば4ビット
のMPIJ (マイクロ・プロセッサ・ユニット)半導
体集積回路は、第10図に示すように、一般的に固有周
波数32.768KHzの水晶振動子1aを外部接続し
た水晶発振回路lと、これから生成されたクロックを内
部システムクロックとして利用する中央処理回路等の内
部回路2とに大別され、通常1.1v以上の電源電圧の
外部電源3でパワースイッチSWを介して集積回路に給
電し、水晶発振回路1及び内部回路2はこれらの動作が
充分可能の電源電圧レベルで付勢されることを要す。電
源電圧が投入されると、水晶発振回路1の発振が開始し
、その発振クロツクは内部システムクロックとして内部
回路2へ送出され、これにより所定の処理が実行される
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、水晶発振回路lの発振開始電圧値は、電
気的機械振動子である水晶振動子を用いる都合上、通常
1.1v程度であるため、その開始電圧値以上の電源電
圧を持つ外部電源3の使用を余儀無くされていた。勿論
、水晶発振回路工以外のCR発振回路などにおいては発
振開始電圧値が水晶発振回路1のそれに比して低いので
、1.1 v以下の外部電源で駆動するCR発振回路を
クロック発生回路として使用することも考えられるが、
CR発振回路自体の周波数安定度が水晶発振回路のそれ
よりも劣るので、マイクロ・プロセッサなどの高級なシ
ステムクロックが必要とされる半導体集積回路には不向
きである。また、半導体集積回路において中核的動作を
行う内部回路に対し充分な電源電圧を給電する必要があ
るので、1.1 v以下の電源では各ゲートの闇値電圧
や論理振幅のノイズマージンの点で不充分であり、動作
信頼性モ乏しく、半導体製造プロセス上においても歩留
りが悪い。
そこで、本発明は、上記問題点を解決するものであり、
その課題は、まず低電圧の外部電源によりCR発振回路
等の低電圧駆動型発振回路を発振させ、その発振クロッ
クを内部システムクロソクとして直接用いるのではなく
、外部電源電圧よりも高い内部電源電圧を賓圧生成さる
ための交流源ないしスイッチング制御信号として利用す
ることにより、水晶発振回路の発振開始電圧以下の低電
圧電源の給電だけでも、水晶発振回路の発振を可能とし
、しかも内部回路の支障のない動作も保障し得る圧電型
振動子を用いる半導体集積回路を提供することにある。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記課硬を解決するために、第1(7)電圧値(例えば
1.IV)以上の電圧で動作する水晶振動子やセラ旦ツ
クス振動子などの圧電型振動子を外部接続すべき水晶発
振回路を有し、この水晶発振回路から出力される第1の
発振クロックを所定内部回路の内部システムクロックと
する圧電型振動子を用いる半導体集積回路において、本
発明の講じた第1の手段は、上記第1の電圧値に比して
低い第2の電圧値(例えば0.7V)以上の電圧で動作
するCR発振回路などの低電圧駆動型発振回路と、この
低電圧駆動型発振回路から出力される第2の発振クロッ
クに基づいて上記第1の電圧値以上の昇圧電圧を生戒す
る逓倍整流回路などの昇圧回路とを設け、二〇昇圧電圧
を少なくとも上記水晶発振回路及び上記内部回路とに電
源電圧として給電するところにある。
上記第1の手段は本発明の基本的手段であるが、別に本
発明は以下のような改良手段を提供する。
即ち、第2の手段としては上記の構成に加えて、供給さ
れるクロック選択制御信号の如何で低電圧駆動型発振回
路から出力される第2の発振クロックと第1の発振クロ
ツクのいずれか一方を切換えて出力するクロック選択回
