JPH0298661A - 妨害成分の影響を受けない残留塩素測定方法 - Google Patents
妨害成分の影響を受けない残留塩素測定方法Info
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- JPH0298661A JPH0298661A JP63251583A JP25158388A JPH0298661A JP H0298661 A JPH0298661 A JP H0298661A JP 63251583 A JP63251583 A JP 63251583A JP 25158388 A JP25158388 A JP 25158388A JP H0298661 A JPH0298661 A JP H0298661A
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- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 43
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 43
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Non-Biological Materials By The Use Of Chemical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、無試薬形ポーラログラフ式残留塩素計を用い
た測定において、塩素測定に妨害となる他成分の影響を
除去した残留塩素測定方法に関する。
た測定において、塩素測定に妨害となる他成分の影響を
除去した残留塩素測定方法に関する。
〈従来の技術〉
残留塩素計は指示極と比較極とを対向配置し、溶液中に
存在する遊離塩素をポーラログラフ法に従って測定する
もので、妨害成分の影響を除くなめ試薬を用いてｐＨ調
整を行うタイプと無試薬タイプとがある。
存在する遊離塩素をポーラログラフ法に従って測定する
もので、妨害成分の影響を除くなめ試薬を用いてｐＨ調
整を行うタイプと無試薬タイプとがある。
第３図は従来の無試薬形残留塩素計の構成図である０図
中、１は電極槽で、流入口１１より槽内に導かれたサン
プルＳは測定槽１ｂに導かれ、オーバーフローしたサン
プルは流出口ＩＣより排出される。測定槽１ｂにはガス
ラビーズ１ｄが入れられ、この部分に先端の微小金電極
部分を挿入して回転指示極２が設けられ、更にこの電極
と対向して比較極３が設けられている。
中、１は電極槽で、流入口１１より槽内に導かれたサン
プルＳは測定槽１ｂに導かれ、オーバーフローしたサン
プルは流出口ＩＣより排出される。測定槽１ｂにはガス
ラビーズ１ｄが入れられ、この部分に先端の微小金電極
部分を挿入して回転指示極２が設けられ、更にこの電極
と対向して比較極３が設けられている。
４はこれら電極間に流れる拡散電流を検出する電流計、
５は電源、６はプラトーを生ずる電極電位を与える直流
加電圧部でボリュームと電圧計とを含む。
５は電源、６はプラトーを生ずる電極電位を与える直流
加電圧部でボリュームと電圧計とを含む。
このような構成で、塩素ガスが吹込まれた水中にはＨＣ
ｌ０またはＣｌ０−として遊離有効塩素が存在する。こ
れらをまとめてＣＩ、とすると指示極２において以下の
還元反応が起こり、ｃ１２＋２ｅ−−２ＣＩ−＝（１） 比較ｆ１３で以下の電解酸化が起こる。
ｌ０またはＣｌ０−として遊離有効塩素が存在する。こ
れらをまとめてＣＩ、とすると指示極２において以下の
還元反応が起こり、ｃ１２＋２ｅ−−２ＣＩ−＝（１） 比較ｆ１３で以下の電解酸化が起こる。
ＡｇＣｌ十ｅ−、！Ａｇ十ＣＩ−−−−（２）この電気
分解が始まる印加電圧は既知であるから、直流加電圧部
６のボリュームを調整しこの電圧が指示１ｆ１２と比較
極３との間に加わるようにセットする。このとき流れる
拡散電流ｉｄは以下のように被測定液の濃度Ｃに関連し
た値を示す。
分解が始まる印加電圧は既知であるから、直流加電圧部
６のボリュームを調整しこの電圧が指示１ｆ１２と比較
極３との間に加わるようにセットする。このとき流れる
拡散電流ｉｄは以下のように被測定液の濃度Ｃに関連し
た値を示す。
ｉ ｄ ＝ＫＣ・・・（３）
この電流を測定して遊離有効塩素濃度を求めている。尚
、プラトーを生ずる電位は拡散電流が大きくなるほど電
極間のオームの法則に基づく電圧降下が大きくなってず
れる。このため、特公昭５４６７９、特開昭５０−１．
、０１．０９５号で開示されているような方法によって
拡散電流に応じて印加電圧を変化させ、印加電圧がプラ
トー電位から外れないようにしている。
、プラトーを生ずる電位は拡散電流が大きくなるほど電
極間のオームの法則に基づく電圧降下が大きくなってず
れる。このため、特公昭５４６７９、特開昭５０−１．
、０１．０９５号で開示されているような方法によって
拡散電流に応じて印加電圧を変化させ、印加電圧がプラ
トー電位から外れないようにしている。
しかしながら、このような試薬を用いないタイプの残留
塩素計では、サンプル中に妨害成分が残り、この妨害成
分によって測定すべき拡散＠流値が影響される。第４図
は妨害成分を含むサングルのポーラログラムを表わす、
ＰＣは遊離有効塩素によるプラトー、ＰＡは第１の妨害
成分によるプラトー、Ｐａは第２の妨害成分によるプラ
トーを表わす、ｉＣ−、ＩＡ＋ ｉａはそれぞれの拡散
電流を表わし、Ｅｃ 、ＥＡ 、ＥＢはこれらプラトー
を生ずる加電圧を表わす。加電圧をＥＣにセットして測
定を行った場合、ＥＡで第１の妨害成分が電解（還元）
され、ＥＢで第２の妨害成分が電解（還元）されて拡散
電流が流れ、これらが測定すべき遊離有効塩素の拡散電
流ｉＣに加わり、ｉ、 Ｃは測定すべき真の遊離有効塩
素濃度を表わさなくなる。
塩素計では、サンプル中に妨害成分が残り、この妨害成
分によって測定すべき拡散＠流値が影響される。第４図
は妨害成分を含むサングルのポーラログラムを表わす、
ＰＣは遊離有効塩素によるプラトー、ＰＡは第１の妨害
成分によるプラトー、Ｐａは第２の妨害成分によるプラ
トーを表わす、ｉＣ−、ＩＡ＋ ｉａはそれぞれの拡散
電流を表わし、Ｅｃ 、ＥＡ 、ＥＢはこれらプラトー
を生ずる加電圧を表わす。加電圧をＥＣにセットして測
定を行った場合、ＥＡで第１の妨害成分が電解（還元）
され、ＥＢで第２の妨害成分が電解（還元）されて拡散
電流が流れ、これらが測定すべき遊離有効塩素の拡散電
流ｉＣに加わり、ｉ、 Ｃは測定すべき真の遊離有効塩
素濃度を表わさなくなる。
〈発明が解決しようとする課題〉
本発明の解決しようとする技術的課題は、前記無試薬形
残留塩素計を用いた測定において、塩素測定に妨害とな
る成分の影響を除去した残留塩素測定方法を実現するこ
とにある。
残留塩素計を用いた測定において、塩素測定に妨害とな
る成分の影響を除去した残留塩素測定方法を実現するこ
とにある。
く課題を解決するための手段〉
本発明の構成は、測定槽に導入された、遊離有効ｔｌ素
を含む被測定液中に、指示極と比較極とを浸漬し、これ
ら電極間に加電圧を印加し、電極間に流れる電流に基づ
き前記被測定液中の遊離有効塩素濃度を測定する無試薬
形残留塩素計において、前記加電圧を前記遊離有効塩素
によるプラトーを生ぜしめる電圧まで掃引するステップ
と、前記遊離有効塩素のプラトーのときの拡散電流ｊｃ
と、このプラトーより一つ手前のプラトーのときの拡散
電流ＩＢを測定し記憶するステップと、ｉＣ−ｔａを求
めるステップとを含み、ｉＣ− ｆＨに基づき前記被測
定液中の遊離塩素濃度を求めるようにしたことにある。
を含む被測定液中に、指示極と比較極とを浸漬し、これ
ら電極間に加電圧を印加し、電極間に流れる電流に基づ
き前記被測定液中の遊離有効塩素濃度を測定する無試薬
形残留塩素計において、前記加電圧を前記遊離有効塩素
によるプラトーを生ぜしめる電圧まで掃引するステップ
と、前記遊離有効塩素のプラトーのときの拡散電流ｊｃ
と、このプラトーより一つ手前のプラトーのときの拡散
電流ＩＢを測定し記憶するステップと、ｉＣ−ｔａを求
めるステップとを含み、ｉＣ− ｆＨに基づき前記被測
定液中の遊離塩素濃度を求めるようにしたことにある。
く作用〉
前記の技術手段は次のように作用する。即ち、前記指示
極と比較極との間の印加電圧を、遊離有効塩素のプラト
ーを生ぜしめる加電圧ＥＣまで掃引し、このときのポー
ラログラムを記憶する。前記遊離有効塩素のプラトーの
一つ手前のプラトーかどうかは電流１の変化率から分り
、加電圧Ｅｃに最も近い最大プラトー加電圧を判断し、
この値ＥＢを記憶する。加電圧Ｅｃ 、ＥＢに対応する
拡散電流ｉＣ−、ｉＢを、例えば前記ポーラログラムか
ら求めてｉＣ−ｉｓなる演算を行って妨害成分の影響を
除去した、前記遊離有効塩素濃度にのみ比例した出力を
得る。
極と比較極との間の印加電圧を、遊離有効塩素のプラト
ーを生ぜしめる加電圧ＥＣまで掃引し、このときのポー
ラログラムを記憶する。前記遊離有効塩素のプラトーの
一つ手前のプラトーかどうかは電流１の変化率から分り
、加電圧Ｅｃに最も近い最大プラトー加電圧を判断し、
この値ＥＢを記憶する。加電圧Ｅｃ 、ＥＢに対応する
拡散電流ｉＣ−、ｉＢを、例えば前記ポーラログラムか
ら求めてｉＣ−ｉｓなる演算を行って妨害成分の影響を
除去した、前記遊離有効塩素濃度にのみ比例した出力を
得る。
〈実施例〉
第１図は本発明方法を実施する無試薬形残留塩素計の構
成図である０図中、第３図における要素と同じ要素には
同一符号が付されている。７は電極間に流れる電流１に
比例した電圧を発生する電流電圧変換器、８はこの電流
電圧変換器の出力電圧をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ
変換器、９はマイクロプロセッサ及び記憶部を含む信号
処理部、１０はこの信号処理部からのデジタル出力信号
をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換器、１１はこのＤ
、／’ Ａ変換器の出力を表示するメータ、１２は信
号処理部９から与えられるデジタル加電圧信号をアナロ
グ信号に変換するＤ／Ａ変換器、１３はＤ／Ａ変換器１
２の出力に基づき電極間に加える印加電圧を発生する加
電圧発生回路である。
成図である０図中、第３図における要素と同じ要素には
同一符号が付されている。７は電極間に流れる電流１に
比例した電圧を発生する電流電圧変換器、８はこの電流
電圧変換器の出力電圧をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ
変換器、９はマイクロプロセッサ及び記憶部を含む信号
処理部、１０はこの信号処理部からのデジタル出力信号
をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換器、１１はこのＤ
、／’ Ａ変換器の出力を表示するメータ、１２は信
号処理部９から与えられるデジタル加電圧信号をアナロ
グ信号に変換するＤ／Ａ変換器、１３はＤ／Ａ変換器１
２の出力に基づき電極間に加える印加電圧を発生する加
電圧発生回路である。
本発明方法を第１図の構成図、第２図の７０チヤート、
並びに第４図のポーラログラムを参照しながら説明する
。信号処理部９がら測定毎に加えられる信号に基づき加
電圧を（＋）から（−）に向けて遊離有効塩素のプラト
ーＰｃを生ずる加電圧ＥＣまで掃引する（第２図ステッ
プ（１））。
並びに第４図のポーラログラムを参照しながら説明する
。信号処理部９がら測定毎に加えられる信号に基づき加
電圧を（＋）から（−）に向けて遊離有効塩素のプラト
ーＰｃを生ずる加電圧ＥＣまで掃引する（第２図ステッ
プ（１））。
このときの電極間に流れる電流１と加電圧Ｅとの関ｌ系
（ポーラログラム）を信号処理部９の記憶部に記憶する
（第２図ステップ（２））、遊離有効塩素のプラトー［
）ｃのときの拡散電流ｉ（Ｈは加電圧ＥＣが既知である
から記憶されたデータより簡単に求まる。一方、プラト
ーＰｃの一つ手前のプラトーの拡散電流は次のようにし
て求める。プラトーは電流１の変化率から分る。加電圧
ＥＣに最も近い最大プラトー加電圧を判断し、この値Ｅ
Ｂを記憶する（第２図ステップ（３））、次いで、加電
圧Ｅｃ及びＥＢに対応する拡散な流ｉＣ。
（ポーラログラム）を信号処理部９の記憶部に記憶する
（第２図ステップ（２））、遊離有効塩素のプラトー［
）ｃのときの拡散電流ｉ（Ｈは加電圧ＥＣが既知である
から記憶されたデータより簡単に求まる。一方、プラト
ーＰｃの一つ手前のプラトーの拡散電流は次のようにし
て求める。プラトーは電流１の変化率から分る。加電圧
ＥＣに最も近い最大プラトー加電圧を判断し、この値Ｅ
Ｂを記憶する（第２図ステップ（３））、次いで、加電
圧Ｅｃ及びＥＢに対応する拡散な流ｉＣ。
ｉｓを前記データから求めて記憶しく第２図ステップ（
４））、これらの拡散電流の引算（ｉＣｍｉ日）を行い
（第２図ステップ＜５））、演算結果である真の遊離有
効塩素濃度をメータ１１に出力する（第２図ステップ（
６））。
４））、これらの拡散電流の引算（ｉＣｍｉ日）を行い
（第２図ステップ＜５））、演算結果である真の遊離有
効塩素濃度をメータ１１に出力する（第２図ステップ（
６））。
〈発明の効果〉
本発明方法によれば、前記無試薬形残留塩素計を用いた
測定において残留塩素測定の妨害となる成分の影響が除
去される。
測定において残留塩素測定の妨害となる成分の影響が除
去される。
尚、上記した本発明方法の実施例装置では測定毎に加電
圧を掃引し、得られたポーラログラムを使って拡散電流
を求めるようにしているが、加電圧の掃引は一回とし、
得られたポーラログラムから遊離有効塩素のプラトーを
生ぜしめる加電圧Ｅｃとこの一つ手前のプラトーを生ぜ
しめる加電圧ＥＢを求めて記憶させ、それ以後の測定で
は、ＥｃとＥＢとを交互に電極間に印加して拡散電流ｉ
Ｃ−、ｔｏを測定するようにしても良い。
圧を掃引し、得られたポーラログラムを使って拡散電流
を求めるようにしているが、加電圧の掃引は一回とし、
得られたポーラログラムから遊離有効塩素のプラトーを
生ぜしめる加電圧Ｅｃとこの一つ手前のプラトーを生ぜ
しめる加電圧ＥＢを求めて記憶させ、それ以後の測定で
は、ＥｃとＥＢとを交互に電極間に印加して拡散電流ｉ
Ｃ−、ｔｏを測定するようにしても良い。
第１図は本発明方法を実施する無試薬形残留塩素計の構
成図、第２図は本発明方法を説明するフローチャート、
第３図は従来の無試薬形残留塩素計の構成図、第４図は
妨害成分を含むサンプルのポーラログラムを表わす。 ２・・・指示極、３・・・比較極、７・・・電流電圧変
換器、８・・・Ａ／Ｄ変換器、９・・・信号処理部、１
０・・・Ｄ／Ａ変換器、１１・・・メータ、１２・・・
Ｄ／Ａ変換器、第２図
成図、第２図は本発明方法を説明するフローチャート、
第３図は従来の無試薬形残留塩素計の構成図、第４図は
妨害成分を含むサンプルのポーラログラムを表わす。 ２・・・指示極、３・・・比較極、７・・・電流電圧変
換器、８・・・Ａ／Ｄ変換器、９・・・信号処理部、１
０・・・Ｄ／Ａ変換器、１１・・・メータ、１２・・・
Ｄ／Ａ変換器、第２図
Claims (1)
- 測定槽に導入された、遊離有効塩素を含む被測定液中に
、指示極と比較極とを浸漬し、これら電極間に加電圧を
印加し、電極間に流れる電流に基づき前記被測定液中の
遊離有効塩素濃度を測定する無試薬形残留塩素計におい
て、前記加電圧を前記遊離有効塩素によるプラトーを生
ぜしめる加電圧まで掃引するステップと、前記遊離有効
塩素のプラトーのときの拡散電流ｉ＿Ｃと、このプラト
ーより一つ手前のプラトーのときの拡散電流ｉ＿Ｂを測
定し記憶するステップと、ｉ＿Ｃ−ｉ＿Ｂを求めるステ
ップとを含み、ｉ＿Ｃ−ｉ＿Ｂに基づき前記被測定液中
の遊離塩素濃度を求めるようにした妨害成分の影響を受
けない残留塩素測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63251583A JPH0635959B2 (ja) | 1988-10-05 | 1988-10-05 | 妨害成分の影響を受けない残留塩素測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63251583A JPH0635959B2 (ja) | 1988-10-05 | 1988-10-05 | 妨害成分の影響を受けない残留塩素測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0298661A true JPH0298661A (ja) | 1990-04-11 |
| JPH0635959B2 JPH0635959B2 (ja) | 1994-05-11 |
Family
ID=17224975
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63251583A Expired - Lifetime JPH0635959B2 (ja) | 1988-10-05 | 1988-10-05 | 妨害成分の影響を受けない残留塩素測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0635959B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0543064U (ja) * | 1991-11-14 | 1993-06-11 | 横河電機株式会社 | 結合型有効塩素対策形無試薬形遊離塩素計 |
| JPH11148914A (ja) * | 1997-11-18 | 1999-06-02 | Kubota Corp | 塩素濃度測定装置 |
| JP2001091495A (ja) * | 1999-09-20 | 2001-04-06 | Japan Science & Technology Corp | 残留塩素計およびこれを利用する浄水装置 |
-
1988
- 1988-10-05 JP JP63251583A patent/JPH0635959B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0543064U (ja) * | 1991-11-14 | 1993-06-11 | 横河電機株式会社 | 結合型有効塩素対策形無試薬形遊離塩素計 |
| JPH11148914A (ja) * | 1997-11-18 | 1999-06-02 | Kubota Corp | 塩素濃度測定装置 |
| JP2001091495A (ja) * | 1999-09-20 | 2001-04-06 | Japan Science & Technology Corp | 残留塩素計およびこれを利用する浄水装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0635959B2 (ja) | 1994-05-11 |
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