JPH03132982A - 機械特性評価用光ピックアップの校正方法 - Google Patents
機械特性評価用光ピックアップの校正方法Info
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- JPH03132982A JPH03132982A JP26996689A JP26996689A JPH03132982A JP H03132982 A JPH03132982 A JP H03132982A JP 26996689 A JP26996689 A JP 26996689A JP 26996689 A JP26996689 A JP 26996689A JP H03132982 A JPH03132982 A JP H03132982A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 43
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 12
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 title abstract description 5
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 14
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
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- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、光ディスクの機械的特性を評価するのに用い
られる機械特性評価用光ピックアップを校正する方法に
関する。
られる機械特性評価用光ピックアップを校正する方法に
関する。
従来の技術
光ディスクでは、光ピックアップによりその記録面上に
レーザ光を１μｍ程度のスポットとして集光させ、この
スポットをグルーブに沿って追従させながら記録および
再生を行なわせている。この集光、追従をそれぞれ行な
う部分が７を一カツシングサーボ、トラッキングサーボ
であり、そのサーボ精度としては、前者で±１μｍ、後
者で±０．１μｍ程度を必要とされる。したがって、光
ディスク自体の反りや偏心は、サーボ誤差を大にして信
号のＳＮ比を劣化させる原因になり、かつその程度によ
ってはサーボ外れを起こすことにもなるため正常な記録
再生が不能となる。このため、光ディスクの反り、偏心
等のは成約特性を評価する装置が必要であって、すでに
上記の光ビ・ンクアップを利用した評価装置が実用に供
されている。これは、上記光ピックアップに対して、そ
の可動部分である対物レンズのアキシャル方向（集光方
向）およびラジアル方向（追従方向）の変位を検出する
変位センサを付加したものであり、これを回転する光デ
ィスクと対向させると、反りに応じてアキシャル方向の
変位センサの出力が変化し、主ｔこ偏心状態に応じてラ
ジアル方向の変位センサの出力が変化し、それに基づき
反りおよび偏心の程度が判明する。
レーザ光を１μｍ程度のスポットとして集光させ、この
スポットをグルーブに沿って追従させながら記録および
再生を行なわせている。この集光、追従をそれぞれ行な
う部分が７を一カツシングサーボ、トラッキングサーボ
であり、そのサーボ精度としては、前者で±１μｍ、後
者で±０．１μｍ程度を必要とされる。したがって、光
ディスク自体の反りや偏心は、サーボ誤差を大にして信
号のＳＮ比を劣化させる原因になり、かつその程度によ
ってはサーボ外れを起こすことにもなるため正常な記録
再生が不能となる。このため、光ディスクの反り、偏心
等のは成約特性を評価する装置が必要であって、すでに
上記の光ビ・ンクアップを利用した評価装置が実用に供
されている。これは、上記光ピックアップに対して、そ
の可動部分である対物レンズのアキシャル方向（集光方
向）およびラジアル方向（追従方向）の変位を検出する
変位センサを付加したものであり、これを回転する光デ
ィスクと対向させると、反りに応じてアキシャル方向の
変位センサの出力が変化し、主ｔこ偏心状態に応じてラ
ジアル方向の変位センサの出力が変化し、それに基づき
反りおよび偏心の程度が判明する。
ところで、この＠成約特性を正確に評価するためには、
その基準となる上記機械特性評価用光ピックアップ自体