路と、上記水晶発振回路の発振有無を直接又は間接的に
検出して、無発振状態のときは前記クロツク選択制御信
号を第2の発振クロックの選択モードとし、発振状態の
ときは上記クロック選択制御信号を第1の発振クロック
の選択モードとすると共に前記低電圧駆動型発振回路の
発振を停止制御する水晶発振検出回路とを設け、上記ク
ロツク選択回路から出力される発振クロックが第1の発
振クロック又は第2の発振クロックに拘わらず、その発
振クロックに基づいて上記第1の電圧値以上の昇圧電圧
を生戒する昇圧回路としたものである。
また第3の手段としては、第2の手段に加えて、上記昇
圧電圧を定常電圧とする定電圧回路を設け、この定常電
圧を少なくとも上記水晶発振回路及び上記内部回路の電
源電圧として給電するものである。
〔作用〕
第1の手段によれば、第2の電圧値と第1の電圧値との
間の外部電源電圧を半導体集積回路に接続してこれを付
勢すると、まず圧電型振動子を有する水晶発振回路は無
発振状態であるが、低電圧駆動型発振回路の発振が開始
し、第2の発振クロックが昇圧回路へ送出される。そし
て昇圧回路が第1の電圧値以上の昇圧電圧を生成し、こ
の昇圧電圧が水晶発振回路と内部回路へ電源電圧として
供給される。このため水晶発振回路の発振が開始され、
第1の発振クロックが昇圧電圧で付勢された内部回路へ
供給され、内部回路が所定の動作を開始する。つまり圧
電型振動子を有する水晶発振回路の発振開始電圧以下の
電源電圧でも、当該水晶発振回路を支障なく発振させる
ことができ、しかも内部回路も充分な電源電圧で付勢さ
れているから、外部電源電圧が低電圧でありながら内部
回路の安定的な動作が保障される。
ところで、水晶発振回路が発振を開始した後においても
、低電圧駆動型発振回路の発振が継続する。この発振が
停止すると、昇圧電圧が消滅し、水晶発振電圧回路の発
振と内部回路の所要動作が停止してしまうが、低電圧駆
動型発振回路の発振クロックは内部システムクロックと
して利用されるのではなく、昇圧回路の交流源ないしス
イソチング制御信号としての意義を有している。一度水
晶発振回路が発振して第1の発振クロックが生成される
と、この第1の発振クロックは高品位の内部システムク
ロックとして内部回路へ供給され、内部回路における所
要信号を作成するタイミングや同期をとるために利用さ
れるが、エネルギ源たる意義は殆どない。
第1の手段において、低電圧駆動型発振回路を付勢する
低電圧の外部電源が電池であれば、第1の発振クロック
の生成後における低電圧駆動型発振回路の発振継続が無
効電力の消費を少なからずもたらす。また留意すべき点
としては、水晶振動子自体は固有振動数(基本振動数)
のほかにその奇数倍の周波数においてオーバートーン周
波数を有しているため、水晶発振回路と低電圧駆動型発
振回路の同時並列的な発振継続は予期せぬ周波数におい
て同調共振ないしノイズを惹起し、却って水晶発振回路
自体の優れた発振周波数安定度や電源電圧の安定性など
を阻害する虞れがある。
第2及び第3の手段においては、第1の発振クロックが
生戒されると、水晶発振検出回路がこの第1の発振クロ
ソクの発生を検知し、クロック選択回路に対し第1クロ
ックの選択モードたるクロソク選択制御信号を送出する
。これによりクロック選択回路は水晶発振検出回路から
の第1発振クロンクを受容してこれを昇圧回路へ送出す
る。これと共に水晶発振検出回路は発振停止制御信号を
低電圧駆動型発振回路へ送出し、この発振を停止させる
。つまり、水晶発振回路が発振すると、その第1の発振
クロソクが内部システムクロックとして内部回路へ供給
される共に、当該水晶発振回路及び内部回路の電源電圧
