JPH03146822A - エンコーダー - Google Patents

エンコーダー

Info

Publication number
JPH03146822A
JPH03146822A JP1285896A JP28589689A JPH03146822A JP H03146822 A JPH03146822 A JP H03146822A JP 1285896 A JP1285896 A JP 1285896A JP 28589689 A JP28589689 A JP 28589689A JP H03146822 A JPH03146822 A JP H03146822A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
diffracted
optical path
diffraction grating
order
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP1285896A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2683117B2 (ja
Inventor
Akira Ishizuka
公 石塚
Tetsuji Nishimura
西村 哲治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP1285896A priority Critical patent/JP2683117B2/ja
Priority to US07/605,437 priority patent/US5126562A/en
Priority to DE69029644T priority patent/DE69029644T2/de
Priority to EP90120825A priority patent/EP0426125B1/en
Publication of JPH03146822A publication Critical patent/JPH03146822A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2683117B2 publication Critical patent/JP2683117B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/26Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
    • G01D5/32Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
    • G01D5/34Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
    • G01D5/36Forming the light into pulses
    • G01D5/38Forming the light into pulses by diffraction gratings
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/22Analogue/digital converters pattern-reading type
    • H03M1/24Analogue/digital converters pattern-reading type using relatively movable reader and disc or strip
    • H03M1/28Analogue/digital converters pattern-reading type using relatively movable reader and disc or strip with non-weighted coding
    • H03M1/30Analogue/digital converters pattern-reading type using relatively movable reader and disc or strip with non-weighted coding incremental
    • H03M1/301Constructional details of parts relevant to the encoding mechanism, e.g. pattern carriers, pattern sensors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optical Transform (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明はエンコーダーに関し、特に、回折格子と回折格
子に入射する光束の相対的な変位を、回折格子から射出
するいくつかの回折光同志を干渉させて形成した干渉光
を光電変換することにより検出するエンコーダーに関す
る。
〔従来技術〕
