JPH0641168Y2 - 無試薬形残留塩素計 - Google Patents
無試薬形残留塩素計Info
- Publication number
- JPH0641168Y2 JPH0641168Y2 JP13066188U JP13066188U JPH0641168Y2 JP H0641168 Y2 JPH0641168 Y2 JP H0641168Y2 JP 13066188 U JP13066188 U JP 13066188U JP 13066188 U JP13066188 U JP 13066188U JP H0641168 Y2 JPH0641168 Y2 JP H0641168Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- electrode
- plateau
- free available
- available chlorine
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Non-Biological Materials By The Use Of Chemical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本考案は、無試薬形ポーラログラフ式残留塩素計に関
し、更に詳しくは塩素測定に妨害となる他成分の影響を
除去した無試薬形残留塩素計に関する。
し、更に詳しくは塩素測定に妨害となる他成分の影響を
除去した無試薬形残留塩素計に関する。
〈従来の技術〉 残留塩素計は指示極と比較極とを対向配置し、溶液中に
存在する遊離有効塩素をポーラログラフ法に従って測定
するもので、妨害成分の影響を除くため試薬を用いてpH
調整を行うタイプと無試薬タイプとがある。前者は妨害
成分の影響が測定結果に現れないが試薬を用いる必要が
ある。
存在する遊離有効塩素をポーラログラフ法に従って測定
するもので、妨害成分の影響を除くため試薬を用いてpH
調整を行うタイプと無試薬タイプとがある。前者は妨害
成分の影響が測定結果に現れないが試薬を用いる必要が
ある。
第３図は従来の無試薬形残留塩素計の構成図である。図
中、１は電極槽で、流入口1aより槽内に導かれたサンプ
ルＳは測定槽1bに導かれ、オーバーフローしたサンプル
は流出口1cより排出される。測定槽1bにはガスラビーズ
1dが入れられ、この部分に先端のスポット電極2aを挿入
した回転指示極２が設けられ、更にこの電極と対向して
比較極３が設けられている。
中、１は電極槽で、流入口1aより槽内に導かれたサンプ
ルＳは測定槽1bに導かれ、オーバーフローしたサンプル
は流出口1cより排出される。測定槽1bにはガスラビーズ
1dが入れられ、この部分に先端のスポット電極2aを挿入
した回転指示極２が設けられ、更にこの電極と対向して
比較極３が設けられている。
４はこれら電極間に流れる拡散電流を検出する電流計、
５は電源、６はプラトーを生ずる電極電位を与える直流
加電圧部でボリュームと電圧計とを含む。
５は電源、６はプラトーを生ずる電極電位を与える直流
加電圧部でボリュームと電圧計とを含む。
このような構成で、塩素ガスが吹込まれた水中にはHClO
またはClO-として遊離有効塩素が存在する。これらをま
とめてCl2とすると指示極２において以下の還元反応が
起こり、 Cl2＋2e-→2Cl- ……（１） 比較極３で以下の電解酸化が起こる。
またはClO-として遊離有効塩素が存在する。これらをま
とめてCl2とすると指示極２において以下の還元反応が
起こり、 Cl2＋2e-→2Cl- ……（１） 比較極３で以下の電解酸化が起こる。
AgCl＋e-Ag＋Cl- ……（２） この電気分解の始まる印加電圧レベルは既知であり、直
流加電圧部６のボリュームを調整し、指示極２と比較極
３との間にこの印加電圧が加わるようにセットする。こ
のとき流れる拡散電流idは以下のように被測定液の濃度
Ｃに関連した値を示し、 id＝KC ……（３） （但し、K:定数）。
流加電圧部６のボリュームを調整し、指示極２と比較極
３との間にこの印加電圧が加わるようにセットする。こ
のとき流れる拡散電流idは以下のように被測定液の濃度
Ｃに関連した値を示し、 id＝KC ……（３） （但し、K:定数）。
この電流を測定して遊離有効塩素濃度を求めている。