が所定条件を満たしていることが必要である。すなわち
、光ピックアップのけ横部分が十分高い精度での加工、
組立てが行なわれ、所要の精度を有することはもちろん
各サーボについてもそれが所定の特性をもつことが必要
で、そのために組立てられた機械特性評価用光ピックア
ップに対して校正が行なわれる。
その基準となる上記機械特性評価用光ピックアップ自体
が所定条件を満たしていることが必要である。すなわち
、光ピックアップのけ横部分が十分高い精度での加工、
組立てが行なわれ、所要の精度を有することはもちろん
各サーボについてもそれが所定の特性をもつことが必要
で、そのために組立てられた機械特性評価用光ピックア
ップに対して校正が行なわれる。
その校正方法としては、基準光ディスクを用いる方法が
公知であり、先ずそれによるフォーカッシングサーボの
校正法を説明すると、第４図に示すような反射体よつな
る複数の段差を形成した基準光ディスクを用意し、それ
を被校正機械特性評価用光ピックアップと対向させてラ
ジアル方向に移動させ、その既知の各段差の高さに対す
る光ピックアップのフォーカッシングサーボの変位セン
サ出力を調べ、両値が所定の関係となるようサーボの調
整を行なう。主た、トラッキングサーボの校正法は、う
ず巻状の反射体溝よりなるグルーブ付の基準光ディスク
を用意し、それを回転させながら被校正機械特性評価用
光ビックア・ノブト対向させ、既知の回転あたりのラジ
アル方向移動量に対するトラッキングサーボの変位セン
サ出力を調べ、両値が所定の関係となるようサーボの調
整を行なう。
公知であり、先ずそれによるフォーカッシングサーボの
校正法を説明すると、第４図に示すような反射体よつな
る複数の段差を形成した基準光ディスクを用意し、それ
を被校正機械特性評価用光ピックアップと対向させてラ
ジアル方向に移動させ、その既知の各段差の高さに対す
る光ピックアップのフォーカッシングサーボの変位セン
サ出力を調べ、両値が所定の関係となるようサーボの調
整を行なう。主た、トラッキングサーボの校正法は、う
ず巻状の反射体溝よりなるグルーブ付の基準光ディスク
を用意し、それを回転させながら被校正機械特性評価用
光ビックア・ノブト対向させ、既知の回転あたりのラジ
アル方向移動量に対するトラッキングサーボの変位セン
サ出力を調べ、両値が所定の関係となるようサーボの調
整を行なう。
明が解決しようとする課題
ところで、上記のフォーカッシングサーボの校正法は、
集光距離を階段状に変えながら行なう静的なしのであり
、実際ｌこ評価が行なわれる条件である動的条件下での
校正を行なえない問題があった。また、段差の数および
大きさも限られたものとなり、連続した集光距離の変化
に対するより詳細な校正も不能であった。
集光距離を階段状に変えながら行なう静的なしのであり
、実際ｌこ評価が行なわれる条件である動的条件下での
校正を行なえない問題があった。また、段差の数および
大きさも限られたものとなり、連続した集光距離の変化
に対するより詳細な校正も不能であった。
同様にトラッキングサーボについても、ある定められた
回転あたりの移動量に対する追従状態しか校正ができず
、結局動的校正は不能であっｒこ。
回転あたりの移動量に対する追従状態しか校正ができず
、結局動的校正は不能であっｒこ。
課題を解決するための手段
本発明は上記課題を解決し、動的かつ連続的集光お上び
追従距離変化に対する校正を実現したものであり、レー
ザ光を被検査光ディスクの記録面上に 集光制′＠させ
るフォーカッシングサーボおよびその集光スポットを、
記録面上のグルーブに沿って追従制御させるトラッキン
グサーボを備えた光ビックアップと、その７オーカ・ン
シングサーボおよび）ランキングサーボの変位を各検出
する変位センサとからなる眠械特性評価用尤ピックアッ
プを校正する方法であって、その被校正機械特性評価用
光ピックアップと対向して振動アクチエータを配置し、
そのアクチエータの対向面には平面状または溝を有する
反射体を固着してアクチエータを対向方向またはそれと
直交方向（二正弦波状に駆動させ、そのときのアクチエ
ータ変１立と光ピツクアンプの変位センサ出力との関係
に基づき光ピックアップの校正を行なうところの眠（戒
特性評価用光ピンクアンプの校正方法である。
追従距離変化に対する校正を実現したものであり、レー
ザ光を被検査光ディスクの記録面上に 集光制′＠させ
るフォーカッシングサーボおよびその集光スポットを、
記録面上のグルーブに沿って追従制御させるトラッキン
グサーボを備えた光ビックアップと、その７オーカ・ン
