JPH0312532Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0312532Y2 JPH0312532Y2 JP19536381U JP19536381U JPH0312532Y2 JP H0312532 Y2 JPH0312532 Y2 JP H0312532Y2 JP 19536381 U JP19536381 U JP 19536381U JP 19536381 U JP19536381 U JP 19536381U JP H0312532 Y2 JPH0312532 Y2 JP H0312532Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pulse signal
- signal
- slit
- phase
- photoelectric conversion
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 21
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 4
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 3
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 2
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 2
- 102100025490 Slit homolog 1 protein Human genes 0.000 description 1
- 101710123186 Slit homolog 1 protein Proteins 0.000 description 1
- 108091008695 photoreceptors Proteins 0.000 description 1
Landscapes
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
- Exposure Or Original Feeding In Electrophotography (AREA)
- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
- Facsimile Transmission Control (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
- Dot-Matrix Printers And Others (AREA)
- Laser Beam Printer (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は光走査器の原点検出装置、特にレーザ
プリンタなどにおける書込用光の光源に用いられ
る原点検出装置に関するものである。
プリンタなどにおける書込用光の光源に用いられ
る原点検出装置に関するものである。
この種の光走査器は第1図に示すように、レー
ザ発振器1から発射されたレーザ光を適宜配され
た反射ミラー2などの光学系を通して光変調器3
に送り、そこで外部から送られてくる電気的な画
像情報BSに応じた光変調を行わせ、その画像情
報がのせられた光信号をビームエキスパンダ4、
アナモフイツク光学系5を介して回転多面鏡6に
送り、そこで、副走査Y方向に回転する感光体ド
ラム8上にfθレンズ7を通して結像されるスポツ
トを主走査X方向に偏向させながら順次露光を行
わせることにより、光記録をなすことができるよ
うに構成されている。
ザ発振器1から発射されたレーザ光を適宜配され
た反射ミラー2などの光学系を通して光変調器3
に送り、そこで外部から送られてくる電気的な画
像情報BSに応じた光変調を行わせ、その画像情
報がのせられた光信号をビームエキスパンダ4、
アナモフイツク光学系5を介して回転多面鏡6に
送り、そこで、副走査Y方向に回転する感光体ド
ラム8上にfθレンズ7を通して結像されるスポツ
トを主走査X方向に偏向させながら順次露光を行
わせることにより、光記録をなすことができるよ
うに構成されている。
上記構成の光走査器において、原点検出器9は
各主走査ラインにおける光記録の同期をとるため
に設けられたもので、各主走査ラインの前走査
(光記録を行わせる前のレーザ光の走査領域)の
段階でレーザ光を検知させ、そのセンサ出力を制
御回路10に送つて、そこで光変調器3における
光変調のタイミングを適宜とらせるようにしてい
る。
各主走査ラインにおける光記録の同期をとるため
に設けられたもので、各主走査ラインの前走査
(光記録を行わせる前のレーザ光の走査領域)の
段階でレーザ光を検知させ、そのセンサ出力を制
御回路10に送つて、そこで光変調器3における
光変調のタイミングを適宜とらせるようにしてい