従来より、NC工作機械等で、被検物体の位置や角度変
位を検出するセンサーとしてエンコーダーが使用されて
いる。そして、近年この種のエンコーダーに対して高分
解能化と高精度化が益々要求されてきている。
変位検出用の光学式スケールとして回折格子を用い、回
折格子の記録密度を数ミクロン/ピッチにし、回折格子
から射出するいくつかの回折光を互いに干渉させること
でスケールの変位に応じた周期信号を得る方式が高分解
能、高精度なエンコーダーが既に知られているが、更な
る高精度化、高分解能化のために回折格子の記録密度を
波長オーダー程度に上げると、回折光の回折角度(回折
格子からの射出角)が大きくなり、光学部品の配置が面
倒になるという問題点が発生する。
例えば、第6図に示す従来のエンコーダーは以下のよう
な動作によってスケールの変位に応じた信号を発生させ
ている。
レーザーダイオード1からの光束をコリメータレンズ2
で平行光束にして回折格子5上の点P1に垂直に入射さ
せ、点P1から射出した+1次反射回折光(R1+)を
ミラー6を介してビームスプリッタ−4まで戻すと同時
に点P1から射出した一1次反射回折光(R1−)をミ
ラー62を介してビームスプリッタ−4まで戻し、ビー
ムスプリッタ−4を介して±1反射回折光を重ねあわせ
て干渉させる。回折格子5が格子1ピッチ分だけ移動す
るあいだに+1次回折光の波面の位相が「2π進み」、
−1次回折光の波面の位相が「2π遅れる」という原理
によって、2光束を干渉させて形成した干渉光で格子1
ピツチの移動に応じて2周期の明暗変化が観測される。
即ち回折格子5の格子本数の2倍の周期信号が取り出せ
る。
しかしながら、前述したように、回折格子5の記録密度
(ピッチ)が細かくなるほど回折光の回折角が大きくな
るので、回折格子5から射出する回折光の射出角が90
°近くなる。従って、回折格子5に接触しないようにミ
ラー61,62を回折格子5の近傍に設置しなければな
らず、このような設置は極めて面倒である。更に、回折
格子5の格子ピッチをレーザーダイオード1からの光束
の波長以下にすると、回折光が取り出せなくなり、回折
格子5の変化を検出することすら不可能になる。
本件出願人は、この様な問題を解消し、回折格子のピッ
チが細かくなっても容易に回折光を取り出せるエンコー
ダーを、特願平1− ]、 20046号で開示した。
〔発明の概要〕
本発明は、上記先願のエンコーダーの改良に関するもの
であり、その目的は、干渉光を光電変換することにより
得られる信号の振幅や位相を安定させることにある。
この目的を達成するために、本発明のエンコーダーは、
光源からの光束を分割して光束R1と光束R2とを形成
する第1偏光ビームスプリッタ−と上記光束R1の光路
L1及び上記光束R2の光路L2に設けた第1λ/4板
とを備え、回折格子と上記光束R1を回折させて生じる
正の第1回折光が上記光路L1に沿って進み、上記回折
格子で光束R2を回折させて生じる負の第2回折光が上
記光路L2に沿って進むように上記光束R1と光束R2
を上記回折格子に入射させると共に上記第1及び第2回
折光を上記第1偏光ビームスプリッタ−を介して重畳せ
しめる第1光学手段と、上記第1光学手段からの上記第
1及び第2回折光を互いに分離せしめる第2偏光ビーム
スプリッタ−と第2偏光ビームスプリッタ−からの上記
第1回折光の光路L3及び第2回折光の光路L4に設け
た第2λ/4板とを備え、上記回折格子で上記第1回折
光を回折させて生じる正の第1再回折光が上記光路L3
に沿って進み、上記回折格子で上記第2回折光を回折さ
せて生じる負の第2再回折光が上記光路L4に沿って進
むように上記第1及び第2回折光を上記回折格子に入射
させると共に上記第1及び第2再回折光を上記第2偏光
ビームスプリッタ−を介して重畳せしめる第2光学手段
と、上記第2光学手段からの上記第1及び第2再回折光
を互いに干渉させて形成した干渉光を電気信号に変換す
る変換手段とを有し、上記光路L1及びL4を介して上
記変換手段に入射する光と上記光路L2及びL4を介し
て上記変換手段に入射する光の光路長差と、上記光路L
1及びL3を介して上記変換手段に入射する光と上記光
路L2及びL3を介して上記変換手段に入射する光の光
路長差を、上記光源からの光束の可干渉距離より大きく
したことを特徴としている。
〔実施例〕
本発明の詳細な説明する前に、上記特願平1−1200
46号で開示したロータリーエンコーダについて述べ、
本発明の課題を示す。
第1図は、この先願のロータリーエンコーダーを示す斜
視図である。
同図において、1はレーザーダイオードから成る光源、
2はコリメーターレンズ、31.32はプリズム、41
.42はプリズム31.32中の偏光ビームスプリッタ
−面、5は回転ディスク板(回折格子) 、63,64
,65.66はミラー 71,72.73は1/4波長
板、8は1/2波長板、9は非偏光ビームスプリッタ−
10,11は偏光素子(例えば偏光板や偏光プリズム)
、Sl、S2は受光素子である。
光源1から射出した波長λのレーザー光束をコリメータ
レンズ2によって平行光束にし、この平行光束をプリズ
ム31に入射させてプリズム31の所定箇所に設けたミ