を創出すべき交流源ないしスイッチング制御信号として
昇圧回路にて利用されるから、初期時における電源電圧
の立ち上げのための低電圧駆動型発振回路の発振継続が
停止される。このため、上述の無効電力などの問題が解
消され、低電圧電池の長寿命化を図ることがきると共に
、水晶発振回路と低電圧駆動型発振回路の同時並列的な
発振継続が回避でき、高品位のクロツタを得ることがで
きる。
一般的に昇圧回路から出力される昇圧電圧にはリソブル
が含まれているため、第3の手段においては、この昇圧
電圧を一定電圧に維持する定電圧回路が付設され、この
定電圧が少なくとも水晶発振回路及び内部回路へ電源電
圧として給電されている。このため、第2手段に比して
水晶発振回路及び内部回路の動作安定性が高い。
[実施例] 次に、本発明に係る圧電型振動子を用いる半導体集積回
路の実施例を添付図面に基づいて説明する。
一孫1tJ組址一 第I図は本発明を4ビットMPLI半導体集積回路に適
用した第l実施例の概略をチップの外形と共に示すブロ
ソク図で、第2図は同実施例の回路構威を詳細に示す回
路図である。
この実施例における4ビッ}MPtJ半導体集積回路1
0は、水晶発振回路1、内部回路2、CR発振回路4、
及び2倍昇圧回路5とから概略構戒されている。
水晶発振回路lは外付けした固有振動数32. 768
KHzの水晶振動子1aを有し、後述する2倍昇圧回路
5から出力される昇圧電位Vエ (負電位)を接地間と
の電源電圧として受容している。この水晶発振回路1か
ら生成される周波数32.768KHzの発振クロック
CLIはMPUの内部回路2へ内部システムクロックと
して提供される。この水晶発振回路1の回路構威は、第
2図に示す如く、インバータ1bと、これに並列接続し
た帰還抵抗R,R2と、帰還抵抗Rzに並列で端子a,
b間に接続した外付けの水晶振動子1a、水晶振動子1
aのそれぞれ両極と接地間に介在する外付けのノイズ除
去用コンデンサC,,C2と、インバータlbの出力に
付加されたバンファ用インバータlcとから構成されて
いる。
CR発振回路4は、増幅器を構威するインバータ4a,
4b,4cと、帰還回路として並列C型の移相回路を構
或する内部コンデンサC,及び端子c,d間に接続した
外付けの抵抗R,と、バッフ7用インバータ4dとから
構威されており、パワースイッチSWの閉戒による低圧
電源3′ (0.7V)の投入により、高電位Voo(
接地電位=OV)と低電位Vss(負電位”:−0.7
 V)とで付勢されている。
2倍昇圧回路5は、2相クロック生戒回路6と、スイッ
チ回路7と、端子e,g間に外付けされた電荷注入コン
デンサC4と、低電位VSSの印加端子fとパワースイ
ッチSWとの間に外付けされた電圧安定コンデンサC,
と、昇圧電位V8の端子hとパワースイッチSWとの間
に外付けされた充電コンデンサC,とから構戒されてい
る。2相クロック生戒回路6は、CR発振回路4の発振
クロックCL2を反転させるインバーク6aと、NoR
ゲート6b+.6bzを用いたR−Sフリップフロップ
及び遅延用インバーク5cl,6cz+6d+,6dz
とから構威されている。またスイッチ回路7は、高電位
VIIDの端子iと昇圧電位■oの端子hとの間に直列
接続されたPチャネル絶縁ゲート電界効果型トタンジス
タF,,Nチャネル絶縁ゲート電界効果型トタンジスタ
(MOSFET)Fz ,F3,F.を有し、トタンジ
スタF+のゲートには2相クロツク生戒回路6からの一
方のクロックCAをインバータ7aを通して作成された
クロックCAが供給され、またトタンジスタF,のゲー
トはクロックCAを受け、更にトタンジスタF.,F.
