JPH0298662A - イオンの抽出および分析装置 - Google Patents
イオンの抽出および分析装置Info
- Publication number
- JPH0298662A JPH0298662A JP63249860A JP24986088A JPH0298662A JP H0298662 A JPH0298662 A JP H0298662A JP 63249860 A JP63249860 A JP 63249860A JP 24986088 A JP24986088 A JP 24986088A JP H0298662 A JPH0298662 A JP H0298662A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- ions
- gas
- liquid
- needle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims abstract description 108
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims abstract description 62
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims abstract description 49
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims abstract description 17
- 239000003480 eluent Substances 0.000 claims description 7
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 5
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 abstract description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 24
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 13
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 8
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 3
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 3
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 description 2
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000005350 fused silica glass Substances 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 2
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 2
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 2
- 241000219492 Quercus Species 0.000 description 1
- 150000001413 amino acids Chemical class 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000005868 electrolysis reaction Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000003595 mist Substances 0.000 description 1
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 1
- GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N neon atom Chemical compound [Ne] GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 102000039446 nucleic acids Human genes 0.000 description 1
- 108020004707 nucleic acids Proteins 0.000 description 1
- 150000007523 nucleic acids Chemical class 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- 102000004169 proteins and genes Human genes 0.000 description 1
- 239000012488 sample solution Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 1
- 238000005979 thermal decomposition reaction Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
- H01J49/16—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
- H01J49/165—Electrospray ionisation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N30/62—Detectors specially adapted therefor
- G01N30/72—Mass spectrometers
- G01N30/7233—Mass spectrometers interfaced to liquid or supercritical fluid chromatograph
- G01N30/724—Nebulising, aerosol formation or ionisation