ラー面や偏光ビームスプリッタ−面41によって対称な
光路Ll、L2に沿って進む2光束R1,R2に分割し
、各々の光束R1,R2をミラー63で反射せしめて1
/4波長板71を通過させてから回転ディスク板5」二
に設けた格子ピッチPの放射状回折格子の第1の点(P
l)に同時に入射させる。ここで、回折格子で回折して
点P1から射出する複数の回折光のうち光束R1の+1
次反射回折光と光束R2の1次反射回折光が各々元の光
路Ll、L2を逆進する方向に出射するように、あらか
じめ光束R1,R2の入射角θ。をθo=sin’(λ
/2P)に設定しておく。また光束R1とR2は、偏光
ビームスプリッタ−面41で分割された時点で偏光面が
互いに直交した直線偏光になっているが、1/4波長板
71を往復通過することで光束R1とR2の偏光面が入
れ替わる。つまり、光束R1は偏光ビームスプリッタ−
面41を透過した直線偏光(P偏光)であるから光束R
1の+1次回折光(R1+)は1/4波長板71を介し
てS偏光となり、偏光ビームスプリッタ−面41で反射
しプリズム31から出射する。また光束R2は偏光ビー
ムスプリッタ−面で反射した直線偏光(S偏光)である
から光束R2の一1次回折光(R2−)は1/4波長板
71を介してP偏光となり、偏光ビームスプリッタ−而
41を透過しプリズム31から、光束(R1+)と重な
りあって出射する。光束R1の+1次回折光(R1+)
と光束R2の一1次回折光(R2−)は、重なりあった
ままプリズム3のミラー64.65により伝送され17
2波長板8を透過してプリズム32に入射する。そして
、プリズム32の所定箇所に設けたミラー面や偏光ビー
ムスプリッタ−面42によって光束(R1+)を光路L
3に沿って進行させ光束(R2−)を光路L4に沿って
進行させ、各々ミラー66で反射せしめて1/4波長板
72を通過させた後に回転ディスク板5上に設けた放射
状回折格子の第2の点(P2)に、前述の角度θ。で入
射させる、ここで、1/2波長板8は+1次回折光(R
1+)の偏光面をS偏光からP偏光に変換し、−1次回
折光(R2−)の偏光面をP偏光からS偏光に変換して
いる。また、点P1とP2は回転ディスク板5の回転軸
0に対して対称な位置関係に設定しておく。回折格子で
反射回折して点P2より出射した複数の反射回折光のう
ち、光束(R1+)の+1次再回折光(R1++)は元
の光路L3に逆進し、1/4波長板72を再び通過して
S偏光になり、プリズム32内の偏光ビームスプリッタ
−面42で反射0 されプリズム32を射出する。一方、光束(R2)の−
1次再回折光(R2−−)は元の光路L4を逆進し1/
4波長板72を再び透過してP偏光になり、プリズム3
2内の偏光ビームスプリッタ−面42を透過して+11
次再折光(R1千十)と重なりあってプリズム32を出
射する。
重なりあった2光束は1/4波長板73を通過すること
により互いに偏光面が逆向きに回転する円偏光となるの
で、この互いに逆回りの円偏光同志が合成された光束の
偏光状態は直線偏光となる。
この直線偏光光束の偏光方位は、回転ディスク板5の回
転に応じて変化する、+11次再折光(R1++)と−
次回回折光(R2−一)の波面の位相差によって決まり
、位相差がO9π/4゜2π/4,3π/4,4π/4
,5π/4.・・・8π/4と変化していくあいだに直
線偏光光束の偏光方位は45° 67.5° 9001
12.5° 135° 157.5° ・・・225°
 (45°)と回転していく。そこで、この光束を非偏
光ビームスプリッタ−9にて等光量1 の2光束に分割した後、一方の光束を偏光素子10を用
いて特定の偏光成分のみを分離してとりだして、干渉光
を受光素子S1に入射させ、もう一方を偏光素子11を
用いて特定の偏光成分のみを分離して取り出して、干渉
光を受光素子S2に入射させれば、受光素子Sl、S2
からそれぞれ回転ディスク板5の回転量に応じた周期的
な信号が出力される。ここで偏光素子10と11で取り
出す偏光成分を互いに45°ずらしておけば、受光素子
SL、S2に入射する干渉光の明暗変化のタイミングが
互いに1/4周期(出力信号の位相でπ/2)だけずれ
る。従って、第1図の実施例同様、これらの互いに90
’位相がずれた2相の周期信号を電気的な増幅や二値化
の処理をしてやれば、回転ディスク板5の回転角度や回
転方向を検出することができる。
本ロータリーエンコーダーにおいては、回転ディスク板
5の放射状回折格子のピッチが光源1からの光束の波長
λと等しくなったとしても、光束R1及びR2の点P1
及びP2に対する入射角2 を30°程度にすることができ、また、±1次回折光及
び±11次再折光の射出角も30°程度にすることがで
きる。従って、光学系の配置に制約を受けることなく高
分解能なエンコーダーを作成することが可能である。
更に、本ロータリーエンコーダーは光束R1及びR2を
回転ディスク板5上の互いに対称な点PI、P2で回折
させているので、回転ディスク板5の回転中心0と放射
状回折格子の中心(放射中心)の偏心の影響を軽減させ
た、高精度の回転状態の検出を遠戚している。
また、プリズム31からプリズム32伝送される±1次
