JPS6230212A - 光走査の原点検出装置 - Google Patents
光走査の原点検出装置Info
- Publication number
- JPS6230212A JPS6230212A JP60169253A JP16925385A JPS6230212A JP S6230212 A JPS6230212 A JP S6230212A JP 60169253 A JP60169253 A JP 60169253A JP 16925385 A JP16925385 A JP 16925385A JP S6230212 A JPS6230212 A JP S6230212A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- peak
- origin
- laser beam
- waveform
- Prior art date
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明はレーザ・プリンタ等において光走査全実施する
際の、正確な原点信号全検出する検出装置に関する。
際の、正確な原点信号全検出する検出装置に関する。
（従来の技術）
従来この種の原点信号検出装置においては、元ビーム検
出装置よりの出力を所定レベルで二値化（テイジタル化
）しているのが通常であり、例えば第２図に図示する波
形信号すのような状態にあり、従ってこの様な波形の場
合には、レーザ発振器よりの光ビームの強弱に起因して
、その信号の波形中が拡張したり、縮少したりするため
波形ずれが生じ、レーザ、ビームの正確な原点を得るこ
とは困難であった。
出装置よりの出力を所定レベルで二値化（テイジタル化
）しているのが通常であり、例えば第２図に図示する波
形信号すのような状態にあり、従ってこの様な波形の場
合には、レーザ発振器よりの光ビームの強弱に起因して
、その信号の波形中が拡張したり、縮少したりするため
波形ずれが生じ、レーザ、ビームの正確な原点を得るこ
とは困難であった。
（発明の解決すべき問題点）
第４図に、原点検出信号とレーザ、ビーム変調とのタイ
ミングチャートｉ図示する。図中ｔｌはレーザ、ビーム
のＯＦＦ開始点である。但し、このタイミングチャート
はいわゆる反転現像に関するものである。ｔ２は感光ド
ラムへのデータ書き込み開始点ｂ ｊ３はレーザ、ビー
ムＯＮ開始点であり、又ｔ２−ｔ３間に渉る符号Ｂは感
光ドラムへの書き込み時間を示すものである。すなわち
、本図面により判明することは、レーザ、ビーム変調に
おける作動開始点ｔｌｌ’２！１３はすべて原点ｔａｒ
基準とじて一定時間で決められていることである。従っ
てこの原点ｔｏに何等かの原因によりずれが起きると例
えば、第３図に図示のように、レーザ発振器よりのレー
ザ、ビームがポリゴンスキャナに反射して原点検出装置
へ到達する際に、ポリゴンスキャナのミラの回転角度の
誤差や回転速度ずれ等に起因して、その反射率に変化が
生じた場合、又は発振器よりのレーザ光に強弱がある場
合には、ドラムへの印字のラインにもずれが起りいわゆ
るちらつき現象が生じる等の問題点があった。
ミングチャートｉ図示する。図中ｔｌはレーザ、ビーム
のＯＦＦ開始点である。但し、このタイミングチャート
はいわゆる反転現像に関するものである。ｔ２は感光ド
ラムへのデータ書き込み開始点ｂ ｊ３はレーザ、ビー
ムＯＮ開始点であり、又ｔ２−ｔ３間に渉る符号Ｂは感
光ドラムへの書き込み時間を示すものである。すなわち
、本図面により判明することは、レーザ、ビーム変調に
おける作動開始点ｔｌｌ’２！１３はすべて原点ｔａｒ
基準とじて一定時間で決められていることである。従っ
てこの原点ｔｏに何等かの原因によりずれが起きると例
えば、第３図に図示のように、レーザ発振器よりのレー
ザ、ビームがポリゴンスキャナに反射して原点検出装置
へ到達する際に、ポリゴンスキャナのミラの回転角度の
誤差や回転速度ずれ等に起因して、その反射率に変化が
生じた場合、又は発振器よりのレーザ光に強弱がある場
合には、ドラムへの印字のラインにもずれが起りいわゆ
るちらつき現象が生じる等の問題点があった。
（問題点を解決するための手段、作用〕そこで本発明に
おいては、受光素子で受光、増巾されたレーザ光線のア
ナログ値のピーク位置を正確に検出するために、微分回
路、論理積回路、コンノミレータ等を具えた手段を採用
するもので、これによりレーザ光線の反射率や強弱に関
係なくその正確な原点位置をつることができる。従って
この原点、つまり第３図において説明した原点ｔｏ全決
定することにより、それを基準とするその後のレーザ光
に係る動作開始点を正確なものとなすから、ひいてはレ
ーザプリンタの性能向上に貢献することができる。
おいては、受光素子で受光、増巾されたレーザ光線のア
ナログ値のピーク位置を正確に検出するために、微分回
路、論理積回路、コンノミレータ等を具えた手段を採用
するもので、これによりレーザ光線の反射率や強弱に関
係なくその正確な原点位置をつることができる。従って
この原点、つまり第３図において説明した原点ｔｏ全決
定することにより、それを基準とするその後のレーザ光