- G01N30/7266—Nebulising, aerosol formation or ionisation by electric field, e.g. electrospray
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
- H01J49/0431—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for liquid samples
- H01J49/0445—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for liquid samples with means for introducing as a spray, a jet or an aerosol
- H01J49/045—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for liquid samples with means for introducing as a spray, a jet or an aerosol with means for using a nebulising gas, i.e. pneumatically assisted
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N30/62—Detectors specially adapted therefor
- G01N30/72—Mass spectrometers
- G01N30/7233—Mass spectrometers interfaced to liquid or supercritical fluid chromatograph
- G01N30/724—Nebulising, aerosol formation or ionisation
- G01N30/7246—Nebulising, aerosol formation or ionisation by pneumatic means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N30/62—Detectors specially adapted therefor
- G01N30/72—Mass spectrometers
- G01N30/7293—Velocity or momentum separators
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はイオンの抽出および分析装置、特に分離カラム
からの流出液中のイオンを抽出および分析するのに適し
た装置に関する。
からの流出液中のイオンを抽出および分析するのに適し
た装置に関する。
高電圧を印加した細い管からイオンを含む液体を流出さ
せると、液体が円錐状になり、その先端から帯電した液
滴が指向性よく噴出される。このように液体中のイオン
が液滴として電界により液体から引出され、噴霧される
現象はＥ ＨＤ（Ｅｌｅｃｔｒｏｈｙｄｒｏ ｄｙｎａ
ｍｉｃ Ｉｏｎｉｚａｔｉｏｎ）として知られている。
せると、液体が円錐状になり、その先端から帯電した液
滴が指向性よく噴出される。このように液体中のイオン
が液滴として電界により液体から引出され、噴霧される
現象はＥ ＨＤ（Ｅｌｅｃｔｒｏｈｙｄｒｏ ｄｙｎａ
ｍｉｃ Ｉｏｎｉｚａｔｉｏｎ）として知られている。
これによれば５噴霧に際して液体を特に加熱する必要が
ないため、たん白を構成するアミノ酸や遺伝子を構成す
る核酸などのような極性分子として知られる熱的に不安
定な物質でも熱分解を起すことがない。
ないため、たん白を構成するアミノ酸や遺伝子を構成す
る核酸などのような極性分子として知られる熱的に不安
定な物質でも熱分解を起すことがない。
この技術の場合、数μＱ／ｗｉｎ程度の液体の噴霧が可
能である。しかし、この技術を液体クロマトグラフの分
離カラムから出てくる流出液中のイオンの質量分析を行
うためのイオン抽出装置として採用するには許容最大流
量が少なすぎる。したがって、セミミクロカラム（〜１
００ ｍ Ｑ ／！１ｉｎ）やバツクドカラム（１００
μＱ／ｌ１ｌｊｎ〜）のためには流出液を１． ／ １
００とかｌ／１０００にスプリツ］・することが必要と
なる。しかし、そのようなスプリットは容易ではなく、
またシステム全体の感度を著しくそこねることになる。
能である。しかし、この技術を液体クロマトグラフの分
離カラムから出てくる流出液中のイオンの質量分析を行
うためのイオン抽出装置として採用するには許容最大流
量が少なすぎる。したがって、セミミクロカラム（〜１
００ ｍ Ｑ ／！１ｉｎ）やバツクドカラム（１００
μＱ／ｌ１ｌｊｎ〜）のためには流出液を１． ／ １
００とかｌ／１０００にスプリツ］・することが必要と
なる。しかし、そのようなスプリットは容易ではなく、
またシステム全体の感度を著しくそこねることになる。
以とのＥ Ｔ−（Ｄイオン化の改良案が提案されている
。それはアナリテイカル・ケミストリー、第５９巻第２
２号、１９８７年１１月１５日、第２６４２−２６４６
頁（Ａｎａｌｙｔｉｃａｌ Ｃｈｅｍｉｓｔｒｙ。
。それはアナリテイカル・ケミストリー、第５９巻第２
２号、１９８７年１１月１５日、第２６４２−２６４６
頁（Ａｎａｌｙｔｉｃａｌ Ｃｈｅｍｉｓｔｒｙ。
ＶＯＱ、５９． Ｎ（１２２，Ｎｏｖｅｍｂｅｒｌ ５
． Ｌ ９８７゜ｐＰ２６４２〜２６４−６ ）に記
載されている。
． Ｌ ９８７゜ｐＰ２６４２〜２６４−６ ）に記
載されている。
これによれば、内径５０μｍの溶融石英製キャピラリー
が内径０．２ｍ のステンレス製キャピラリーに挿入さ
れる。これは更に内径０．８ｍのテフロン製チューブに
挿入される。ステンレス製キャピラリーとテフロン製チ
ューブの間には２．５気圧、２１６ｍ／ｓｅｅの乾燥窒
素が流される。ステンレス製キャピラリーには３ＫＶ、
これと対向する？１！極には６００■の電圧が印加され
る。これにより、溶融石英製キャピラリーに数１０μＱ
／ｓｉｎの液体を流すとそのキャピラリーから煙のよう
な微小粒子の霧が発生すると報告されている８〔発明が
解決しようとする課題〕 この技術では窒素ガスは液体円錐の安定化と。
が内径０．２ｍ のステンレス製キャピラリーに挿入さ
れる。これは更に内径０．８ｍのテフロン製チューブに
挿入される。ステンレス製キャピラリーとテフロン製チ
ューブの間には２．５気圧、２１６ｍ／ｓｅｅの乾燥窒
素が流される。ステンレス製キャピラリーには３ＫＶ、