のゲートは他方のクロックCBを受ける。
次に、上記の実施例の作用効果につき第3図を参照しつ
つ説明する。
まず、この4ビットMPU半導体集積回路10に低圧電
源3′ (電源電圧0.7V)を接続し、パワースイッ
チSWを閉或すると、第3図(A)に示すように、VS
S電位(負電位)がVDD(ゼロ電位)から−0.7V
に立ち下がり定常電源電圧に落ち着く。この低電圧の投
入により、CR発振回路4の発振が開始され、第3図(
C)に示すように、CR発振回路4の出力には論理振幅
0.7Vの発振クロックCL2が現れる。この発振クロ
−ツクCL2が2相クロック生成回路に入力されると、
第3図(D)に示すように、発振クロックCL2の立ち
下がり時点より遅延時間2dの時点で立ち下がると共に
発振クロックCL2の立ち上がり時点より遅延時間dの
時点で立ち上がるクロックCAが生成される。また、第
3図(E)に示すように、発振クロックCL2の立ち上
がり時点より遅延時間2dの時点で立ち下がると共に発
振クロックCL2の立ち下がり時点より遅延時間dの時
点で立ち上がるクロックCBが生成される.なお、ここ
で遅延時間2d,dはインバータ6a,6c.,6dz
,6Cl,6dzの応答遅れ時間の組合わせで決定され
る スイッチ回路7のトタンジスタF1のゲートにはクロン
クCAが印加し、トランジスタF2及びトタンジスタF
,のゲートにはクロックCBが印加し、またトタンジス
タF3のゲートにはクロツクCAが印加する。ここで、
クロックCAがHレベル(Ov)でクロックCBがL 
L/ヘ71/ (−0.7■)のとき、トランジスタF
l,F3が共に閉成し、電荷注入コンデンサC,が電源
電圧(VDnVss)=Vssで充電され、この期間に
おいては端子gの電位はトランジスタF+,F!の直列
合成オン抵抗と電荷注入コンデンサC,の時定数で負方
向に上昇する。クロックCAがLレベル(一〇.7v)
でクロックCBがHレベル(Ov)になると、トランジ
スタF.,F.が開或する共にトランジスタF,,F4
が閉威する。トランジスタF2の閉戒はコンデンサC4
の正極電位を電位VSSだけ積み上げ的に下降させ、ト
ランジスタの閉戒はコンデンサC4の負極電位(<Vs
s)を端子hに印加し、充電コンデンサC&の充電を開
始する。このクロックCBのHレベル期間においてはコ
ンデンサC4の電荷が充電コンデンサC6に注入され、
端子gの電位■8が負方向に上昇する。
このようなトランジスタFl,F3とトランジスタF2
,F4の排他的な開閉動作が繰り返されると、充電コン
デンサC,の充電量が徐々に増大して端子gの電位vH
は第3図(F)の如く推移上昇し、やがて電源電圧(0
.7 V)の2倍の電位(−1.4 V)の定常値に落
ち着く。この端子gの電位■。の上昇過程においては、
電位■、が−1.IVを超えると、第3図(B)に示す
ように、水晶発振回路1の発振が開始し、その発振クロ
ックCL1が内部回路2へ内部システムクロックとして
供給され、同時に電源電圧1.4vで付勢された内部回
路2の所定動作が開始されることになる。
このように、水晶発振回路lの発振開始電圧が1.1 
V以上でありながら、外部電源として電源電圧0.7v
の低圧電源3′を使用することができる。
また従来と同様な電源電圧の電源を使用した場合におい
て、寿命により電源電圧が下降しても電源電圧値が0.
7v以上であれば、充分に発振クロックCLIが継続し
、内部回路2の動作も支障なく実行される。
ところで、上記実施例においては、水晶発振回路1が一
度発振を開始した後でも、CR発振回路4の発振が継続
する。CR発振回路4の発振は2倍界圧回路5における
スイッチ回路7の各制御信号(ゲート信号)を作威すべ
き交流源(クロック発生源)たる意義を有し、昇圧電位
vHを得てこれを内部回路2へ給電する必要があるもの
の、水晶発振回路2の発振が開始した後は、スイッチ回
路7の各制御信号を作成すべきクロックはCR発振回路
1の発振クロンクCL2を用いずに水晶発振回路lで生
戒された発振クロソクCLIを帰還利用することが可能
である。
一第4】墨直例一 第4図は本発明を4ビン}MPU半導体集積回路に適用
した第2実施例の概略をチップの外形と共に示すブロッ
ク図で、第5図は同実施例の回路構威を詳細に示す回路
図である。なお、第4図及び第5図において第1図及び
第2図に示す部分と同一部分には同一参照符号を付し、
その説明は省略する。
この4ビ.,トMPU半導体集積回路20においては、
第1実施例の構戒に対してクロック選択回路22と水晶
発振検出回路24とが付加されている。
クロック選択回路22は、後述するクロソク選択制御信
号SCに基づいてCR発振回路4から出力される発振ク
ロックCL2と水晶発振回路1から出力される発振クロ
ックCLIのいずれか一方を切換えて2倍昇圧回路5へ
供給する。また水晶発振検出回路24は、水晶発振回路
lの発振有無を検出して、無発振状態のときはクロック
選択制御信号SCを発振クロックCL2の選択モードと
し、発振状態のときはクロック選択制御信号SCを発振
クロンクCLIの選択モードとすると共にCR発振回路
の発振を停止制湛する。
この水晶発振検出回路24の回路構成は、第5図に示す
ように、水晶発振回路1の出力を受けてその反転出力を
生成するインバータ24a.このインハータ24aの入
力及び出力をゲート信号とする互いに直列のNチャネル
絶縁ゲート電界効果型トランジスタF,,F− ,Vo
o電位とトランジスタF5のドレインとの間に介在する
コンデンサC7,VDD電位とトランジスタF,のドレ
インとの間に介在するコンデンサCI1及び抵抗R4.
