JPH03147340A - 半導体チップのモールドプレス装置 - Google Patents
半導体チップのモールドプレス装置Info
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- JPH03147340A JPH03147340A JP28683989A JP28683989A JPH03147340A JP H03147340 A JPH03147340 A JP H03147340A JP 28683989 A JP28683989 A JP 28683989A JP 28683989 A JP28683989 A JP 28683989A JP H03147340 A JPH03147340 A JP H03147340A
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 4
- 238000007721 mold pressing method Methods 0.000 claims 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 abstract description 14
- 239000011347 resin Substances 0.000 abstract description 14
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 3
- 239000011800 void material Substances 0.000 abstract 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
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- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
Landscapes
- Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はモールドプレス方法に関し、プランジャにより
溶融樹脂をキャビティに圧入した際の内圧が、指令値に
なるようにプランジャを制御するようにしたものである
。
溶融樹脂をキャビティに圧入した際の内圧が、指令値に
なるようにプランジャを制御するようにしたものである
。
(従来の技術)
半導体チップが搭載されたリードフレームは、モールド
プレス装置へ送られ、半導体チップを保護するためのモ
ールド体が成形される。モールドプレス装置は、上型と
下型の対向する面に形成されたキャビティに半導体チッ
プを位置せしめ、上型と下型を接合させたうえで、プラ
ンジャにより加熱溶融された合成樹脂をキャビティに圧
入し、モールド体を成形するようになっている。
プレス装置へ送られ、半導体チップを保護するためのモ
ールド体が成形される。モールドプレス装置は、上型と
下型の対向する面に形成されたキャビティに半導体チッ
プを位置せしめ、上型と下型を接合させたうえで、プラ
ンジャにより加熱溶融された合成樹脂をキャビティに圧
入し、モールド体を成形するようになっている。
上記プランジャは、モータなどの駆動手段に駆動されて
昇降し、キャビティの内圧を所定圧力まで高めて、キャ
ビティ内を溶融樹脂で完全に充填させるようになってい
る。ところが、溶融樹脂の一部は、ぼりとなってプラン
ジャの周囲に徐々に侵入するため、このぼりによる抵抗
分の圧力損失が生じ、このため実効圧力は指令圧力より
も小さくなり、キャビティを溶融樹脂で完全に充填でき
なくなって、モールド体に空隙や欠けが生じやすいもの
であった。
昇降し、キャビティの内圧を所定圧力まで高めて、キャ
ビティ内を溶融樹脂で完全に充填させるようになってい
る。ところが、溶融樹脂の一部は、ぼりとなってプラン
ジャの周囲に徐々に侵入するため、このぼりによる抵抗
分の圧力損失が生じ、このため実効圧力は指令圧力より
も小さくなり、キャビティを溶融樹脂で完全に充填でき
なくなって、モールド体に空隙や欠けが生じやすいもの
であった。
このため従来、作業者はモールド体に空隙や欠けが生じ
ていないかどうかを監視し、これらを発見した場合には
、装置の運転を停止させたうえで、上記ばりを清掃除去
していた。
ていないかどうかを監視し、これらを発見した場合には
、装置の運転を停止させたうえで、上記ばりを清掃除去
していた。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら上記従来手段は、作業者はモールド体に空
隙や欠けが無いか否かを常時監視していなければならず
、またモールド体の内部に発生した空隙は、視覚的に検
出しにくいものであり、更には空隙や欠けが発見された
場合には、装置の運転を停止して清掃せねばならないた
め、多大な手間と労力を要し、また運転能率も低下する
等の問題があった。
隙や欠けが無いか否かを常時監視していなければならず
、またモールド体の内部に発生した空隙は、視覚的に検