これと対向する？１！極には６００■の電圧が印加され
る。これにより、溶融石英製キャピラリーに数１０μＱ
／ｓｉｎの液体を流すとそのキャピラリーから煙のよう
な微小粒子の霧が発生すると報告されている８〔発明が
解決しようとする課題〕 この技術では窒素ガスは液体円錐の安定化と。
液滴との衝突による液滴の微細化とに寄与していると考
えられ、これが流量増加の主要な原因になっていると考
えられる。
えられ、これが流量増加の主要な原因になっていると考
えられる。
しかし、実験によれば、この技術によっても１００μＱ
／ｓｉｎ以上の流量の液体を安定に噴霧し、イオン抽出
することは困難であった。このため、この技術は液体ク
ロマトグラフでもつともよく用いられるバツクドカラム
（１００μΩ／ｗｉｎ〜）用としてはなお不十分である
。
／ｓｉｎ以上の流量の液体を安定に噴霧し、イオン抽出
することは困難であった。このため、この技術は液体ク
ロマトグラフでもつともよく用いられるバツクドカラム
（１００μΩ／ｗｉｎ〜）用としてはなお不十分である
。
本発明の目的はイオンの抽出を効果的に行うことができ
るイオンの抽出および分析装置を提供することにある。
るイオンの抽出および分析装置を提供することにある。
本発明のイオン抽出装置は電極と、この電極の表面にイ
オンを含む液体を導く手段と、その液体を前記Ｎ、極と
の間にはさむ形で移動させるようにガスを供給する手段
と、前記イオンの抽出用電界を発生させる手段とを備え
ている。
オンを含む液体を導く手段と、その液体を前記Ｎ、極と
の間にはさむ形で移動させるようにガスを供給する手段
と、前記イオンの抽出用電界を発生させる手段とを備え
ている。
本発明のイオン分析装置は５その表面にイオンを含む液
体が導かれる電極と、その液体を前記電極との間にはさ
む形で移動させるようにガスを供給する手段と、前記イ
オンを抽出させるように電界を発生させる手段と、その
抽出されたイオンを検出する手段とを備えている。
体が導かれる電極と、その液体を前記電極との間にはさ
む形で移動させるようにガスを供給する手段と、前記イ
オンを抽出させるように電界を発生させる手段と、その
抽出されたイオンを検出する手段とを備えている。
電極表面に導かれるイオンを含む液体はガスによってこ
のガスと電極との間にはさまれる形で移動され、その中
のイオンはイオン抽出用の電界によって、微小液滴の形
で空間に飛び出し、更にその微小液滴からその液体表面
層をつき破って抽出される。
のガスと電極との間にはさまれる形で移動され、その中
のイオンはイオン抽出用の電界によって、微小液滴の形
で空間に飛び出し、更にその微小液滴からその液体表面
層をつき破って抽出される。
液体はガスによりそのガスと電極との間にはさまれる形
で移動されることから、液体のガスによる気化が促進さ
れる。また、液体のガスと接触する表面の移動速度は電
極と接触する表面の移動速度よりも大となるので、ガス
と接触する液体表面でのその液体の飛沫化が行われ、液
滴の発生が促進される。
で移動されることから、液体のガスによる気化が促進さ
れる。また、液体のガスと接触する表面の移動速度は電
極と接触する表面の移動速度よりも大となるので、ガス
と接触する液体表面でのその液体の飛沫化が行われ、液
滴の発生が促進される。
このように、ガスによる液体の気化の促進と液体の両表
面間の移動速度差による液体の飛沫化。
面間の移動速度差による液体の飛沫化。
液滴化の促進とによってイオンの抽出が効果的に行われ
るようになる。
るようになる。
また、イオン抽出用電界形成のために電極に電圧を印加
する場合は、ガスと接触する液体表面層には電極と同極
性のイオン、つまり抽出されるべきイオンが、電極と接
触する液体表面層には反対の電荷が集まる傾向が強くな
る。このため、生じた液滴にはイオンが多く含まれるよ
うになり、イオン相互間のクーロン反発と相まってイオ
ンの気化、すなわちイオンの抽出がより一層促進される
。
する場合は、ガスと接触する液体表面層には電極と同極
性のイオン、つまり抽出されるべきイオンが、電極と接
触する液体表面層には反対の電荷が集まる傾向が強くな
る。このため、生じた液滴にはイオンが多く含まれるよ
うになり、イオン相互間のクーロン反発と相まってイオ
ンの気化、すなわちイオンの抽出がより一層促進される
。
第１図を参照するに、溶離液貯槽１に貯えられている溶
離液はポンプ２によりダンパー３、試料注入口４を経て
分離用カラム５へ送られる。ダンパー３はポンプ２によ
る溶離液の脈流を抑制するために用いられるものである
。
離液はポンプ２によりダンパー３、試料注入口４を経て
分離用カラム５へ送られる。ダンパー３はポンプ２によ
る溶離液の脈流を抑制するために用いられるものである
。
試料は試料注入口４からカラム５に添加すなわち注入さ
れ、溶離液でカラム５を通して送られる過程で分離され
る。カラム５からの流出液はイオン抽出装置６′に送ら
れる。
れ、溶離液でカラム５を通して送られる過程で分離され
る。カラム５からの流出液はイオン抽出装置６′に送ら
れる。
イオン抽出装置６′のノズル部６はナツト６ａにより装
置壁６ｂに取りつけられており、その詳細は第２図（ａ
）、（ｂ）および（Ｑ）に示されている。同図を参照す
るに、線状すなわち針状型ｗＡ１６はティー１７および
１８を貫通し、かつナツト１７ａによりティー１７に気
密シール１７ｂを介して取りつけられている。針状電極
１６は電気分解を防ぐためＰｔ、Ａｕ、Ｃなどの安定な
材料でつくられることが望ましい。針状電極１６の一端
には絶縁つまみ１５が取りつけられ、他端は尖っている
。針状電極１６の周りには第１の管１９が配置され、該
第１の管はナラｈ １７ ｃおよび１８ａによりティー
１７および１８に気密シール１７ｄおよび１８ｂを介し
て取りつけられている。第１の管１９の周りには第２の
管２ｏが配置され、該第２の管はナツト１８ｃによりテ
ィー１８に気密シール１８ｄを介して取りつけられてい
る。ティー１７には針状電極１６と第１の管１９との間
の隙間に通じる管１７ｅがナツト１７１′により気密シ
ール１７ｇを介して取りつけられ。
置壁６ｂに取りつけられており、その詳細は第２図（ａ
）、（ｂ）および（Ｑ）に示されている。同図を参照す
るに、線状すなわち針状型ｗＡ１６はティー１７および
１８を貫通し、かつナツト１７ａによりティー１７に気
密シール１７ｂを介して取りつけられている。針状電極
１６は電気分解を防ぐためＰｔ、Ａｕ、Ｃなどの安定な
材料でつくられることが望ましい。針状電極１６の一端
には絶縁つまみ１５が取りつけられ、他端は尖っている