る。
上記の原点検出器9として、従来は、第2図に
示すようにスリツト11aを有するスリツト板1
1と、このスリツトを通過した矢示X方向に走査
される光Lを電気信号に変換する光電変換素子1
2とにより構成されている。この場合、上記光電
変換素子12からの出力は第3図に示すようにガ
ウシアン形になる。このため、原点の検出装置の
精度を高めるには、 (1) スリツト11a間隔をせまくする、 (2) スリツトを通過する光ビームのビーム径を該
ビーム径近辺まで絞り込む、 (3) ノイズが少なく高速に応答する光電変換素子
を用いる、 等のことを留意しなければならない。
示すようにスリツト11aを有するスリツト板1
1と、このスリツトを通過した矢示X方向に走査
される光Lを電気信号に変換する光電変換素子1
2とにより構成されている。この場合、上記光電
変換素子12からの出力は第3図に示すようにガ
ウシアン形になる。このため、原点の検出装置の
精度を高めるには、 (1) スリツト11a間隔をせまくする、 (2) スリツトを通過する光ビームのビーム径を該
ビーム径近辺まで絞り込む、 (3) ノイズが少なく高速に応答する光電変換素子
を用いる、 等のことを留意しなければならない。
しかし、スリツト間隔をせまくすると、スリツ
トに付着するほこり等の影響を受けやすくなるだ
けでなく、スリツト間隔精度などを高度に作成し
なければならない。さらにスリツトを通過する光
ビームのビーム径を絞り込むためには、それに見
合つた高精度の光学系を用意しなければならな
い。
トに付着するほこり等の影響を受けやすくなるだ
けでなく、スリツト間隔精度などを高度に作成し
なければならない。さらにスリツトを通過する光
ビームのビーム径を絞り込むためには、それに見
合つた高精度の光学系を用意しなければならな
い。
また、ノイズの少ない高速に応答する光電変換
素子を使用することは、高価な部品を使用するこ
とになつてコスト高をまねくことになる。
素子を使用することは、高価な部品を使用するこ
とになつてコスト高をまねくことになる。
本考案は前記(1)〜(3)等を留意することなく、正
確に原点検出のできる原点検出装置を提供するこ
とを目的とする。
確に原点検出のできる原点検出装置を提供するこ
とを目的とする。
以下、本考案の実施例を第2図と同一部分に同
一符号を付した第4図のブロツク図について説明
する。
一符号を付した第4図のブロツク図について説明
する。
第4図において、光ビームLが矢示X方向にス
リツト板11を走査すると、スリツト11aを通
過した光ビームは光電変換素子12によつて電気
信号に変換され、増幅回路21によつて増幅され
る。この増幅された信号波形を第5図Aに示す。
リツト板11を走査すると、スリツト11aを通
過した光ビームは光電変換素子12によつて電気
信号に変換され、増幅回路21によつて増幅され
る。この増幅された信号波形を第5図Aに示す。
この電気信号は波形整形回路13によつてデジ
タル波形(第5図B)に変換され、リトリガブル
ワンシヨツト14および位相比較器16のPu側
入力端子に入力される。上記リトリガブルワンシ
ヨツト14の出力パルス(第5図C)はアンドゲ
ート15の一方の入力端子に供給されるとともに
カウンタ19のリセツト端子に入力される。上記
アンドゲート15の出力信号(第5図D)は上記
位相比較器16のPd側入力端子および上記カウ
ンタ19のカウント入力端子に入力される。上記
位相比較器16はPu側入力端子に入力された信
号とPd側入力端子に入力された信号との位相を
比較し、進んでいるか遅れているかに応じて、
“1”または“0”の信号を出力するようになつ
ている。従つてこの位相比較器16の出力信号に
は、両入力信号の位相差成分が徐々に変化すると
仮定した場合の低周波成分とそれ以外の高周波成
分(ノイズ)が含まれている。このためノイズを
含む高周波成分をローパスフイルタ17により取
り除き、上記したような位相差信号のみの低周波
成分に分離する。この分離された位相差信号を電
圧制御発振器18へと入力する。電圧制御発振器
18は入力電圧が上れば発振周波数が上り、入力
電圧が下れば発振周波数も下る。この電圧制御発
振器18の出力信号は、アンドゲート15の他方
の入力端子へ入力される。アンドゲート15は、
光スリツトの信号のある間(ビームがスリツト1
1aを走査している間)はアンドゲートをそのま
ま通りぬけるため、この出力信号が上記位相比較
器16のPd側へ入力される。
タル波形(第5図B)に変換され、リトリガブル
ワンシヨツト14および位相比較器16のPu側
入力端子に入力される。上記リトリガブルワンシ
ヨツト14の出力パルス(第5図C)はアンドゲ
ート15の一方の入力端子に供給されるとともに
カウンタ19のリセツト端子に入力される。上記
アンドゲート15の出力信号(第5図D)は上記
位相比較器16のPd側入力端子および上記カウ
ンタ19のカウント入力端子に入力される。上記