トランジスタF,のドレイン電位を入力として直列接続
したインハータ24b,24cとから構ノ戊されている
水晶発振回路1の発振開始を検知した場合にCR発振回
路4の発振継続を停止する手段としては、第2図におけ
るRC発振回路4のインバータ4aに代えてNANDゲ
ート4 a +を用い、水晶発振検出回路24のクロッ
ク選択制御信号SCがNANDゲー}4a’の1人力に
供給されている。
一方、クロック選択回路22の回路構成は複合ゲートで
、発振クロックCLI及びインバータ22aにより反転
生成された信号SCを2人力とするANDゲート22b
と、クロック選択制御信号SC及び発振クロックCL2
を2人力とするANDゲート22Cと,両ANDゲート
22b,22cの出力を2人力とするNORゲート22
dとから構或されている。
第6図を参照して上記第2実施例の動作を説明すると、
まず電源3′の投入により第6図(A)に示すように、
電源電圧(  Vss)が0.7 Vにまで達し、発振
クロツクCL2が生戒される。この時点では水晶発振回
路lからは未だ発振クロックCLIが生成されていない
から(第6図(B)参照)、水晶発振検出回路24のト
ランジスタF,が開成状態のままで、インバータ24b
の入力は電位VDDにブルアソプされており、クロック
選択制御信号SCはHレベル(−0.7 V)たる発振
クロンクCL2の選択モードにある。即ち、第6図(D
)に示すようにクロツク選択制御信号SCがHレヘルの
ときは、クロノク選択回路22は第6図(E)に示すよ
うに発振クロックCL2を選択出力し、これを2倍昇圧
回路5へ提供する。これにより、第6図(F),(G)
に示すように、2相クロック生戒回路6でクロックCA
とクロンクCBが発生し、第1実施例と同様に、−1,
IV以上の昇圧電位vl4が水晶発振回路lと内部回路
2へ給電され、水晶発振回路1は第6図(B)に示す如
くの発振クロックCLIを生成し、これを内部回路2へ
提供する。この発振クロソクCI.1が生成すると、水
晶発振検出回路24におけるトタンジスタF5とF6が
交互に断続し、コンデンサC7と08が徐々に充電され
、第6図(D)に示すように、やがてクロノク選択制御
信号SCのレベルがゼロ(van)レベルへ変化する。
このゼロレベル?信号SCが水晶発振回路4のNAND
ゲートの1人力に印加されると、第6図(C)に示すよ
うに、CR発振回路4の発振が停止する。これと同時に
クロック選択回路22は第6図(E)に示すように発振
クロックCLIを選択し、これを2倍昇圧回路5へ供給
する。そして2倍昇圧回路5の2相クロック生戒回路6
で、発振クロックCLIに基づくクロックCA’とクロ
ックCB’が第6図(F),(G)の如く生成され、今
度はこれらのクロツクCA’ ,CB’によってスイッ
チ回路7の切り換え動作が制御されて昇圧電位V■が継
続的に現れる。
このように、一旦、発振クロンクCLIが発生してしま
うと、スイッチ回路7の切り換え動作のためのクロック
CA’,CB’は生戒された発振クロツクCLIから作
成されるので、CR発振回路ルの発振継続は不要で、電
源3′の無効電力を抑制することができる。例えば電源
3′が電池のときには電池寿命を延ばすことができる。
もっとも、電源3′が低圧電源でありながら消費電力が
問題とならない場合には、第1実施例におけるような簡
易な構或を採用できるであろうが、この第2実施例の別
の利益としては、2つの発振回路の並列的な発振継続を
排除したところにもある。即ち、水晶発振回路lは基本
的に水晶振動子1aの固有振動数(例えば32.768
κHz )で発振するが、−C的にこの固有振動数の奇
数倍の周波数(オーハートーン周波数)でも発振し易く
、高調波成分も出力される。また矩形パルスの発振であ