。針状電極１６の周りには第１の管１９が配置され、該
第１の管はナラｈ １７ ｃおよび１８ａによりティー
１７および１８に気密シール１７ｄおよび１８ｂを介し
て取りつけられている。第１の管１９の周りには第２の
管２ｏが配置され、該第２の管はナツト１８ｃによりテ
ィー１８に気密シール１８ｄを介して取りつけられてい
る。ティー１７には針状電極１６と第１の管１９との間
の隙間に通じる管１７ｅがナツト１７１′により気密シ
ール１７ｇを介して取りつけられ。
管１７ｅはカラム５の下端に接続される。ティー１８に
は第１の管１９と第２の管２０との間の隙間に通じる管
１８ｅがナツト１８ｆにより気密シール１８ｇを介して
取りつけられ、管１８ｅはガス源３０に接続されている
。針状電極１６には電ｇ７によって高電圧が印加される
ようになっており、また線状電極１６の先端は第１およ
び第２の管］９および２０の先端面から突出していて、
この突出量（長さ）はナツト１７ａをゆるめて針状？！
！極１６を進退させることにより調節することができる
。
は第１の管１９と第２の管２０との間の隙間に通じる管
１８ｅがナツト１８ｆにより気密シール１８ｇを介して
取りつけられ、管１８ｅはガス源３０に接続されている
。針状電極１６には電ｇ７によって高電圧が印加される
ようになっており、また線状電極１６の先端は第１およ
び第２の管］９および２０の先端面から突出していて、
この突出量（長さ）はナツト１７ａをゆるめて針状？！
！極１６を進退させることにより調節することができる
。
イオン抽出装置６′に送られてくるカラム５からの流出
液は管１７ｅを通って針状電極１６と第１の管１９との
間の隙間に導びかれる。流出液は針状電極１９と第１の
管１９との間の隙間を通った後、ガス供給装置３０から
管１８ｅ、第１および第２の管１９および２００間の隙
間を通って供給される試料送りガスとの接触下にさらさ
れながらその試料送りガスによって針状電極１６の先端
へと送り込まれる。ガス供給装置３０はガス供給量を調
節し得るようになっている。試料送りガスとしてはアル
ゴンやネオンのような不活性ガス、あるいは窒素やは素
のようなガスが用いられ得る。
液は管１７ｅを通って針状電極１６と第１の管１９との
間の隙間に導びかれる。流出液は針状電極１９と第１の
管１９との間の隙間を通った後、ガス供給装置３０から
管１８ｅ、第１および第２の管１９および２００間の隙
間を通って供給される試料送りガスとの接触下にさらさ
れながらその試料送りガスによって針状電極１６の先端
へと送り込まれる。ガス供給装置３０はガス供給量を調
節し得るようになっている。試料送りガスとしてはアル
ゴンやネオンのような不活性ガス、あるいは窒素やは素
のようなガスが用いられ得る。
針状電極］６にはｆｆｉ源７から高電圧が印加されてお
り、これによって針状電極１６とアース電位の第１のイ
オン抽出電極８との間に前者から後者へ向ってイオンを
抽出するための電界が形成されている。したがって、流
出液がイオンを含んでいるならば、試料送りガスの送り
込み力と針状電極１６および第１のイオン抽出電極８間
の静電力とがあいまって流出液中のイオンが針状電極１
６の先端からその先端の液体表面張力にさからって微小
液滴として飛び出し、そしてイオンは更にその液滴表面
から抽出される。このようにして抽出されたイオンは第
１の抽出電極９の小孔を通り、更にアース電位の第２の
イオン抽出電極１０の小孔を通過する。第２のイオン抽
出電極９の小孔を通ったイオンはイオン引出し電極１０
によって更に四重橋形の質量分Ｈ器１１へと引出され、
該質量分離器は所望の質量数のイオンのみを選択し、そ
の選択されたイオンは検出器１２によって検出される。
り、これによって針状電極１６とアース電位の第１のイ
オン抽出電極８との間に前者から後者へ向ってイオンを
抽出するための電界が形成されている。したがって、流
出液がイオンを含んでいるならば、試料送りガスの送り
込み力と針状電極１６および第１のイオン抽出電極８間
の静電力とがあいまって流出液中のイオンが針状電極１
６の先端からその先端の液体表面張力にさからって微小
液滴として飛び出し、そしてイオンは更にその液滴表面
から抽出される。このようにして抽出されたイオンは第
１の抽出電極９の小孔を通り、更にアース電位の第２の
イオン抽出電極１０の小孔を通過する。第２のイオン抽
出電極９の小孔を通ったイオンはイオン引出し電極１０
によって更に四重橋形の質量分Ｈ器１１へと引出され、
該質量分離器は所望の質量数のイオンのみを選択し、そ
の選択されたイオンは検出器１２によって検出される。
質量分離器１１はまた質量数掃引によっているいろな質
量数のイオンを次々と選択することもできる。このよう
に次々と選択されたイオンは検出器１２によって次々と
検出される。検出器１２の検出々力信号は増幅器１３に
よって増輻され、データ処理装置１４に導びかれる。な
お、質量分離器１１としては磁石形であってもよい。
量数のイオンを次々と選択することもできる。このよう
に次々と選択されたイオンは検出器１２によって次々と
検出される。検出器１２の検出々力信号は増幅器１３に
よって増輻され、データ処理装置１４に導びかれる。な
お、質量分離器１１としては磁石形であってもよい。
針状電極１６と第１の抽出電極８との間の空間はこの空
間内に滞留するガスを排出するようファン（図示せず）
を用いて換気される。引出し電極１０、質量分離器１１
および検出器１２は真空ポンプ（図示せず）によって所
定の真空度に排気される空間内に配置される。また、第
１および第２のイオン抽出電極９および１０間の空間も
真空ポンプ（図示しない）により所定の真空度に排気さ
れる。
間内に滞留するガスを排出するようファン（図示せず）
を用いて換気される。引出し電極１０、質量分離器１１
および検出器１２は真空ポンプ（図示せず）によって所
定の真空度に排気される空間内に配置される。また、第
１および第２のイオン抽出電極９および１０間の空間も
真空ポンプ（図示しない）により所定の真空度に排気さ
れる。
前述したように、流出液は針状電極１６と第１の抽出ｔ
ｔ極８との間の隙間を通った後針状電極１６の先端に送
り込まれる間に試料送りガスとの接触下にさらされる。
ｔ極８との間の隙間を通った後針状電極１６の先端に送
り込まれる間に試料送りガスとの接触下にさらされる。
したがって、流出液中の溶媒分の気化が促進されて、イ
オン濃度が濃くなる。
オン濃度が濃くなる。
流出液が針状電極１６と第１の抽出電極８との間の隙間
を通った後試料送りガスにより強制的に針状電極１６の
