JPH03131975A - テストパターン波形入力における信号レベル自動設定装置 - Google Patents

テストパターン波形入力における信号レベル自動設定装置

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JPH03131975A
JPH03131975A JP1271127A JP27112789A JPH03131975A JP H03131975 A JPH03131975 A JP H03131975A JP 1271127 A JP1271127 A JP 1271127A JP 27112789 A JP27112789 A JP 27112789A JP H03131975 A JPH03131975 A JP H03131975A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
level
signal
section
signal level
current
Prior art date
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Pending
Application number
JP1271127A
Other languages
English (en)
Inventor
Hitoshi Nishimura
仁志 西村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NISHIMURA GIKEN KK
Original Assignee
NISHIMURA GIKEN KK
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はCADシスデム等によって作成した電子回路図
にテストパターン波形を入力することにより、誤動作を
起す箇所がないかを確認するシミュレーション装置内で
、テストパターン波形の作成を容易に行なえるようにし
たテストパターン波形入力における信号レベル自動設定
装置に関する。
(従来の技術) 従来のシミュレーション装置等に用いるテストパターン
波形の作成は、次の第5〜7図に示すようにして行なわ
れていた。
つまり、まずステップlで初期信号レベル設定部1のu
pキー又はdownキーにより、初期信号レベルを1に
するか0にするかの設定入力を行ない、ステップ2にお
いてリターンキーにより入力を行なう。例えば、upキ
ーにより初期信号レベルを1にするか0にするかの設定
入力を行ない、ステップ3.4では現在レベル記憶部2
に現在のレベルである1を記憶する。そしてステップ5
では第5図に示すように、出力機能部3のディスプレイ
等においてレベル1信号軸のA位置にカーソルを表示す
る。もし、downキーにより初期信号レベルを0と選
択すると同様にレベル0信号軸上のB位置にカーソルを
表示する。
次にステップ6では、時間信号入力機能部4のスペース
キーを押すことにより、希望する時間であるC位置まで
カーソルを移動し、前記現在レベル記憶部2に記憶され
た現在レベルである1信号軸上にパターンDを表示する
。もしカーソルがB位置にあり、スペースキーが押され
ると、実線Eのような信号か描かれることになる。ステ
ップ7では信号レベル選択入力部5のupキー又はd。
wnキーのいずれかを選択入力することにより、ステッ
プ2に戻り、現在レベル記憶部2の現在レベルを1また
は0に変更する。つまり、カーソルがレベル1信号軸上
のC位置にある場合、downキーを選択し、リターン
キーにより入力をおこなうと、カーソルはレベル0信号
軸上のF位置に移動する。もしカーソルがレベル0信号
軸上にある場合、upキーを選択し、リターンキーによ
り入力が行なわれると、カーソルはレベル1信号軸上の
C位置に再び移動する。
F4i置に移動したカーソルは、ステップ6で時間信号
入力機能部4のスペースキーを押すことにより、前記現
在レベルであるレベルO信号軸上にパターンHを表示す
る。そしてステップ7では先はどと同様に、信号選択入
力部5のupキー又はdownキーのいずれかを選択し
、ステップ2に戻って入力することにより、現在レベル
記憶部2の現在レベルを1又は0に変更するとともに、
カーソルをレベル1信号軸上の1位置又は、レベル0信
号軸上のC位置に移動する。
(本発明が解決しようとする課″MA>上記のようにし
た従来の装置では、信号選択入力部5のupキー又はd
ownキーのいずれかを選択し、リターンキーによって
入力することによりカーソルをレベル1信号釉上又はレ
ベル0信号軸上に移動していたので、オペレータは、信
号のレベルを変更するたびにupキーを押すかdown
キー押すか判断し、その上で、リターンキーを押さなけ
ればならなかった。
このため、テストパターン波形の作成の作業効率が低下
するという問題があった。
この発明の目的は、信号のレベルの変更を簡単に行なう