るため、その分、高調波戒分が多く混在し、ノイズ対策
に顧慮する必要もある。かかる状況において、CR発振
回路4が発振を継続すると、発振クロックCL2の周波
数ではないが、やはり高調波も発生し、前者のオーバー
トーン周波数や高調波と後者の高調波とが電源線等を介
して干渉し、電源電圧の安定性を阻害するおそれがある
。もっとも、小容量のバイパスコンデンサを付設して安
定化を図ることも可能であるうが、半導体基板上にコン
デンサを作り込むことはチップサイズの縮小化を図る点
で望ましくない。この電源電圧の不安定性は水晶発振回
路1及び内部回路2の動作上の信頼性に影響することは
言う迄もないが、これらの回路は既に1。1■以上の電
源電圧で付勢されているので、ある程度の電源電圧の変
動に対して支障無く動作する。一方、クロック選択回路
22や2倍昇圧回路5の電源電圧ハ0.7 Vテあルカ
ラ、MOSFETのオン電圧がシリコン半導体では一般
的に0.6 V程度であることから考えると、ノイズマ
ージンは高々0.I Vである。したがって、極力ノイ
ズ源たるCR発振回路4の発振を水晶発振回路1の発振
開始以降は停止する必要が生まれる。
クロック選択回路22や2倍昇圧回路5の動作の信頼性
を保障するためには、上記のごときノイズ源を除去する
ことの外に、論理振幅のノイズマージンを拡大すること
である。そのためには、一旦生成された昇圧電圧自体を
クロック選択回路22や2倍昇圧回路5の電源電圧とし
て利用することによりノイズマージンを0.5 V以上
に設定し直すことも可能である。
上述したように、電源電圧の不安定性は水晶発振回路1
及び内部回路2の動作上の信頼性に影響することは言う
迄もない。昇圧電位vHは第6図(H)に示しようにリ
ップル威分を持って−1.4V程度で平衡状態となるが
、それ以降もリップル成分を有しており、ある程度の不
安性がある。
一第a[ 第7図は本発明を4ビ・冫トMPU半導体集積回路に適
用した第3実施例の概略をチ・ノブの外形と共に示すブ
ロック図で、第8図は同実施例の回路構成を詳細に示す
回路図である。なお、第7図及び第8図において第4図
及び第5図に示す部分と同一部分には同一参照符号を付
し、その説明は省略する。
この4ビッ}MPU半導体集積回路30においては、第
2実施例の構威に加えて定電圧回路35が設けられてい
る。定電圧回路35は第8図に示す如くの回路構威で、
2倍昇圧回路7で生成された昇圧電位Vエはこの定電圧
回路35に給電されている。
定電圧回路35における絶縁ゲート電界効果型トランジ
スタF,はデプレンション型トタンジスタ?あり、残り
のトランジスタF1+−F+aはエンノ)ンスメント型
トランジスタである。F,とF8.F,とF,。,F1
2とF lff*  F 14とFI5のペアを威すト
ランジスタはチャネル幅とチャネル長がそれぞれ同一に
設定されており、トタンジスタF7とF.との闇値電圧
の差はイオン打ち込み濃度差により決定されている。ト
ランジスタF,とF’toの導電型とチャネルサイズが
同一で、ゲート電位も同電位であるから、両トランジス
タF=,F1oに流れる電流Iは等しい。トランジスタ
F7のゲート電位はゼロ(■。)であるが、このトラン
ジスタF,はデプレッション型であるから、電流が流れ
るが、トタンジスタFllはエンハンスメント型である
から、そのゲート電位は一定電位V。(く0)である。
トランジスタF1■〜FI5はカレントミラー回路を構
或しているので、トランジスタF13のゲート電位は■
。である。したがって抵抗Rs,Rhに流れる電流を■
。、出力電位をVosとすれば、次の式が与えられる。
VHS=(RS +R& )I■     ・・・(1
)?o 一Rs  111s.           