に係る動作開始点を正確なものとなすから、ひいてはレ
ーザプリンタの性能向上に貢献することができる。
（実施例〕
以下添付図面を参照して、本発明の一実施例を説明する
。第１図、第２図、第３図において、記号２はシリコン
ホトセル等よりなるレーザ光線の受光素子、４は受光素
子２よりの光を増巾する増巾器で、コンノミレータ６を
介して論理積回路１２に接続されている。符号１０は微
分回路であり、も一つのコン、ａレータ８を介して論理
積回路１２に接続される。
。第１図、第２図、第３図において、記号２はシリコン
ホトセル等よりなるレーザ光線の受光素子、４は受光素
子２よりの光を増巾する増巾器で、コンノミレータ６を
介して論理積回路１２に接続されている。符号１０は微
分回路であり、も一つのコン、ａレータ８を介して論理
積回路１２に接続される。
又第３図において、レーザ発振器２０よりのレ−ｆｉ２
４はポリゴンスキャナ２２に反射して偏向し、ｌθ光学
系により補正されて不発明に関する原点検出装置３０に
到達する。シリコンホトセル２に入射したレーザ光は、
増巾器４全通して、第２図ａに図示のその強度に比例し
た波形を有するアナログ信号として出力し、レーザ光の
中心がシリコンホトセル２に入射したとき最大の光量と
なり信号はそのピークを表示する。
４はポリゴンスキャナ２２に反射して偏向し、ｌθ光学
系により補正されて不発明に関する原点検出装置３０に
到達する。シリコンホトセル２に入射したレーザ光は、
増巾器４全通して、第２図ａに図示のその強度に比例し
た波形を有するアナログ信号として出力し、レーザ光の
中心がシリコンホトセル２に入射したとき最大の光量と
なり信号はそのピークを表示する。
この信号ａは微分回路１０に入力され、第２図Ｃの波形
のアナログ信号として出力する。この信号Ｃと信号ａと
を比較すれば、信号ａの前半は信号Ｃにおいてもプラス
となり、信号ａのピーク時においては信号ＣはＯＶとな
り、その後半においてマイナスとなる。この信号Ｃは、
コンパレータ８においてＯＶと比較されて二値化して第
２図に図示の波形を有する信号ｄとして現われる。この
信号ｄは図示のように信号ａのピークが存在しないとき
は、高電位Ｈ１低電位りが定まらない。そこで信号ａｆ
コンパレータ６ｆｊｒ：通して一定レベルで二値化した
第２図に図示の波形を有する信号すよりピークが存在す
る範囲を限定すべく信号すと信号ｄを論理積回路におい
てＡＮＤすることにより信号ｅの波形のものを得ること
ができる。すなわち、信号ａの波形と信号ｅの波形と比
較すれば、信号ｅの立下りのニジが常・に信号ａのピー
クと一致する。従って例えば強いレーザ光が入射した場
合においても、各信号は破線で図示のように変化するの
みで、信号ａの波形におけるピークと信号ｅの波形にお
ける立下りニジが一致することに変りはない。この様に
して捉えられたピーク位置検出により得られた原点を基
準とした信号によりレーザ、プリンタの光走査や書き込
み等が行われる。
のアナログ信号として出力する。この信号Ｃと信号ａと
を比較すれば、信号ａの前半は信号Ｃにおいてもプラス
となり、信号ａのピーク時においては信号ＣはＯＶとな
り、その後半においてマイナスとなる。この信号Ｃは、
コンパレータ８においてＯＶと比較されて二値化して第
２図に図示の波形を有する信号ｄとして現われる。この
信号ｄは図示のように信号ａのピークが存在しないとき
は、高電位Ｈ１低電位りが定まらない。そこで信号ａｆ
コンパレータ６ｆｊｒ：通して一定レベルで二値化した
第２図に図示の波形を有する信号すよりピークが存在す
る範囲を限定すべく信号すと信号ｄを論理積回路におい
てＡＮＤすることにより信号ｅの波形のものを得ること
ができる。すなわち、信号ａの波形と信号ｅの波形と比
較すれば、信号ｅの立下りのニジが常・に信号ａのピー
クと一致する。従って例えば強いレーザ光が入射した場
合においても、各信号は破線で図示のように変化するの
みで、信号ａの波形におけるピークと信号ｅの波形にお
ける立下りニジが一致することに変りはない。この様に
して捉えられたピーク位置検出により得られた原点を基
準とした信号によりレーザ、プリンタの光走査や書き込
み等が行われる。
（発明の効果）
本発明においては、レーザ、ビームのピークを検出する
ことにより、ビームの強度の変化によつでも影響をうけ
ることのない原点が得られるので。
ことにより、ビームの強度の変化によつでも影響をうけ
ることのない原点が得られるので。
ポリゴンスキャナの各面における反射率にばらつき等が
存在する場合にも正確なビームの走査、印字作業が実施
され、レーザ、プリンタの性能向上を計ることができる
。
存在する場合にも正確なビームの走査、印字作業が実施
され、レーザ、プリンタの性能向上を計ることができる
。
第１図は本発明に係るレーザ光原点検出装置の配設状態
を示すブロック図、第２図ａ −ｅは第１図の各手段よ
り発信される信号の波形図、第３図は本発明に係るレー
ザ、プリンタの路線配置図。 第４図は原点検出信号とレーザ、ビーム変調のタイミン
グチャート。 ２はシリコノホトセル、４は増巾器、６．はコン＾ パレータ、ｌＯは微分回路、１２は論理積回路、２０（
ル−ザ発振器、２２はポリゴノスキャナ。 ２４はレーザ光、２８は感光トラム、３０は原点検出装
置 特 許 出 願人 コバル電子株式会社代 理 人
弁理士 小 林 栄第 １ 図 第２図
を示すブロック図、第２図ａ −ｅは第１図の各手段よ
り発信される信号の波形図、第３図は本発明に係るレー
ザ、プリンタの路線配置図。 第４図は原点検出信号とレーザ、ビーム変調のタイミン
グチャート。 ２はシリコノホトセル、４は増巾器、６．はコン＾ パレータ、ｌＯは微分回路、１２は論理積回路、２０（
ル−ザ発振器、２２はポリゴノスキャナ。 ２４はレーザ光、２８は感光トラム、３０は原点検出装
置 特 許 出 願人 コバル電子株式会社代 理 人
弁理士 小 林 栄第 １ 図 第２図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、変調した光ビームを感光体上に走査して情報を記録
することを可能とする装置において、受光した光ビーム
のアナログ値のピークを検出する手段を具えた光走査の
原点検出装置。 ２、受光増巾したアナログ信号を微分する手段と、微分
された出力を二値化する手段と、前記アナログ信号を直
接二値化する手段と、前記二つの二値化信号を論理積す
る手段とを具えた特許請求の範囲第１項に記載の光走査
の原点検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60169253A JPS6230212A (ja) | 1985-07-31 | 1985-07-31 | 光走査の原点検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60169253A JPS6230212A (ja) | 1985-07-31 | 1985-07-31 | 光走査の原点検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6230212A true JPS6230212A (ja) | 1987-02-09 |
Family
ID=15883081
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60169253A Pending JPS6230212A (ja) | 1985-07-31 | 1985-07-31 | 光走査の原点検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6230212A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58142907A (ja) * | 1982-02-19 | 1983-08-25 | Kanebo Ltd | 粒状ないし粉末状の含窒素フエノ−ル・アルデヒド系共重合樹脂及びその製造法 |
| JPS63135319U (ja) * | 1987-02-25 | 1988-09-06 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5482248A (en) * | 1977-12-13 | 1979-06-30 | Ricoh Co Ltd | Beam detection circuit for laser recorder |
| JPS561012A (en) * | 1979-06-18 | 1981-01-08 | Ricoh Co Ltd | Detection of scanning light beam pass time |
-
1985
- 1985-07-31 JP JP60169253A patent/JPS6230212A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5482248A (en) * | 1977-12-13 | 1979-06-30 | Ricoh Co Ltd | Beam detection circuit for laser recorder |
| JPS561012A (en) * | 1979-06-18 | 1981-01-08 | Ricoh Co Ltd | Detection of scanning light beam pass time |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58142907A (ja) * | 1982-02-19 | 1983-08-25 | Kanebo Ltd | 粒状ないし粉末状の含窒素フエノ−ル・アルデヒド系共重合樹脂及びその製造法 |
| JPS6230213B2 (ja) * | 1982-02-19 | 1987-07-01 | Kanebo Ltd | |
| JPS63135319U (ja) * | 1987-02-25 | 1988-09-06 | ||
| JPH0434503Y2 (ja) * | 1987-02-25 | 1992-08-17 |
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