JPH0312686B2 - - Google Patents

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JPH0312686B2
JPH0312686B2 JP8389084A JP8389084A JPH0312686B2 JP H0312686 B2 JPH0312686 B2 JP H0312686B2 JP 8389084 A JP8389084 A JP 8389084A JP 8389084 A JP8389084 A JP 8389084A JP H0312686 B2 JPH0312686 B2 JP H0312686B2
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JP
Japan
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line sensor
line
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diffusion screen
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JP8389084A
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JPS60228910A (ja
Inventor
Yoshitada Sekine
Fumiki Yokota
Wataru Kubota
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Nissan Motor Co Ltd
Original Assignee
Nissan Motor Co Ltd
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Publication date
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Priority to GB08510579A priority patent/GB2159271B/en
Priority to US06/727,874 priority patent/US4715709A/en
Priority to DE19853515194 priority patent/DE3515194A1/de
Publication of JPS60228910A publication Critical patent/JPS60228910A/ja
Publication of JPH0312686B2 publication Critical patent/JPH0312686B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/9515Objects of complex shape, e.g. examined with use of a surface follower device

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  • Health & Medical Sciences (AREA)
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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
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  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 この発明は、例えば自動車の塗装面や鏡面に近
い機械加工物などの被検査物の表面の欠陥を検査
する表面欠陥検査装置に関する。
従来技術 上記のような被検査物の表面における傷、突
起、ブツ、汚れ等の欠陥の検査は、非能率で個人
差のある作業員による目視検査から例えば指向性
の強いレーザ光を利用した表面欠陥検査装置によ
る自動検査に移行する動向にある。
このレーザ光を利用した従来の表面欠陥検査装
置の検査原理の一例を第1図を参照して説明す
る。
同図において、レーザ発生器1から被検査物の
表面2に照射して正反射させたレーザスリツト光
LSを、検出装置3における集光レンズ4によつ
て光電センサであるラインセンサ5に集光させて
光電変換するようにしておく。
このようにすれば、レーザ光が非常に指向性が
強いために、被検査物の表面2に傷やブツなどの
欠陥があると、照射されたレーザスリツト光LS
がそこで散乱して、ラインセンサ5の光電変換出
力が変化するため、この出力の大小によつて表面
2の欠陥の有無を検査できる。
しかしながら、このような検査原理に基づく従
来の表面欠陥検査装置では、次のような問題があ
つた。
すなわち、被検査物の表面2からの正反射光を
集光レンズ4を介して直接ラインセンサ5によつ
て検出し得るようにするには、光軸を非常に精度
良く一致させておく必要があるため、通常はレー