回折光の光路がほぼ共通であるため、周囲の温度変動に
より互いの光路長差が大きく生じることがなく、極めて
安定した検出が行える。
以上の説明で回折光の次数として+1次や一1次を用い
ているが、本願では、士符号は第4図(A)〜(E)に
示すように回折格子5の移動方向と光束の進行方位がず
らされる方向が一致する 3 はうを+、それと逆の場合を−としている。
第1図に示すロータリーエンコーダーにおいて、プリズ
ム31.32の各々の偏光ビームスプリッタ−面41.
42は、本来、P偏光の光のみを透過し、S偏光の光の
みを反射させるべきものであるが、実際には、このよう
な完全な偏光ビームスプリッタ−面を形成するのは容易
ではない。
従って、プリズム31の偏光ビームスプリッタ−面41
から光路L1に沿って回折格子上の点P1に入射する光
と、同じく光路L2に沿って回折格子上の点P1に入射
する光は、各々P偏光成分とS偏光成分とが含まれるこ
とになり、1/4波長板71を介して偏光ビームスプリ
ッタ−面41へ入射する+1回折光(R1+)、−1次
回折光(R2−)は、各々「S偏光子ある量のP偏光」
、「P偏光子ある量のS偏光」を含む。+1次回折光(
R1+)のS偏光光と一1次回折光(R2)のP偏光光
とは、偏光ビームスプリッタ−面41を介して互いに重
なり合い、そこから射出するが、偏光ビームスプリッタ
−面41の上述の4 如き不完全性に伴ない、+1次回折光(R1+’)のP
偏光光(以下、+1次不要回折光と称す)と−1次回折
光(R2−)のS偏光光(以下、−1次の不要回折光と
称す。)も、偏光ビームスプリッタ−面41を介して重
なり合い、そこから射出する。
ここで、±1次の不要回折光は、プリズム3を通過し、
1/2波長板8に入射する。+1次の不要回折光は1/
2波長板8を介してS偏光光になり、−1次の不要回折
光は1/2波長板8を介してP偏光光となる。そして、
これら±1次の不要回折光がプリズム32の偏光ビーム
スプリッタ−面42に入射すると、+1次の不要回折光
が反射して光路L4へ向けられ、−1次の不要回折光が
透過して光路L3へ向けられる。+1次の不要回折光は
、光路L4に沿って進み、λ/4板7板金2して、回折
格子上の点P2に入射し、−1次の不要回折光は、光路
L3に沿って進み、λ/4板7板金2して、回折格子上
の点P2に入射する。
+1次の不要回折光が回折格子で反射回折されて5 生じる一1次の不要再回折光は、光路L4へ向かって射
出し、−1次の不要回折光が回折格子で反射回折されて
生じる+1次の不要再回折光は光路L3に向かって射出
する。−1次の不要再回折光は光路L4に沿ってλ/4
板7板金2して偏光ビームスプリッタ−面42へ向けら
れ、+1次の不要再回折光は光路L3に沿ってλ/4板
7板金2して偏光ビームスプリッタ−面42へ向けられ
る。この時、λ/4板7板金2用で一1次の不要再回折
光はP偏光光に、+11次不要再折光はS偏光光になっ
ており、−1次の不要再回折光が偏光ビームスプリッタ
−面42で透過し、+1次の不要再回折光が偏光ビーム
スプリッタ−面42を反射し、偏光ビームスプリッタ−
面42から、互いに重なり合って±1次の不要再回折光
が射出する。そして、これらの±1次の不要再回折光の
光路は、±1次再回折光(R1++、R2−一)の光路
と一致するから、±1次再回折と共に受光素子81.8
2へ向かうことになる。
ここで、−1次の不要再回折光は、回折格子上6 の点P1からの+1次回折光が回折格子上の点P2で再
回折して生じた一1次回折光であるから、回折格子が変
位しても位相の変化は生じない。
一方、+1次の不要再回折光は、回折格子上の点P1か
らの一1次回折光が回折格子上の点P2で再回折して生
じた+1次回折光であるから、やはり、回折格子が変位
しても位相の変化は生じない。
ところが、−1次不要再回折光は、−次回回折光(R2
−−)の偏光方位と同じ偏光方位をもち、+11次不要
再折光は、+1次再回折光(R1++)の偏光方位と同
じ偏光方位をもつから、−1次不要再回折光と一1次再
回折光(R2−−)が互いに干渉し、+11次不要再折
光と+1次再回折光(R1++)が互いに干渉する。従
って、受光素子Sl、82からの信号は、±1次再回折
光(R1+十、R2−−)による干渉光の明暗変化に応
じた正弦波信号が、この±1次不要回折光の作用で±1
次再回折光に生じる強度変化に対応する正弦波信号で変
調された信号になる。尚、前述のように、±1次再回折
光(R1++、R2−−)の干渉による正弦波信号は、
回折格子が1ピッチ分だけ変位することにより4周期生
じる。一方、±1次不要回折光の作用による正弦波信号
は、回折格子が1ピッチ分だけ変位することにより2周
期生じる。
このようにして、受光素子81.82からの正弦波信号
の振幅と位相が変調され、その波形が乱れる。この波形
の乱れは、回折格子の変位を測定する時の精度を低下さ
せる要因となる。特に、受光素子Sl、S2から得られ
る正弦波信号を電気的に分割して多数個のパルスを生成
するような(電気分割)処理を行う場合など、正確にパ
ルスを生成することができなくなる。