先端へと送り込まれると、流出液の液表面側流速ｖｚに
比べて線状電極表面側流速ｖ３はおそくなる。これは流
出液と線状電極１６表面との間に摩擦が存在するためで
ある。
を通った後試料送りガスにより強制的に針状電極１６の
先端へと送り込まれると、流出液の液表面側流速ｖｚに
比べて線状電極表面側流速ｖ３はおそくなる。これは流
出液と線状電極１６表面との間に摩擦が存在するためで
ある。
第３図および第４図に示されているように、ｖｚ＞ｖｓ
ならば、液表面での液の気化および飛沫化が促進され、
液滴が発生する。この際、流出液の表面層には針状電極
１６と同様性のイオンが、針状電極１６表面近くには反
対の電荷が集まるようになる。したがって、液滴にはイ
オンが多く含まれるようになり、イオン相互間のクーロ
ン反発とあいまってイオンの気化が促進される９もちろ
ん、針状電極１６表面近くに集まるその電極と反対の電
荷はその電極表面で失われる。なお、第４図において、
Ｖｌは試料送りガスの流速である。
ならば、液表面での液の気化および飛沫化が促進され、
液滴が発生する。この際、流出液の表面層には針状電極
１６と同様性のイオンが、針状電極１６表面近くには反
対の電荷が集まるようになる。したがって、液滴にはイ
オンが多く含まれるようになり、イオン相互間のクーロ
ン反発とあいまってイオンの気化が促進される９もちろ
ん、針状電極１６表面近くに集まるその電極と反対の電
荷はその電極表面で失われる。なお、第４図において、
Ｖｌは試料送りガスの流速である。
かくして、イオン抽出装置６′に比較的大量の流出液が
導入されてもそのイオン化が効果的に安定的に行われる
ことになる。
導入されてもそのイオン化が効果的に安定的に行われる
ことになる。
第５図は試料イオン化装置６′に流す流出液の量とイオ
ン電流値との関係を示す図である。このデータを得るに
当っての条件は次のとおりである。
ン電流値との関係を示す図である。このデータを得るに
当っての条件は次のとおりである。
針状電極１６の直径は１００ ｔｔ ｍ （０、１ｍ
）で。
）で。
その先端は半径が数μｍ８度となるように電解研摩で鋭
くされた。試料送りガスとして乾燥した窒素ガスが用い
られ５その流量はＩＱ／ｍｉｎに設定された。第２図（
ｃ）に示されているように、針状電極１６先端の突出量
は５１Ｉｌ１１、第１の管１９の外径および内径はそれ
ぞれ１ｍおよび０．２５ｍ。
くされた。試料送りガスとして乾燥した窒素ガスが用い
られ５その流量はＩＱ／ｍｉｎに設定された。第２図（
ｃ）に示されているように、針状電極１６先端の突出量
は５１Ｉｌ１１、第１の管１９の外径および内径はそれ
ぞれ１ｍおよび０．２５ｍ。
第２の管２０の外径および内径はそれぞれ４Ｉ［１１１
および２Ｉｌｆ１１であった。針状電極１６への印加電
圧は＋ ３ Ｋ Ｖであった。
および２Ｉｌｆ１１であった。針状電極１６への印加電
圧は＋ ３ Ｋ Ｖであった。
第５図中Ａは針状型ＶｉＡ１６が存在する場合のデータ
、Ｂは針状ｆｌＨＪｊ１６が存在しない場合のデータで
あるにれらのデータから、針状電極１６が存在すること
で比較的大流量の場合でも安定にかつ効果的にイオン化
が行われることがわかる。−方、針状電極１６が存在し
ない場合は数１０ｍＭが最大流量となる。以上から、針
状電極１６が存在することにより比較的大量の流出液量
であっても安定かつ効果的なイオン化が達成されること
がねかる。
、Ｂは針状ｆｌＨＪｊ１６が存在しない場合のデータで
あるにれらのデータから、針状電極１６が存在すること
で比較的大流量の場合でも安定にかつ効果的にイオン化
が行われることがわかる。−方、針状電極１６が存在し
ない場合は数１０ｍＭが最大流量となる。以上から、針
状電極１６が存在することにより比較的大量の流出液量
であっても安定かつ効果的なイオン化が達成されること
がねかる。
第６図は第５図のデータを得るに当って用いたイオン電
流の測定システムを示す。Ａは針状電極が存在する場合
、Ｂが針状電極が存在しない場合である。８′は抽出１
ｉ極、１２′はイオン検出器、１３′は増幅器、３０は
電流計である。
流の測定システムを示す。Ａは針状電極が存在する場合
、Ｂが針状電極が存在しない場合である。８′は抽出１
ｉ極、１２′はイオン検出器、１３′は増幅器、３０は
電流計である。
第７図は針状電極１６の第１の管１９からの突出ｆｆ１
（長さ）に対するイオン電流値の関係を示す。
（長さ）に対するイオン電流値の関係を示す。
このデータは第６図のシステムを用いて得たものである
。このデータからは突出量がゼロの場合は殆んど効果が
ないことがわかる。突出量があまり大きい場合も同様で
ある。
。このデータからは突出量がゼロの場合は殆んど効果が
ないことがわかる。突出量があまり大きい場合も同様で
ある。
針状電極１６の先端は鋭く尖っていてもよいし、また第
８図および第１０図に示されるような平形、あるいは第
９図に示されるような丸形であってもよい、更に針状電
極１６．第１の管１９および第２の管２０の断面は第８
図および第９図に示されるように円形であってもよいし
、第１０図に示されるように矩形であってもよい。
８図および第１０図に示されるような平形、あるいは第
９図に示されるような丸形であってもよい、更に針状電
極１６．第１の管１９および第２の管２０の断面は第８
図および第９図に示されるように円形であってもよいし
、第１０図に示されるように矩形であってもよい。
試料液によってはある程度の加熱が許されるものもある
６加熱は溶媒分の気化効率をより高め、したがってイオ
ン抽出の効果を更に高めることができる。第１１図およ
び第１２図はこの目的のためのもので、第１１図はノズ
ル部６全体をヒートブロック２１で囲い、これをカート
リッジヒータ２３で加熱するようにしたものである。ま
た、第１２図は霧化された成分をカートリッジヒータ２
３内蔵の中空のヒートブロック２３を通し気化させるよ
うにしたものである。
６加熱は溶媒分の気化効率をより高め、したがってイオ
ン抽出の効果を更に高めることができる。第１１図およ
び第１２図はこの目的のためのもので、第１１図はノズ
ル部６全体をヒートブロック２１で囲い、これをカート
リッジヒータ２３で加熱するようにしたものである。ま
た、第１２図は霧化された成分をカートリッジヒータ２
３内蔵の中空のヒートブロック２３を通し気化させるよ
うにしたものである。
なお、２２は温度測定用の熱電対である。
本発明によれば、イオンの抽出を効果的に行うことがで
きるイオンの抽出および分析装置が提供される。
きるイオンの抽出および分析装置が提供される。