出しにくいものであり、更には空隙や欠けが発見された
場合には、装置の運転を停止して清掃せねばならないた
め、多大な手間と労力を要し、また運転能率も低下する
等の問題があった。
したがって本発明は、キャビティの内圧を指令値に一致
させて、空隙や欠けのないモールド体を成形できる手段
を提供することを目的とする。
させて、空隙や欠けのないモールド体を成形できる手段
を提供することを目的とする。
(課題を解決するための手段)
このために本発明は、半導体チップが搭載されたリード
フレームを、モールドプレス装置の上型と下型の対向す
る面に形成されたキャビティに位置決めし、この下型に
装着されたタブレットを、モータに駆動されて昇降する
プランジャにより押し上げて、加熱溶融されたタブレッ
トを、上記キャビティに圧入するようにしたモールドプ
レス方法において、感圧装置により上記キャビティの内
圧を測定し、制御装置により、この感圧装置の測定値と
指令値とを比較して、上記モータに補正指令を加えるこ
とにより、測定値が指令値に一致するよう制御するよう
にしたものである。
フレームを、モールドプレス装置の上型と下型の対向す
る面に形成されたキャビティに位置決めし、この下型に
装着されたタブレットを、モータに駆動されて昇降する
プランジャにより押し上げて、加熱溶融されたタブレッ
トを、上記キャビティに圧入するようにしたモールドプ
レス方法において、感圧装置により上記キャビティの内
圧を測定し、制御装置により、この感圧装置の測定値と
指令値とを比較して、上記モータに補正指令を加えるこ
とにより、測定値が指令値に一致するよう制御するよう
にしたものである。
(作用)
上記構成において、キャビティの内圧は感圧装置により
測定され、この測定値が指令値になるように、モータは
制御される。
測定され、この測定値が指令値になるように、モータは
制御される。
(実施例)
次に、図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。
第1図はモールドプレス装置の全体斜視図であって、1
.2.3は昇降ガイド用タイバー4を介して積層された
固定ベース、昇降プラテン、固定トッププレートである
。ベース1の上面には金型の下型5が、またプラテン2
の下面には上型6が装着されている。LFは下型5上に
セットされたリードフレームであり、これにピッチをお
いて複数個搭載された半導体チップを、このモールドプ
レス装置によりモールドする。
.2.3は昇降ガイド用タイバー4を介して積層された
固定ベース、昇降プラテン、固定トッププレートである
。ベース1の上面には金型の下型5が、またプラテン2
の下面には上型6が装着されている。LFは下型5上に
セットされたリードフレームであり、これにピッチをお
いて複数個搭載された半導体チップを、このモールドプ
レス装置によりモールドする。
7はトッププレート3上に配設されたACサーボモータ
から成るプレス用モータであって、その回転は減速用ウ
オーム8を介して、ウオームホイール9に伝達される。
から成るプレス用モータであって、その回転は減速用ウ
オーム8を介して、ウオームホイール9に伝達される。
10はウオームホイール9の軸心部に装着された送りナ
ツト、11はこのナツト10に駆動される垂直なボール
ネジである。上記プラテン2はこのボールネジ11の下
端部に取り付けられており、モータ7が駆動するとプラ
テン2は昇降し、上型6は下型5に接離する。12はカ
バー用ケーシング、13はベース1の下方に設けられた
タブレット17の押し上げ用プランジ中(後述)を駆動
するためのACサーボモータ、50はコンピュータのよ
うな制御装置である。
ツト、11はこのナツト10に駆動される垂直なボール
ネジである。上記プラテン2はこのボールネジ11の下
端部に取り付けられており、モータ7が駆動するとプラ
テン2は昇降し、上型6は下型5に接離する。12はカ
バー用ケーシング、13はベース1の下方に設けられた
タブレット17の押し上げ用プランジ中(後述)を駆動
するためのACサーボモータ、50はコンピュータのよ
うな制御装置である。
第2図は下型5の断面図であって、17は円柱状のタブ
レフトであり、下型5の上部に配設された円筒状ケーシ
ングから成る装着部18に複数個差べて装着されている
(第4図及び第5図も併せて参照)、このタブレット1
7は熱硬化性樹脂から成り、例えば130〜180℃程
度の熱を加えると、−旦は溶融した後、速かに硬化する
性質を有している。なおタブレ・ノド17の加熱手段は
、図が繁雑になるので省略している。
レフトであり、下型5の上部に配設された円筒状ケーシ
ングから成る装着部18に複数個差べて装着されている
(第4図及び第5図も併せて参照)、このタブレット1
7は熱硬化性樹脂から成り、例えば130〜180℃程
度の熱を加えると、−旦は溶融した後、速かに硬化する
性質を有している。なおタブレ・ノド17の加熱手段は
、図が繁雑になるので省略している。
第4図において、19は下型5の上面に凹設された矩形
のキャビティであって、このキャビティ19は溝状のゲ
ート20を介して上記装着部18と連通しており、この