−(2)(1). (21式により、 VHS−VO  (RS fR& >/RS    −
(3)この出力電位■■は一定電位■。の定数倍(〉1
)であるから、−1.4 V以下の定電位に設定するこ
とができる。本実施例では第7図(1)に示すように、
定電位vttsを約1.4 Vに設定してある。
この定電位VIISは水晶発振回路l及び内部回路2へ
印加されているが、勿論、クロツク選択回路22及び2
倍昇圧回路7へも供給しても良い。
第9図に示すように、この実施例の動作は第2実施例の
それとほぼ同様であるが、2倍昇圧回路から出力される
昇圧電位■.が大きくなると、第9図(1)に示すよう
に、定電位VHsがリツプル或分がな<−1.4Vで定
常化する。このため、水晶発振回路lの動作が安定的で
、また生成されるクロックCL1も初期から定電圧VH
S間で振動する論理振幅を有する。更に、内部回路2の
電源電圧が安定化するので、動作の信頼性が第2実施例
に比して高い。
なお、上記各実施例においては2倍昇圧回路5が使用さ
れているが、これに限らず3倍.4倍等の逓倍昇圧回路
を用いても良い。また上記各実施例における水晶発振回
路lは水晶振動子1aを用いたものであるが、セラミッ
クス振動子などを用いることが可能で、圧電型振動子で
あれば良い。
更に低電圧駆動型の発振回路としては、CR発振回路4
に限らず、LC発振回路を用いることもできる。
上記第2及び第3実施例においては、発振クロックCL
lの発振有無の検知情報は水晶発振回路の出力端の発振
を直接的に検知することで得られるが、これに限らす昇
圧回路から生戒される昇圧電位の検出やCR発振回路の
発振開始時点からの時間計測に基づいて間接的に水晶発
振回路の発振開始時点を判断することが可能である。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明は、まず低電圧で動作する
低電圧駆動型発振回路を発振させて、その発振クロック
を用いて昇圧回路により電源電圧に比して高い電源電圧
を生成し、この電源電圧で圧電型発振回路を発振させる
と共に、同電源電圧で内部回路を付勢する点に特徴を有
するものであるから、次の効果を奏する。
■ 水晶発振回路の発振開始電圧以下の低電圧電源だけ
を外部電源として使用することが可能である。また外部
電源が電池などの場合には寿命により電源電圧が下降し
ても、水晶発振回路の発振を従来に比して長く持続させ
ることができる。
■ 水晶発振検出回路及びクロツク選択回路を付加した
構威によれば、無効電力の削減が図れると共に、ノイズ
による電源電圧の変動を抑制することができる。
■ 定電圧回路を付加した構威によれば、水晶発振回路
の発振特性の安定化と共に、内部回路の動作の信頼性も
高めることがきる。
【図面の簡単な説明】
第l図は本発明を4ビッ}MPU半導体集積回路に適用
した第1実施例の概略を示すブロック図である。 第2図はl6J実hi!!例の圓路描成を示す回路図で
ある。 第3図(A)乃至(F)は同実施例の動作を説明するた
めの各神電正波形を示すタイミングチャート図である。 第4図は本発明を4ビソl−MPU半導体集積回路に適
用した第2実施例のIt!Illを示ずフ1二lツク図
である。 第5図は同実施例の同路横成を示す回路図である。 第6図(A)乃至(II)は同実施例の動作を説明ずる
ための各狸電圧波形を示すタイミングチャート図である
。 第7図は本発明を4ビットMPU半導体集積回路に適用
した第3実施例の概略を示すブロック図である。 第8図は同実施例の回路横戒を示す回路図である。 第9図(A)乃至(1)は同実施例の動作を説明するた
めの各種電圧波形を示すタイミングチャ一ト図である。 第10図は従来の水晶発振回路を備える半導体集積回路
の概略構戒を示すブロック図である。 〔主要符号の説明〕 1・・・水晶発振回路 1a・・・水晶振動子 2・・・内部回路 3′・・・電源電圧0.7 Vの外部電源4・・・CR
発振回路 5・・・2倍昇圧回路 6・・・2相クロック生成回路 7・・・スイッチ回路 22・・・クロック選択回路 24・・・水晶発振検出回路 35・・・定電圧回路 10. 20. 30・・・4ビットMPtJ半導体集
積回路。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)第1の電圧値以上の電圧で動作する圧電型振動子
    を外部接続すべき発振回路を有し、該 発振回路から出力される第1の発振クロックを所定内部