ことにより、テストパターン波形の作業効率を向上させ
ることができるテストパターン波形入力における信号レ
ベル自動設定装置を提供することである。
(課題を解決するための手段) 上記の目的を達成するために本発明の装置は、二値信号
のレベルを選択入力する信号レベル選択入力部と、選択
入力された信号レベルを現在信号レベルとして記憶し、
この信号レベルを出力機能部へ出力する現在レベル記憶
部と、時間軸方向へ上記信号レベルを出力する時間を決
定し、この時間に応じて、時間信号を出力機能部へ出力
する時間信号入力機能部と、上記信号レベルと時間信号
とに応じてテストパターン波形をディスプレイ等に表示
する出力機能部とを有するテストパターン波形入力にお
ける信号レベル設定装置において、二値信号のレベルを
変更する命令を入力することによりこの命令に応じて信
号レベル変更部へ信号レベル変更信号を出力する信号レ
ベル変更命令入力部と、この信号レベル変更信号が入力
することにより、現在レベル記憶部に記憶している二値
信号の現在レベルを他方のレベルに変更し、変更したレ
ベルを現在のレベルとして現在レベル記憶部に記憶させ
る信号レベル変更部とを有することを特徴としている。
(本発明の作用) 上記のようにした本発明の装置では、信号レベル変更命
令入力部から二値信号のレベルを変更する命令を入力す
ると、信号レベル変更部では、現在レベル記憶部に記憶
している二値信号の現在のレベルを他方のレベルに変更
し、再び記憶させる。出力機能部では、この変更した信
号レベルに応じて、ディスプレイ等上の上記他方のレベ
ル信号位置にカーソルを移動する。
(本発明の効果) 本発明によれば二値信号のレベルを変更する命令を入力
するだけで、現在表示されているカーソル位置のレベル
の他方のレベル信号の位置にカーソルを移動することが
できるので、テストパターン波形作成の作業効率が向上
した。
(本発明の実施例) 第1〜4図に示す本発明の第1実施例の装置では、リタ
ーンキーを押すことによって信号レベル変更命令を出力
する信号レベル変更命令入力部6と現在レベル記憶部7
との間に信号レベル変更部8を接続している。そして、
この現在レベル記憶部7にはさらに、初期信号発生部9
を接続している。他の構成は従来と同様である。そして
、上記信号レベル変更部8は、信号レベル変更信号が入
力することにより現在レベル記憶部7に記憶している二
値信号の現在レベルを他方のレベルに変更し、変更した
レベルを現在レベルとして、現在レベル記憶部7に記憶
させる機能を有している。例えば、現在レベル記憶部7
に記憶している二値信号のレベルがレベル0である場合
、信号レベル変更信号が信号レベル変更部8に入力する
と、このレベル0信号をレベル1信号に置き換え、再び
、現在レベル記憶部7に記憶させる。次にもう一度信号
レベル変更信号が信号レベル変更部8に入力した場合、
今度は、現在レベル記憶部7に記憶している二値信号の
レベルがレベル1であるので、信号レベル変更部8では
このレベル1信号をレベル0信号に置き換え、再び、現
在レベル記憶部7に記憶させる。
このレベル信号はディスプレイ等によって構成される出
力機能部3においてそのディスプレイ上に表示される。
つまり、ディスプレイ上のレベル0信号軸上にあるカー
ソルは、リターンキーを一回押すたけで、レベル1信号
軸上に移動する。そして、このレベル1イス号軸上にあ
るカーソルはリターンキーをもう一度押すだけで、レベ
ル0信号軸上に移動する。
今、ステップ1で、スイッチを入れると、初期信号発生
部9において、第2図のJ又はKのいちのいずれかにカ
ーソルを発生させる。ステップ2以下では、信号レベル
変更命令入力部6でリターンキーを数回押すことにより
J又はにの位置のいずれかにパターンの初期値を設定で
きる。この初期値の設定は、キーボード上のテンキーを
用いても行なってもよいことは当然である。まずステッ
プ2でリターンキーによる信号レベル変更命令が信号レ
ベル変更部8に入力すると、ステップ3では信号レベル
変更部8が、現在レベル記憶部7に記憶されているレベ
ル1信号又はレベル0信号に応じて、このレベルを他方
のレベルに変更するように演算を行なう。変更されたレ
ベル信号は、再び現在レベルとして、現在レベル記憶部
7に記憶される。
ステップ4では、この現在レベル記憶部7に記憶されて
いる現在レベル信号を出力機能部3によってディスプレ
イ上に表示する。これにより、レベルl信号軸上のJ位
置にあったカーソルは、リターンキーを一回押すだけで
、レベルO信号軸上のに位置に移動することができる。
又、カーソルがレベル0信号軸上のに位置にある場合、
リターンキーを一度押すだけでレベル1信号軸上のJ位
置にカーソルを移動させることができる。次にステップ
5では、時間信号入力機能部4において、時間信号が入
力されると、カーソルは時間軸方向へ移動し、ステップ
6において、パターンをカーソル移動後の信号軸上に表
示する。例えば、カーソルをJ位置からL位置まで移動