本発明の課題は、上述した、受光素子S1゜S2からの
正弦波信号の振幅と位相の乱れをなくすことにあり、こ
れは、以下に示す実施例により解決される。
第2図は、本発明の一実施例を示す斜視図であり、1は
光源で、ここではマルチモード半導体 8 レーザーを用いている。2はコリメータレンズ、31.
32はプリズム、41.42は偏光ビームスプリッタ−
面、5は回転ディスク板(回折格子) 、71,72.
73は1/4波長板、8は172波長板、9は非偏光ビ
ームスプリッタ、10.11は検光子、81.82は受
光素子、14.15は互いに同じ厚さのガラス板、16
は折り返しミラーである。第2図と第1図を比較すると
解るように、本実施例のエンコーダーは、ガラス板14
,15、折り返しミラーJ6を備えている以外は、第1
図で示したエンコーダーと全く同一での系を有している
。尚、100は読取りユニットを示す。
光源1から射出した光束は、コリメータレンズ2によっ
て、平行光束に変換され、プリズム31に入射する。そ
して、この平行光束は、プリズム31に形成したミラー
を介して偏光ビームスプリッタ−面41によって光束R
1,R2に2分割され、光束R2はガラス板14によっ
て、光束R1に対して所定量の光路長差を付与される。
光束9 R1,R2は各々対応する光路Ll、L2に沿って進行
する。ここで光路L1.L2の各光路長Lit、lL2
+は以下のように設定しである。
L 1 −  L2 −Δ1□≠0 次に、光束R1(P偏光子ある量のS偏光)、R2(S
偏光子ある量のP偏光)は、各々1/4波長板71を透
過してから、回転ディスク板5上に設けた放射状回折格
子上の点P1に、互いに逆側から同時に入射する。ここ
で前述の様に、これらの光束R1,R2が点P1で回折
されて点P1から射出する複数の回折光のうち、光束R
1が回折されて生じた+1次反射回折光(R1,、)と
光束R2が回折されて生じた一1次反射回折光(R2,
,1)が、元の光路Ll、L2を逆進する様に、第4図
(C)に示す通り予め光束R1,R2の入射角をθ。[
−5in’(λ/2p)]に設定しておく。このように
して得られた+1次反射回折光(R1+、)、−1次反
射回折光(R2−、)は、ディスク5が放射状回折格子
の1ピッチ分だ0 け回転する間にそれらの波面の位相が、十1次反射回折
光(R1,、、)は「2π進み」、−1次反射回折光(
R1,)は「2π遅れる」という位相の変化を与えられ
る。
また、光束R1とR2は、偏光ビームスプリッタ−面4
1の作用で、偏光面が互いに直交した略直線偏光になっ
ているが、各光束が1/4波長板71を往復透過するこ
とで、±1次反射回折光(R1,、、とR2,)の偏光
面の関係が入れ替わる。従って、+1次反射回折光(R
1,、)はrS偏光+ある量のP偏光j1−1次反射回
折光(R2−、)は「P偏光子ある量のS偏光」になっ
ている。+1次反射回折光(R1+、)のS偏光成分は
、偏光ビームスプリッタ−面41で反射し、プリズム3
1から出射する。また−1次反射回折光(R2,)のP
偏光成分は、偏光ビームスプリッタ−面41を透過し、
プリズム31から、+1次反射回折光(R1,、S偏光
成分と重なりあって出射する。
しかし、偏光ビームスプリッタ−面41の特性の不完全
性によって、+1次反射回折光(R1+1)に含まれて
いた微量のP偏光成分の一部も、偏光ビームスプリッタ
−面41で反射し、−1次反射回折光(R2+)に含ま
れていた微量のS偏光成分の一部も、偏光ビームスプリ
ッタ−面41を透過し、互いに重なり合ってプリズム3
1より出射する。
±1次反射回折光(R1+、とR1,)は、互いに重な
りあったまま、プリズム3に伝送され、プリズム3で反
射せしめられて、そして1/2波長板8を透過し、偏光
面が互いに入れ替えられる。
つまり+1次反射回折光(R1□)は「P偏光」−ある
量のS偏光」に、−1次反射回折光(R2、)は「S偏
光子ある量のP偏光」になる。各回折光(R1,、とR
2,)はプリズム32に入射し、プリズム32に形成し
たミラーを介して偏光ビームスプリッタ−面42に入射
し、それによって互いに分割される。各回折光(R1+
lとR2−1)のP偏光成分は光路L3に、S偏光成分
は光路L4に進行させられる。ここで、P偏光成分の光
路L3にはガラス板15が設けられており、光路L3゜
L4の各光路長IL31.1L41は、次の関係を満た
すように設定されている。
L3 −  L4 −Δ3.≠O Ll  +  L3  =  L2  +lL4ここで
、上記Δ34と先に示したΔ1□の値は、光路L1と光
路L3を介して受光素子81.S2に入射する光と、光
路L2と光路L3を介して受光素子Sl、S2に入射す
る光の光路長差、及び光路L2と光路L4を介して受光
素子Sl、S2に入射する光と光路L1と光路L4を介
して受光素意しである。さて、±1次反射回折光(R1
+、とR2−+)は、各々1/4波長板72を透過した
後、回転ディスク5上に設けた放射状回折格子上の点P
2に入射する。ここで点PIとP2は回転ディスク5の
回、転中心に対して、互いに点対称な位置関係に設定し
ておく。
点P2より出射した複数の回折光のうち、光路3 L3を進行してきた±1次反射(回折光R1+1とR2