    回路の内部システムクロックとする圧電型振動子を用い
    る半導体集積回路であって、前記第1の電圧値に比して
    低い第2の電圧値以上の電圧で動作する低電圧駆動型発
    振回路と、該低電圧駆動型発振回路から出力される第2
    の発振クロックに基づいて前記第1の電圧値以上の昇圧
    電圧を生成する昇圧回路とを備え、少なくとも前記発振
    回路と前記内部回路とが前記昇圧電圧を電源電圧とする
    ことを特徴とする圧電型振動子を用いる半導体集積回路
  2. (2)第1の電圧値以上の電圧で動作する圧電型振動子
    を外部接続すべき発振回路を有し、該 発振回路から出力される第1の発振クロックを所定内部
    回路の内部システムクロックとする圧電型振動子を用い
    る半導体集積回路であって、前記第1の電圧値に比して
    低い第2の電圧値以上の電圧で動作する低電圧駆動型発
    振回路と、供給されるクロック選択制御信号の如何で該
    低電圧駆動型発振回路から出力される第2の発振クロッ
    クと前記第1の発振クロックのいずれか一方に切換えて
    出力するクロック選択回路と、前記発振回路の発振有無
    を直接又は間接的に検出して、無発振状態のときは前記
    クロック選択制御信号を第2の発振クロックの選択モー
    ドとし、発振状態のときは前記クロック選択制御信号を
    第1の発振クロックの選択モードとすると共に前記低電
    圧駆動型発振回路の発振を停止制御する発振検出回路と
    、該クロック選択回路から出力される発振クロックに基
    づいて前記第1の電圧値以上の昇圧電圧を生成する昇圧
    回路とを備え、少なくとも前記発振回路と前記内部回路
    とが前記昇圧電圧を電源電圧とすることを特徴とする圧
    電型振動子を用いる半導体集積回路。
  3. (3)第1の電圧値以上の電圧で動作する圧電型振動子
    を外部接続すべき発振回路を有し、該 発振回路から出力される第1の発振クロックを所定内部
    回路の内部システムクロックとする圧電型振動子を用い
    る半導体集積回路であって、前記第1の電圧値に比して
    低い第2の電圧値以上の電圧で動作する低電圧駆動型発
    振回路と、供給されるクロック選択制御信号の如何で該
    低電圧駆動型発振回路から出力される第2の発振クロッ
    クと前記第1の発振クロックのいずれか一方に切換えて
    出力するクロック選択回路と、前記発振回路の発振有無
    を直接又は間接的に検出して、無発振状態のときは前記
    クロック選択制御信号を第2の発振クロックの選択モー
    ドとし、発振状態のときは前記クロック選択制御信号を
    第1の発振クロックの選択モードとすると共に前記低電
    圧駆動型発振回路の発振を停止制御する発振検出回路と
    、該クロック選択回路から選択出力される発振クロック
    に基づいて前記第1の電圧以上の昇圧電圧を生成する昇
    圧回路と、この昇圧電圧を定常電圧とする定電圧回路と
    を備え、少なくとも前記発振回路と前記内部回路とが前
    記定常電圧を電源電圧とすることを特徴とする圧電型振
    動子を用いる半導体集積回路。
  4. (4)前記圧電型振動子は水晶振動子であることを特徴
    とする請求項第1項乃至第3項のいずれか一項に記載の
    圧電型振動子を用いる半導体集積回路。
  5. (5)前記低電圧駆動型発振回路はCR発振回路である
    ことを特徴とする請求項第1項乃至第3項のいずれか一
    項に記載の圧電型振動子を用いる半導体集積回路。
  6. (6)前記昇圧回路はコンデンサを有する逓倍電圧整流
    回路であることを特徴する請求項第1項乃至第3項のい
    ずれか一項に記載の圧電型振動子を用いる半導体集積回
    路。
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JP2006349409A (ja) * 2005-06-14 2006-12-28 Denso Corp 静電駆動・容量検出型のジャイロセンサのセンサ回路
WO2010004684A1 (ja) * 2008-07-09 2010-01-14 パナソニック株式会社 半導体集積回路

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