キャビティI9の中央部にリードフレームLFに搭載さ
れた半導体チップP(第5図参照)を位置決めした状態
で、このキャビティ19に加熱溶融されたタブレット1
7を圧入することにより、チップPのモールド体17a
を成形する(第3図参照)。
のキャビティであって、このキャビティ19は溝状のゲ
ート20を介して上記装着部18と連通しており、この
キャビティI9の中央部にリードフレームLFに搭載さ
れた半導体チップP(第5図参照)を位置決めした状態
で、このキャビティ19に加熱溶融されたタブレット1
7を圧入することにより、チップPのモールド体17a
を成形する(第3図参照)。
同図において、21はキャビティ19の底面から突没す
るエジェクタビンであって、モールド作業が終了すると
、このエジェクタビン21によりモールド体17aを突
き上げて、リードフレームLFを下型5から取りはずず
。なお上記キャビティ19に対向する上型6の下面にも
キャビティ19が凹設されている。第4図において、2
2は溶融タブレット中のガスを逃がすための溝状エアベ
ントである。
るエジェクタビンであって、モールド作業が終了すると
、このエジェクタビン21によりモールド体17aを突
き上げて、リードフレームLFを下型5から取りはずず
。なお上記キャビティ19に対向する上型6の下面にも
キャビティ19が凹設されている。第4図において、2
2は溶融タブレット中のガスを逃がすための溝状エアベ
ントである。
第2図において、上記装着部18の下部にはタブレット
17を上方へ押し上げるプランジャ25が挿着されてい
る。26はプランジャ25の突き上げ用ロフトであって
、水平なベース材27上に立設されている。28はこの
ベース材27の昇降装置であって、上記モータ13と、
タイミングベルト29を介してこのモータ13に駆動さ
れるナツト30と、このナツト30に螺着された垂直な
送りねじ31と、この送りねじ31の上端部に装着され
た押し上げ板32から成っており、モータ13が駆動す
ると、ベース材27は上昇し、これに立設されたプラン
ジャ25も上昇して、タブレット17を押し上げる。
17を上方へ押し上げるプランジャ25が挿着されてい
る。26はプランジャ25の突き上げ用ロフトであって
、水平なベース材27上に立設されている。28はこの
ベース材27の昇降装置であって、上記モータ13と、
タイミングベルト29を介してこのモータ13に駆動さ
れるナツト30と、このナツト30に螺着された垂直な
送りねじ31と、この送りねじ31の上端部に装着され
た押し上げ板32から成っており、モータ13が駆動す
ると、ベース材27は上昇し、これに立設されたプラン
ジャ25も上昇して、タブレット17を押し上げる。
第2図及び第3図において、33はベース材27の上方
に配設された上記エジェクタビン21の押し上げ板であ
って、エジェクタビン21の接地部にはロードセルから
成る感圧装置34が配設されており、キャビティ19の
内圧は、エジェクタビン21を介してこの感圧装置34
に伝達される。35は上記ベース材27に立設された突
起であって、モータ13が駆動してベース材27が上昇
すると、押し上げ板33は突起35に押し上げられて上
昇し、エジェクタビン21はキャビティ19内のモール
ド体17aを突き上げて、モールド体17aを下型5か
ら取りはずす、したがってエジェクタビン21はモール
ド体17aを突き上げる突き上げ手段と、感圧装置34
にキャビティ19の内圧を伝達する圧力伝達手段とを兼
務している。
に配設された上記エジェクタビン21の押し上げ板であ
って、エジェクタビン21の接地部にはロードセルから
成る感圧装置34が配設されており、キャビティ19の
内圧は、エジェクタビン21を介してこの感圧装置34
に伝達される。35は上記ベース材27に立設された突
起であって、モータ13が駆動してベース材27が上昇
すると、押し上げ板33は突起35に押し上げられて上
昇し、エジェクタビン21はキャビティ19内のモール
ド体17aを突き上げて、モールド体17aを下型5か
ら取りはずす、したがってエジェクタビン21はモール
ド体17aを突き上げる突き上げ手段と、感圧装置34
にキャビティ19の内圧を伝達する圧力伝達手段とを兼
務している。
40は上記ベース材27に配設された等王手段としての
油圧シリンダであって、ピストン40aと、ケーシング
40bから成り、上記各プランジャ25の各ロフト26
をそれぞれ支持している。41はベース材27の内部に
穿孔された横孔状のオイル溜部であって、上記ピストン
40aに油圧を付与するものである。オイル溜部41の
両端部は栓42により閉じられて密閉構造となっている
。このオイル溜部41は、各油圧シリンダ40の共通の
オイル溜部となっており、各油圧シリンダ40の各ピス
トン40aに等しい油圧を付与する。
油圧シリンダであって、ピストン40aと、ケーシング
40bから成り、上記各プランジャ25の各ロフト26
をそれぞれ支持している。41はベース材27の内部に
穿孔された横孔状のオイル溜部であって、上記ピストン
40aに油圧を付与するものである。オイル溜部41の
