JP6867392B2 - Esi動作中の放電を最小化するためのシステム - Google Patents
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Description
本願は、2015年12月18日に出願された米国仮出願第62/269654号からの優先権の利益を主張するものであり、該米国仮出願の全体の内容は、参照により本明細書中に援用される。
本明細書は、例えば、以下の項目も提供する。
(項目1)
質量分析計による分析のためのイオンを生成するためのエレクトロスプレーイオン源アセンブリであって、
イオン化チャンバを画定するイオン源筐体であって、前記イオン化チャンバは、質量分析計システムのサンプリングオリフィスと流体連通して配置されるように構成され、前記サンプリングオリフィスは、対電極内に形成される、イオン源筐体と、
前記イオン化チャンバを加熱するための、少なくとも1つのヒータと、
エレクトロスプレー電極であって、前記エレクトロスプレー電極は、前記エレクトロスプレー電極から前記イオン化チャンバの中に液体サンプルを排出するために、前記エレクトロスプレー電極の入口端におけるサンプル源から受容された前記液体サンプルを出口端に送出するための軸方向孔をそれを通して画定する、エレクトロスプレー電極と、
電源であって、前記電源は、前記液体サンプルの少なくとも一部が、前記エレクトロスプレー電極から排出される際にイオン化されると、前記エレクトロスプレー電極と前記サンプリングオリフィスとの間にイオン放出電流を生成するように、前記エレクトロスプレー電極および前記対電極を含有する電気回路に電圧を提供するように構成される、電源と、
イオン放出電流コントローラであって、前記イオン放出電流コントローラは、前記電源によって前記電気回路に提供される電圧を実質的に改変することなく、前記エレクトロスプレー電極と前記対電極との間の放電の開始を限定するように構成される、イオン放出電流コントローラと、
を備える、エレクトロスプレーイオン源アセンブリ。
(項目2)
前記イオン放出電流コントローラは、前記電源と前記エレクトロスプレー電極との間の電気回路内に直列に配置される1つまたはそれを上回る電流限定抵抗器を備え、前記1つまたはそれを上回る電流限定抵抗器は、約1〜3GΩの範囲内の全抵抗を呈する、項目1に記載のエレクトロスプレーイオン源アセンブリ。
(項目3)
前記イオン放出電流コントローラは、前記電源と前記エレクトロスプレー電極との間の電気回路内に直列に配置される1つまたはそれを上回る電流限定抵抗器を備え、前記1つまたはそれを上回る電流限定抵抗器は、イオン放出電流が前記エレクトロスプレー電極と前記対電極との間の放電を伴わずに生成される前記イオン源の通常の動作条件下で前記エレクトロスプレー電極と前記対電極との間の空隙の抵抗の約20%〜約100%の範囲内の全抵抗を呈する、項目1に記載のエレクトロスプレーイオン源アセンブリ。
(項目4)
前記イオン放出電流コントローラは、シャント電極を備え、前記シャント電極は、前記エレクトロスプレー電極の入口端から上流に配置され、前記液体サンプルと電気連通し、前記電源からの電流の少なくとも一部は、前記シャント電極に迂回され、前記迂回される電流の値は、前記エレクトロスプレー電極と前記シャント電極との間の液体の部分の導電率に基づく、項目1に記載のエレクトロスプレーイオン源アセンブリ。
(項目5)
前記イオン放出電流コントローラは、前記エレクトロスプレー電極の入口端から上流の異なる距離に配置される複数のシャント電極を備え、前記複数のシャント電極のうちの1つは、前記液体サンプルの導電率に基づいて、選択的に接地される、項目4に記載のエレクトロスプレーイオン源アセンブリ。
(項目6)
前記エレクトロスプレー電極は、金属化シリカキャピラリを含む、項目1に記載のエレクトロスプレーイオン源アセンブリ。
(項目7)
前記エレクトロスプレー電極の出口端の形状は、それにおける電場を低減させるように制御される、項目6に記載のエレクトロスプレーイオン源アセンブリ。
(項目8)
前記イオン放出電流コントローラは、前記放出電流を約10μAを下回って維持するように構成される、項目1に記載のエレクトロスプレーイオン源アセンブリ。
(項目9)
前記イオン放出電流コントローラは、前記放出電流を約0.5μA〜約10μAの範囲内に維持するように構成される、項目1に記載のエレクトロスプレーイオン源アセンブリ。
(項目10)
前記エレクトロスプレー電極内の液体サンプルの流率は、約1μL/分〜約100μL/分の範囲内に維持される、項目1に記載のエレクトロスプレーイオン源アセンブリ。
(項目11)
前記電源は、約2,000V〜約6,000Vの範囲内のDC電圧を前記エレクトロスプレー電極に提供するように構成される、項目1に記載のエレクトロスプレーイオン源アセンブリ。
(項目12)
質量分析計システムであって、
分析されるべき液体サンプルを提供するための液体クロマトグラフィ(LC)カラムと、
前記LCカラムと流体連通するエレクトロスプレーイオン源であって、前記エレクトロスプレーイオン源は、
イオン化チャンバを画定するイオン源筐体と、
前記イオン化チャンバを加熱するための少なくとも1つのヒータと、
エレクトロスプレー電極であって、前記エレクトロスプレー電極は、エレクトロスプレー電極から前記イオン化チャンバの中に液体サンプルを排出するために、前記エレクトロスプレー電極の入口端におけるサンプル源から受容された前記液体サンプルを出口端に送出するための軸方向孔をそれを通して画定する、エレクトロスプレー電極と、
を備える、エレクトロスプレーイオン源と、
前記イオン源によって生成されるイオンを分析するための質量分析器であって、前記イオンは、前記質量分析器によって、対電極内のサンプリングオリフィスを通して受容され、前記サンプリングオリフィスは、前記イオン化チャンバと流体連通する、質量分析器と、
電源であって、前記電源は、前記液体サンプルの少なくとも一部が、前記エレクトロスプレー電極から排出される際にイオン化されると、前記エレクトロスプレー電極と前記サンプリングオリフィスとの間にイオン放出電流を生成するように、前記エレクトロスプレー電極および前記対電極を含有する電気回路に電圧を提供するように構成される、電源と、
イオン放出電流コントローラであって、前記イオン放出電流コントローラは、前記電源によって前記電気回路に提供される電圧を実質的に改変することなく、前記エレクトロスプレー電極と前記対電極との間のアーク放電を防止するように構成され、前記イオン放出電流コントローラは、
前記LCカラムと前記エレクトロスプレー電極の出口端との間に配置されるシャント電極であって、前記シャント電極は、前記液体サンプルと電気連通するように構成され、前記電源と前記エレクトロスプレー電極との間の電流の少なくとも一部は、前記エレクトロスプレー電極の出口端と前記シャント電極との間の液体サンプルの部分の導電率に基づいて、前記シャント電極に迂回される、シャント電極と、
前記電源と前記エレクトロスプレー電極との間の電気回路内に直列に配置される1つまたはそれを上回る電流限定抵抗器であって、前記1つまたはそれを上回る電流限定抵抗器は、前記イオン源の通常の非放電条件下で前記エレクトロスプレー電極と前記対電極との間の空隙の抵抗の約20%〜約100%の範囲内の全抵抗を呈する、1つまたはそれを上回る電流限定抵抗器と、
を備える、イオン放出電流コントローラと、
を備える、質量分析計システム。
(項目13)
前記1つまたはそれを上回る電流限定抵抗器は、約1〜3GΩの範囲内の全抵抗を呈する、項目12に記載の質量分析計。
(項目14)
前記イオン放出電流コントローラは、前記電源によって提供される電圧を実質的に改変することなく、前記イオン放出電流を約10μAを下回って維持するように構成される、項目12に記載の質量分析計システム。
(項目15)
質量分析計システムのエレクトロスプレーイオン源を動作させるための方法であって、前記方法は、
エレクトロスプレー電極の入口端から前記エレクトロスプレー電極の出口端に液体サンプルを送出するステップであって、前記出口端は、前記エレクトロスプレー電極の出口端からイオン化チャンバの中に前記液体サンプルを排出するように、前記イオン化チャンバ内に配置され、前記イオン化チャンバは、質量分析計システムの対電極内に形成されるサンプリングオリフィスと流体連通する、ステップと、
前記イオン化チャンバを加熱するステップと、
前記液体サンプルの少なくとも一部が、前記エレクトロスプレー電極から排出される際にイオン化されると、前記エレクトロスプレー電極と前記サンプリングオリフィスとの間にイオン放出電流を生成するように、前記エレクトロスプレー電極および前記対電極を含有する電気回路に電圧(起電力)を提供するように電源を動作させるステップと、
前記電源によって前記電気回路に提供される電圧を実質的に改変することなく、前記エレクトロスプレー電極と前記対電極との間の放電の開始を限定するように、前記イオン放出電流を制御するステップと、
を含む、方法。
(項目16)
前記電源と前記エレクトロスプレー電極との間の電気回路内に直列に配置される1つまたはそれを上回る電流限定抵抗器が、放電の開始を限定し、前記1つまたはそれを上回る電流限定抵抗器は、約1〜3GΩの範囲内の全抵抗を呈する、項目15に記載の方法。
(項目17)
前記電源と前記エレクトロスプレー電極との間の電気回路内に直列に配置される1つまたはそれを上回る電流限定抵抗器は、放電の開始を限定し、前記1つまたはそれを上回る電流限定抵抗器は、イオン放出電流が前記エレクトロスプレー電極と前記対電極との間の放電を伴わずに生成される前記イオン源の通常の動作条件下で前記エレクトロスプレー電極と前記対電極との間の空隙の抵抗の約20%〜約100%の範囲内の全抵抗を呈する、項目15に記載の方法。
(項目18)
前記エレクトロスプレー電極の入口端から上流に配置され、前記液体サンプルと電気連通するシャント電極が、前記電源と前記エレクトロスプレー電極との間の電流の少なくとも一部を前記シャント電極に迂回させることによって、放電の開始を限定する、項目15に記載の方法。
(項目19)
前記イオン放出電流を制御するステップは、前記シャント電極と前記エレクトロスプレー電極との間の距離を調節するステップを含み、前記距離は、前記液体サンプルの導電率に基づく、項目18に記載の方法。
(項目20)
前記イオン放出電流は、約0.5μA〜約10μAの範囲内に維持される、項目15に記載の方法。
E=Q/(4πε0R2)であり、式中、Qは、合計電荷である。
V=Q/(4πε0R)であるため、Qを置換すると、以下をもたらす。
E=V/R
したがって、本教示に従って、曲率半径(R)を最大限にするために、300μm外径を有するサンプル針42の遠位端42bを製造することによって、局所場強度(E)は、有意に低減されることができる。例えば、遠位端42bを半球ドーム(R=150μm)として成形することによって、ISVが5kVに設定されると、上記の方程式は、約33V/μmの電場強度をもたらす。電荷は、(完全な球体よりもむしろ)半球体にわたって分散されるため、結果として生じる値は、最大曲率半径に関して倍加(すなわち、66eV/μm)される一方、より丸形ではない幾何学形状(例えば、開裂された先端)に関して、場は、有意により高くなるであろう。例えば、1/4の最大曲率半径を呈する遠位端42bは、場において4倍の増加(264eV/μm)を生産するであろう。その結果、本教示の種々の側面による、丸形遠位端42bを有するサンプル針42は、電子によって取得されるエネルギーを低減させ、それによって、サンプル針42と質量分析計のカーテン板14aとの間の絶縁間隙を破壊し得る(例えば、抵抗率を低減させる)イオン化事象の連鎖を開始させる可能性を低減させるために効果的であり得る。さらに、放電中に金属化シリカキャピラリの先端において生成される低温プラズマのスパッタリング効率が、入射粒子の衝撃エネルギーとともに増加するため、より鋭的な幾何学形状は、電極のより急速な浸食を引き起こすであろう。したがって、遠位端42bの鋭利さを制御することによって(例えば、サンプル針42の所与の直径に関する曲率半径を制御または最大限にすることによって)、本教示は、金属化シリカサンプル針の改良された動作寿命および耐久性を可能にすることができる。
Claims (17)
- 質量分析計による分析のためのイオンを生成するためのエレクトロスプレーイオン源アセンブリであって、
イオン化チャンバを画定するイオン源筐体であって、前記イオン化チャンバは、質量分析計システムのサンプリングオリフィスと流体連通して配置されるように構成され、前記サンプリングオリフィスは、対電極内に形成される、イオン源筐体と、
前記イオン化チャンバを加熱するための少なくとも1つのヒータと、
エレクトロスプレー電極であって、前記エレクトロスプレー電極は、前記エレクトロスプレー電極から前記イオン化チャンバの中に液体サンプルを排出するために、前記エレクトロスプレー電極の入口端におけるサンプル源から受容された前記液体サンプルを出口端に送出するための軸方向孔をそれを通して画定する、エレクトロスプレー電極と、
電源であって、前記電源は、前記液体サンプルの少なくとも一部が、前記エレクトロスプレー電極から排出される際にイオン化されると、前記エレクトロスプレー電極と前記サンプリングオリフィスとの間にイオン放出電流を生成するように、前記エレクトロスプレー電極および前記対電極を含有する電気回路に電圧を提供するように構成される、電源と、
イオン放出電流コントローラであって、前記イオン放出電流コントローラは、前記電源によって前記電気回路に提供される電圧を実質的に改変することなく、前記エレクトロスプレー電極と前記対電極との間の放電の開始を限定するように構成される、イオン放出電流コントローラと、
を備え、
前記イオン放出電流コントローラは、前記電源と前記エレクトロスプレー電極との間の電気回路内に直列に配置される1つまたはそれを上回る電流限定抵抗器を備え、前記1つまたはそれを上回る電流限定抵抗器は、約1〜3GΩの範囲内の全抵抗を呈する、エレクトロスプレーイオン源アセンブリ。 - 前記1つまたはそれを上回る電流限定抵抗器は、イオン放出電流が前記エレクトロスプレー電極と前記対電極との間の放電を伴わずに生成される前記イオン源の通常の動作条件下で前記エレクトロスプレー電極と前記対電極との間の空隙の抵抗の約20%〜約100%の範囲内の全抵抗を呈する、請求項1に記載のエレクトロスプレーイオン源アセンブリ。
- 前記イオン放出電流コントローラは、シャント電極を備え、前記シャント電極は、前記エレクトロスプレー電極の入口端から上流に配置され、前記液体サンプルと電気連通し、前記電源からの電流の少なくとも一部は、前記シャント電極に迂回され、前記迂回される電流の値は、前記エレクトロスプレー電極と前記シャント電極との間の液体の部分の導電率に基づく、請求項1に記載のエレクトロスプレーイオン源アセンブリ。
- 質量分析計による分析のためのイオンを生成するためのエレクトロスプレーイオン源アセンブリであって、
イオン化チャンバを画定するイオン源筐体であって、前記イオン化チャンバは、質量分析計システムのサンプリングオリフィスと流体連通して配置されるように構成され、前記サンプリングオリフィスは、対電極内に形成される、イオン源筐体と、
前記イオン化チャンバを加熱するための少なくとも1つのヒータと、
エレクトロスプレー電極であって、前記エレクトロスプレー電極は、前記エレクトロスプレー電極から前記イオン化チャンバの中に液体サンプルを排出するために、前記エレクトロスプレー電極の入口端におけるサンプル源から受容された前記液体サンプルを出口端に送出するための軸方向孔をそれを通して画定する、エレクトロスプレー電極と、
電源であって、前記電源は、前記液体サンプルの少なくとも一部が、前記エレクトロスプレー電極から排出される際にイオン化されると、前記エレクトロスプレー電極と前記サンプリングオリフィスとの間にイオン放出電流を生成するように、前記エレクトロスプレー電極および前記対電極を含有する電気回路に電圧を提供するように構成される、電源と、
イオン放出電流コントローラであって、前記イオン放出電流コントローラは、前記電源によって前記電気回路に提供される電圧を実質的に改変することなく、前記エレクトロスプレー電極と前記対電極との間の放電の開始を限定するように構成される、イオン放出電流コントローラと、
を備え、
前記イオン放出電流コントローラは、シャント電極を備え、前記シャント電極は、前記エレクトロスプレー電極の入口端から上流に配置され、前記液体サンプルと電気連通し、前記電源からの電流の少なくとも一部は、前記シャント電極に迂回され、前記迂回される電流の値は、前記エレクトロスプレー電極と前記シャント電極との間の液体の部分の導電率に基づき、
前記イオン放出電流コントローラは、前記エレクトロスプレー電極の入口端から上流の異なる距離に配置される複数のシャント電極を備え、前記複数のシャント電極のうちの1つは、前記液体サンプルの導電率に基づいて、選択的に接地される、エレクトロスプレーイオン源アセンブリ。 - 前記エレクトロスプレー電極は、金属化シリカキャピラリを含む、請求項1に記載のエレクトロスプレーイオン源アセンブリ。
- 質量分析計による分析のためのイオンを生成するためのエレクトロスプレーイオン源アセンブリであって、
イオン化チャンバを画定するイオン源筐体であって、前記イオン化チャンバは、質量分析計システムのサンプリングオリフィスと流体連通して配置されるように構成され、前記サンプリングオリフィスは、対電極内に形成される、イオン源筐体と、
前記イオン化チャンバを加熱するための少なくとも1つのヒータと、
エレクトロスプレー電極であって、前記エレクトロスプレー電極は、前記エレクトロスプレー電極から前記イオン化チャンバの中に液体サンプルを排出するために、前記エレクトロスプレー電極の入口端におけるサンプル源から受容された前記液体サンプルを出口端に送出するための軸方向孔をそれを通して画定する、エレクトロスプレー電極と、
電源であって、前記電源は、前記液体サンプルの少なくとも一部が、前記エレクトロスプレー電極から排出される際にイオン化されると、前記エレクトロスプレー電極と前記サンプリングオリフィスとの間にイオン放出電流を生成するように、前記エレクトロスプレー電極および前記対電極を含有する電気回路に電圧を提供するように構成される、電源と、
イオン放出電流コントローラであって、前記イオン放出電流コントローラは、前記電源によって前記電気回路に提供される電圧を実質的に改変することなく、前記エレクトロスプレー電極と前記対電極との間の放電の開始を限定するように構成される、イオン放出電流コントローラと、
を備え、
前記エレクトロスプレー電極は、金属化シリカキャピラリを含み、
前記エレクトロスプレー電極の出口端の形状は、それにおける電場を低減させるように制御される、エレクトロスプレーイオン源アセンブリ。 - 前記イオン放出電流コントローラは、前記放出電流を約10μAを下回って維持するように構成される、請求項1に記載のエレクトロスプレーイオン源アセンブリ。
- 前記イオン放出電流コントローラは、前記放出電流を約0.5μA〜約10μAの範囲内に維持するように構成される、請求項1に記載のエレクトロスプレーイオン源アセンブリ。
- 前記エレクトロスプレー電極内の液体サンプルの流率は、約1μL/分〜約100μL/分の範囲内に維持される、請求項1に記載のエレクトロスプレーイオン源アセンブリ。
- 前記電源は、約2,000V〜約6,000Vの範囲内のDC電圧を前記エレクトロスプレー電極に提供するように構成される、請求項1に記載のエレクトロスプレーイオン源アセンブリ。
- 質量分析計システムであって、
分析されるべき液体サンプルを提供するための液体クロマトグラフィ(LC)カラムと、
前記LCカラムと流体連通するエレクトロスプレーイオン源であって、前記エレクトロスプレーイオン源は、
イオン化チャンバを画定するイオン源筐体と、
前記イオン化チャンバを加熱するための少なくとも1つのヒータと、
エレクトロスプレー電極であって、前記エレクトロスプレー電極は、前記エレクトロスプレー電極から前記イオン化チャンバの中に液体サンプルを排出するために、前記エレクトロスプレー電極の入口端におけるサンプル源から受容された前記液体サンプルを出口端に送出するための軸方向孔をそれを通して画定する、エレクトロスプレー電極と、
を備える、エレクトロスプレーイオン源と、
前記イオン源によって生成されるイオンを分析するための質量分析器であって、前記イオンは、前記質量分析器によって、対電極内のサンプリングオリフィスを通して受容され、前記サンプリングオリフィスは、前記イオン化チャンバと流体連通する、質量分析器と、
電源であって、前記電源は、前記液体サンプルの少なくとも一部が、前記エレクトロスプレー電極から排出される際にイオン化されると、前記エレクトロスプレー電極と前記サンプリングオリフィスとの間にイオン放出電流を生成するように、前記エレクトロスプレー電極および前記対電極を含有する電気回路に電圧を提供するように構成される、電源と、
イオン放出電流コントローラであって、前記イオン放出電流コントローラは、前記電源によって前記電気回路に提供される電圧を実質的に改変することなく、前記エレクトロスプレー電極と前記対電極との間のアーク放電を防止するように構成され、前記イオン放出電流コントローラは、
前記LCカラムと前記エレクトロスプレー電極の出口端との間に配置されるシャント電極であって、前記シャント電極は、前記液体サンプルと電気連通するように構成され、前記電源と前記エレクトロスプレー電極との間の電流の少なくとも一部は、前記エレクトロスプレー電極の出口端と前記シャント電極との間の液体サンプルの部分の導電率に基づいて、前記シャント電極に迂回される、シャント電極と、
前記電源と前記エレクトロスプレー電極との間の電気回路内に直列に配置される1つまたはそれを上回る電流限定抵抗器であって、前記1つまたはそれを上回る電流限定抵抗器は、前記イオン源の通常の非放電条件下で前記エレクトロスプレー電極と前記対電極との間の空隙の抵抗の約20%〜約100%の範囲内の全抵抗を呈し、前記1つまたはそれを上回る電流限定抵抗器は、約1〜3GΩの範囲内の全抵抗を呈する、1つまたはそれを上回る電流限定抵抗器と、
を備える、イオン放出電流コントローラと、
を備える、質量分析計システム。 - 前記イオン放出電流コントローラは、前記電源によって提供される電圧を実質的に改変することなく、前記イオン放出電流を約10μAを下回って維持するように構成される、請求項11に記載の質量分析計システム。
- 質量分析計システムのエレクトロスプレーイオン源を動作させるための方法であって、前記方法は、
エレクトロスプレー電極の入口端から前記エレクトロスプレー電極の出口端に液体サンプルを送出するステップであって、前記出口端は、前記エレクトロスプレー電極の出口端からイオン化チャンバの中に前記液体サンプルを排出するように、前記イオン化チャンバ内に配置され、前記イオン化チャンバは、質量分析計システムの対電極内に形成されるサンプリングオリフィスと流体連通する、ステップと、
前記イオン化チャンバを加熱するステップと、
前記液体サンプルの少なくとも一部が、前記エレクトロスプレー電極から排出される際にイオン化されると、前記エレクトロスプレー電極と前記サンプリングオリフィスとの間にイオン放出電流を生成するように、前記エレクトロスプレー電極および前記対電極を含有する電気回路に電圧(起電力)を提供するように電源を動作させるステップと、
前記電源によって前記電気回路に提供される電圧を実質的に改変することなく、前記エレクトロスプレー電極と前記対電極との間の放電の開始を限定するように、前記イオン放出電流を制御するステップと、
を含み、
前記電源と前記エレクトロスプレー電極との間の電気回路内に直列に配置される1つまたはそれを上回る電流限定抵抗器が、放電の開始を限定し、前記1つまたはそれを上回る電流限定抵抗器は、約1〜3GΩの範囲内の全抵抗を呈する、方法。 - 前記1つまたはそれを上回る電流限定抵抗器は、イオン放出電流が前記エレクトロスプレー電極と前記対電極との間の放電を伴わずに生成される前記イオン源の通常の動作条件下で前記エレクトロスプレー電極と前記対電極との間の空隙の抵抗の約20%〜約100%の範囲内の全抵抗を呈する、請求項13に記載の方法。
- 前記エレクトロスプレー電極の入口端から上流に配置され、前記液体サンプルと電気連通するシャント電極が、前記電源と前記エレクトロスプレー電極との間の電流の少なくとも一部を前記シャント電極に迂回させることによって、放電の開始を限定する、請求項13に記載の方法。
- 質量分析計システムのエレクトロスプレーイオン源を動作させるための方法であって、前記方法は、
エレクトロスプレー電極の入口端から前記エレクトロスプレー電極の出口端に液体サンプルを送出するステップであって、前記出口端は、前記エレクトロスプレー電極の出口端からイオン化チャンバの中に前記液体サンプルを排出するように、前記イオン化チャンバ内に配置され、前記イオン化チャンバは、質量分析計システムの対電極内に形成されるサンプリングオリフィスと流体連通する、ステップと、
前記イオン化チャンバを加熱するステップと、
前記液体サンプルの少なくとも一部が、前記エレクトロスプレー電極から排出される際にイオン化されると、前記エレクトロスプレー電極と前記サンプリングオリフィスとの間にイオン放出電流を生成するように、前記エレクトロスプレー電極および前記対電極を含有する電気回路に電圧(起電力)を提供するように電源を動作させるステップと、
前記電源によって前記電気回路に提供される電圧を実質的に改変することなく、前記エレクトロスプレー電極と前記対電極との間の放電の開始を限定するように、前記イオン放出電流を制御するステップと、
を含み、
前記エレクトロスプレー電極の入口端から上流に配置され、前記液体サンプルと電気連通するシャント電極が、前記電源と前記エレクトロスプレー電極との間の電流の少なくとも一部を前記シャント電極に迂回させることによって、放電の開始を限定し、
前記イオン放出電流を制御するステップは、前記シャント電極と前記エレクトロスプレー電極との間の距離を調節するステップを含み、前記距離は、前記液体サンプルの導電率に基づく、方法。 - 前記イオン放出電流は、約0.5μA〜約10μAの範囲内に維持される、請求項13に記載の方法。
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US11031227B2 (en) * | 2018-05-18 | 2021-06-08 | Perkinelmer Health Sciences Canada, Inc. | Discharge chambers and ionization devices, methods and systems using them |
GB201815676D0 (en) * | 2018-09-26 | 2018-11-07 | Micromass Ltd | MALDI nozzle |
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US11543306B2 (en) * | 2019-09-24 | 2023-01-03 | The Trustees Of The University Of Pennsylvania | Ultra-sensitive, mechanically-responsive optical metasurfaces via strain amplification |
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Family Cites Families (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US958899A (en) * | 1907-09-03 | 1910-05-24 | Chester H Thordarson | Spark-coil. |
US5015845A (en) * | 1990-06-01 | 1991-05-14 | Vestec Corporation | Electrospray method for mass spectrometry |
US5115131A (en) * | 1991-05-15 | 1992-05-19 | The University Of North Carolina At Chapel Hill | Microelectrospray method and apparatus |
US5412208A (en) * | 1994-01-13 | 1995-05-02 | Mds Health Group Limited | Ion spray with intersecting flow |
JP2777614B2 (ja) * | 1997-01-13 | 1998-07-23 | 株式会社日立製作所 | 質量分析方法および質量分析計 |
JPH10332639A (ja) * | 1997-06-02 | 1998-12-18 | Hitachi Ltd | 質量分析装置 |
US6407382B1 (en) * | 1999-06-04 | 2002-06-18 | Technispan Llc | Discharge ionization source |
JP2001074697A (ja) * | 1999-09-07 | 2001-03-23 | Jeol Ltd | エレクトロスプレー・イオン源 |
US6452166B1 (en) * | 2000-04-19 | 2002-09-17 | University Of New Mexico | Resistive stabilization of the electrospray ionization process |
US6649907B2 (en) | 2001-03-08 | 2003-11-18 | Wisconsin Alumni Research Foundation | Charge reduction electrospray ionization ion source |
US7232992B2 (en) * | 2004-05-21 | 2007-06-19 | Analytica Of Branford, Inc. | Charged droplet sprayers |
US7763848B2 (en) * | 2005-01-18 | 2010-07-27 | Phoenix S&T, Inc. | Apparatus and method for controlling an electrostatically induced liquid spray |
US7326926B2 (en) | 2005-07-06 | 2008-02-05 | Yang Wang | Corona discharge ionization sources for mass spectrometric and ion mobility spectrometric analysis of gas-phase chemical species |
US20100264304A1 (en) * | 2006-04-04 | 2010-10-21 | Martinez-Lozano Pablo | Method for detecting volatile species of high molecular weight |
GB0608024D0 (en) * | 2006-04-24 | 2006-05-31 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
JP5613557B2 (ja) * | 2007-06-01 | 2014-10-22 | パーキンエルマー ヘルス サイエンス インコーポレイテッドPerkinelmer Health Sciences Inc. | 大気圧イオン源の性能強化 |
JP4839276B2 (ja) | 2007-07-24 | 2011-12-21 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 液体クロマトグラフ質量分析装置 |
US20090095899A1 (en) * | 2007-10-16 | 2009-04-16 | Whitehouse Craig M | Atmospheric pressure ion source performance enhancement |
US8084735B2 (en) * | 2008-09-25 | 2011-12-27 | Ut-Battelle, Llc | Pulsed voltage electrospray ion source and method for preventing analyte electrolysis |
US8242441B2 (en) * | 2009-12-18 | 2012-08-14 | Thermo Finnigan Llc | Apparatus and methods for pneumatically-assisted electrospray emitter array |
US8258469B2 (en) | 2010-03-15 | 2012-09-04 | National Sun Yat-Sen University | Cycling electrospray ionization device |
JP5722125B2 (ja) | 2011-06-03 | 2015-05-20 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置 |
US9903845B2 (en) * | 2012-02-13 | 2018-02-27 | Waters Technologies Corporation | Ionization of analyte molecules comprised in a flow of gas |
US9500621B2 (en) * | 2012-06-04 | 2016-11-22 | Beckman Coulter, Inc. | Leakage current sense circuit for error detection in an improved capillary electrophoresis-electrospray ionization-mass spectrometry system |
JP5893756B2 (ja) * | 2012-11-29 | 2016-03-23 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | ハイブリッドイオン源、質量分析計及びイオンモビリティ装置 |
WO2015110860A1 (en) * | 2014-01-24 | 2015-07-30 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Systems and methods for delivering liquid to an ion source |
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