JPH03154475A

JPH03154475A - 読取りデバイス位置調整方法

Info

Publication number: JPH03154475A
Application number: JP1293642A
Authority: JP
Inventors: Teruyuki Sato; 佐藤　照幸
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1989-11-11
Filing date: 1989-11-11
Publication date: 1991-07-02

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［概要］ファクシミリなどにおいてイメージ入力に使用されるＣ
ＯＤ　（電荷結合素子）等の読取りデバイスの調整方法
に関し、取付は時に微妙な調整をしなくてもセンタ位置の調整が
確実にできるようにして、製造能率、性能および品質を
向上させることを目的とし、複数個の読取素子を並設し
た読取りデバイスに対して入力対象物からの反射光が入
射され、前記反射光を受光する前記読取素子の範囲を予
め設定する読取りデバイス調整方法であって、前記複数
個の内から所定位置にある読取素子を設定し、前記所定
位置に対応すべき位置にマークを付与した読取試験用入
力対象物からの反射光を前記読取りデバイスに入射し、
前記マークが示す入射光を受光した読取素子位置と前記
読取素子位置との位置ずれを検出し、この位置ずれによ
って、前記読取素子の読取り開始位置を前記複数個の範
囲内で設定するように構成する。

［産業上の利用分野］本発明は、ファクシミリなどにおいてイメージ入力に使
用されるＣＣＤ　（電荷結合素子）等の読取りデバイス
の調整方法に関し、特にセンタ位置出しに関する。

ファクシミリなどの装置に取付けられるＣＣＤ等の読取
りデバイスは、取付は誤差等により入力対象物の読取り
ラインのセンタと、センタ位置のずれが発生してしまう
ことがある。このずれはそのまま読取りデータのずれと
なり、このずれが大きいときには端部のデータが欠けて
しまうこともあるため、読取りラインに対する読取りデ
バイスのセンタを合わせる必要が生じている。

［従来の技術］第４図は、平面走査形のファクシミリの読取り装置にお
ける読取りラインと読取りデバイスとのセンタずれの説
明図である。同図において、４Ｉは入力対象物である送
信原稿、４２は送信原稿４１に照射するランプ、４３は
送信原稿からの反射光を集光するレンズ系、４４は複数
の読取り素子を配列した読取りデバイスであるＣＣＤ　
（電荷結合素子）であり、レンズ系４３を介して送信原
稿４１の反射光を受光する位置に配置されたものである
。このＣＣＤ４４には、送信原稿４１が副走査として移
動する方向の垂直方向となる読取りライン４５の反射光
が、レンズ系４３を介して受光され、主走査が行なわれ
てその受光した反射光がビットデータに変換される。と
ころが同図に示すように、読取りライン４５のセンタと
ＣＣＤ４４のセンタとにずれがあると、送信原稿４１の
端部が読取られず欠けてしまう（データブレーク）こと
になる。

第５図は、従来のセンタ位置調整方法の説明図である。

同図に示すように、ＣＣＤ４４における読取りでは、読
取り可能なビット範囲ａｌｘａｍの中で、読取りライン
に対応した使用ビット範囲ｂ１〜ｂｎが設定される。例
えばレンズ系４３による倍率が０．１であれば読取りラ
インの１／１０の長さのビット範囲が設定され、その使
用ビット範囲ｂ１〜ｂｎのデータが読取りデータとして
扱われている。すなわちＣＣＤ４４の総ビットａｌ〜ａ
ｒ６の中で、使用ビット範囲ｂ１〜ｂｎ外のビットデー
タは、読取りライン４５外の反射光によるものとして切
り捨てられる。

従来の使用ビット範囲ｂ１〜ｂｎは、その中央位置がＣ
ＣＤ４４のセンタとなるように固定されて処理されてい
たため、第５図に示すように、読取りラインのセンタと
の位置調整は、製造時のＣＣＤ４４の取付けにおいて、
センタ合わせの微調整をすることにより行なっていた。

［発明が解決しようとする課題］しかしながら、ファクシミリのように、読取りラインの
ＣＣＤへの倍率を０．１以下に構成するような場合には
、読取りライン上で１ｍｍのセンタすれか、ＣＣＤ上に
おいては０．１ｍ＋ｎ以下のずれとなり、このため製造
時のＣＯＤ取付けにおけるセンタ合わせは、微妙な調整
が必要となり製造能率の悪い作業となっていた。また、
調整時のバラツキが避けられないため、性能および品質
上問題となっていた。