−、)の、+11次反射再折光(R1、、、、とR1,
、、)は、回転ディスク5が放射状回折格子の1ピッチ
分回転する間に、「2π位相が進んで」元の光路L3を
逆進し、光路L4を進行してきた±1次反射回折光(R
:l、とR1+、)の1次反射再回折光(R1,、とR
1,、、、)は、「2π位相が遅れて」元の光路L4を
逆進する。
すなわち、回転ディスク5が放射状回折格子の1ピッチ
分回転する時の各光束の波面の位相のずれは以下のよう
になる。
R1++++・・・+2π+2π=+4πR2+−+・
・・−2π−2π=−4πR1,、、(不要再回折光)
・・・+2π−2π=OR2,、、(不要再回折光)・
・・−2π+2π=O次に、各反射再回折光は、1/4
波長板72を再び透過し、+1次反射回折光(R1、、
、、とR21+1)はS偏光光になり、−1次反射再回
折光(R2+−+とR1+、、)はP偏光光になり、プ
リズム32に入射する。プリズム32内の偏光ビー4 ムスプリツター面42で、S偏光光(R1、、、、とR
2、、、)は反射され、P偏光光(R2、−、とR’1
.、、)は透過するので、上記4光束は重なり合ってプ
リズム32を出射する。そのうち、2光束(R1、、、
、とR2、、、)は偏光面が互いに一致しているが、そ
れぞれの光路長が R1,,1411L11X2+  L]X2+L。
R2−1+1−I L21 X2+ l L31 X2
+L。
(L、は共通部分の光路長) であり、Δl−Δ1□×2≠0、なる光路長差Δlが付
与されている。ここで、光路長差Δlが、光源1からの
光の可干渉距離より大きくなるようにΔ1□とΔ34の
値が設定されているので2光束(R1,、、とR2−、
、、)は互いに干渉せず光束(R、、+、)の強度が変
調されない。すなわち、光束(R21++)は単なるD
C成分になる。また2光束(R2+−+とR1+、−,
)も偏光面が一致しているが、同様の理由により光路長
差ΔI!〒Δ34×2であり、光束(11,−、)の強
度は変調されない。S偏光の光束(R1,+、とR2−
、、、)とP偏光の光束(R2、−、とR1、、−、)
は、1/4波長板73を透過して、互いに偏光面が逆向
きに回転する円偏光となるので、その合成された光束の
偏光状態は直線偏光となる。この直線偏光光束の偏光方
位は、光束(R1++++)と光束(R2、−、)の各
波面の位相差によって決まり回折格子の変位に応じてこ
の位相差が01π/4.2π/4.3π/4.4π/4
.5π/4、・・・ 8π/4と変化していくあいだに
偏光方位は45゜6765° 90° 112.5°、
135゜157.5° ・・・ 225° (45°)
と回転していく。そこで、この直線偏光光束を非偏光ビ
ームスプリッタ9で同強度の2光束に分割した後、一方
の光束を、検光子10を用いて、特定の偏光成分のみを
分離して取り出して、干渉光として受光素子S1に入射
させ、もう一方の直線偏光光束を、検光子11を用いて
、特定の偏光成分のみを分離して取り出して、干渉光と
して受光素子S2に入射させれば、受光素子Sl、82
から周期的な正弦波信号が出力される。ここで検光子1
0と11により取り出す偏光成分を互いに45°ずらし
ておけば、各干渉光の明暗変化のタイミングが、互いに
1/4周期(正弦波信号の位相でπ/2)だけずれる。
この様にして得られる2相の正弦波信号を電気的に増幅
し、二値化処理をして、回転角及び回転方向に対応する
各信号を得ることができる。このとき光束(R1,、、
、とR2−1□)の影響によって、受光素子Sl、82
からの正弦波信号に微量のD C成分が付加されている
が、これにより正弦波信号の振幅や位相の変化は生じず
、正しい波形の信号が得られる。また、後段に設けた回
路による正弦波信号の電気分割も正しく行える。
第2図において、第4図(B)、(D)に示す様に点P
1、点P2に入射する各光束の入射角を図示された状態
から多少ずらして、往路の光路と復路の光路が一致しな
い様に構成すれば、各光束が回折格子が生じる正反射光
が他の光路に混入しないので好ましい。この構成で、光
路■、1に対応する復路LL’の光路長をILI’  
l、光路L27 に対応する復路L2’の光路長をIL2′光路L3に対
応する復路L3’の光路長をL3’  l、光路L4に
対応する復路L4’の光路長をlL4’lとすれば、第
2図と同様、ガラス板を挿入することで、各光路長が以
下の条件を満たすようにすれば良い。
Ll  +  LL’  +  L3“ +L3=  
L2  +  L2’  +  L4“ +L4以上の
実施例で説明したエンコーダーでは、光源1としてマル
チモード半導体レーザを用いて、更にガラス板を挿入す
るだけで、不要回折光の干渉作用のみを無くし、必要な
±1次再開折光の干渉作用を阻害しないですむ。また、
光源は、通常のシングルモード半導体レーザーでも、ガ
lスレーザーでも良い。尚、ガラス板14を光路L1に
挿入した場合は、ガラス板15は光路L4に挿入し、ガ
ラス板14を光路L2に挿入した場合は、ガラス板16
は光路L3に挿入すればよいことは言うまでもない。更