位相比較器16はPu側入力端子に入力された信
号とPd側入力端子に入力された信号との位相を
比較し、進んでいるか遅れているかに応じて、
“1”または“0”の信号を出力するようになつ
ている。従つてこの位相比較器16の出力信号に
は、両入力信号の位相差成分が徐々に変化すると
仮定した場合の低周波成分とそれ以外の高周波成
分(ノイズ)が含まれている。このためノイズを
含む高周波成分をローパスフイルタ17により取
り除き、上記したような位相差信号のみの低周波
成分に分離する。この分離された位相差信号を電
圧制御発振器18へと入力する。電圧制御発振器
18は入力電圧が上れば発振周波数が上り、入力
電圧が下れば発振周波数も下る。この電圧制御発
振器18の出力信号は、アンドゲート15の他方
の入力端子へ入力される。アンドゲート15は、
光スリツトの信号のある間(ビームがスリツト1
1aを走査している間)はアンドゲートをそのま
ま通りぬけるため、この出力信号が上記位相比較
器16のPd側へ入力される。
今、光スリツトからの信号Bの位相が進む(遅
れる)と、位相比較器16の出力電圧が上り(下
り)、従つてローパスフイルタ17の出力が上り
(下り)、電圧制御発振器18の入力電圧が上つて
(下つて)発振周波数が上る(下る)ため、位相
比較器16のPd端子に入力されている信号Dの
位相が進み(遅れ)、結果としてスリツト板11
上を光ビームLが走査する間は入力信号と前記ア
ンドゲート15の出力信号Dの位相が揃うことに
なる。
れる)と、位相比較器16の出力電圧が上り(下
り)、従つてローパスフイルタ17の出力が上り
(下り)、電圧制御発振器18の入力電圧が上つて
(下つて)発振周波数が上る(下る)ため、位相
比較器16のPd端子に入力されている信号Dの
位相が進み(遅れ)、結果としてスリツト板11
上を光ビームLが走査する間は入力信号と前記ア
ンドゲート15の出力信号Dの位相が揃うことに
なる。
従つて、位相比較器16、ローパスフイルタ1
7、電圧制御発振器18の定数を適切に選択する
と、位相比較器16のPu側入力端子に入力され
る信号の位相変化の低周波成分として元の信号に
対し平滑化された周波数の信号を得ることができ
る。
7、電圧制御発振器18の定数を適切に選択する
と、位相比較器16のPu側入力端子に入力され
る信号の位相変化の低周波成分として元の信号に
対し平滑化された周波数の信号を得ることができ
る。
そして、上記位相比較器16のPd側入力端子
に入力される信号(パルス)数をカウンタ19で
計数し、この計数値が所定数(図示例の計数値は
「5」)に達したときカウンタ19からパルス(第
5図E)を出力することにより、正確な原点パル
スを得ることができる。
に入力される信号(パルス)数をカウンタ19で
計数し、この計数値が所定数(図示例の計数値は
「5」)に達したときカウンタ19からパルス(第
5図E)を出力することにより、正確な原点パル
スを得ることができる。
本考案は上記の構成であるから、次のような作
用効果が得られる。
用効果が得られる。
(イ) 第6図に示すように、光ビームのビーム径r
がスリツト間隔Pに比して大であつても、光電
変換素子12からはスリツト11aに対応した
信号が発生する。そのため、ビーム径rを絞り
込まなくてよいので、高価な光学系および光電
変換素子を用いなくてもよい。また、スリツト
11aと光電変換素子12の位置関係の許容値
(範囲)が広いので、スリツト11aの作成が
容易である。
がスリツト間隔Pに比して大であつても、光電
変換素子12からはスリツト11aに対応した
信号が発生する。そのため、ビーム径rを絞り
込まなくてよいので、高価な光学系および光電
変換素子を用いなくてもよい。また、スリツト
11aと光電変換素子12の位置関係の許容値
(範囲)が広いので、スリツト11aの作成が
容易である。
(ロ) 第7図に示すようにスリツト板11にゴミ2
0が付着してスリツト11aの開口面積が変わ
ると、光電変換素子12の出力は第8図Aのよ
うに波形aが大きく乱れるため、位相比較器1
6のPu側入力端子に加わる信号も同図Bのよ
うに位相がずれる。そして、この位相のずれは
位相比較器16により感知されてその出力に現
われるが、ローパスフイルタ17によつて平滑
化されるため、電圧制御発振器18の位相は同
図Cのように殆んどずれない。従つて、電圧制
御発振器18の出力パルスをアンドゲート15
を介してカウンタ19でカウントし、所定の設
定数に達したときにカウンタ19から原点パル
スを出力させるようにすれば、スリツト11a
に付着したゴミの影響を受けることなく正確に
原点検出される。
0が付着してスリツト11aの開口面積が変わ
ると、光電変換素子12の出力は第8図Aのよ
うに波形aが大きく乱れるため、位相比較器1
6のPu側入力端子に加わる信号も同図Bのよ
うに位相がずれる。そして、この位相のずれは
位相比較器16により感知されてその出力に現
われるが、ローパスフイルタ17によつて平滑