第１図は本発明の一実施例を示すイオン分析装置の、一
部ブロック形式で示した断面図、第２図（ａ）は第１図
のイオン抽出部の拡大断面図、第２図（ｂ）は第２図（
ａ）の針状電極部分の右側面図、第２図（ｃ）は第２図
（ａ）の針状電極先端部の拡大断面図、第３図は第２図
（ａ）の針状電極先端部の更なる拡大断面図、第４図は
液体の飛沫効果の説明図、第５図は流出液量に対するイ
オン電流値の関係を示す図、第６図はイオン電流測定シ
ステム構成図、第７図は針状電極の突出量に対するイオ
ン電流値の関係を示す図、第８図（ａ）は他の実施例の
ノズル部先端の拡大断面図、第８図（ｂ）は第８図（ａ
）の右側面図、第９図（ａ）は更にもう一つの実施例の
ノズル部先端の拡大断面図、第９図（ｂ）は第９図（ａ
）の右側面図、第１０図（ａ、）は他の更にもう一つの
実施例のノズル部先端の拡大断面図、第１０図（ｂ）は
第１０図（ａ）の右側面図、第１１図は加熱装置の一実
施例の断面図、第１２図は加熱装置のもう一つの実施例
の断面図である。 １・・・溶離液貯槽、２・・・ポンプ、５・・・カラム
、６・・ノズル部、６′・・・イオン抽出装置、７・・
・電源。 １１・・・質量分離器、１２・・・検出器、１６・・・
針状電極、１９・・・第１の管、２０・・・第２の管、
２１・・・ヒートブロック、２２・・・熱電対、２３・
・・ヒータ。
部ブロック形式で示した断面図、第２図（ａ）は第１図
のイオン抽出部の拡大断面図、第２図（ｂ）は第２図（
ａ）の針状電極部分の右側面図、第２図（ｃ）は第２図
（ａ）の針状電極先端部の拡大断面図、第３図は第２図
（ａ）の針状電極先端部の更なる拡大断面図、第４図は
液体の飛沫効果の説明図、第５図は流出液量に対するイ
オン電流値の関係を示す図、第６図はイオン電流測定シ
ステム構成図、第７図は針状電極の突出量に対するイオ
ン電流値の関係を示す図、第８図（ａ）は他の実施例の
ノズル部先端の拡大断面図、第８図（ｂ）は第８図（ａ
）の右側面図、第９図（ａ）は更にもう一つの実施例の
ノズル部先端の拡大断面図、第９図（ｂ）は第９図（ａ
）の右側面図、第１０図（ａ、）は他の更にもう一つの
実施例のノズル部先端の拡大断面図、第１０図（ｂ）は
第１０図（ａ）の右側面図、第１１図は加熱装置の一実
施例の断面図、第１２図は加熱装置のもう一つの実施例
の断面図である。 １・・・溶離液貯槽、２・・・ポンプ、５・・・カラム
、６・・ノズル部、６′・・・イオン抽出装置、７・・
・電源。 １１・・・質量分離器、１２・・・検出器、１６・・・
針状電極、１９・・・第１の管、２０・・・第２の管、
２１・・・ヒートブロック、２２・・・熱電対、２３・
・・ヒータ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、電極と、この電極の表面にイオンを含む液体を導く
手段と、その液体を前記電極との間にはさむ形で移動さ
せるようにガスを供給する手段と、前記イオンを抽出さ
せるように電界を発生させる手段とを備えているイオン
抽出装置。 ２、電極と、この電極の表面にイオンを含む液体を導く
手段と、その液体を前記電極との間にはさむ形で移動さ
せるようにガスを供給する手段と、前記イオンを抽出さ
せるように電圧を前記電極に印加する手段とを備えてい
るイオン抽出装置。 ３、電極と、この電極の表面にイオンを含む液体を導く
手段と、その液体を前記電極との間にはさむようにガス
を供給する手段と、前記イオンを抽出させるように電界
を発生させる手段とを備え、前記ガス供給手段は前記液
体の前記ガスと接触する表面の移動速度が前記電極表面
と接触する表面のそれよりも大となるように前記ガスの
流速を設定する手段を備えているイオン抽出装置。 ４、針状電極と、この針状電極の周りに第１の隙間を形
成するように配置された第１の管と、この第１の周りに
第２の隙間を形成するように配置された第２の管と、前
記第１の隙間にイオンを含む液体を導く手段と、前記第
２の隙間にガスを供給する手段と、前記針状電極に対向
して配置されたイオン抽出電極と、前記イオンを抽出す
るように電界を前記針状電極と前記抽出電極の間に形成
する手段とを備え、前記液体が前記第１の隙間を通つた
後前記ガスと前記針状電極との間にはさまれて移動する
ように前記針状電極は前記第１の管から突出しているこ
とを特徴とするイオン抽出装置。 ５、針状電極と、この針状電極の周りに第１の隙間を形
成するように配置された第１の管と、この第１の管の周
りに第２の隙間を形成するように配置された第２の管と
、前記第１の隙間にイオンを含む液体を導く手段と、前
記第２の隙間にガスを供給する手段と、前記針状電極に
対向して配置されたイオン抽出電極と、前記イオンを抽
出するように前記針状電極と前記抽出電極の間に電界を
形成すべく前記針状電極に電圧を印加する手段とを備え
、前記針状電極は前記液体が前記第１の隙間を通つた後
前記ガスと前記針状電極の間にはさまれて移動するよう
に前記第１の管から突出しており、前記ガス供給手段は
前記液体の前記ガスと接触する表面の移動速度が前記針
状電極表面のそれよりも大となるように前記ガスの流速
を設定する手段を備えているイオン抽出装置。 ６、前記針状電極の前記第１の管からの突出長さを調整
する手段を備えている請求項４または５に記載されたイ
オン抽出装置。 ７、前記液体を加熱する手段を備えている請求項１、２
、３または６に記載されたイオン抽出装置。 ８、針状電極と、その周りにイオンが導かれるべき第１
の隙間が形成されるように配置された第１の管と、この
第１の管の周りにガスが供給されるべき第２の隙間が形
成されるように配置された第２の管とを備え、前記針状
電極は前記第１の管から突出していることを特徴とする
イオン抽出用電極装置。 ９、前記針状電極の前記第１の管からの突出量は調整可
能にされていることを特徴とする請求項８に記載された
イオン抽出用電極装置。 １０、その表面にイオンを含む液体が導かれる電極と、
その液体を前記電極との間にはさむ形で移動させるよう
にガスを供給する手段と、前記イオンを抽出させるよう
に電界を発生させる手段と、その抽出されたイオンを検
出する手段とを備えたイオン分析装置。 １１、その表面にイオンを含む液体が導かれる電極と、
その液体を前記電極との間にはさむ形で移動させるよう
にガスを供給する手段と、前記イオンを抽出させるよう
に電界を発生させる手段と、前記抽出されたイオンを質
量分離する手段と、その質量分離されたイオンを検出す
る手段とを備えているイオン分析装置。 １２、添加されたイオンを含む試料液体を溶離液を流す
ことによつて分離するカラムと、このカラムからの流出