シングサーボおよび）ランキングサーボの変位を各検出
する変位センサとからなる眠械特性評価用尤ピックアッ
プを校正する方法であって、その被校正機械特性評価用
光ピックアップと対向して振動アクチエータを配置し、
そのアクチエータの対向面には平面状または溝を有する
反射体を固着してアクチエータを対向方向またはそれと
直交方向（二正弦波状に駆動させ、そのときのアクチエ
ータ変１立と光ピツクアンプの変位センサ出力との関係
に基づき光ピックアップの校正を行なうところの眠（戒
特性評価用光ピンクアンプの校正方法である。
しかして、これに上るとアクチエータ（こ与える振動の
振幅、周波数の選定により動的に、かつ連続的な距離変
化、あるいはその距離の変化速度、および変化加速度を
与えての校正が行なえることになる。
振幅、周波数の選定により動的に、かつ連続的な距離変
化、あるいはその距離の変化速度、および変化加速度を
与えての校正が行なえることになる。
実施例
電磁式の振動アクチエータ１を示す第１図において、１
１は断面逆コツプ状のケースであり、その内部には筒状
の可動体１４が配置され、可動体１４の上部、下部の外
周部とそれぞれ対向するケース１１の脚部内周面との間
はダイヤフラム状の・バネ１２．１３により結合され、
可動体１４は上下方向のみに移動自在にされている。
１は断面逆コツプ状のケースであり、その内部には筒状
の可動体１４が配置され、可動体１４の上部、下部の外
周部とそれぞれ対向するケース１１の脚部内周面との間
はダイヤフラム状の・バネ１２．１３により結合され、
可動体１４は上下方向のみに移動自在にされている。
可動体１４の外周面には幅形状のボビン１５が装着され
そのボビン１５の最外周面にはコイル１６が巻着され、
そのコイル１６を挟んでヨーク１８、Ｘ９の先端が対向
し、ヨーク１８、Ｘ９の池端部分はケース１１の脚部内
周面に固着された磁石１７の各磁極に一体的に固着され
ている。２０はケース１１の頂部に固着され、可動体１
４の頂面との間の距離に対応した出力を送出する距離セ
ンサ、２１は可動体１４の底部に固着された反射体であ
り、図示の反射体２１はフォー力ッシングサーボの校正
に用いる平面状のものであって、被校正機械特性評価用
光ピックアップ２の対物レンズ（図示されていない）と
対向させられる。まｒこ、トラフえングサーボの校正に
用いる反射体２１′（図示されていない）は、この反射
体２１の代わりに反射案内溝を有し、その案内１苺が右
方向に位置するように可動体１４に固着されるものであ
って［第３図（ｂ）の取付状態参照１、丁度反射体２１
に対して取付方向は９０度変化したものとなる。
そのボビン１５の最外周面にはコイル１６が巻着され、
そのコイル１６を挟んでヨーク１８、Ｘ９の先端が対向
し、ヨーク１８、Ｘ９の池端部分はケース１１の脚部内
周面に固着された磁石１７の各磁極に一体的に固着され
ている。２０はケース１１の頂部に固着され、可動体１
４の頂面との間の距離に対応した出力を送出する距離セ
ンサ、２１は可動体１４の底部に固着された反射体であ
り、図示の反射体２１はフォー力ッシングサーボの校正
に用いる平面状のものであって、被校正機械特性評価用
光ピックアップ２の対物レンズ（図示されていない）と
対向させられる。まｒこ、トラフえングサーボの校正に
用いる反射体２１′（図示されていない）は、この反射
体２１の代わりに反射案内溝を有し、その案内１苺が右
方向に位置するように可動体１４に固着されるものであ
って［第３図（ｂ）の取付状態参照１、丁度反射体２１
に対して取付方向は９０度変化したものとなる。
第２図は上記アクチエータ１の駆動制御部であり、波形
設定回路３１、比較器、ＰＩＤ制御器、増幅器を有し、
上記波形設定部３１の設定出力と上記アクチエータ１の
距離センサ２゜の出力が導入されるサーボ駆動回路３２
がらなり、その駆動出力はアクチエータ１のコイル１６
に導入されている。また、上記距離センサ２０の出力は
演算部４０に導入され、その微分、２階微分により振動
速度、加速度の算出が行なわれる。
設定回路３１、比較器、ＰＩＤ制御器、増幅器を有し、
上記波形設定部３１の設定出力と上記アクチエータ１の
距離センサ２゜の出力が導入されるサーボ駆動回路３２
がらなり、その駆動出力はアクチエータ１のコイル１６
に導入されている。また、上記距離センサ２０の出力は
演算部４０に導入され、その微分、２階微分により振動
速度、加速度の算出が行なわれる。
以上のものにおいて、被校正機械特性評価用の光ピック
アップ２のフォーカッシングサーボの校正を行なうには