本発明は、このような問題に鑑みて創案されたもので、
取付は時に微妙な調整をしなくてもセンタ位置の調整が
確実にできるようにして、製造能率、性能および品質を
向上させることのできる読取りデバイスセンタ位置調整
方法を提供することを目的としている。

［課題を解決するための手段］第１図は、本発明の説明図である。

上記目的を達成するための本発明における手段は、第１
図に示すように、複数個ａ１〜ａｍの読取素子を並設し
た読取りデバイス１に対して入力対象物からの反射光が
入射され、前記反射光を受光する前記読取素子の範囲ｂ
ｌ−ｂｎを予め設定する読取りデバイス調整方法であっ
て、前記複数個ａ１〜ａｍの内から所定位置Ｃにある読
取素子ａｃを設定し、前記所定位置Ｃに対応すべき位置
にマークを付与した読取試験用入力対象物からの反射光
を前記読取りデバイス１に入射し、前記マークが示す入
射光を受光した読取素子位置ａにと前記読取素子ａｃ位
置との位置ずれｙを検出し、この位置ずれｙによって、
前記読取素子の読取り開始位置ｂ１を前記複数個ａ１〜
ａｍの範囲内で設定することを特徴とする読取りデバイ
ス調整方法による。

［作用］本発明では、第１図に示すように、例えば読取り装置に
読取りデバイスセンタ位置調整モードを設け、そのモー
ド時に、例えば読取りラインの中央を示す情報のみが記
入された読取試験用入力対象物であるテストチャートを
読取ることにより、読取り可能なビット範囲内ａ１〜ａ
ｍにおける読取りラインの中央位置を検出して、その検
出した位置が中央となるように使用ビット範囲ｂ１〜ｂ
ｎを設定し、例えばその設定した使用ビット範囲ｂ１〜
ｂｎの読取り開始位置ｂ１などを記憶する。

そして、通常の読取りモードでは、読取りデバイスセン
タ位置調整モード時に設定された使用ビット範囲ｂ１〜
ｂｎから読取りデータを得るようにする。

すなわち、本発明では、読取りデバイスの取付けにおけ
る微調整により、読取りラインとの最終位置調整をする
のではなく、テストチャートの読取り情報に対応して、
読取りデバイス内の使用ビット、範囲を可変に設定する
ことにより、センタ位置の調整を行なうものである。

［実施例］以下、図面を参照して、本発明の実施例を詳細に説明す
る。

第２図は、本発明の一実施例の読取り装置を構成するフ
ァクシミリの概略ブロック図である。同図において、２
１は読取りデバイスであるＣＣＤ２１ａにより原稿の反
射光をビットデータに変換する読取り部、２２はダイヤ
ルキー、モードキー等からなるキー人力部、２３は通信
回線への制御を行なう通信部、２４はマイクロプロセッ
サからなる制御部であり、メモリ２４ａに書込まれてい
る制御プログラムに従い、読取り部２１．キー人力部２
２１通信部２３の管理・制御を行なうものである。

本実施例では、製造時またはメンテナンス時に、読取り
部２１における読取りラインとＣＣＤ２１ａのセンタ位
置調整を行なうためのセンタ位置調整モードが設けられ
ている。第３図は、センタ位置調整モードの説明図であ
る。センタ位置調整モードは、まず操作者が、第３図（
ａ）に示すような中央位置情報としてのセンタマークの
みが記入されているテストチャートを読取り部２１にセ
ットし、キー人力部２２からセンタ位置調整モードを指
示する入力を行なう。そしてそのセンタ位置調整モード
の指示入力に対して制御部２４では、読取り部２１を起
動してテストチャートの読取りを行なう。この時Ｃ０Ｄ
２１　ａにおけるテストチャートの反射光の受光量は、
第３図（ｂ）に示すようになり、従って、ＣＣＤ２１　
ａにより読出されるデータには、読取りラインの中央位
置を示す情報が含まれることになる。

このセンタ位置調整モード時の読取りによりＣＣＤ２１
ａから出力されるデータは、制御部２４の使用ビット範
囲設定手段２４ｂにより次のように処理され、読取りラ
インに対応する使用ビット範囲の位置が設定される。こ
こで、第３図（ｃ）に示すように、ＣＣＤ２１　ａにお
ける使用可能な総ビ、ット数をｍ　（ａ１〜ａｍ）、読
取りラインに対応する使用ビット数をｎ　（ｂ１〜ｂｎ
　）とする。