ザ発生器1と検査装置3との間の非常に面倒な3
次元レベルでの光軸合せをした後、両者を固定設
置するようにしているが、このようにすると検査
装置に対する被検査物の表面2の相対位置関係も
常に一定にする必要がある。
そのため、表面が平担であるものや、軸部材の
外周面のように形状が一定である被検査物の表面
しか検査することができず、被検査物が限られて
しまう問題があつた。
また、この問題の解決策として、レーザ発生器
1、被検査物の表面2、及び検出装置3の間の相
対位置関係を3次元のレベルで非常に精度良く検
出すると共に、その検出結果に基づいて光軸をや
はり3次元で非常に精度良く一致させる検出/調
整機構を備えてシステム構成することが考えられ
るが、このような検出/調整機構は大変に複雑で
大型となるばかりか高価であるため、実用的では
なく、特に検査装置と被検査物とを相対移動させ
ながら、被検査物の表面欠陥を検査する検査仕様
には不向であつた。
さらに、従来装置では、集光レンズ4の焦点調
整を被検査物の表面2と検出装置3との間の相対
位置関係が変わる毎にその都度行なわなければな
らないなどの問題もあつた。
目 的 この発明は、上記のような背景に鑑みてなされ
たものであり、検出/調整系の構成が比較的簡単
で小型化が計れ、しかも安価で実用性に富み、
種々の被検査物に対しても一々面倒な焦点調整を
行なう必要もなく、移動検査態様にも容易に対応
できる表面欠陥検査装置を提供することを目的と
する。
構 成 そのため、この発明による表面欠陥検査装置
は、レーザ発生器から照射されて被測定物の表面
から反射したレーザスリツト光を拡散スクリーン
に投影拡散させると共に、拡散スクリーンと一体
の欠陥検出用のラインセンサが撮像する拡散スク
リーン上のライン状の部位に対する拡散スクリー
ン上の反射レーザスリツト光による投影像の姿勢
を姿勢センサによつて検出し、その検出結果に基
づいて、レーザ発生器と欠陥検出用のラインセン
サの両光軸の交差角及び両光軸によつて形成され
る平面の被検査物の表面に対する傾斜角を調整す
るように構成し、欠陥検出用のラインセンサが撮
像する拡散スクリーン上のライン状の部位に反射
レーザスリツト光による投影像が位置した時の欠
陥検出用のラインセンサの検出結果によつて、被
検査物の表面の欠陥を検査するようにしている。
実施例 以下、この発明の実施例を図面の第2図以降を
参照しながら説明する。
第2図は、この発明による表面欠陥検査装置の
制御系を除いた部分の一実施例を示す斜視構成図
である。
同図において、6が表面欠陥検査装置であり、
取付盤7を介して移動機械装置としてのロボツト
8の先端部に取り付けてある。
この表面欠陥検査装置6は、取付盤7に固定さ
れた基部9と、この基部9に取り付けた第2の調
整機構10と、基部9に対しブラケツト11,1
1を介して矢示θy方向に首振り可能に取り付け
た可動ステー12と、この可動ステー12の裏面
側に矢示A方向に回動可能に取り付けた第1の調
整機構13と、可動ステー12の前面一端部に軸
14を介して矢示θx方向に首振り可能に取り付
けたレーザ発生器15と、可動ステー12の前面
他端部に固定して取り付けた検出装置16と、可
動ステー12の下端中央付近に取り付けた欠陥マ
ーカ17等とによつて構成されている。
制御系を除く第2の調整機構10は、一端部に
タコジエネレータ18を取り付けた駆動モータ1
9と、連結部20を介して駆動モータ19によつ
て回転される平歯車21と、この平歯車21に噛
合して軸22を矢示θ1方向に回転させる平歯車2
3等とによつて構成され、駆動モータ19の回転
を制御することによつて、軸22に固定したブラ
ケツト11,11を介して可動ステー12を基部
9に対して矢示θy方向に自由に首振らせること
ができる。なお、この首振りの作用に就ては後述
する。
制御系を除く第1の調整機構13は、一端部に
タコジエネレータ24を取り付けた駆動モータ2
5と、この駆動モータ25によつて回転させるボ
ールネジ26と、このボールネジ26の回転によ
つて送られる駒部27と、この駒部27に回転自
在に連結され、レーザ発生器15の軸14に固定
して連結されたレバー28と、タコジエネレータ
24を取り付けた駆動モータ25及び駒部27を
螺合したボールネジ26を支持する支持枠29等
によつて構成され、この支持枠29を可動ステー
12の裏面側に矢示A方向に回転可能に取り付け
てある。
そして、駆動モータ25の回転を制御すること
によつて、軸14を矢示θ2方向に回転させ、それ
によつてレーザ発生器15を矢示θx方向に自由
に首振らせることができる。なお、この首振りの
作用に就ても後述する。
レーザ発生器15は、例えばHe−Heレーザ発
生器であり、発生したレーザビーム光をレーザス
リツト光LSに変換して、該レーザスリツト光LS
を被検査物としての自動車用ドア30の塗装外表
面30aに照射するレンズ系を具備している。
検出装置16は、レーザ発生器15から照射さ
れて塗装外表面30aから正反射したレーザスリ
ツト光LSを投影して拡散するすりガラス等の透
過型の拡散スクリーン31を先端に固着した検出
筒32と、拡散スクリーン31上の予め定めたラ