化されるため、電圧制御発振器18の位相は同
図Cのように殆んどずれない。従つて、電圧制
御発振器18の出力パルスをアンドゲート15
を介してカウンタ19でカウントし、所定の設
定数に達したときにカウンタ19から原点パル
スを出力させるようにすれば、スリツト11a
に付着したゴミの影響を受けることなく正確に
原点検出される。
(ハ) 光ビームの光量によつて原点の位置がずれな
い。
い。
第1図は光走査器の概要図、第2図は従来の原
点検出器の斜視図、第3図は光電変換素子の出力
波形図、第4図は本考案原点検出装置の実施例を
示すブロツク図、第5図は第4図各部の信号波形
図、第6図はビーム径とスリツトの関係図、第7
図はスリツトにゴミが付着した場合の説明図、第
8図はそのスリツトに基づく信号波形図である。 なお、図中、同一符号は同一、または相当部分
を示し、1……レーザ発振器、2……反射ミラ
ー、3……光変調器、4……ビームエキスパン
ダ、5……アナモフイツク光学系、6……回転多
面鏡、7……fθレンズ、8……感光体ドラム、9
……原点検出器、10……制御回路、11……ス
リツト板、12……光電変換素子、13……波形
整形回路、14……リトリガブルワンシヨツト、
15……アンドゲート、16……位相比較器、1
7……ローパスフイルタ、18……電圧制御発振
器、19……カウンタ、20……ゴミ。
点検出器の斜視図、第3図は光電変換素子の出力
波形図、第4図は本考案原点検出装置の実施例を
示すブロツク図、第5図は第4図各部の信号波形
図、第6図はビーム径とスリツトの関係図、第7
図はスリツトにゴミが付着した場合の説明図、第
8図はそのスリツトに基づく信号波形図である。 なお、図中、同一符号は同一、または相当部分
を示し、1……レーザ発振器、2……反射ミラ
ー、3……光変調器、4……ビームエキスパン
ダ、5……アナモフイツク光学系、6……回転多
面鏡、7……fθレンズ、8……感光体ドラム、9
……原点検出器、10……制御回路、11……ス
リツト板、12……光電変換素子、13……波形
整形回路、14……リトリガブルワンシヨツト、
15……アンドゲート、16……位相比較器、1
7……ローパスフイルタ、18……電圧制御発振
器、19……カウンタ、20……ゴミ。
Claims (1)
- 光ビームが通る複数のスリツトを有するスリツ
ト板と、上記スリツトを通過した光ビームを電気
信号に変換する光電変換素子と、この光電変換素
子の出力パルス信号の位相と別途生成されるカウ
ント用パルス信号の位相とを比較して位相差を検
出する位相比較器と、この位相比較器の出力信号
に含まれる高周波成分をカツトするローパスフイ
ルタと、このローパスフイルタの出力信号に応じ
て周波数が増減するパルス信号を生成する電圧制
御発振器と、前記光電変換素子の出力パルス信号
を入力とするリトリガブルワンシヨツトと、前記
リトリガブルワンシヨツトの出力パルス信号と前
記電圧制御発振器の出力パルス信号とをアンド論
理して前記カウント用パルス信号を出力するアン
ドゲートと、前記カウント用パルス信号のパルス
数を計数して該計数値が所定数に達したとき原点
パルスを出力するカウンタと、を備えた光走査器
の原点検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19536381U JPS5898648U (ja) | 1981-12-26 | 1981-12-26 | 光走査器の原点検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19536381U JPS5898648U (ja) | 1981-12-26 | 1981-12-26 | 光走査器の原点検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5898648U JPS5898648U (ja) | 1983-07-05 |
JPH0312532Y2 true JPH0312532Y2 (ja) | 1991-03-25 |
Family
ID=30108642
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19536381U Granted JPS5898648U (ja) | 1981-12-26 | 1981-12-26 | 光走査器の原点検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5898648U (ja) |
-
1981
- 1981-12-26 JP JP19536381U patent/JPS5898648U/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5898648U (ja) | 1983-07-05 |
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