した場合は、パターンMが表示される。次にレベル1信
号軸上のし位置にあるカーソルをレベル0信号軸上のN
位置に移動させる場合、ステップ2に戻り、リターンキ
ーを押すことにより、ステップ2〜4におけるレベルの
変更がされること上記の場合と同様である。さらにパタ
ーン入力が進み、レベル0信号軸上0位置にあるカーソ
ルをレベル1信号軸上のP位置まで移動させる場合も上
記のステップ2〜4を繰り返し行なう。
このようにリターンキーを押すたけて、カーソルの位置
をレベル0信号軸上からレベル1信号軸上へ、又は、レ
ベル1信号軸上からレベル0信号軸上へ移動させること
が出来るので、テストパターン波形の作成の作業効率が
向上した。
第4図は、本発明の第2実施例の装置のテストパターン
波形の入力例を示すもので、この第2実施例の装置では
、レベルの変更時間を1000ns単位ごとに固定した
モードを採用している。
よってこの第2実施例の装置では、Q位置で、リターン
キーを押すことにより、レベルの位置を変更するととも
に、1000ns単位の時間軸信号を図中右方向へ描く
。このため、その場で立ちどまり、リターンキーを連打
することにより、くり返し波形Rを容易に描けるように
なった。
なお、この第1.2実施例の装置では、入力手段として
、キーボードを用いているが、マウス等を用いて入力を
行なってもよいことは当然である。
【図面の簡単な説明】
第1〜4図は、本発明の実施例を示すもので、第1図は
、回路の構成を示すブロック図、第2図は、テストパタ
ーン波形の入力例をしめす図、第3図は、入力手順をし
めずフローチャート図、第4図はレベルの変更時間を固
定したテストパターン波形の入力例をしめす図、第5〜
7図は従来例を示すもので、第5図は、回路の構成を示
すブロック図、第6図は、テストパイターン波形の入力
例を示す図、第7図は、入力手順を示すフローチャート
図である。 2・・・現在レベル記憶部、3・・・出力機能部、4・
・・時間信、号入力機能部、6・・・信号レベル変更命
令入力部゛、7・・・現在レベル記憶部、8・・・信号
レベル変更部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 二値信号のレベルを選択入力する信号レベル選択入力部
    と、選択入力された信号レベルを現在信号レベルとして
    記憶し、この信号レベルを出力機能部へ出力する現在レ
    ベル記憶部と、時間軸方向へ上記信号レベルを出力する
    時間を決定し、この時間に応じて、時間信号を出力機能
    部へ出力する時間信号入力機能部と、上記信号レベルと
    時間信号とに応じてテストパターン波形をディスプレイ
    等に表示する出力機能部とを有するテストパターン波形
    入力における信号レベル設定装置において、二値信号の
    レベルを変更する命令を入力することによりこの命令に
    応じて信号レベル変更部へ信号レベル変更信号を出力す
    る信号レベル変更命令入力部と、この信号レベル変更信
    号が入力することにより、現在レベル記憶部に記憶して
    いる二値信号の現在レベルを他方のレベルに変更し、変
    更したレベルを現在のレベルとして現在レベル記憶部に
    記憶させる信号レベル変更部とを有することを特徴とす
    るテストパターン波形入力における信号レベル自動設定
    装置。
JP1271127A 1989-10-18 1989-10-18 テストパターン波形入力における信号レベル自動設定装置 Pending JPH03131975A (ja)

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JP1271127A JPH03131975A (ja) 1989-10-18 1989-10-18 テストパターン波形入力における信号レベル自動設定装置

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS588362A (ja) * 1981-07-06 1983-01-18 Omron Tateisi Electronics Co 周辺機器用テスト信号発生方法
JPS6039916A (ja) * 1983-08-15 1985-03-02 Fujitsu General Ltd パルス信号発生装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS588362A (ja) * 1981-07-06 1983-01-18 Omron Tateisi Electronics Co 周辺機器用テスト信号発生方法
JPS6039916A (ja) * 1983-08-15 1985-03-02 Fujitsu General Ltd パルス信号発生装置

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