イン状の部位を撮像する欠陥検出用のラインセン
サ及びこのラインセンサが撮像する拡散スクリー
ン31上のライン状の部位に対する反射レーザス
リツト光による投影像の姿勢を検出する姿勢セン
サを内蔵すると共に検出筒32を一体に取り付け
たカメラ部33等によつて構成されている。
欠陥マーカ17は、レーザスリツト光LSが照
射された塗装外表面30aの位置にブツや傷等の
欠陥があつて、その存在が検出された時にレーザ
スリツト光LSと干渉しない欠陥近傍に拭き取り
可能な塗剤を欠陥の存在を示すマークとして吹き
付ける。
次に、ロボツト8及び欠陥マーカ17を除いた
表面欠陥検査装置6の詳細図である第3図乃至第
6図を参照しながら、前述した首振りの作用に就
いて説明する。
なお、第3図は表面欠陥検査装置6の正面図、
第4図は第3図の右側面図、第5図は、第1の調
整機構13の正面図、第6図は第2の調整機構1
0の下面図である。
先ず、第3,第4図に示すように、レーザ発生
器15と検出装置16とは、レーザ発生器15の
光軸L1と検出装置16側の光軸であるカメラ部
33の集光レンズ33aの光軸(後述する欠陥検
出用ラインセンサの光軸)L2が、同一平面内で
交差角δで交差するように可動ステー12に取り
付けてある。
そして、第1の調整機構13において、駆動モ
ータ25によつてボールネジ26が回転して駒部
27が矢示B方向に送られると、第5図に示すブ
ラケツト34を介して軸35により可動ステー1
2に対して回動自在に枢支した支持枠29が軸3
5を中心に矢示A方向に回動しつつ、駒部27に
軸36で回動自在に連結され、軸14(第4図)
に固定して連結したレバー28が軸14を中心に
矢示C方向に回動するため、第4図に示すように
可動ステー12の裏面に取り付けたブラケツト3
7に軸受を介して回転自在に取り付けられ、レー
ザ発生器15を固定した固定盤38を一端に固着
した軸14が、矢示θ2方向に回転するようにな
り、それによつてレーザ発生器15が第3図に示
すように矢示θx方向に首る振る。
そして、レーザ発生器15が矢示θx方向に首
を振ると、その光軸L1と検出装置16側の光軸
L2との交差角δが調整される。なお、この第1
の調整機構13における駆動モータ25は、後述
する姿勢センサの検出結果に基づいて回転制御さ
れるが、その詳細は後述する。
次に、第2の調整機構10において、駆動モー
タ19によつて平歯車21が回転すると、第6図
に示すように基部9に軸受を介して回転自在に枢
支され、一端に平歯車21に歯合する平歯車23
を、まわりにブラケツト11,11を夫々固着し
た軸22が矢示θ1方向に回転するため、ブラケツ
ト11,11を取り付けた可動ステー12が第4
図に示すように矢示θy方向に首を振る。
そして、可動ステー12が矢示θy方向に首を
振ると、この可動ステー12に取り付けたレーザ
発生器15と検出装置16がその首振りに回動す
るため、第4図に示すように光軸L1,L2によつ
て形成される平面の塗装外表面30aに対する傾
斜角εが調整される。なお、第2の調整機構10
における駆動モータ19は、傾斜角εがε=90゜、
すなわち光軸L1,L2によつて形成される平面が
塗装外表面30aの法平面となるように、やはり
後述する姿勢センサの検出結果に基づいて回転制
御されるが、この詳細も後述する。
次に、検出装置16の内部構成を第7図を参照
して説明する。
同図において、第2図及び第3図に示すカメラ
部33内に設けたセンサ配置面としての基板40
には、その中央位置に集光レンズ33aを介して
拡散スクリーン31上の予め定めたライン状の部
位31aを撮像する例えば2048ビツト(画素)の
欠陥検出用のラインセンサ(CCD又はMOS型の
PDA)41を配置してある。なお、当然のこと
ではあるが、ラインセンサ41と拡散スクリーン
31とは集光レンズ33aの合焦位置にある。
また、この基板40には例えば2048ビツト(画
素)の姿勢センサとしての2つの姿勢検出用のラ
インセンサ(CCD又はMOS型のPDA)42,4
3を欠陥検出用のラインセンサ41を挾んでその
配置方向(長手方向)に対して交差(この実施例
では直交)する方向に間隔を置いて配置してあ
り、拡散スクリーン31上に塗装外表面30aか
らの反射レーザスリツト光が投影拡散されること
によつて得られる投影像としてのスリツト像SL
を該像SLに交差する方向から撮像するようにな
つている。
なお、同図中のL2が集光レンズ33a及び欠
陥検出用のラインセンサ41の光軸である。
また、ラインセンサ41〜43の相対位置関係
は、ラインセンサ41の受光部の配列に沿つた基
準線Rがラインセンサ42,43の中央画像
(1024)と交差する関係となつている。
そして、上記のように構成した検出装置16に
よれば次にように欠陥検出及び姿勢検出/調整を
行なうことができる。
先ず、例えば第8図に示すように塗装外表面3
0a上の照射位置にブツや傷などの欠陥Pがある
と、レーザ発生器15から塗装外表面30aに照
射されたレーザスリツト光LSが、そこで散乱す
るため、塗装外表面30aから正反射光を受ける
拡散スクリーン31上には、図示のような欠陥P
