JP4913507B2 - 表面欠陥検査装置 - Google Patents
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Description
被検査物20を検査する時は、図示しない保持手段によって被検査物20を保持し、被検査物20を回転させる。光源11からライン光を照射し、その反射光あるいは拡散光をエリアセンサ12、及びラインセンサ13で検出する。この際、エリアセンサ12にて取得した情報により被検査物20の反射光分布を算出し、その反射光位置の変化に応じて反射光位置とラインセンサ13の相対位置が一定になるように位置調整手段のリニアステージ14によりラインセンサ13を移動させている。被検査物20の表面に欠陥がある場合には反射光分布が変化するので、ラインセンサ13で得た情報を元に演算処理を行い、良否の判定を行う。
Xd=(L2+L3)/L2×(Xc−Xb)+Xb ・・・(2)
ところで、リニアステージ14の移動量が異なると、2台のリニアステージ14におけるセンサ取付リンク15の取り付け位置間の距離が変わる。しかし、センサ取付リンク15の片端はリニアステージ14に回転・並進自在に取り付けられているため、異なる移動量でリニアステージ14を移動させることができる。図7に示す構成ではセンサ取付リンク15の片端を長穴にしてリニアステージ14に取り付けることで、距離の変化に対応しているが、2台のリニアステージ14にてラインセンサ13の位置・姿勢を変えることができればよいので、図8に示すように一方のリニアステージ14に回転自在にリニアガイド51を取り付けた構成や、図9に示すように両端をリニアステージ14に回転自在に取り付け、センサ取付リンク15の長さを変更自在にした構成でもよい。
Xd=Xc ・・・(4)
13;ラインセンサ、14;リニアステージ、
15;センサ取付リンク、20;被検査物、
40;制御装置、41;反射光分布演算部、42;位置変換演算部、
43;リニアステージ位置指令部、51;リニアガイド。
Claims (1)
- ロール状の被検査物を支持し回転させる被検査物支持手段と、被検査物の表面に光を照射する照明手段と、被検査物からの反射あるいは拡散する光を検出するラインセンサ及びエリアセンサと、該ラインセンサの位置を調整する位置調整手段を有し、前記エリアセンサにより取得した情報に基づき、前記位置調整手段により反射光位置と前記ラインセンサの位置が相対的に一定になるように追従制御して被検査物の表面を検査する表面欠陥検査装置において、
前記位置調整手段が、被検査物の軸方向及び前記ラインセンサの光軸方向と垂直な方向に移動する駆動機構を有し、
前記駆動機構は、被検査物の軸方向に一対で配置された2台のリニアステージと、前記ラインセンサが取り付けられるセンサ取付リンクとを備え、
前記センサ取付リンクの一端は前記リニアステージの一方に回転自在に取り付けられ、前記センサ取付リンクの他端は前記リニアステージの他方に回転自在及び並進自在に取り付けられ、
前記ラインセンサのライン方向が被検査物の軸方向と同方向になるように、前記センサ取付リンクの一端を回転させ、かつ前記センサ取付リンクの他端を回転及び並進させ、前記センサ取付リンクに取り付けられている前記ラインセンサの位置及び姿勢を調整することを特徴とする表面欠陥検査装置。
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