、第１図に示すように反射体２１を可動体１４に固着し
た電磁式振動アクチエータ１を、第３図（ａ）に示すよ
うに支柱５０に取付け、光ピックアップ２と反射体２１
とを対向させる。この状態で波形設定器３１に所定の振
動波形（例えば、時間と共に周波数一定で振幅が変化士
る波形。または振幅−定で周波数が変化する波形）を設
定し、アクチエータ１の駆動制御部（第２図）を作動さ
せる。こうすると、サーボ駆動回路３２からは距離セン
サ２０の出力波形と設定回路３１の出力波形とが一致す
るようにアクチエータ１の可動体１４を電磁的に駆動さ
せる電流かフィル１４に加えられ、これにより反射体２
１が光ピックアップ２に対して変位する。この変位に対
して光ピツクアンプ２は、反射体２１とのＵＡ隔が一定
になるようそのフォーカッシングサーボが１乍動するこ
とになり、その実際の作動状態が距離センサ２０を介し
て演算部４０に送られ、測定される。そして、必要に応
じてフォーカッシングサーボの調整が行なわれる。
アップ２のフォーカッシングサーボの校正を行なうには
、第１図に示すように反射体２１を可動体１４に固着し
た電磁式振動アクチエータ１を、第３図（ａ）に示すよ
うに支柱５０に取付け、光ピックアップ２と反射体２１
とを対向させる。この状態で波形設定器３１に所定の振
動波形（例えば、時間と共に周波数一定で振幅が変化士
る波形。または振幅−定で周波数が変化する波形）を設
定し、アクチエータ１の駆動制御部（第２図）を作動さ
せる。こうすると、サーボ駆動回路３２からは距離セン
サ２０の出力波形と設定回路３１の出力波形とが一致す
るようにアクチエータ１の可動体１４を電磁的に駆動さ
せる電流かフィル１４に加えられ、これにより反射体２
１が光ピックアップ２に対して変位する。この変位に対
して光ピツクアンプ２は、反射体２１とのＵＡ隔が一定
になるようそのフォーカッシングサーボが１乍動するこ
とになり、その実際の作動状態が距離センサ２０を介し
て演算部４０に送られ、測定される。そして、必要に応
じてフォーカッシングサーボの調整が行なわれる。
次に、トラッキングサーボの校正は、第３図（１））に
示すように、アクチエータ１を上記の場合に対し、時計
回り方向に９０度だけ回動させて支柱５０に固着する。
示すように、アクチエータ１を上記の場合に対し、時計
回り方向に９０度だけ回動させて支柱５０に固着する。
また、可動体１４に取付ける反射体２１′は、直線状の
反射溝が形成されたものであって、その溝は光ピックア
ップと対向し、かつ、可動体１４の振動方向と直交方向
となっている。この状態で前記と同様に７クチエータ１
の可動体１４を駆動させると、反射本２１′上の溝は図
の左右方向に振動し、その溝を把えるように光ピックア
ップが左右方向に追従移動し、その追従状態が演抹部４
０により測定される。
反射溝が形成されたものであって、その溝は光ピックア
ップと対向し、かつ、可動体１４の振動方向と直交方向
となっている。この状態で前記と同様に７クチエータ１
の可動体１４を駆動させると、反射本２１′上の溝は図
の左右方向に振動し、その溝を把えるように光ピックア
ップが左右方向に追従移動し、その追従状態が演抹部４
０により測定される。
尚、この場合、反射体２１′の溝を平行に複数本形成し
ておくことにより、初期の）ラッキング（溝と光ピック
アップとの対向１立置合わせ）を簡略化することができ
る。
ておくことにより、初期の）ラッキング（溝と光ピック
アップとの対向１立置合わせ）を簡略化することができ
る。
また、上記実施例においては、アクチエータ１として電
磁式のものを用いた場合を例示したが、圧電方式、機械
方式等いずれを用いて校正しても同様である。
磁式のものを用いた場合を例示したが、圧電方式、機械
方式等いずれを用いて校正しても同様である。
発明の効果
以上のとお１）であり、本発明は被校正機械特性評価用
光ピックアップと対向させて振幅、周波数可変の振動ア
クチエータを配置し、その可動部ｔこ反射体を固着して
校正するので、動的条件での校正を容易、かつ高い精度
で行なうことができる。
光ピックアップと対向させて振幅、周波数可変の振動ア
クチエータを配置し、その可動部ｔこ反射体を固着して
校正するので、動的条件での校正を容易、かつ高い精度
で行なうことができる。
図、第４図は従来のフォー力ッシングサーボ校正用の反
射体を示す断面正面図である。
射体を示す断面正面図である。
１−電磁式振動アクチエータ
２：被校正機械特性評価用光ピックアップ２１．２１′
二反射体
二反射体
Claims (1)
- １、レーザ光を被検査光ディスクの記録面上に集光制御
させるフォーカッシングサーボおよびその集光スポット
を、記録面上のグルーブに沿って追従制御させるトラッ
キングサーボを備えた光ピックアップと、そのフォーカ
ッシングサーボおよびトラッキングサーボの変位を各検
出する変位センサとからなる機械特性評価用光ピックア
ップを校正する方法であって、その被校正機械特性評価
用光ピックアップと対向して振動アクチェータを配置し
、そのアクチエータの対向面には平面状または溝を有す
る反射体を固着してアクチエータを対向方向またはそれ
と直交方向に正弦波状に駆動させ、そのときのアクチエ
ータ変位と光ピックアップの変位センサ出力との関係に
基づき光ピックアップの校正を行なうところの機械特性
評価用光ピックアップの校正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1269966A JP2742715B2 (ja) | 1989-10-17 | 1989-10-17 | 機械特性評価用光ピックアップの校正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1269966A JP2742715B2 (ja) | 1989-10-17 | 1989-10-17 | 機械特性評価用光ピックアップの校正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03132982A true JPH03132982A (ja) | 1991-06-06 |
| JP2742715B2 JP2742715B2 (ja) | 1998-04-22 |
Family
ID=17479705
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1269966A Expired - Fee Related JP2742715B2 (ja) | 1989-10-17 | 1989-10-17 | 機械特性評価用光ピックアップの校正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2742715B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08329485A (ja) * | 1995-05-31 | 1996-12-13 | Nec Corp | 対物レンズ支持装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57147142A (en) * | 1981-03-04 | 1982-09-10 | Sharp Corp | Pickup device |
| JPS61233305A (ja) * | 1985-04-09 | 1986-10-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 位置検出装置 |
| JPH02144126U (ja) * | 1989-04-29 | 1990-12-06 |
-
1989
- 1989-10-17 JP JP1269966A patent/JP2742715B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57147142A (en) * | 1981-03-04 | 1982-09-10 | Sharp Corp | Pickup device |
| JPS61233305A (ja) * | 1985-04-09 | 1986-10-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 位置検出装置 |
| JPH02144126U (ja) * | 1989-04-29 | 1990-12-06 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08329485A (ja) * | 1995-05-31 | 1996-12-13 | Nec Corp | 対物レンズ支持装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2742715B2 (ja) | 1998-04-22 |
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