に対応するところで切れたスリツト像SLが投影
されるようになる。
そして、このスリツト像SLが第7図に示す欠
陥検出用のラインセンサ41が撮像する拡散スク
リーン31のライン状の部位31aと重なつて一
致していれば、欠陥検出用のラインセンサ41に
よつて塗装外表面30aの欠陥Pを検出すること
ができる。
しかも、欠陥検出用のラインセンサ41は、集
光レンズ33aの合焦位置に配置した拡散スクリ
ーン31で拡散させた第9図に示すような散乱光
SCを受光することによつて拡散スクリーン31
上のスリツト像SLを撮像しているため、スリツ
ト像SLとライン状の部位31a(第7図)とが機
械系の振動や前述した第1,第2の調整機構1
0,13の調整不良によつて多少ズレても欠陥検
出が可能である。
また、拡散によつてスリツト像が拡大されるた
め、欠陥Pの検出分解能が向上する。
次に、例えば第10図において、塗装外表面3
0aが実際で示す位置にあつた時に、この塗装外
表面30aに照射されたレーザスリツト光LS1
よる拡散スクリーン31上のスリツト像SL1が、
第7図に示す拡散スクリーン31上のライン状の
部位31aに投影していたとする。
この状態で塗装外表面30aの位置が第10図
に示すように、破線で示す位置まで角度α,βの
回転によつて三次元的に変化すると、塗装外表面
30aに照射されるレーザスリツト光がLS1から
LS2に三次元的に変化し、それに伴つて拡散スク
リーン31上に投影されるスリツト像がSL1から
SL2に二次元的に変化する。
なお、スリツト像SL1とSL2との間では、二次
元的な位置変化のみならず、像の長さも変化して
いるが、この長さの変化に関しては取り扱わな
い。
このスリツト像のSL1からSL2への二次元的な
相対位置変化とは、スリツト像の長手方向に直交
する方向への平行移動と、スリツト像自体の回転
とによる位置変化である。
この相対位置変化したスリツト像SL2の前述し
たライン状の部位31aに対する姿勢は、第7図
に示す姿勢検出用のラインセンサ42,43によ
つて第11図に示すように、両ラインセンサ4
2,43上におけるスリツト像SL2の交差結像位
置Q1,Q2をセンシングすることで検出すること
ができる。
ところで、前述した傾斜角εを90゜で一定に保
つた状態で、交差角δを前述した第1の調整機構
13によつて例えば第12図イに示すようにδ0
らδ1又はδ2に変化させると、塗装外表面30aの
姿勢が一定の場合、拡散スクリーン31上に投影
されるスリツト像SLは、光軸L2を中心に矢示G1
方向に交差角δの変化量に応じて平行移動する。
また、交差角δの方を所定値に一定に保つた状
態で、傾斜角εを前述した第2の調整機構10に
よつて例えば第12図ロに示すようにε0=90゜か
らε1に変化させると、塗装外表面30aの姿勢が
一定の場合、破線で示す拡散スクリーン31上に
投影されていた一点鎖線で示すスリツト像SLは、
実線で示す拡散スクリーン31上にやはり実線で
示すように基準線R(第7図参照)に対して矢示
G2方向に傾斜角εの変化量に応じて回転する。
この事は、レーザ発生器15,検出装置16,
及び塗装外表面30aの間の相対位置関係が変化
して、拡散スクリーン31上のスリツト像が欠陥
検出用のラインセンサ41が撮像するライン状の
部位31aから相対変位しても、そのスリツト像
の平行移動量及び回転量に基づいて、第1,第2
の調整機構13,10の駆動モータ25,19の
回転量を制御して交差角δ及び傾斜角εを調整す
れば、相対変化したスリツト像を欠陥検出用のラ
インセンサ41が撮像する拡散スクリーン31上
のライン状の部位31aに戻せることを意味す
る。
そして、相対変位したスリツト像のライン状の
部位31aに対する平行移動量及び回転量は、姿
勢検出用のラインセンサ42,43によつて検出
したスリツト像のライン状の部位31aに対する
姿勢を示す結像位置Q1,Q2に基づいて、第11
図に示すように平行移動量を示す値として1024−
(Q1+Q2)/2を、回転量を示す値としてQ1
Q2を夫々演算することによつて求めることがで
きる。
したがつて、前者の値を所要調整交差角δxに
対応するレーザ発生器15の矢示θx方向の首振
り量に、後者の値を所要調整傾斜角εyに対応す
る可動ステー12の矢示θy方向の首振り量に
夫々対応させ、前者の値に基づいて第1の調整機
構13の駆動モータ25の回転量(回転方向も含
む)を制御すると共に、後者の値に基づいて第2
の調整機構10の駆動モータ19の回転量(やは
り回転方向も含む)を制御すれば、欠陥検出用の
ラインセンサ41が撮像する拡散スクリーン31
上のライン状の部位31aにスリツト像SLを位
置させることができる。
次に、第13図を参照して第2図に示す表面欠
陥検査装置6の制御系の一実施例を説明する。
同図において、第1の駆動検出回路45は、第
7図に示す姿勢検出用のラインセンサ(2048ビツ
ト)42を、後述する制御部53から計測指令
SAが入力されている間駆動してビデオ信号を逐
次入力すると共に、その入力ビデオ信号を1フレ
ーム毎に次のように処理して例えば第11図に示
すスリツト像SL2の交差結像位置を示すアドレス
データQ1を逐次出力する。