両端部は栓42により閉じられて密閉構造となっている
。このオイル溜部41は、各油圧シリンダ40の共通の
オイル溜部となっており、各油圧シリンダ40の各ピス
トン40aに等しい油圧を付与する。
本装置は上記のような構成より成り、次に動作の説明を
行う。
行う。
プレス用モータ7を駆動して上型6を上昇させ、装着部
18にタブレット17をセットした後、上型6を下降さ
せて下型5に接合させる。
18にタブレット17をセットした後、上型6を下降さ
せて下型5に接合させる。
次にモータ13を駆動してベース材27を上昇させ、加
熱溶融されたタブレット17(以下、「溶融樹脂Jとも
言う)をキャビティ19に射出する。この場合、タブレ
ット17には容積誤差があるが、各々タブレット17は
油圧シリンダ40を介して押し上げられるので、各タブ
レット17は等しい送り圧でキャビティ19に圧入され
る。第2図において、tは容積誤差に基づくプランジャ
25の上面位置のばらつきである。
熱溶融されたタブレット17(以下、「溶融樹脂Jとも
言う)をキャビティ19に射出する。この場合、タブレ
ット17には容積誤差があるが、各々タブレット17は
油圧シリンダ40を介して押し上げられるので、各タブ
レット17は等しい送り圧でキャビティ19に圧入され
る。第2図において、tは容積誤差に基づくプランジャ
25の上面位置のばらつきである。
キャビティ19が溶融樹脂で充填されたならば、モータ
13のトルクを落して送り圧を低減し、引き続き保圧と
キュアを行い、キャビティ19内の樹脂を硬化させる。
13のトルクを落して送り圧を低減し、引き続き保圧と
キュアを行い、キャビティ19内の樹脂を硬化させる。
そしてキュアが終了したならば、再びモータ7を駆動し
て上型6を上昇させるとともに、モータ13を駆動して
、キャビティ19内に成形されたモールド体17aをエ
ジェクタビン21により突き上げて、下型5から取りは
ずす。
て上型6を上昇させるとともに、モータ13を駆動して
、キャビティ19内に成形されたモールド体17aをエ
ジェクタビン21により突き上げて、下型5から取りは
ずす。
ところで、プランジャ25と装着部18の間には、微小
な隙間があり、この隙間に溶融樹脂が入り込みやすい。
な隙間があり、この隙間に溶融樹脂が入り込みやすい。
このように隙間に入り込んだ樹脂K(第2図参照)は、
一般に「ぼり」と呼ばれるが、このばりKによる抵抗の
ために圧力損失を生じ、このため第6図に示すように、
感圧装置34の測定値すなわちキャビティ19内の実効
圧力は指令値よりも小さくなり、キャビティ19内に溶
融樹脂を完全に圧入できなくなって、モールド体に空隙
や欠けを生じるようになる。
一般に「ぼり」と呼ばれるが、このばりKによる抵抗の
ために圧力損失を生じ、このため第6図に示すように、
感圧装置34の測定値すなわちキャビティ19内の実効
圧力は指令値よりも小さくなり、キャビティ19内に溶
融樹脂を完全に圧入できなくなって、モールド体に空隙
や欠けを生じるようになる。
そこで本手段は、キャビティ19の内圧を感圧装置34
により測定し、その測定結果を制御装置50にフィード
バックし、この測定値と指令値とを比較して補正値を算
出し、上記モータ13に補正指令を加えることにより、
測定値が指令値に一致するようにモータ13を制御する
。
により測定し、その測定結果を制御装置50にフィード
バックし、この測定値と指令値とを比較して補正値を算
出し、上記モータ13に補正指令を加えることにより、
測定値が指令値に一致するようにモータ13を制御する
。
このようにすればキャビティ19の内圧を指令値に一致
させ、以ってキャビティ19内を樹脂により完全に充填
して、空隙や欠けのないモールド体を成形することがで
きる。
させ、以ってキャビティ19内を樹脂により完全に充填
して、空隙や欠けのないモールド体を成形することがで
きる。
またこのように、複数個のプランジャ25とモータ13
の間に、共通のオイル溜部41を有する油圧シリンダ4
0を介在させておけば、各々のキャビティ19の内圧は
すべて等しくなるので、感圧装置34は何れのキャビテ
ィ19に設けてもよい。
の間に、共通のオイル溜部41を有する油圧シリンダ4
0を介在させておけば、各々のキャビティ19の内圧は
すべて等しくなるので、感圧装置34は何れのキャビテ
ィ19に設けてもよい。
(発明の効果)
以上説明したように本発明は、半導体チップが搭載され
たリードフレームを、モールドプレス装置の上型と下型
の対向する面に形成されたキャビティに位置決めし、こ
の下型に装着されたタブレットを、モータに駆動されて
昇降するプランジャにより押し上げて、加熱溶融された
タブレットを、上記キャビティに圧入するようにしたモ
ールドプレス方法において、感圧装置により上記キャビ
ティの内圧を測定し、制御装置により、この感圧装置の
測定値と指令値とを比較して、上記モータに補正指令を
加えることにより、測定値が指令値に一致するようにし
ているので、ぼりによる圧力損失を補正して、測定価す
なわち実効圧力を指令値に一致させながら、空隙や欠け
のないモールド体を成形することができる。
たリードフレームを、モールドプレス装置の上型と下型
の対向する面に形成されたキャビティに位置決めし、こ
の下型に装着されたタブレットを、モータに駆動されて
昇降するプランジャにより押し上げて、加熱溶融された
タブレットを、上記キャビティに圧入するようにしたモ
ールドプレス方法において、感圧装置により上記キャビ
ティの内圧を測定し、制御装置により、この感圧装置の
測定値と指令値とを比較して、上記モータに補正指令を
加えることにより、測定値が指令値に一致するようにし
ているので、ぼりによる圧力損失を補正して、測定価す
なわち実効圧力を指令値に一致させながら、空隙や欠け
のないモールド体を成形することができる。
図は本発明の実施例を示すものであって、第1図はモー
ルドプレス装置の斜視図、第2図は金型の断面図、第3
図は同部分断面図、第4図は下型の部分斜視図、第5図
は下型の平面図、第6図は圧力図である。 LF・・・リードフレーム P・・・半導体チップ 5・・・下型 6・・・上型 13・・・モータ 17・・・タブレフト 19・・・キャビティ 25・・・プランジャ 34・・・感圧装置 50・・・制御装置 第 6r!!J 射出 保圧 第 2 図 第 図
ルドプレス装置の斜視図、第2図は金型の断面図、第3
図は同部分断面図、第4図は下型の部分斜視図、第5図
は下型の平面図、第6図は圧力図である。 LF・・・リードフレーム P・・・半導体チップ 5・・・下型 6・・・上型 13・・・モータ 17・・・タブレフト 19・・・キャビティ 25・・・プランジャ 34・・・感圧装置 50・・・制御装置 第 6r!!J 射出 保圧 第 2 図 第 図
Claims (1)
- 半導体チップが搭載されたリードフレームを、モール
ドプレス装置の上型と下型の対向する面に形成されたキ
ャビティに位置決めし、この下型に装着されたタブレッ
トを、モータに駆動されて昇降するプランジャにより押
し上げて、加熱溶融されたタブレットを、上記キャビテ
ィに圧入するようにしたモールドプレス方法において、
感圧装置により上記キャビティの内圧を測定し、制御装
置により、この感圧装置の測定値と指令値とを比較して
、上記モータに補正指令を加えることにより、測定値が
指令値に一致するよう制御することを特徴とする半導体
チップのモールドプレス方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1286839A JP2720548B2 (ja) | 1989-11-01 | 1989-11-01 | 半導体チップのモールドプレス装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1286839A JP2720548B2 (ja) | 1989-11-01 | 1989-11-01 | 半導体チップのモールドプレス装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03147340A true JPH03147340A (ja) | 1991-06-24 |
JP2720548B2 JP2720548B2 (ja) | 1998-03-04 |
Family
ID=17709705
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1286839A Expired - Fee Related JP2720548B2 (ja) | 1989-11-01 | 1989-11-01 | 半導体チップのモールドプレス装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2720548B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0794541A (ja) * | 1993-09-27 | 1995-04-07 | Toshiba Corp | 半導体樹脂封止装置 |
JP2015162598A (ja) * | 2014-02-27 | 2015-09-07 | トヨタ自動車株式会社 | 半導体装置の製造方法および製造装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JPS5649243A (en) * | 1979-09-28 | 1981-05-02 | Hitachi Ltd | Transfer type molding machine |
JPS5923526A (ja) * | 1982-07-30 | 1984-02-07 | Hitachi Ltd | トランスフアモ−ルド方法および装置 |
-
1989
- 1989-11-01 JP JP1286839A patent/JP2720548B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
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