に、上記実施例では回転ディスク(スケール)の回折格
子の変位を測定す8 るものを例示したが、本発明はリニアスケールに形成し
た回折格子の変位を測定するりニアエンコーダーにも適
用できる。
第3図は、第2図の実施例の変形例を示す概略図であり
、光路Ll、L2間の光路長及び光路L3.L4間の光
路長をガラス板14.15を用いることなく、光学部品
の形状や配置によって、互いに異ならしめるように構成
したものである。
第3図において、第1図及び第2図に示した各部材と同
一の部材に同一符号が符してあり、図から明らかなよう
に、本実施例のエンコーダーの機能は第2図のエンコー
ダーと同じである。従って、これ以上の説明は略すこと
にする。
第5図は、本発明の構成によるロータリーエンコーダ1
00を空気軸受はベアリングから威る回転ステージ11
4に取り付けて、その回転ステージ114の一方に磁気
ディスクトラック信号書き込み用ヘッド112を取り付
けて、磁気ディスク113のトラック信号書き込み装置
に応用したものである。
9 〈発明の効果〉 以上説明したように、偏光ビームスプリッタ、波長板等
の光学部品の特性が多少悪くて、不要回折光が光路中に
生じても、エンコーダの出力信号に影響が表われないの
で、比較的安価な光学部品が使用できるとともに、信号
の電気分割による高分解能化がより正確に行える。
【図面の簡単な説明】
第1図はロータリーエンコーダーの一例を示す斜視図。 第2図は本発明の一実施例を示す斜視図。 第3図は第2図で示したエンコーダーの変形例を示す斜
視図。 第4図は、回折光の回折次数を説明するための図。 第5図は本発明を磁気ディスクトラック信号書き込み装
置に応用した例を示す図。 第6図は従来のエンコーダを示す概略図。 ■・・・光源、 2・・・コリメータレンズ、 0 3.31.32・・・プリズム、 41.42・・・偏光ビームスプリッタ−面、5・・・
回転ディスク、 64.65・・・ミラー ?1,72.73・・・1/4波長板、8・・・1/2
波長板、 9・・・非偏光ビームスプリッタ、 io、xi・・・検光子、 14.15・・・ガラス板、 SL、82・・・受光素子。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 光源からの光束を分割して光束R1と光束R2とを形成
    する第1偏光ビームスプリッターと上記光束R1の光路
    L1及び上記光束R2の光路L2に設けた第1λ/4板
    とを備え、回折格子と上記光束R1を回折させて生じる
    正の第1回折光が上記光路L1に沿って進み、上記回折
    格子で光束R2を回折させて生じる負の第2回折光が上
    記光路L2に沿って進むように上記光束R1と光束R2
    を上記回折格子に入射させると共に上記第1及び第2回
    折光を上記第1偏光ビームスプリッターを介して重畳せ
    しめる第1光学手段と、上記第1光学手段からの上記第
    1及び第2回折光を互いに分離せしめる第2偏光ビーム
    スプリッターと第2偏光ビームスプリッターからの上記
    第1回折光の光路L3及び第2回折光の光路L4に設け
    た第2λ/4板とを備え、上記回折格子で上記第1回折
    光を回折させて生じる正の第1再回折光が上記光路L3
    に沿って進み、上記回折格子で上記第2回折光を回折さ
    せて生じる負の第2再回折光が上記光路L4に沿って進
    むように上記第1及び第2回折光を上記回折格子に入射
    させると共に上記第1及び第2再回折光を上記第2偏光
    ビームスプリッターを介して重畳せしめる第2光学手段
    と、上記第2光学手段からの上記第1及び第2再回折光
    を互いに干渉させて形成した干渉光を電気信号に変換す
    る変換手段とを有し、上記光路L1及びL4を介して上
    記変換手段に入射する光と上記光路L2及びL4を介し
    て上記変換手段に入射する光の光路長差と、上記光路L
    1及びL3を介して上記変換手段に入射する光と上記光
    路L2及びL3を介して上記変換手段に入射する光の光
    路長差を、上記光源からの光束の可干渉距離より大きく
    したことを特徴とするエンコーダー。
JP1285896A 1989-10-31 1989-10-31 エンコーダー Expired - Fee Related JP2683117B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1285896A JP2683117B2 (ja) 1989-10-31 1989-10-31 エンコーダー
US07/605,437 US5126562A (en) 1989-10-31 1990-10-30 Encoder for setting optical path lengths of related beams
DE69029644T DE69029644T2 (de) 1989-10-31 1990-10-30 Kodierer
EP90120825A EP0426125B1 (en) 1989-10-31 1990-10-30 Encoder