すなわち、ラインセンサ42から出力される1
フレーム分のビデオ信号を浮動2値化処理する
と、例えば第14図イに示すような2値化ビデオ
データが得られ、この2値化ビデオデータの
“L”から“H”への立ち上り又は“H”から
“L”への立ち下り、あるいは立ち上りと立ち下
りの中心を検出して、それに対応するアドレスデ
ータをスリツト像の交差結像位置を示すアドレス
データQ1として出力する。
同様に第2の駆動検出回路46は、第7図に示
す姿勢検出用のラインセンサ(2048ビツト)43
を、計測指令SAが入力されている間駆動してビ
デオ信号を逐次入力すると共に、その入力ビデオ
信号を1フレーム毎に浮動2値化処理して得た第
14図ロに示すような2値化ビデオデータに基づい
て、スリツト像の交差結像位置を示すアドレスデ
ータQ2を出力する。
第3の駆動検出回路47は、第7図に示す欠陥
検出用のラインセンサ(2048ビツト)41を、後
述する制御部53から計測指令SBが入力されて
いる間駆動してビデオ信号を逐次入力すると共
に、その入力ビデオ信号を1フレーム毎に次のよ
うに処理して例えば第8図に示す塗装外表面30
aにおけるブツ等の欠陥の大きさに応じた数値デ
ータW(欠陥がない場合はW=0)を出力する。
すなわち、ラインセンサ41から出力される1
フレーム分のビデオ信号を浮動2値化処理する
と、塗装外表面30aにおけるレーザスリツト光
の照射位置に欠陥Pがあつた場合、例えば第14
図ハに示すような2値化ビデオデータが得られ、
この2値化ビデオデータの“H”から“L”への
立ち下りからそれに続く“L”から“H”への立
ち上りまでの幅を検出して、その幅を示す数値を
欠陥Pの大きさに応じた数値データWとして出力
する。
サーボアンプ48は、後述する制御部53から
出力されるレーザ発生器15の首振り量に対応
し、光軸L1,L2の交差角δの調整量に応じた調
整電圧信号Vx(首振り方向に応じて正の場合と負
の場合がある)に基づいて、タコジエネレータ2
4から速度フイードバツクをかけられながら第1
の調整機構13の駆動モータ25を回転駆動す
る。
同様にサーボアンプ49は、後述する制御部5
3から出力される可動ステー12の首振り量に対
応し、光軸L1,L2によつて形成される平面の塗
装外表面30aに対する傾斜角εの調整量に応じ
た調整電圧信号Vy(やはり首振り方向に応じた正
の場合と負の場合がある)に基づいて、タコジエ
ネレータ18から速度フイードバツクをかけなが
ら第2の調整機構10の駆動モータ25を回転駆
動する。
電源回路50は、後述する制御部53から発振
指令SLが入力されている間作動して、レーザ発
生器15からレーザスリツト光が出力されるよう
に作用する。
ドライバ51は、後述する制御部53からマー
カ噴射指令SMが入力された時にのみ、電磁弁5
2を駆動してエアを欠陥マーカ17のバネシリン
ダ17aに供給し、それによつて塗剤を微細噴口
から塗装外表面30aに吹き付ける。
制御部53は、位置合せ用コントロールユニツ
ト54と、欠陥検査用コントロールユニツト55
と、D/A変換器56,57等とによつて構成さ
れている。
位置合せ用コントロールユニツト54は、例え
ばマイクロコンピユータによつてシステム構成さ
れ、第1,第2の駆動検出回路45,46からの
アドレスデータQ1,Q2及び図示しないロボツト
制御部からの起動指令SS、停止指令ST、一時停
止指令SE等を逐次後述するプログラムによつて
処理して、計測指令SA、発振指令SL、ロボツト
動作指令SR、交差角調整データDx、傾斜角調整
データDy、及び欠陥検査許可指令SOKを出力す
る。
なお、起動指令SSは、第2図のロボツト8が
自動車用ドア30の塗装外表面30aにおける欠
陥検査開始位置F0に対応するテイーチングポイ
ントに到達した時点で出力され、停止指令STは
ロボツト8が塗装外表面30aにおける欠陥検査
終了位置Fnに到達した時点で出力される。
また、一時停止指令SEは、ロボツト8が塗装
外表面30aにおける各折り返し位置間、例えば
位置Fmから位置Fm+1までの間を移動してい
る間出力される。
欠陥検査用コントロールユニツト55は、やは
り例えばマイクロコンピユータによつてシステム
構成され、第3の駆動検出回路47からの欠陥の
大きさを示す数値データW、図示しないロボツト
制御部からの検査起動指令SSSと検査停止指令
SST、及び本表面欠陥検査装置6の図示しない
操作盤からの欠陥検査基準値l、並びに位置合せ
用コントロールユニツト54からの欠陥検査許可
指令SOK等をやはり後述するプログラムによつ
て処理して、計測指令SB及びマーカ噴射指令SM
を出力する。
なお、検査起動指令SSS及び検査停止指令SST
は、例えば前述の起動指令SS及び停止指令STと
同タイミングで図示しないロボツト制御部から出
力される。
以下、第15図乃至第17図に示すプログラム
処理フローをも参照しながら、位置合せ用コント
ロールユニツト54及び欠陥検査用コントロール
ユニツト55の作用を説明する。
なお、以下の説明の前提として、第2図のロボ
ツト8が、自動車用ドア30の塗装外表面30a
における欠陥検査開始位置F0に対応するテイー
チングポイントから図示の二点鎖線で示す径路に
対応する軌跡を辿つて欠陥検査終了位置Fnに対
応するテイーチングポイントまでプレーバツク動
作するものとする。
先ず、位置合せ用コントロールユニツト54内
のCPUが実行するプログラムの処理フロー図で
ある第15図において、STEP1ではロボツト制
御部から起動指令SSが入力されたか否かをチエ
ツクし、入力されていなければ入力されるまで待
機し、入力された時点でSTEP2に処理を進める。
STEP2では、計測指令SAを第1,第2の駆動
検出回路45,46に出力すると共に、電源回路
50に発振指令SLを出力する。
それによつて、レーザ発生器15からスリツト
レーザ光LSが自動車用ドア30aの塗装外表面
30aに照射されるようになると共に、第1,第
2の駆動検出回路45,46が夫々姿勢検出用の
ラインセンサ42,43の駆動を開始して、アド
レスデータQ1,Q2を逐次出力するようになる。
次に、STEP3では、第16図に示すプログラ
ムSUBを実行する。
第16図のSTEP4では、第1,第2の駆動検
出回路45,46から最新のアドレスデータQ1
Q2を取り込む。
次のSTEP5では、STEP4で取り込んだアドレ
スデータQ1,Q2に基づいて、前述した平行移動
量を示す値1024−(Q1+Q2)/2を交差角調整デ
ータDxとして演算する。
STEP6では、STEP4で取り込んだアドレスデ
ータQ1,Q2に基づいて、前述した回転量を示す
値Q1−Q2を傾斜角調整データDyとして演算す
る。
なお、拡散スクリーン31上に投影されている
スリツト像SLが、欠陥検査用のラインセンサ4
1が撮像しているライン状の部位31a(第7図)
に位置していて、Q1,Q2がQ1,Q2=1024となつ
ている場合は、Dx,Dyともゼロである。
STEP7では、STEP5,6で演算した交差角調
整データDx及び傾斜角調整データDyを同時に
夫々第13図のD/A変換器56,57に出力す
る。
それによつて、D/A変換器56,57から前
述した調整電圧信号Vx,Vyが夫々出力されるよ
うになり、サーボアンプ48,49の作用により
第1,第2の調整機構13,10の駆動モータ2
5,19が回転駆動される。そして、これ等の駆
動モータ25,19が回転駆動されることによつ
て、前述した交差角δ及び傾斜角εが調整され
て、塗装外表面30aから正反射されたレーザス
リツト光LSが拡散スクリーン31におけるライ
ン状の部位31a上に結像するようになる。
そして、STEP8で再びアドレスデータQ1,Q2
を取り込んで、次のSTEP9にてQ1,Q2=1024と
なつているか否かをチエツクし、Q1,Q2≠1024
ならSTEP4に戻つてSTEP4〜8までの処理を繰
り返し、Q1,Q2=1024なら第15図のSTEP10
に処理を進める。
なお、ここまでの処理は、第2図のロボツト8
が欠陥検査開始位置F0に到達して一旦停止した
時に行なわれるイニシヤル位置合せである。
次に、STEP10ではイニシヤル位置合せが終了
して欠陥検査を開始しても良いと云うことで、図
示しないロボツト制御部にロボツト動作指令SR
を出力して、ロボツト8のプレーバツクを開始さ
せる。
STEP11では、再び第16図に示すプログラム
SUBを実行する。
STEP12では、ロボツト制御部から一時停止指
令SEが入力されているか否かをチエツクし、入
力されていなければSTEP13に処理を進め、入力
されていればSTEP11に戻つて第16図のプログ
ラムSUBの実行を繰り返す。
このSTEP12のような処理を行なうようにし
たのは、前述した塗装外表面30aにおける各折
り返し位置間をロボツト8が移動中は、スリツト
像SLの位置合せのみを行なつて、欠陥検査を行
なわないようにするためである。
STEP12で一時停止指令SEが入力されていな
いことがチエツクされたら、次のSTEP13で第1
3図の欠陥検査用コントロールユニツト55に欠
陥検査許可指令SOKを出力した後、STEP14でロ
ボツト制御部から停止指令STが入力されたか否
かをチエツクし、入力されていなければSTEP11
に戻つて第16図のプログラムSUB含めて
STEP11からSTEP13までの処理を繰り返し、入
力されていればSTEP15に処理を進めて第1,第
2の駆動検出回路45,46及び電源回路50に
夫々出力していた計測指令SA及び発振指令SLを
停止し、全ての処理を終了する。
以上のような処理が位置合せ用コントロールユ
ニツト54においてなされることにより、ロボツ
ト8のプレーバツク中、レーザ発生器15、検出
装置16、及び自動車用ドア30の塗装外表面3
0aの間の相対位置関係が、種々の要因によつて
ズレても塗装外表面30aから正反射されたレー
ザスリツト光LSは、常に拡散スクリーン31に
おける欠陥検出用のラインセンサ41が撮像する
ライン状の部位31a上に結像するようになり、
それによつて塗装外表面30aの欠陥を検査でき
る。
その欠陥検査は次のようにしてなされる。
すなわち、欠陥検査用コントロールユニツト5
5内のCPUが実行するプログラムの処理フロー
図である第17図において、STEP16ではロボツ