使用ビット範囲設定手段２４ｂの処理は、（１）まず、
ＣＣＤ２１　ａからの出力ビットａ１〜ａｍの中におけ
る、読取りラインの中央を示す情報のビット位置ａχを
検出する。

検出したビット位置ａＸとＣ０Ｄ２１　ａのセンタとの
ずれのビット数をｙとすると、ｙ＝　１ｍ／２−ａｘ　　ｌである。

（２）次に、ビット位置ａＸが中心となるように使用ビ
ット範囲を求める。すなわち、ａｘ−ｂｎ／２であるから、使用ビット範囲の開始ビッ
トｂ１を、ｂｌ　＝ａｘ−ｎ／２の計算により求める。

（３）求めた使用ビット範囲の開始ビットｂ１をメモリ
４ａに記憶する。

例えば、Ａ３読取り、８本／ＩＩＩＩＩＩ→２３７６ビツト（ｎ
　、定数）＝　２９７Ｘ８ＣＣＤ総ビット→２５９２ビット（ｍ、定数）テストチ
ャートの読取りにより、ａ　ｘ　＝　１２７６が検出さ
れると、ｂ　１　＝１２７６−２３７６／２＝８８となり、ＣＣ
Ｄ２１　ａの中の８８ビツトから８８＋ｎまでが使用ビ
ット範囲、すなわち読取りデータとして処理されること
になる。

上記センタ位置調整モードにおける設定に対し、通常モ
ードにおける読取りでは、データ処理手段２４ｃにより
、前記使用ビット範囲の開始ビットｂ１がメモリ２４ａ
から続出され、Ｃ０Ｄ２１　ａの出力データ３１〜ａｍ
の中から、ｂ１〜ｂｌ　＋ｎ（ｂｎ）の範囲が読取りデ
ータとして処理され、通信部２３を介して送信がなされ
る。

このように本実施例のファクシミリでは、センタ位置調
整モードが設けられ、調整時にそのモードによりテスト
チャートの読取りを行い、読取りの制御部により読取り
ラインのセンタ位置に対応した、ＣＣＤの使用ビット範
囲が設定される。従って、ＣＣＤの取付けに多少のバラ
ツキがあったとしても、テストチャートの読取りのみで
自動的に調整されるため、ＣＯＤの取付けに微妙な調整
をする必要がなくなっている。また、１台ごとにセンタ
位置のずれに応じて自動的に調整がなされるため、人手
による不確実性が解消され、読取りにおける欠けの発生
がなくなり、性能および品質上の問題が無くなっている
。

なお、上記実施例では、センタマークのみが記入された
テストチャートにより使用ビット範囲の設定を行なった
が、本発明はこれに限ることなく、読取りにおいて入力
対象物の読取りラインに対応する位置付けが認識できる
ようなテストチャートであれば良い。

［発明の効果１以上説明したように、本発明によれば、読取りデバイス
の取付けに微妙な調整を行なわなくても、読取りライン
と読取りデバイスの使用ビット範囲のセンタ位置調整が
容易にしかも確実にできるため、製造能率、性能および
品質を向上させることができる。

２４・・・制御部、　　　　２４ａ・・・メモリ、２４
ｂ・・・使用ビット範囲設定手段、２４ｃ・・・データ
処理手段。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の説明図、第２図は本発明の一実施例のブロック図、第３図は実施
例の説明図、第４図は読取り装置の説明図、第５図は従来技術の説明図である。 ■・・・読取りデバイス、２１　ａ、　　４４−ＣＣＤ　（読取りデバイス）、２
２・・・キー人力部、　２３・・・通信部、第３図読取り装置の説明図第４図

Claims

【特許請求の範囲】　複数個（ａ１〜ａｍ）の読取素子を並設した読取りデ
バイスに対して入力対象物からの反射光が入射され、前
記反射光を受光する前記読取素子の範囲（ｂ１〜ｂｎ）
を予め設定する読取りデバイス調整方法であって、前記複数個（ａ１〜ａｍ）の内から所定位置（ｃ）にあ
る読取素子（ａｃ）を設定し、前記所定位置（ｃ）に対応すべき位置にマークを付与し
た読取試験用入力対象物からの反射光を前記読取りデバ
イスに入射し、前記マークが示す入射光を受光した読取素子位置（ａｘ
）と前記読取素子（ａｃ）位置との位置ずれ（ｙ）を検
出し、この位置ずれ（ｙ）によって、前記読取素子の読取り開
始位置（ｂ１）を前記複数個（ａ１〜ａｍ）の範囲内で
設定することを特徴とする読取りデバイス調整方法。