尚、プラトーを生ずる電位は拡散電流が大きくなるほど
電極間のオームの法則に基づく電圧降下が大きくなって
ずれる。このため、特公昭54-679、特開昭50-101095号
で開示されているような方法によって拡散電流に応じて
印加電圧を変化させ、印加電圧がプラトー電位から外れ
ないようにしている。
尚、プラトーを生ずる電位は拡散電流が大きくなるほど
電極間のオームの法則に基づく電圧降下が大きくなって
ずれる。このため、特公昭54-679、特開昭50-101095号
で開示されているような方法によって拡散電流に応じて
印加電圧を変化させ、印加電圧がプラトー電位から外れ
ないようにしている。
しかしながら、このような試薬を用いないタイプの残留
塩素計では、サンプル中に妨害成分が残り、この妨害成
分によって測定すべき拡散電流値が影響される。第４図
は妨害成分を含むサンプルのポーラログラムを表わす。
PCは遊離有効塩素によるプラトー、PAは第１の妨害成分
によるプラトー、PBは第２の妨害成分によるプラトーを
表わす。iC，iA，iBはそれぞれの拡散電流を表わし、
EC，EA，EBはこれらプラトーを生ずる加電圧を表わす。
加電圧をECにセットして測定を行った場合、EAで第１の
妨害成分が電解（還元）され、EBで第２の妨害成分が電
解（還元）されて拡散電流が流れ、これらが測定すべき
遊離有効塩素の拡散電流iCに加わり、iCは測定すべき真
の遊離有効塩素濃度に対応しなくなる。
塩素計では、サンプル中に妨害成分が残り、この妨害成
分によって測定すべき拡散電流値が影響される。第４図
は妨害成分を含むサンプルのポーラログラムを表わす。
PCは遊離有効塩素によるプラトー、PAは第１の妨害成分
によるプラトー、PBは第２の妨害成分によるプラトーを
表わす。iC，iA，iBはそれぞれの拡散電流を表わし、
EC，EA，EBはこれらプラトーを生ずる加電圧を表わす。
加電圧をECにセットして測定を行った場合、EAで第１の
妨害成分が電解（還元）され、EBで第２の妨害成分が電
解（還元）されて拡散電流が流れ、これらが測定すべき
遊離有効塩素の拡散電流iCに加わり、iCは測定すべき真
の遊離有効塩素濃度に対応しなくなる。
〈考案が解決しようとする課題〉 本考案の解決しようとする技術的課題は、前記無試薬形
残留塩素計において塩素測定の妨害となる成分の影響を
除去することにある。
残留塩素計において塩素測定の妨害となる成分の影響を
除去することにある。
〈課題を解決するための手段〉 このような目的を達成するために、本考案は、 回転指示極と比較極との間に流れた、被測定液中の遊離
有効塩素を還元するのに要した拡散電流に基づいて、遊
離有効塩素の濃度を測定する無試薬形残留塩素計におい
て、 前記回転指示極側に設けられた第１及び第２のスポット
電極と、 この第１のスポット電極と前記比較極との間に遊離有効
塩素のプラトーを生ぜしめる電圧を印加する第１の加電
圧発生回路と、 前記第２のスポット電極と前記比較極との間に前記遊離
有効塩素のプラトーに最も近いプラトーを生ぜしめる電
圧を印加する第２の加電圧発生回路と、 前記第１のスポット電極と前記比較極との間に流れる電
流を電圧に変換すると共に、前記第２のスポット電極と
前記比較極との間に流れる電流を電圧に変換する電流電
圧変換器と、 前記第１の加電圧発生回路で電圧を印加した時に、前記
電流電圧変換器で得た電圧と、前記第２の加電圧発生回
路で電圧を印加した時に、前記電流電圧変換器で得た電
圧との差に基づき、遊離有効塩素のプラトーと前記遊離
有効塩素のプラトーに最も近いプラトーの拡散電流の差
を得て、遊離有効塩素の濃度を演算する信号処理部と を設けたことを特徴としている。
有効塩素を還元するのに要した拡散電流に基づいて、遊
離有効塩素の濃度を測定する無試薬形残留塩素計におい
て、 前記回転指示極側に設けられた第１及び第２のスポット
電極と、 この第１のスポット電極と前記比較極との間に遊離有効
塩素のプラトーを生ぜしめる電圧を印加する第１の加電
圧発生回路と、 前記第２のスポット電極と前記比較極との間に前記遊離
有効塩素のプラトーに最も近いプラトーを生ぜしめる電
圧を印加する第２の加電圧発生回路と、 前記第１のスポット電極と前記比較極との間に流れる電
流を電圧に変換すると共に、前記第２のスポット電極と
前記比較極との間に流れる電流を電圧に変換する電流電
圧変換器と、 前記第１の加電圧発生回路で電圧を印加した時に、前記
電流電圧変換器で得た電圧と、前記第２の加電圧発生回
路で電圧を印加した時に、前記電流電圧変換器で得た電
圧との差に基づき、遊離有効塩素のプラトーと前記遊離
有効塩素のプラトーに最も近いプラトーの拡散電流の差
を得て、遊離有効塩素の濃度を演算する信号処理部と を設けたことを特徴としている。
〈作用〉 前記の技術手段は次のように作用する。即ち、例えば、
前記比較極と前記指示極との間に印加する加電圧を変化
させ、前記被測定液のポーラログラムを予め測定する。
これに基づき前記遊離有効塩素のプラトーを生ぜしめる
加電圧、並びにこのプラトーに最も近い妨害成分による
プラトーを生ぜしめる加電圧を求め、前記比較極と前記
第１のスポット電極との間に前者の加電圧を印加し、前
記比較極と前記第２のスポット電極との間に後者の加電
圧を印加する。前記の演算を行うことによって妨害成分
の影響が除去され前記遊離有効塩素濃度にのみ比例した
出力が得られる。
前記比較極と前記指示極との間に印加する加電圧を変化
させ、前記被測定液のポーラログラムを予め測定する。
これに基づき前記遊離有効塩素のプラトーを生ぜしめる
加電圧、並びにこのプラトーに最も近い妨害成分による
プラトーを生ぜしめる加電圧を求め、前記比較極と前記
第１のスポット電極との間に前者の加電圧を印加し、前
記比較極と前記第２のスポット電極との間に後者の加電
圧を印加する。前記の演算を行うことによって妨害成分
の影響が除去され前記遊離有効塩素濃度にのみ比例した
出力が得られる。
〈実施例〉 第１図は本考案方法を実施する無試薬形残留塩素計の構
成図である。図中、第３図における要素と同じ要素には
同一符号が付されている。７は回転指示極で、第２図の
斜視図で示す外形を有し、二つのスポット電極7a，7
bと、ここからのリードを導出するスリップ・リング
7c，7dが設けられ、全体はモータ８によって回転され
る。
成図である。図中、第３図における要素と同じ要素には
同一符号が付されている。７は回転指示極で、第２図の
斜視図で示す外形を有し、二つのスポット電極7a，7
bと、ここからのリードを導出するスリップ・リング
7c，7dが設けられ、全体はモータ８によって回転され
る。
９は比較極３と第１のスポット電極7a間に遊離有効塩素
のプラトーを生ぜしめる加電圧を発生する第１の加電圧
発生回路、10は比較極３と第２のスポット電極7b間に遊
離有効塩素のプラトーに最も近い妨害成分によるプラト
ーを生ぜしめる加電圧を発生する第２の加電圧発生回路
である。11は比較極３と第１のスポット電極7a間に流れ
る電流を電圧信号に変換する電流電圧変換器、12は比較
極３と第２のスポット電極7b間に流れる電流を電圧信号
に変換する電流電圧変換器である。13は電流電圧変換器
11の出力をデジタル信号に変換するA/D変換器、14は電
流電圧変換器12の出力をデジタル信号に変換するA/D変
換器である。15はA/D変換器13,14からデジタル信号が加
えられた信号処理部で出力はD/A変換器16を通じメータ
等の指示部17に加えられている。
のプラトーを生ぜしめる加電圧を発生する第１の加電圧
発生回路、10は比較極３と第２のスポット電極7b間に遊
離有効塩素のプラトーに最も近い妨害成分によるプラト
ーを生ぜしめる加電圧を発生する第２の加電圧発生回路
である。11は比較極３と第１のスポット電極7a間に流れ
る電流を電圧信号に変換する電流電圧変換器、12は比較
極３と第２のスポット電極7b間に流れる電流を電圧信号
に変換する電流電圧変換器である。13は電流電圧変換器
11の出力をデジタル信号に変換するA/D変換器、14は電
流電圧変換器12の出力をデジタル信号に変換するA/D変
換器である。15はA/D変換器13,14からデジタル信号が加
えられた信号処理部で出力はD/A変換器16を通じメータ
等の指示部17に加えられている。
本考案を第１図の構成図、並びに第４図のポーラログラ
ムに従い説明する。例えば、測定に先立ち、加電圧発生
回路９の出力電圧を変え、比較極３と第１スポット電極
7aとの間に加えられる加電圧を第４図の遊離有効塩素の
プラトーPCを与える電位ECまで連続的に変化させ、ポー
ラログラムを得る。このような一連の作業は信号処理部
15に格納された制御プログラムに従って自動で行われ
る。
ムに従い説明する。例えば、測定に先立ち、加電圧発生
回路９の出力電圧を変え、比較極３と第１スポット電極
7aとの間に加えられる加電圧を第４図の遊離有効塩素の
プラトーPCを与える電位ECまで連続的に変化させ、ポー
ラログラムを得る。このような一連の作業は信号処理部
15に格納された制御プログラムに従って自動で行われ
る。
このポーラログラムに従って遊離有効塩素のプラトーPC
を生ぜしめる加電圧EC、並びにこのプラトーに最も近い
（一つ手前の）、妨害成分によるプラトーPBを生ぜしめ
る加電圧EBを求める。
を生ぜしめる加電圧EC、並びにこのプラトーに最も近い
（一つ手前の）、妨害成分によるプラトーPBを生ぜしめ
る加電圧EBを求める。
次に、加電圧発生回路９による加電圧をECにセットし、
加電圧発生回路10による加電圧をEBにセットし、比較極
３と第１のスポット電極7aに流れる拡散電流iC、及び比
較極３と第２のスポット電極7bに流れる拡散電流iBを測
定しこれを信号処理部15に取込む。信号処理部15におい
てiC−iBなる演算を行い妨害成分の影響を除去し、被測
定液の遊離有効塩素濃度にのみ比例した出力を指示部17
から出力する。
加電圧発生回路10による加電圧をEBにセットし、比較極
３と第１のスポット電極7aに流れる拡散電流iC、及び比
較極３と第２のスポット電極7bに流れる拡散電流iBを測
定しこれを信号処理部15に取込む。信号処理部15におい
てiC−iBなる演算を行い妨害成分の影響を除去し、被測
定液の遊離有効塩素濃度にのみ比例した出力を指示部17
から出力する。
〈考案の効果〉 本考案によれば無試薬形残留塩素計において塩素測定の
妨害となる成分の影響が除去され、被測定液の遊離有効
塩素濃度のみに比例した出力が得られる。
妨害となる成分の影響が除去され、被測定液の遊離有効
塩素濃度のみに比例した出力が得られる。
第１図は本考案の実施例装置である無試薬形残留塩素計
の構成図、第２図は本考案実施例装置における回転指示
極の斜視図、第３図は従来の無試薬形残留塩素計の構成
図、第４図は妨害成分を含んだ被測定液のポーラログラ
ムを表わす。 ３……比較極、７……回転指示極、7a，7b……スポット
電極、9,10……加電圧発生回路、11,12……電流電圧変
換器、13,14……A/D変換器、15……信号処理部、16……
D/A変換器、17……指示部
の構成図、第２図は本考案実施例装置における回転指示
極の斜視図、第３図は従来の無試薬形残留塩素計の構成
図、第４図は妨害成分を含んだ被測定液のポーラログラ
ムを表わす。 ３……比較極、７……回転指示極、7a，7b……スポット
電極、9,10……加電圧発生回路、11,12……電流電圧変
換器、13,14……A/D変換器、15……信号処理部、16……
D/A変換器、17……指示部
Claims (1)
- 【請求項１】回転指示極と比較極との間に流れた、被測
定液中の遊離有効塩素を還元するのに要した拡散電流に
基づいて、遊離有効塩素の濃度を測定する無試薬形残留
塩素計において、 前記回転指示極側に設けられた第１及び第２のスポット
電極と、 この第１のスポット電極と前記比較極との間に遊離有効
塩素のプラトーを生ぜしめる電圧を印加する第１の加電
圧発生回路と、 前記第２のスポット電極と前記比較極との間に前記遊離
有効塩素のプラトーに最も近いプラトーを生ぜしめる電
圧を印加する第２の加電圧発生回路と、 前記第１のスポット電極と前記比較極との間に流れる電
流を電圧に変換すると共に、前記第２のスポット電極と
前記比較極との間に流れる電流を電圧に変換する電流電
圧変換器と、 前記第１の加電圧発生回路で電圧を印加した時に、前記
電流電圧変換器で得た電圧と、前記第２の加電圧発生回
路で電圧を印加した時に、前記電流電圧変換器で得た電
圧との差に基づき、遊離有効塩素のプラトーと前記遊離
有効塩素のプラトーに最も近いプラトーの拡散電流の差
を得て、遊離有効塩素の濃度を演算する信号処理部と を設けたことを特徴とした無試薬形残留塩素計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13066188U JPH0641168Y2 (ja) | 1988-10-05 | 1988-10-05 | 無試薬形残留塩素計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13066188U JPH0641168Y2 (ja) | 1988-10-05 | 1988-10-05 | 無試薬形残留塩素計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0252153U JPH0252153U (ja) | 1990-04-13 |
| JPH0641168Y2 true JPH0641168Y2 (ja) | 1994-10-26 |
Family
ID=31386030
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13066188U Expired - Lifetime JPH0641168Y2 (ja) | 1988-10-05 | 1988-10-05 | 無試薬形残留塩素計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0641168Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4463405B2 (ja) * | 2000-09-20 | 2010-05-19 | 東亜ディーケーケー株式会社 | 酸化還元電流測定装置のセンサ及び酸化還元電流測定装置 |
-
1988
- 1988-10-05 JP JP13066188U patent/JPH0641168Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0252153U (ja) | 1990-04-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Ciavatta et al. | On the equilibrium Cu2++ Cu (s)⇄ 2Cu+ | |
| JPS6363858B2 (ja) | ||
| CA1148218A (en) | Apparatus for oxygen partial pressure measurement | |
| JPH07167836A (ja) | メッキ浴中の酸濃度を監視する方法 | |
| US4321113A (en) | Electronic calibration of electrochemical sensors | |
| JPH0641168Y2 (ja) | 無試薬形残留塩素計 | |
| JPH06213867A (ja) | メッキバスの成分監視方法 | |
| JP3354054B2 (ja) | 残留塩素計 | |
| JPH0635959B2 (ja) | 妨害成分の影響を受けない残留塩素測定方法 | |
| JPH0619089Y2 (ja) | 自動校正機能付き残留塩素計 | |
| JP2523608B2 (ja) | 交流印加分極反応に於ける位相差検出方法 | |
| JP3459168B2 (ja) | 塩素濃度測定装置 | |
| JPS6243134B2 (ja) | ||
| JPS5834353A (ja) | 酸素計 | |
| JPH0639329Y2 (ja) | 自動校正機能付き残留塩素計 | |
| JP3504127B2 (ja) | 塩素濃度測定装置 | |
| JPS6313486Y2 (ja) | ||
| JPH02154142A (ja) | 結合塩素モニタ機能付き残留塩素計 | |
| JPH0729486Y2 (ja) | 残留塩素計 | |
| JP2003043005A (ja) | 信号検出方法及びこの方法を用いたガス濃度検出装置 | |
| RU2092830C1 (ru) | Микропроцессорный вольтамперометрический анализатор тяжелых металлов авс-1 | |
| JPS63229361A (ja) | 加電圧補償形溶液分析装置 | |
| JPS6157849A (ja) | デジタル・フーリエ積分法による金属の腐食測定装置 | |
| JPS61198052A (ja) | 無試薬残留塩素計 | |
| JPS6080755A (ja) | トリチウム濃度測定方法 |