ト制御部から検査起動指令SSSが入力されたか否
かをチエツクし、入力されていなければ入力され
るまで待機し、入力された時点でSTEP17に処理
を進める。
STEP17では、計測指令SBを第3の駆動検出
回路47に出力する。
そして、次のSTEP18で第13図の位置合せ用
コントロールユニツト54から欠陥検査許可指令
SOKが入力されるのを待つて、該指令SOKが入
力されると、スリツト像LSがライン状の部位3
1aに位置していると云うことで、STEP19に処
理を進めて第3の駆動検出回路47から数値デー
タWを取り込む。
なお、この数値データWは、ロボツト8のプレ
ーバツク動作によつて走査されるレーザスリツト
光LSの塗装外表面30aにおける照射位置にブ
ツや傷等の欠陥がなければ「0」であり、あつた
場合にはその欠陥の大きさに応じた値である。
STEP20では、STEP19で取り込んだ数値デー
タWと、予め図示しない操作盤を操作して設定し
た欠陥検査基準値lとを比較して、W≧lなら
STEP21に処理を進め、W<lならSTEP18に戻
つてSTEP18,19の処理を繰り返す。
STEP21では、W≧lで、検出した欠陥の大き
さが検査しようとしている欠陥の大きさ以上であ
るので、マーカ噴射指令SMをドライバ51に出
力し、それによつて電磁弁52の作用により欠陥
マーカ17のバネシリンダ17が作動して、欠陥
マーカ17から探査した塗装外表面30aの欠陥
の近傍に塗剤が吹き付けられて欠陥の位置がマー
クされる。
そして、STEP22では、ロボツト制御部から検
査停止指令SSTが入力されたか否かをチエツク
し、入力されていなればSTEP18に戻つて
STEP18からSTEP21までの処理を繰り返し、入
力されていればSTEP23に処理を進めて第3の駆
動検出回路47に出力していた計数指令SBを停
止し、全ての処理を終了する。
以上のような処理が欠陥検査用コントロールユ
ニツト55においてなされることにより、第2図
の自動車用ドア30の塗装外表面30aの全域に
亘る欠陥検査を行なうことができる。
そして、以上のような実施例によれば、第7図
の説明のところで述べた効果の他に次のような効
果を奏する。
すなわち、拡散スクリーン31上の二次元面を
基準にして、位置ズレの検出及び位置合せを行な
うようにしているため、面倒な焦点調整が不用に
なるばかりか、位置ズレの検出系(姿勢センサ)
及び位置合せの調整系(第1,第2の調整機構)
の構成及び制御内容が比較的簡単になり、しかも
欠陥検出及び位置ズレ検出を同一の光源及び同一
の光学系(集光レンズ)で共用して行なつている
ため、小型化が計れる。
しかも何ら特別な機構やセンサを用いなくとも
構成できるので、安価で実用的である。
そして、2軸の検出/調整系によつて、検査装
置と被検査物との間の位置許容差を広げられるの
で、前述したような移動検査態様にも検出の安定
度を損なうことなく容易に対応でき、種々な被検
査物の欠陥検査が可能となる。
なお、上記実施例では、自動車用ドア30を固
定して表面欠陥検査装置6の方をロボツト8によ
つて移動するようにしたが、逆に表面欠陥検査装
置6の方を固定して自動車用ドア30の方を移動
させるようにして表面検査を行なうこともでき
る。
また、上記実施例では、塗装後の自動車用ドア
を例に採つて説明したが、塗装後の車両ボデイや
鏡面に近ければその他諸々の被検査物の検査をも
行なうことができる。
さらに、上記実施例ではレーザ発生器15の方
を動かして光軸L1,L2の交差角δを調整するよ
うにした例に就て述べたが、検出装置16の方を
動かすようにしても良く、又第1,第2の調整機
構13,10としては、実施例に限らず、交差角
δ及び傾斜角εを調整さえできればどのような構
造のものでも良い。
さらにまた、上記実施例では透過型の拡散スク
リーン31を用いた例に就て述べたが、反射型の
拡散スクリーンを用いることができることは云う
までもない。
なお、上記実施例において、軸14によつて回
動される部分をレーザビーム光をレーザスリツト
光に変換するレンズ系のみにして、そのレンズ系
まで光フアイバを用いてレーザビーム光を導くよ
うにすれば、ロボツト8に取り付ける部分の表面
欠陥検査装置の構成をさらにコンパクトにするこ
とができる。
効 果 以上述べたように、この発明による表面欠陥検
査装置では、レーザ発生器から照射されて被測定
部の表面から反射したレーザスリツト光を拡散ス
クリーンに投影拡散させると共に、拡散スクリー
ンと一体の欠陥検出用のラインセンサが撮像する
拡散スクリーン上のライン状の部位に対する拡散
スクリーン上の反射レーザスリツト光による投影
像の姿勢を姿勢センサによつて検出し、その検出
結果に基づいて、レーザ発生器と欠陥検出用のラ
インセンサの両光軸の交差角及び両光軸によつて
形成される平面の被測定物の表面に対する傾斜角
を調整するようにしたため、検出/調整系の構成
が比較的簡単で小型化が計れ、しかも安価で実用
性に富み、種々の被検査物に対しても一々面倒な
焦点調整を行なう必要もなく、移動検査態様にも
容易に対応できるようになる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来の表面欠陥検出装置の検査原理
の一例を示す模式図、第2図は、この発明による
表面欠陥検査装置の制御系を除いた部分の一実施
例を示す斜視構成図、第3図は、第2図の表面欠
陥検出装置6の欠陥マーカ17を除いた部分の詳
細を示す正面図、第4図は、第3図の右側面図、
第5図は、第1の調整機構13の詳細図、第6図
は、第2の調整機構10の詳細図、第7図は、検
出装置16の内部構成を示す斜視図、第8図及び
第9図は、夫々検出装置16の検出原理及びその
作用効果の説明に供する模式図、第10図は、塗
装外表面30aの三次的な相対位置変化に基づく
拡散スクリーン31上でのスリツト像の二次元的
な位置変化を示す模式図、第11図は、第7図の
姿勢検出用のラインセンサ42,43によるスリ
ツト像の検出の様子を示す説明図、第12図は、
交差角δ及び傾斜角εを変化させた時のスリツト
像の位置変化の様子を示す模式図、第13図は、
第2図の表面欠陥検査装置6の制御系の一実施例
を示すブロツク図、第14図は、第13図の第1
〜第3の駆動検出回路45〜47の機能説明に供
する波形図、第15図乃至第17図は、夫々第1
3図の位置合せ用コントロールユニツト54及び
欠陥検出用コントロールユニツト55内のCPU
が夫々実行するプログラムの処理フロー図であ
る。 6……表面欠陥検査装置、8……ロボツト、9
……基部、10……第2の調整機構、12……可
動ステー、13……第1の調整機構、15……レ
ーザ発生器、16……検出装置、17……欠陥マ
ーカ、19,25……駆動モータ、30……自動
車用ドア(被検査物)、30a……塗装外表面、
31……拡散スクリーン、33……カメラ部、3
3a……集光レンズ、41……欠陥検出用のライ
ンセンサ、42,43……姿勢検出用のラインセ
ンサ、45……第1の駆動検出回路、46……第
2の駆動検出回路、47……第3の駆動検出回
路、48,49……サーボアンプ、50……電源
回路、51……ドライバ、52……電磁弁、53
……制御部、54……位置合せ用コントロールユ
ニツト、55……欠陥検出用コントロールユニツ
ト。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 レーザスリツト光を被検査物の表面に照射す
    るレーザ発生器と、 このレーザ発生器から照射されて前記被検査物
    の表面から反射したレーザスリツト光を投影して
    拡散する拡散スクリーンと、 この拡散スクリーン上の予め定めたライン状の
    部位を影像する前記拡散スクリーンと一体の欠陥
    検出用のラインセンサと、 この欠陥検出用のラインセンサが影像する前記
    拡散スクリーン上のライン状の部位に対する前記
    拡散スクリーン上の反射レーザスリツト光による
    投影像の姿勢を検出する姿勢センサと、 前記レーザ発生器の光軸と前記欠陥検出用のラ
    インセンサの光軸との交差角を前記姿勢センサの
    検出結果に基づいて調整する第1の調整機構と、 前記レーザ発生器の光軸と前記欠陥検出用のラ
    インセンサの光軸とによつて形成される平面の前
    記被検査物の表面に対する傾斜角を前記姿勢セン
    サの検出結果に基づいて調整する第2の調整機構
    とによつて構成され、前記第1,第2の調整機構
    によつて前記交差角及び傾斜角が調整されて、前
    記欠陥検出用のラインセンサが撮像する前記拡散
    スクリーン上のライン状の部位に前記投影像が位
    置した時の前記欠陥検出用のラインセンサの検出
    結果によつて、前記被検査物の表面の欠陥を検査
    するようにしたことを特徴とする表面欠陥検査装
    置。 2 前記姿勢センサが、前記欠陥検出用のライン
    センサの配置面に該ラインセンサを挾んでその配
    置方向に対して交差する方向に間隔を置いて配置
    され、前記拡散スクリーン上の投影像を撮像する
    複数の姿勢検出用のラインセンサによつて構成さ
    れている特許請求の範囲第1項記載の表面欠陥検
    査装置。
JP8389084A 1984-04-27 1984-04-27 表面欠陥検査装置 Granted JPS60228910A (ja)

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GB08510579A GB2159271B (en) 1984-04-27 1985-04-25 Surface flaw detecting method and apparatus
US06/727,874 US4715709A (en) 1984-04-27 1985-04-26 Surface flaw detecting method and apparatus
DE19853515194 DE3515194A1 (de) 1984-04-27 1985-04-26 Verfahren und vorrichtung zur ermittlung von oberflaechenfehlern

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