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1285896A JP2683117B2 (ja) 1989-10-31 1989-10-31 エンコーダー

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH03146822A true JPH03146822A (ja) 1991-06-21
JP2683117B2 JP2683117B2 (ja) 1997-11-26

Family

ID=17697424

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1285896A Expired - Fee Related JP2683117B2 (ja) 1989-10-31 1989-10-31 エンコーダー

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5126562A (ja)
EP (1) EP0426125B1 (ja)
JP (1) JP2683117B2 (ja)
DE (1) DE69029644T2 (ja)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5436724A (en) * 1991-10-03 1995-07-25 Canon Kabushiki Kaisha Apparatus for measuring relative movement using a diffraction grating having an orthogonally polarized input beam
EP0536655B1 (en) * 1991-10-03 1996-05-29 Canon Kabushiki Kaisha Measuring method and measuring apparatus
JP3218657B2 (ja) * 1991-12-04 2001-10-15 キヤノン株式会社 ロータリーエンコーダ
JP3254737B2 (ja) * 1992-06-17 2002-02-12 キヤノン株式会社 エンコーダー
ES2077520B1 (es) * 1993-11-08 1998-02-16 Fagor S Coop Ltda Interferometro con red de difraccion para la medida de longitudes.
JP3495783B2 (ja) * 1994-05-13 2004-02-09 キヤノン株式会社 エンコーダ
JP3832874B2 (ja) * 1995-04-05 2006-10-11 キヤノン株式会社 光学スケール及びそれを用いたロータリーエンコーダ
US6081339A (en) 1997-05-29 2000-06-27 Aim Controls, Inc. Method and apparatus for measuring the direction and position of rotating bodies
DE19834107A1 (de) * 1998-07-29 2000-02-03 Ibm Atomspeicher
KR20110086025A (ko) * 2008-10-23 2011-07-27 가부시키가이샤 니콘 인코더
CN114178904B (zh) * 2022-02-15 2022-06-14 成都飞机工业(集团)有限责任公司 一种机床测量系统的分辨力测量方法

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3486178T2 (de) * 1983-11-04 1993-10-21 Sony Magnescale Inc Optisches Instrument zur Messung einer Verschiebung.
US4967072A (en) * 1984-09-05 1990-10-30 Canon Kabushiki Kaisha Interferometric rotating condition detection apparatus
JPH0621801B2 (ja) * 1985-07-03 1994-03-23 キヤノン株式会社 ロ−タリ−エンコ−ダ−
JPS6212814A (ja) * 1985-07-10 1987-01-21 Canon Inc ロ−タリ−エンコ−ダ−
JPS62200225A (ja) * 1986-02-27 1987-09-03 Canon Inc ロ−タリ−エンコ−ダ−
JPH073344B2 (ja) * 1987-06-15 1995-01-18 キヤノン株式会社 エンコ−ダ−
JPH01232214A (ja) * 1988-03-11 1989-09-18 Canon Inc エンコーダ
JPH0718714B2 (ja) * 1988-05-10 1995-03-06 キヤノン株式会社 エンコーダー
JP2603305B2 (ja) * 1988-07-19 1997-04-23 キヤノン株式会社 変位測定装置
JPH0778433B2 (ja) * 1988-07-19 1995-08-23 キヤノン株式会社 ロータリーエンコーダ
JP2586120B2 (ja) * 1988-09-22 1997-02-26 キヤノン株式会社 エンコーダー

Also Published As

Publication number Publication date
EP0426125A3 (en) 1992-09-30
DE69029644D1 (de) 1997-02-20
EP0426125B1 (en) 1997-01-08
EP0426125A2 (en) 1991-05-08
US5126562A (en) 1992-06-30
DE69029644T2 (de) 1997-05-28
JP2683117B2 (ja) 1997-11-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2603305B2 (ja) 変位測定装置
JP2586120B2 (ja) エンコーダー
EP0397202B1 (en) Encoder
US7034948B2 (en) Displacement pickup
US5000542A (en) Optical type encoder
JP3495783B2 (ja) エンコーダ
JPH03146822A (ja) エンコーダー
JPH0231111A (ja) ロータリーエンコーダ
US5541729A (en) Measuring apparatus utilizing diffraction of reflected and transmitted light
US5017777A (en) Diffracted beam encoder
JPS63277926A (ja) 測長装置
JPH05157583A (ja) ロータリーエンコーダ
JP2001336952A (ja) 測定装置
CN111964587B (zh) 检测系统、检测方法及光栅尺
JP3038860B2 (ja) エンコーダ
JPH0416177Y2 (ja)
JP2683098B2 (ja) エンコーダー
JP2003097975A (ja) ロータリーエンコーダの原点検出装置および回転情報測定装置
JPH02298804A (ja) 干渉計測装置
JPH05126603A (ja) 格子干渉測定装置
JP2003035570A (ja) 回折干渉式リニアスケール
JP2000018918A (ja) レーザ干渉式可動体の移動量検出装置
JP3517506B2 (ja) 光学式変位測定装置
JP2600783B2 (ja) 光学装置
JP2629606B2 (ja) エンコーダー

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070808

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080808

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080808

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090808

Year of fee payment: 12

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees