JPH0311351A - 感光性ネガ型樹脂組成物 - Google Patents
感光性ネガ型樹脂組成物Info
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- JPH0311351A JPH0311351A JP14528389A JP14528389A JPH0311351A JP H0311351 A JPH0311351 A JP H0311351A JP 14528389 A JP14528389 A JP 14528389A JP 14528389 A JP14528389 A JP 14528389A JP H0311351 A JPH0311351 A JP H0311351A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は.紫外線、遠紫外線、電子線、X線等の放射線
に感応するレジスト機能を有し、400nm以上の光に
対して透明なコーテイング材及び平滑用樹脂として用い
ることのできる感光性ネガ型樹脂組成物に関するもので
ある。
に感応するレジスト機能を有し、400nm以上の光に
対して透明なコーテイング材及び平滑用樹脂として用い
ることのできる感光性ネガ型樹脂組成物に関するもので
ある。
[従来の技術]
近年、撮像素子を使用したカラービデオカメラの普及に
伴い高画質撮像素その需要が高まりつつある.この固体
撮像素子には基本型としてCCD型とM O S ff
iがある.これらの素子を製造する時CCD或いはMO
Sチップ上にカラーフィルターを設ける必要がある.こ
のフィルターを設ける方法に以下の2つの方法がある.
即ち、 mccD或いはMOSチップ上へガラス板に形成したカ
ラーフィルターを貼り合わせる方法。
伴い高画質撮像素その需要が高まりつつある.この固体
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iがある.これらの素子を製造する時CCD或いはMO
Sチップ上にカラーフィルターを設ける必要がある.こ
のフィルターを設ける方法に以下の2つの方法がある.
即ち、 mccD或いはMOSチップ上へガラス板に形成したカ
ラーフィルターを貼り合わせる方法。
(貼り合わせ法)
(2)CCD或いはMOSチップ上に染色法でカラーフ
ィルター分直接形成し積み重ねる方法.(オンチップ法
) 貼り合わせ法はカラーフィルターとCCD或いはMOS
チップとの合わせ精度を2μm以下にする必要が有り、
高画質化への対応が困難である。
ィルター分直接形成し積み重ねる方法.(オンチップ法
) 貼り合わせ法はカラーフィルターとCCD或いはMOS
チップとの合わせ精度を2μm以下にする必要が有り、
高画質化への対応が困難である。
更に,貼り合わせ面に泡が残るとの問語か多々発生ずる
ため、歩留まりがそれほど向上しないという問題点を抱
えており,最近はオンチップ法へと移行しつつある。
ため、歩留まりがそれほど向上しないという問題点を抱
えており,最近はオンチップ法へと移行しつつある。
[発明が解決しようとする課題]
一方、オンチップ法は貼り合わせ法に比べて精度良く製
造出来るメリットはあるが,チップ上に積み重ねていく
ため段差が生じ均一な厚みのカラー層を作りにくいとの
問題点がある.従って,平坦化のため,カラー層とカラ
ー層とのインターミキシングを避けるために中間層を設
ける必要があり、ポリグリシジルメタクリレート(PG
MA)タイプ或いは変性PGMAタイプが代用されてい
る。これらの材料は可視光域で透明であり、加熱するこ
とにより溶剤不溶化を起こし,遠紫外光の照射でポジレ
ジストとじての特性を示すため、現在一般に保護膜、平
滑膜として使用されているが。
造出来るメリットはあるが,チップ上に積み重ねていく
ため段差が生じ均一な厚みのカラー層を作りにくいとの
問題点がある.従って,平坦化のため,カラー層とカラ
ー層とのインターミキシングを避けるために中間層を設
ける必要があり、ポリグリシジルメタクリレート(PG
MA)タイプ或いは変性PGMAタイプが代用されてい
る。これらの材料は可視光域で透明であり、加熱するこ
とにより溶剤不溶化を起こし,遠紫外光の照射でポジレ
ジストとじての特性を示すため、現在一般に保護膜、平
滑膜として使用されているが。
感度が悪い、耐ドライエツチング性も悪い、平滑性もそ
れほど良くない、更に露光部にレジストの現像残が発生
しやすいとの問題点を抱えている。
れほど良くない、更に露光部にレジストの現像残が発生
しやすいとの問題点を抱えている。
さらに、PGMAの側鎖にシンナモイル基と導入したタ
イプは遠紫外線に対して硬化し、同様に保護膜、平滑膜
に使用できるが、耐ドライエツチング性が悪い、また、
撮像素子の表皮の保護膜には、可視光域での透明性が高
く、高感度、高ドライエツチング耐性を有した材料が要
求されているが、いまだ満足のいく材料は見出だされて
いない。
イプは遠紫外線に対して硬化し、同様に保護膜、平滑膜
に使用できるが、耐ドライエツチング性が悪い、また、
撮像素子の表皮の保護膜には、可視光域での透明性が高
く、高感度、高ドライエツチング耐性を有した材料が要
求されているが、いまだ満足のいく材料は見出だされて
いない。
本発明の目的は上記した従来技術の問題点を克服し、可
視光域で透明で、耐ドライエツチング性を有し、高恐炭
かつ解像性に優れたレジスト8!能を有したコーテイン
グ材及び平滑用樹脂を提供することにある。
視光域で透明で、耐ドライエツチング性を有し、高恐炭
かつ解像性に優れたレジスト8!能を有したコーテイン
グ材及び平滑用樹脂を提供することにある。
[課題を解決するための手段]
本発明者らは、このような背景をもとに鋭意研究を重ね
た結果、ペースポリマーに芳香環を有したポリマーを用
い、その芳香環に不飽和基を持つf、−置I@基をつけ
、かつ添加剤を用いることにより1述の問題点を解決で
きることを見出だし本発明に到達した。
た結果、ペースポリマーに芳香環を有したポリマーを用
い、その芳香環に不飽和基を持つf、−置I@基をつけ
、かつ添加剤を用いることにより1述の問題点を解決で
きることを見出だし本発明に到達した。
即ち、該樹脂が下記(1)式においてRが不飽和二重結
合を含む基からなる構造単位を含有することを特徴とす
る樹脂と添加剤とからなるネガ型感光性樹脂組成物を提
供することにある。
合を含む基からなる構造単位を含有することを特徴とす
る樹脂と添加剤とからなるネガ型感光性樹脂組成物を提
供することにある。
C)(2−C−
(1)
(Aはベンゼン環及び、/又はナフタレン環、BはH,
C1〜4のアルキル基?示す、) 特に、下式(2)に示すように、不飽和二重結合かシン
ナモイル基、カルコン基あるいはシンナミリデン基を基
本とする骨格であり、添加剤を加んることを特徴とする
もグ)て゛ある。
C1〜4のアルキル基?示す、) 特に、下式(2)に示すように、不飽和二重結合かシン
ナモイル基、カルコン基あるいはシンナミリデン基を基
本とする骨格であり、添加剤を加んることを特徴とする
もグ)て゛ある。
(2)
A + A zI
R1R2
(A+、Aiはベンゼン環及び7′又はナフタレン環、
Bl、B2はH,C1〜4のアルキル基を示し、R1は 及び/又は 及び/又は ハロゲンを示す、m/ <m+n)=0.01〜及び/
又は / / / 基、ブトキシ基等を挙げることができる。
Bl、B2はH,C1〜4のアルキル基を示し、R1は 及び/又は 及び/又は ハロゲンを示す、m/ <m+n)=0.01〜及び/
又は / / / 基、ブトキシ基等を挙げることができる。
本発明における芳香環に不飽和基を有する樹脂の合成方
法には、特に限定はないが1例えば以下の方法で合成で
きる。
法には、特に限定はないが1例えば以下の方法で合成で
きる。
ハロゲノメチル化ポリスチレンあるいはハロゲノメチル
化スチレン、/スチレン共重合体と一般式%式%(4) ドのような非プロトン性格性la媒中にて、30〜10
(1℃で2〜20時間反応した後、メタノール/水中
にてポリマーを?A:屏させることによって得られる。
化スチレン、/スチレン共重合体と一般式%式%(4) ドのような非プロトン性格性la媒中にて、30〜10
(1℃で2〜20時間反応した後、メタノール/水中
にてポリマーを?A:屏させることによって得られる。
また、ポリスチレン及びX′又はポリα−メチルスチレ
ンと一般式(5)及び/又は(6)(XはH,C1〜C
4のアルキル基、シアノ基、ハロゲンを示し、YはH,
(1〜C4のアルキル基、C1〜C4のアルコキシ基、
ニトロ基、アミノ基を示す、MはN a 、 Kのアル
カリ金属塩、アンモニウム塩を示す、) (XはH,C1〜C4のアルキル基、シアノ基。
ンと一般式(5)及び/又は(6)(XはH,C1〜C
4のアルキル基、シアノ基、ハロゲンを示し、YはH,
(1〜C4のアルキル基、C1〜C4のアルコキシ基、
ニトロ基、アミノ基を示す、MはN a 、 Kのアル
カリ金属塩、アンモニウム塩を示す、) (XはH,C1〜C4のアルキル基、シアノ基。
ハロゲンを示し、YはH,C1〜C4のアルキル基、C
1〜C4のアルコキシ基、二l・四基、アミノ基を示す
、Zはハロゲンを示す、) とを二硫化炭素、ニトロベンゼン、クロロホルム等の溶
媒中にて塩化アルミニウム、塩化第二鉄等を触媒として
、フリーデルクラフッ反応を行うことによっても合成で
きる。
1〜C4のアルコキシ基、二l・四基、アミノ基を示す
、Zはハロゲンを示す、) とを二硫化炭素、ニトロベンゼン、クロロホルム等の溶
媒中にて塩化アルミニウム、塩化第二鉄等を触媒として
、フリーデルクラフッ反応を行うことによっても合成で
きる。
本発明における二重結合の導入率には特に限定はないが
、スチレンに対して1〜100mo1%、好ましくは5
〜50mo 1%の導入の場合、特性が優れている。ま
た、分子量に関しても、特に限定はないが、重量平均分
子量が5000〜1000000 (ポリスチレン換算
)が好ましい、さらに、反応の原料になるポリスチレン
、ポリα−メチルスチレン、ハロゲノメチル化ポリスチ
レンの重合方法は公知のラジカル重合、イオン重合の手
法によって得られる。特に、リビングアニオン重合によ
って、原料ポリマーを合成した場合には。
、スチレンに対して1〜100mo1%、好ましくは5
〜50mo 1%の導入の場合、特性が優れている。ま
た、分子量に関しても、特に限定はないが、重量平均分
子量が5000〜1000000 (ポリスチレン換算
)が好ましい、さらに、反応の原料になるポリスチレン
、ポリα−メチルスチレン、ハロゲノメチル化ポリスチ
レンの重合方法は公知のラジカル重合、イオン重合の手
法によって得られる。特に、リビングアニオン重合によ
って、原料ポリマーを合成した場合には。
本発明の最終生成物の特性が一段と向上する。
本発明の添加剤は本発明の樹脂と均一に溶解し。
紫外線、遠紫外線、1子線、X!IIFの放射線に対し
て感応し、400nm以上の可視光域で透明である必要
があり、例えば、ジメチルアニリン、〇ニトロジメチル
アニリン、m−ニトロジメチルアニリン、p−二トロジ
メナルアニリン、ビクラミド、2−クロロ−・4−ニト
ロジメチルアニリン、11−ジメチルアミノベンゾフェ
ノン、4.4テ1−ラメチルジアミノベンゾフェノン、
・1.4テトラエチルジアミノベンゾフエノン、2−ジ
メチルアミノ安居、香酸エチル、4〜ジメチルアミノ安
息香酸(n−ブトキシ)エチル、4−ジメチルアミノ安
息香酸イソアミル、4−ジメチルアミノ安息香酸2−エ
チルヘキシルのうち少なくとも1種以上に有しているこ
とが望ましい、また、上記の添加剤に増感剤等の他の添
加剤を加えてもよい0本添加剤の特徴は酸素HWの影響
が極めて小さいことにあり、酸素雰囲気での露光に適し
ている。特に、4−ジメチルアミノベンゾフェノン。
て感応し、400nm以上の可視光域で透明である必要
があり、例えば、ジメチルアニリン、〇ニトロジメチル
アニリン、m−ニトロジメチルアニリン、p−二トロジ
メナルアニリン、ビクラミド、2−クロロ−・4−ニト
ロジメチルアニリン、11−ジメチルアミノベンゾフェ
ノン、4.4テ1−ラメチルジアミノベンゾフェノン、
・1.4テトラエチルジアミノベンゾフエノン、2−ジ
メチルアミノ安居、香酸エチル、4〜ジメチルアミノ安
息香酸(n−ブトキシ)エチル、4−ジメチルアミノ安
息香酸イソアミル、4−ジメチルアミノ安息香酸2−エ
チルヘキシルのうち少なくとも1種以上に有しているこ
とが望ましい、また、上記の添加剤に増感剤等の他の添
加剤を加えてもよい0本添加剤の特徴は酸素HWの影響
が極めて小さいことにあり、酸素雰囲気での露光に適し
ている。特に、4−ジメチルアミノベンゾフェノン。
4.4゛−テトラメチlレジアミノベンゾフェノン゛。
4.4″−テトラエチルジアミノベンゾフェノンは、現
在露光装置の中で最も一般的に使用されている縮小投影
露光装置で露光する際に、極めて優れた効果を発揮する
。また、これらの添加剤とべ〉″シフエノンとの組み合
わせも非常に効果的な添加削である。添加剤の添加量は
特に限定はないが、400nm以上の可視光に対して透
明な範囲内で添加する必要があり、lff1’f100
fi量部に対して。
在露光装置の中で最も一般的に使用されている縮小投影
露光装置で露光する際に、極めて優れた効果を発揮する
。また、これらの添加剤とべ〉″シフエノンとの組み合
わせも非常に効果的な添加削である。添加剤の添加量は
特に限定はないが、400nm以上の可視光に対して透
明な範囲内で添加する必要があり、lff1’f100
fi量部に対して。
0.1〜30J11部が好ましい。
本発明の感光性ネガ型樹脂組成物は、樹脂及び添加剤を
固形分が5〜30重量部になるように適当な溶剤に溶解
して得られる。溶剤としては、例えば、エチレングリコ
ールモノアルキルエーテル及びそのアセテート項、プロ
ピレングリコールモノアルキルエーテル及びそのアセテ
ート票、ジエチレングリコールジアルキルエーテル類、
メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロ
ヘキサノン等のケトン類、酢酸エチル、酢酸ブチル等の
酢酸エステル類、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水
素類、ジメチルアセトアミド、ジメチルホルムアミド、
N−メチルピロリドン等が挙げられる。これらの溶剤は
単独あるいは2P1以上混合して用いることができる。
固形分が5〜30重量部になるように適当な溶剤に溶解
して得られる。溶剤としては、例えば、エチレングリコ
ールモノアルキルエーテル及びそのアセテート項、プロ
ピレングリコールモノアルキルエーテル及びそのアセテ
ート票、ジエチレングリコールジアルキルエーテル類、
メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロ
ヘキサノン等のケトン類、酢酸エチル、酢酸ブチル等の
酢酸エステル類、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水
素類、ジメチルアセトアミド、ジメチルホルムアミド、
N−メチルピロリドン等が挙げられる。これらの溶剤は
単独あるいは2P1以上混合して用いることができる。
また、必要に応じて、塗布性を改良するために、ノニオ
ン系、フッ素系、シリコン系等の界面活性剤を添加する
ことができる、さらに、ゼ・要があれば他の相溶性のあ
る添加物を配合することができる。
ン系、フッ素系、シリコン系等の界面活性剤を添加する
ことができる、さらに、ゼ・要があれば他の相溶性のあ
る添加物を配合することができる。
tr−mJ
本発明の芳香環に不飽和基を有する樹脂と添加剤とから
なる感光性ネガ型樹脂組成物は、可視光域で透明であり
、紫外線、遠紫外線、電子線、X線等によるレジストパ
ターン形成のために用いることができ、感度、解像度、
耐ドライエツチング性に優れている。特に、酸素障害の
影響が極めて小さく、縮小投影露光装置の露光に適して
いる。
なる感光性ネガ型樹脂組成物は、可視光域で透明であり
、紫外線、遠紫外線、電子線、X線等によるレジストパ
ターン形成のために用いることができ、感度、解像度、
耐ドライエツチング性に優れている。特に、酸素障害の
影響が極めて小さく、縮小投影露光装置の露光に適して
いる。
本発明の芳香環に不飽和基を有する樹脂と添加剤とから
なる感光性ネガ型FM脂組成物を用いて放射線照射によ
るレジストパターンを形成する際の使用法には格別の限
定はなく慣用の方法に従って行うことができる。
なる感光性ネガ型FM脂組成物を用いて放射線照射によ
るレジストパターンを形成する際の使用法には格別の限
定はなく慣用の方法に従って行うことができる。
1列えば1本発明の感光性ネガffi樹脂組成物は、芳
香環に不飽和基を有する樹脂と添加剤とを溶剤に溶解し
、0.2μmのフィルターで一過することにより調整さ
れる。感光性樹脂溶液をシリコンウェハー等の基板上あ
るいはシリコンウェハー上にハードベークした樹脂上に
スピンコードし、プしベークすることによって恐光性樹
FrM膜が得られる。その後、縮小投影露光装置、プロ
キシミテイーアライナー、ミラー10ジエクシヨン、電
子線露光装置等にて露光を行い、現像することによって
レジストパターンを形成できる。現像液としては、エチ
レングリコールモノアルキルエーテル及びそのアセテー
ト票、プロピレングリコールモノアルキルエーテル及び
そのアセテート顕5ジエチレングリコールジアルキルエ
ーテル類、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケト
ン、シクロヘキサノン等のケトン類、酢酸エチル、酢酸
ブチル算の酢酸エステル類、トルエン、キシレン等の芳
香族炭化水素類及びエタノール、イン10パノール等の
アルコール類の単独あるいは2種以上の混合溶媒を用い
ることができる。塗布、プレベーク、露光、現像等その
池の手法は常法に従うことができる。
香環に不飽和基を有する樹脂と添加剤とを溶剤に溶解し
、0.2μmのフィルターで一過することにより調整さ
れる。感光性樹脂溶液をシリコンウェハー等の基板上あ
るいはシリコンウェハー上にハードベークした樹脂上に
スピンコードし、プしベークすることによって恐光性樹
FrM膜が得られる。その後、縮小投影露光装置、プロ
キシミテイーアライナー、ミラー10ジエクシヨン、電
子線露光装置等にて露光を行い、現像することによって
レジストパターンを形成できる。現像液としては、エチ
レングリコールモノアルキルエーテル及びそのアセテー
ト票、プロピレングリコールモノアルキルエーテル及び
そのアセテート顕5ジエチレングリコールジアルキルエ
ーテル類、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケト
ン、シクロヘキサノン等のケトン類、酢酸エチル、酢酸
ブチル算の酢酸エステル類、トルエン、キシレン等の芳
香族炭化水素類及びエタノール、イン10パノール等の
アルコール類の単独あるいは2種以上の混合溶媒を用い
ることができる。塗布、プレベーク、露光、現像等その
池の手法は常法に従うことができる。
[実施Ml
以下、実施例により本発明を更に詳しく説明するが、本
発明はこれらに閘定されるものではない。
発明はこれらに閘定されるものではない。
合f友例1
1gの4ツロフラスコに、クロロメチル化ボリスナレン
(重量子均分−1t1.3X10’ 、分散度(重量平
均分子量/数平均分子量)=1.15、クロロメチル化
率45%>31.5g、クイ皮酸カリウム18.9g及
びジメチルスルホキシド500m1を仕込み、50℃に
て、10時間攪拌した0反応後、沈澱物をP別し、P液
を水/メタノール(1/1を量比)中に添加し、樹脂を
沈澱させ、−過、水洗を行った。その後、再度、樹脂を
テトラヒドロフランに溶解し、メタノール中に沈澱させ
、P通、洗浄、乾燥を行った。収量は35゜0gであっ
た。GPCによる分析を行うと、重量平均分子量は1.
6X10’ +分散度128であった。また、ゲル成分
に由来するピークは検出出来なかった0元素分析値はC
;84.8%。
(重量子均分−1t1.3X10’ 、分散度(重量平
均分子量/数平均分子量)=1.15、クロロメチル化
率45%>31.5g、クイ皮酸カリウム18.9g及
びジメチルスルホキシド500m1を仕込み、50℃に
て、10時間攪拌した0反応後、沈澱物をP別し、P液
を水/メタノール(1/1を量比)中に添加し、樹脂を
沈澱させ、−過、水洗を行った。その後、再度、樹脂を
テトラヒドロフランに溶解し、メタノール中に沈澱させ
、P通、洗浄、乾燥を行った。収量は35゜0gであっ
た。GPCによる分析を行うと、重量平均分子量は1.
6X10’ +分散度128であった。また、ゲル成分
に由来するピークは検出出来なかった0元素分析値はC
;84.8%。
H: 6 、69(C1; l 、 O%テアッfz。
合成例2
1pの4ツロフラスコに、20ロメチル化ポリスチレン
(重量平均分子量1.3X10ゝ、分散度(重置平均分
子1/数平均分tJi>=1.15゜クロロメチル化率
45%)31.5g、ケイ皮酸カリウム9.5g及びジ
メチルスルホキシド500 mlを仕込み、50℃にて
、6時間攪拌した。
(重量平均分子量1.3X10ゝ、分散度(重置平均分
子1/数平均分tJi>=1.15゜クロロメチル化率
45%)31.5g、ケイ皮酸カリウム9.5g及びジ
メチルスルホキシド500 mlを仕込み、50℃にて
、6時間攪拌した。
反応後、沈澱物をr別し、炉液を水/メタノール(1/
1重量比)中に添加し、樹脂を沈澱させ。
1重量比)中に添加し、樹脂を沈澱させ。
2通、水洗を行った。その後、再度、樹脂をテトラヒド
ロフランに溶解し、メタノール中に沈澱させ、濾過、洗
浄、乾燥を行った。収量は29.5gであった。GPC
による分析を行うと1重量平均分子量は1.5X10’
、分散度1.25であった。また、ゲル成分に由来す
るピークは検出出来なかった3元素分析値はC;83.
0%、H:5.9%、Cに6.0%であった 合成例3 19の4ツロフラスコに、クロロメチル化ポリスチレン
(重量平均分子量2.4X10’ 、分散度(重置平均
分子1/数平均分子量)=1.20、りU7 +コメチ
ル化率40%)31g、ケイ皮酸アンモニウム8.3g
及びジメチルスルホキシド500m1を仕込み、50℃
にて、6時m1攪拌した9反応後、沈澱物をP別し、炉
液と水/メタノール(i’1ffiJt比)中に添加し
、樹脂を沈澱させ、濾過、水洗を行った。その後、再度
、樹脂をテトラヒドロフランに溶解し、メタノール中に
沈澱させ、濾過、洗浄、乾燥を行った。収量は27.5
gであった。GPCによる分析を行うと、重量平均分子
量は2.7X]0’、分散度1,26であった。また、
ゲル成分に由来するピークは検出出来なかった0元素分
析値はC;83.8%、H16,7%、CJI ; 5
.4%であった。
ロフランに溶解し、メタノール中に沈澱させ、濾過、洗
浄、乾燥を行った。収量は29.5gであった。GPC
による分析を行うと1重量平均分子量は1.5X10’
、分散度1.25であった。また、ゲル成分に由来す
るピークは検出出来なかった3元素分析値はC;83.
0%、H:5.9%、Cに6.0%であった 合成例3 19の4ツロフラスコに、クロロメチル化ポリスチレン
(重量平均分子量2.4X10’ 、分散度(重置平均
分子1/数平均分子量)=1.20、りU7 +コメチ
ル化率40%)31g、ケイ皮酸アンモニウム8.3g
及びジメチルスルホキシド500m1を仕込み、50℃
にて、6時m1攪拌した9反応後、沈澱物をP別し、炉
液と水/メタノール(i’1ffiJt比)中に添加し
、樹脂を沈澱させ、濾過、水洗を行った。その後、再度
、樹脂をテトラヒドロフランに溶解し、メタノール中に
沈澱させ、濾過、洗浄、乾燥を行った。収量は27.5
gであった。GPCによる分析を行うと、重量平均分子
量は2.7X]0’、分散度1,26であった。また、
ゲル成分に由来するピークは検出出来なかった0元素分
析値はC;83.8%、H16,7%、CJI ; 5
.4%であった。
合成例4
19の4ツロフラスコに、クロロメチル化ポリスチレン
(重量平均分子量2.4X10’ 、分散度(重量平均
分子量/′数平均分子量)=120、クロロメチル化率
40%)31g、α−シアノゲイ皮酸アンモニウム9.
6g及びジメチルスルホキシド5 (10mlを仕込み
、50℃にて、6時間撹拌した0反応t★、沈澱物をF
別し、炉液を水/メタノール(1/1fflit比)中
に添加し、樹脂を沈澱させ、−過、水洗を行った。その
後、再度、樹脂とテトラヒドロフランに溶解し、メタノ
ール中に沈澱させ、2通、洗浄、乾燥を行った。収量は
29.0gであった。GPCによる分析を行うと、重量
平均分子量は2.8X10’ 、分散度1.30であっ
た。また、ゲル成分に由来するピークは検出出来なかっ
た0元素分析値はC;82.7%、H,6,4%、N:
1.7%、Cj:5.3%であった。
(重量平均分子量2.4X10’ 、分散度(重量平均
分子量/′数平均分子量)=120、クロロメチル化率
40%)31g、α−シアノゲイ皮酸アンモニウム9.
6g及びジメチルスルホキシド5 (10mlを仕込み
、50℃にて、6時間撹拌した0反応t★、沈澱物をF
別し、炉液を水/メタノール(1/1fflit比)中
に添加し、樹脂を沈澱させ、−過、水洗を行った。その
後、再度、樹脂とテトラヒドロフランに溶解し、メタノ
ール中に沈澱させ、2通、洗浄、乾燥を行った。収量は
29.0gであった。GPCによる分析を行うと、重量
平均分子量は2.8X10’ 、分散度1.30であっ
た。また、ゲル成分に由来するピークは検出出来なかっ
た0元素分析値はC;82.7%、H,6,4%、N:
1.7%、Cj:5.3%であった。
合成例5
500mlの4ツロフラスコに、ポリスチレン(重量平
均分子量9.6X10’ 、分散度(重量平均分子量/
数平均分子量)=1.06>20g、ケイ皮酸クロライ
ド10.Og、塩化アルミニウム8.0g及び二硫化炭
素300m1を仕込み、15℃にて、200時間撹拌た
0反応後、溶液を水/メタノール(1/1重量比)中に
添加し、樹脂を沈澱させ、−過、水洗を行った。そのt
&、樹脂?う一トうしドロフランに溶解し、メタノール
中に沈E(i容M/再沈を2度繰り返す)させ、QjJ
過。
均分子量9.6X10’ 、分散度(重量平均分子量/
数平均分子量)=1.06>20g、ケイ皮酸クロライ
ド10.Og、塩化アルミニウム8.0g及び二硫化炭
素300m1を仕込み、15℃にて、200時間撹拌た
0反応後、溶液を水/メタノール(1/1重量比)中に
添加し、樹脂を沈澱させ、−過、水洗を行った。そのt
&、樹脂?う一トうしドロフランに溶解し、メタノール
中に沈E(i容M/再沈を2度繰り返す)させ、QjJ
過。
洗浄、乾燥を行った。収量は20 、5 gであった、
G P Cによる分析を行うと、重量平均分子量は1l
XIO’−分散度1.20であった。また、ゲル成分に
由来するピークは検出出来なかった3元素分析暁はC:
91.8%、H,7,5%であった。
G P Cによる分析を行うと、重量平均分子量は1l
XIO’−分散度1.20であった。また、ゲル成分に
由来するピークは検出出来なかった3元素分析暁はC:
91.8%、H,7,5%であった。
合成fM6
300mlの4ツロフラスコに、常法に従い合成したク
ロロメチル化ポリビニル−1−ナフタレン〈重量平均分
子量1.5:<10’、分散度(V量子゛均分子量7/
数乎均分子量>=1.25、クロロメチル化率40%)
5.0g、ケイ皮酸カリウム2.1g及びジメチルスル
ホキシド100n+lを(1込み、50℃ニテ、6時r
:1fIiL拌した0反応後、沈澱物をP別し、炉液を
水/メタノール(1/ 1重量比)中に添加し、樹脂を
沈澱させ、濾過、水洗を行った。その後、再度、樹脂を
テトラヒドロフランに溶解し、メタノール中に沈澱させ
、−過、洗浄、乾燥を行った。収量は4.7gであった
。
ロロメチル化ポリビニル−1−ナフタレン〈重量平均分
子量1.5:<10’、分散度(V量子゛均分子量7/
数乎均分子量>=1.25、クロロメチル化率40%)
5.0g、ケイ皮酸カリウム2.1g及びジメチルスル
ホキシド100n+lを(1込み、50℃ニテ、6時r
:1fIiL拌した0反応後、沈澱物をP別し、炉液を
水/メタノール(1/ 1重量比)中に添加し、樹脂を
沈澱させ、濾過、水洗を行った。その後、再度、樹脂を
テトラヒドロフランに溶解し、メタノール中に沈澱させ
、−過、洗浄、乾燥を行った。収量は4.7gであった
。
GPCによる分析を行うと、重量平均分子量は1.8X
lO%、分散度1.28であった。また、ゲル成分に由
来するピークは検出出来なかった。
lO%、分散度1.28であった。また、ゲル成分に由
来するピークは検出出来なかった。
元素分析値はC,87,7%、H,6,0%。
Cj:1.2%であった。
実施例1
合成例1で得られた樹脂3.0gと4.=4−テトラエ
チルジアミノベンゾフェノン0.09gとをキシレン2
0gに溶解し、0.2μrnのミクロフィルターにて一
過を行い、感光性樹脂溶液とした。この感光性樹脂溶液
を用いてスピナーで4インチウェファ−上に塗布し、8
0℃、25分間循環恒温槽にてプリベークを行い1.0
μmM厚のレジスト膜を得た1次に5対1itai小投
影露光装置(N、A、=0.42>を用いて、レチクル
を通して露光した。現像液として、酢酸イソアミルを用
いて、25℃、1分閏振とう現像を行った。
チルジアミノベンゾフェノン0.09gとをキシレン2
0gに溶解し、0.2μrnのミクロフィルターにて一
過を行い、感光性樹脂溶液とした。この感光性樹脂溶液
を用いてスピナーで4インチウェファ−上に塗布し、8
0℃、25分間循環恒温槽にてプリベークを行い1.0
μmM厚のレジスト膜を得た1次に5対1itai小投
影露光装置(N、A、=0.42>を用いて、レチクル
を通して露光した。現像液として、酢酸イソアミルを用
いて、25℃、1分閏振とう現像を行った。
3.0μmライン/′スペースを1対1に現像する露光
量はL 20 +n J / c m ”であった、ま
た。
量はL 20 +n J / c m ”であった、ま
た。
解像度は1.’3itrロライン、′スペースまで解は
できた。
できた。
また、1μm1llで、塗布、ベータ、露光後の400
nmにおける透過率は95.0%であった。
nmにおける透過率は95.0%であった。
さらに、ドライエツチング装置DEM−’451型(日
電アネルバ社製)を用いてCF、ガスによる反応性スパ
ッタリングに対するドライエツチング耐性試験を行った
ところ、エツチング速度601) A / m i n
、であった、比較として、タロロメチル化ポリスチレ
ンについて5同様の試験を行ったところ、そのエツチン
グ速度は550A/min、であった。
電アネルバ社製)を用いてCF、ガスによる反応性スパ
ッタリングに対するドライエツチング耐性試験を行った
ところ、エツチング速度601) A / m i n
、であった、比較として、タロロメチル化ポリスチレ
ンについて5同様の試験を行ったところ、そのエツチン
グ速度は550A/min、であった。
実施例2
合成fN 2 テf%られた樹脂3.0gと4.4 ’
テトラメチルジアミノベンゾフェノン0.09gととキ
シレン20gに溶解し、0.2μmのミクロフィルター
にて濾過を行い、感光性樹脂溶液とした。実施例1に従
い、レジスト機能評価を行ったところ、3.0μmライ
ン/スペースを1対1に″現像する露光量は160 m
J / c m ”であった。
テトラメチルジアミノベンゾフェノン0.09gととキ
シレン20gに溶解し、0.2μmのミクロフィルター
にて濾過を行い、感光性樹脂溶液とした。実施例1に従
い、レジスト機能評価を行ったところ、3.0μmライ
ン/スペースを1対1に″現像する露光量は160 m
J / c m ”であった。
また、解像度は1.5μmライン7/スペースまで解像
できた。
できた。
実施例3
合成例3で得られた樹脂3、Og、4゜4テトラメチル
ジアミノベンゾフエノン0.09g、ベンゾフェノン0
.09gをキシレン25gに溶解し、02μmのミクロ
フィルターにて濾過を行い、感光性樹脂溶液とした。実
施例1に従い、レジスト機能評価を行ったところ、3.
0μmライン/スペースを1対1に現像する露光量は1
00mJ/cmズであった。また、解像度は2.0μm
ライン/スペースまで解像できた。
ジアミノベンゾフエノン0.09g、ベンゾフェノン0
.09gをキシレン25gに溶解し、02μmのミクロ
フィルターにて濾過を行い、感光性樹脂溶液とした。実
施例1に従い、レジスト機能評価を行ったところ、3.
0μmライン/スペースを1対1に現像する露光量は1
00mJ/cmズであった。また、解像度は2.0μm
ライン/スペースまで解像できた。
実施例4
合成例4で得られた樹脂3.Ogと4.4゛テトラメチ
ルジアミノベンゾフエノン0.05gとをキシレン20
gに溶解し、0.2μrnのミクロフィルターにて1通
を行い、感光性樹脂溶液とした。実施例1に従い、レジ
スト機能評価を行ったところ、3.0μmライン/スペ
ースを1対1に現像する露光量は100 m 、1 、
/ c m 2であった。
ルジアミノベンゾフエノン0.05gとをキシレン20
gに溶解し、0.2μrnのミクロフィルターにて1通
を行い、感光性樹脂溶液とした。実施例1に従い、レジ
スト機能評価を行ったところ、3.0μmライン/スペ
ースを1対1に現像する露光量は100 m 、1 、
/ c m 2であった。
また、解像度は20μmライン/′スペースまで解1笈
できた。
できた。
実施例5
合成fM5r得らレタ樹脂3.0g、4.4 ’テトラ
エチルジアミノベンゾフェノン0.09g。
エチルジアミノベンゾフェノン0.09g。
ベンゾフェノン009gをキシレン20 gに溶解し、
0.2μmのミクロフィルターにて一過を行い、感光性
樹脂溶液とした。実施例1に従い、レジスト機能評価と
行ったところ、3.0μmライン/スペースを1対1に
現像する露光量は200 +n J / c m 2で
あった。また、解像度は2.0μnlライン/スペース
まで解像できた。
0.2μmのミクロフィルターにて一過を行い、感光性
樹脂溶液とした。実施例1に従い、レジスト機能評価と
行ったところ、3.0μmライン/スペースを1対1に
現像する露光量は200 +n J / c m 2で
あった。また、解像度は2.0μnlライン/スペース
まで解像できた。
実施例6
合成例6で得られた樹脂3.Ogと4,4゛テトラメチ
ルジアミノベンゾフヱノン0.09gとごキシレン20
gに溶解し、0.2μr1のミクロフィルターにて濾過
を行い、感光性樹脂溶液としな、実施例1に従い、レジ
スト機能評価を行ったところ、3.0μmライン/スペ
ースを1対1に現像する露光量は140 m J /’
c m 2で46つな。
ルジアミノベンゾフヱノン0.09gとごキシレン20
gに溶解し、0.2μr1のミクロフィルターにて濾過
を行い、感光性樹脂溶液としな、実施例1に従い、レジ
スト機能評価を行ったところ、3.0μmライン/スペ
ースを1対1に現像する露光量は140 m J /’
c m 2で46つな。
また、解像度は2.011+nライン2′スペースまで
解像できた。
解像できた。
[発明の効果]
本発明の芳香環に不飽和基を有する樹脂と添加剤とから
なる感光性ネガ型樹脂組成物は、可視光域で透明で、露
光時の酸累障害の影響が極めて小さく7mドライエツチ
ング性を有し、高感度かつ解像性に優れたレジストl1
i1能を有するため、固体撮像素子及び半導体気積回路
素子等に使用されるコーテイング材及び平滑用樹脂とし
て好適である。
なる感光性ネガ型樹脂組成物は、可視光域で透明で、露
光時の酸累障害の影響が極めて小さく7mドライエツチ
ング性を有し、高感度かつ解像性に優れたレジストl1
i1能を有するため、固体撮像素子及び半導体気積回路
素子等に使用されるコーテイング材及び平滑用樹脂とし
て好適である。
Claims (5)
- (1)ポリマーと添加剤とからなる感光性ネガ型樹脂組
成物において該ポリマーが下記〔1〕式においてRが不
飽和二重結合を含む基からなる構造単位を含有すること
を特徴とする感光性ネガ型樹脂組成物。 ▲数式、化学式、表等があります▼〔1〕 (Aはベンゼン環及び/又はナフタレン環、BはH、C
1〜4のアルキル基を示す。) - (2)請求項1記載の該ポリマーが下記〔2〕式に示さ
れろ不飽和二重結合からなる構造単位を含有することを
特徴とする感光性ネガ型樹脂組成物。 ▲数式、化学式、表等があります▼〔2〕 (A_1、A_2はベンゼン環及び/又はナフタレン環
、B_1、B_2はH、C1〜4のアルキル基を示し、
R_1は ▲数式、化学式、表等があります▼ 及び/又は ▲数式、化学式、表等があります▼ 及び/又は ▲数式、化学式、表等があります▼ 及び/又は ▲数式、化学式、表等があります▼ を、R_2はH、CH_2Zを示す、XはH、C1〜C
4のアルキル基、シアノ基、ハロゲンを示し、YはH、
C1〜C4のアルキル基、C1〜C4のアルコキシ基、
ニトロ基、アミノ基を示し、zはハロゲンを示す、m/
(m+n)=0.01〜1.0である。) - (3)添加剤が下記に示される化合物を少なくとも1種
以上含むことを特徴とする請求項1記載の感光性ネガ型
樹脂組成物。 ジメチルアニリン、o−ニトロジメチルアニリン、m−
ニトロジメチルアニリン、p−ニトロジメチルアニリン
、ピクラミド、2−クロロ−4−ニトロジメチルアニリ
ン、4−ジメチルアミノベンゾフェノン、4、4′−テ
トラメチルジアミノベンゾフェノン、4、4′−テトラ
エチルジアミノベンゾフェノン、2−ジメチルアミノ安
息香酸エチル、4−ジメチルアミノ安息香酸(n−ブト
キシ)エチル、4−ジメチルアミノ安息香酸イソアミル
、4−ジメチルアミノ安息香酸2−エチルヘキシル。 - (4)添加剤が4−ジメチルアミノベンゾフェノン及び
、/又は4、4′−テトラメチルジアミノベンゾフェノ
ン及び/又は4、4′−テトラエチルジアミノベンゾフ
ェノンであることを特徴とする請求項1記載の感光性ネ
ガ型樹脂組成物。 - (5)添加剤が4−ジメチルアミノベンゾフェノン及び
/又は4、4′−テトラメチルジアミノベンゾフェノン
及び/又は4、4′−テトラエチルジアミノベンゾフェ
ノンとベンゾフェノンとの組み合わせからなることを特
徴とする請求項1記載の感光性ネガ型樹脂組成物。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14528389A JPH0311351A (ja) | 1989-06-09 | 1989-06-09 | 感光性ネガ型樹脂組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14528389A JPH0311351A (ja) | 1989-06-09 | 1989-06-09 | 感光性ネガ型樹脂組成物 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0311351A true JPH0311351A (ja) | 1991-01-18 |
Family
ID=15381560
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14528389A Pending JPH0311351A (ja) | 1989-06-09 | 1989-06-09 | 感光性ネガ型樹脂組成物 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0311351A (ja) |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4915501A (ja) * | 1972-06-02 | 1974-02-12 | ||
JPS4946396A (ja) * | 1972-09-05 | 1974-05-02 | ||
JPS49107710A (ja) * | 1973-02-17 | 1974-10-14 | ||
JPS54135525A (en) * | 1978-04-12 | 1979-10-20 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | Photosensitive material |
JPS56122028A (en) * | 1980-02-29 | 1981-09-25 | Daicel Chem Ind Ltd | Alkali-soluble photosensitive resin composition |
JPH01105944A (ja) * | 1987-08-20 | 1989-04-24 | Eastman Kodak Co | 写真要素と画造形成可能な媒染組成物 |
JPH01263646A (ja) * | 1988-04-15 | 1989-10-20 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 新規無電解メツキ用光硬化性組成物 |
-
1989
- 1989-06-09 JP JP14528389A patent/JPH0311351A/ja active Pending
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4915501A (ja) * | 1972-06-02 | 1974-02-12 | ||
JPS4946396A (ja) * | 1972-09-05 | 1974-05-02 | ||
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JPS54135525A (en) * | 1978-04-12 | 1979-10-20 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | Photosensitive material |
JPS56122028A (en) * | 1980-02-29 | 1981-09-25 | Daicel Chem Ind Ltd | Alkali-soluble photosensitive resin composition |
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JPH01263646A (ja) * | 1988-04-15 | 1989-10-20 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 新規無電解メツキ用光硬化性組成物 |
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