液中のイオンを抽出する手段と、その抽出されたイオン
を検出する手段とを含み、前記イオン抽出手段はその表
面に前記流出液が導かれる電極と、前記流出液を前記電
極との間にはさむ形で移動させるようにガスを供給する
手段と、前記ガスと前記電極との間にはさまれる形で移
動する前記流出液中のイオンを抽出させるように電界を
発生させる手段とを備えているイオン分析装置。 １３、添加されたイオンを含む試料液体を溶離液を流す
ことによつて分離するカラムと、このカラムからの流出
液中のイオンを抽出する手段と、その抽出されたイオン
を質量分離する手段と、その質量分離されたイオンを検
出する手段とを備え、前記イオン抽出手段はその表面に
前記流出液が導かれる電極と、前記流出液を前記電極と
の間にはさむ形で移動させるようにガスを供給する手段
と、前記ガスと前記電極との間にはさまれる形で移動す
る前記流出液中のイオンを抽出させるように電界を発生
させる手段とを備えているイオン分析装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63249860A JPH0713624B2 (ja) | 1988-10-05 | 1988-10-05 | イオンの抽出および分析装置 |
| US07/416,430 US5132002A (en) | 1988-10-05 | 1989-10-03 | Ion analyzer |
| DE68918384T DE68918384D1 (de) | 1988-10-05 | 1989-10-04 | Ionenanalysator. |
| EP89118390A EP0362813B1 (en) | 1988-10-05 | 1989-10-04 | Ion analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63249860A JPH0713624B2 (ja) | 1988-10-05 | 1988-10-05 | イオンの抽出および分析装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5296253A Division JP2596343B2 (ja) | 1993-11-26 | 1993-11-26 | 質量分析方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0298662A true JPH0298662A (ja) | 1990-04-11 |
| JPH0713624B2 JPH0713624B2 (ja) | 1995-02-15 |
Family
ID=17199268
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63249860A Expired - Fee Related JPH0713624B2 (ja) | 1988-10-05 | 1988-10-05 | イオンの抽出および分析装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5132002A (ja) |
| EP (1) | EP0362813B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0713624B2 (ja) |
| DE (1) | DE68918384D1 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008021455A (ja) * | 2006-07-11 | 2008-01-31 | Shimadzu Corp | 液体クロマトグラフ質量分析計 |
| EP2080819A1 (de) | 2007-12-12 | 2009-07-22 | EXCOR Korrosionsforschung GmbH | Dampfphasen-Korrosionsinhibitoren und Verfahren zu deren Herstellung |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2633974B2 (ja) * | 1990-04-18 | 1997-07-23 | 株式会社日立製作所 | 試料のイオン化および質量分析のための装置 |
| JP2598566B2 (ja) * | 1990-10-26 | 1997-04-09 | 株式会社日立製作所 | 質量分析計 |
| US5331160A (en) * | 1993-03-31 | 1994-07-19 | Hewlett-Packard Company | Particle-beam generator for LC/MS interface |
| JP3198965B2 (ja) * | 1997-02-20 | 2001-08-13 | 株式会社島津製作所 | エレクトロスプレイイオン化装置 |
| US5792347A (en) * | 1997-04-10 | 1998-08-11 | Metafix Inc. | Effluent precipitation and neutralization vessel and method |
| US7917966B2 (en) * | 2008-08-21 | 2011-03-29 | Snu R&Db Foundation | Aligned nanostructures on a tip |
| US8070929B2 (en) * | 2008-08-21 | 2011-12-06 | Snu R&Db Foundation | Catalyst particles on a tip |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5537778A (en) * | 1978-09-08 | 1980-03-15 | Japan Spectroscopic Co | Method and device for providing specimen to mass spectrograph |
| JPS5932861A (ja) * | 1982-08-18 | 1984-02-22 | Jeol Ltd | 液体クロマトグラフ質量分析装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1483966A (en) * | 1974-10-23 | 1977-08-24 | Sharp Kk | Vapourized-metal cluster ion source and ionized-cluster beam deposition |
| US4209696A (en) * | 1977-09-21 | 1980-06-24 | Fite Wade L | Methods and apparatus for mass spectrometric analysis of constituents in liquids |
| JPS58156848A (ja) * | 1982-03-15 | 1983-09-17 | Fuji Photo Film Co Ltd | イオン選択電極及びその製造法 |
-
1988
- 1988-10-05 JP JP63249860A patent/JPH0713624B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1989
- 1989-10-03 US US07/416,430 patent/US5132002A/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-10-04 EP EP89118390A patent/EP0362813B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-10-04 DE DE68918384T patent/DE68918384D1/de not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5537778A (en) * | 1978-09-08 | 1980-03-15 | Japan Spectroscopic Co | Method and device for providing specimen to mass spectrograph |
| JPS5932861A (ja) * | 1982-08-18 | 1984-02-22 | Jeol Ltd | 液体クロマトグラフ質量分析装置 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008021455A (ja) * | 2006-07-11 | 2008-01-31 | Shimadzu Corp | 液体クロマトグラフ質量分析計 |
| EP2080819A1 (de) | 2007-12-12 | 2009-07-22 | EXCOR Korrosionsforschung GmbH | Dampfphasen-Korrosionsinhibitoren und Verfahren zu deren Herstellung |
| DE102007059726A1 (de) | 2007-12-12 | 2009-07-30 | Excor Korrosionsforschung Gmbh | Dampfphasen-Korrosionsinhibitoren und Verfahren zu deren Herstellung |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE68918384D1 (de) | 1994-10-27 |
| EP0362813A3 (en) | 1991-03-20 |
| US5132002A (en) | 1992-07-21 |
| EP0362813B1 (en) | 1994-09-21 |
| EP0362813A2 (en) | 1990-04-11 |
| JPH0713624B2 (ja) | 1995-02-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP6867392B2 (ja) | Ｅｓｉ動作中の放電を最小化するためのシステム | |
| JP3353561B2 (ja) | 溶液の質量分析に関する方法と装置 | |
| US7049582B2 (en) | Method and apparatus for an electrospray needle for use in mass spectrometry | |
| JPH042033A (ja) | 試料のイオン化および質量分析のための装置 | |
| JP4657451B2 (ja) | 電気スプレー質量分析のための渦状ガス流インターフェース | |
| JPS583592B2 (ja) | 質量分析計への試料導入方法及び装置 | |
| KR102483035B1 (ko) | 다중 가스 흐름 이오나이저 | |
| US9242258B2 (en) | Multi-nozzle chip for electrospray ionization in mass spectrometers | |
| JPH0298662A (ja) | イオンの抽出および分析装置 | |
| JPH04163849A (ja) | 質量分析計 | |
| JP2000162188A (ja) | 溶液中のサンプルを分析する質量分析法及び装置 | |
| JP2005259477A (ja) | エレクトロスプレイイオン化質量分析装置 | |
| JP2000230921A (ja) | マルチキャピラリイオン化質量分析装置 | |
| JP4254546B2 (ja) | 質量分析装置 | |
| JP2596343B2 (ja) | 質量分析方法 | |
| JPH06102246A (ja) | 質量分析計 | |
| JPS60237354A (ja) | 熱スプレ−イオン源とその効率を改善する方法 | |
| JP3870870B2 (ja) | 溶液の質量分析に関する方法と装置 | |
| JP3554732B2 (ja) | 質量分析計 | |
| JP2756581B2 (ja) | 液体クロマトグラフィ質量分析計用イオン源 | |
| JPH07306193A (ja) | イオン源及びこれを用いる質量分析装置 | |
| JP3353752B2 (ja) | イオン源 | |
| JP2007033388A (ja) | 情報取得方法及び情報取得装置 | |
| CN116615650A (zh) | 离子源及具备该离子源的质谱仪 | |
| JP3548134B2 (ja) | 分離分取装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |