JPH0289059A - ベーク方法 - Google Patents
ベーク方法Info
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- JPH0289059A JPH0289059A JP23906088A JP23906088A JPH0289059A JP H0289059 A JPH0289059 A JP H0289059A JP 23906088 A JP23906088 A JP 23906088A JP 23906088 A JP23906088 A JP 23906088A JP H0289059 A JPH0289059 A JP H0289059A
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- liquid
- solvent
- baking
- photosensitive
- baking furnace
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- Pending
Links
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Landscapes
- Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
- Compressors, Vaccum Pumps And Other Relevant Systems (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、例えばウェハ等の被処理物の表面に塗られた
感光性ポリイミド系塗布液(感光性有機物が混入された
ポリイミド・イソ・インドロ・キナ・シリジオンの液、
以下「感光性PiQ液」と略称する)を乾燥して被処理
物の表面に絶縁膜を生成するベーク方法に関し、特に感
光性PiQ液の溶媒及び溶媒中の気泡を追い出し安定な
膜質の絶縁膜を生成することができるベーク方法に関す
る。
感光性ポリイミド系塗布液(感光性有機物が混入された
ポリイミド・イソ・インドロ・キナ・シリジオンの液、
以下「感光性PiQ液」と略称する)を乾燥して被処理
物の表面に絶縁膜を生成するベーク方法に関し、特に感
光性PiQ液の溶媒及び溶媒中の気泡を追い出し安定な
膜質の絶縁膜を生成することができるベーク方法に関す
る。
従来のこの種のベーク方法は、第4図に示すように、感
光性PiQ液が表面に塗られたウェハ等の被処理物1を
カートリッジ2の中に複数枚積層してベーク炉3の中に
入れ、そのベーク炉3の周囲をヒータ4,4.・・・で
加熱して昇温することにより、上記感光性PiQ液を乾
燥して被処理物1の表面に絶縁膜を生成するものであっ
た。このときの上記ヒータ4,4.・・・による加熱昇
温のカーブは、第5図に曲線aで示すように、処理時間
の当初から徐々に加熱を始め、所定時間後に一定の温度
、例えば約400℃に到達するようにしていた。このと
き、ある温度まで昇温すると、被処理物1の表面に塗ら
れた感光性PiQ液が熱架橋反応(加熱するとアミドが
イミド化して硬化すること)により固化し始め、絶縁膜
が生成されるものであった・ 〔発明が解決しようとする課題〕 しかし、このような従来のベーク方法においては、第4
図に示すようにベーク炉3の中に被処理物1を入れて単
に加熱昇温するだけであったので、第5図に示すように
処理時間の当初は徐々に加熱昇温させたとしても、例え
ば約145℃で感光性PiQ液の溶媒が揮発し始め、約
165℃でアミドがイミド化して硬化し始めて、第6図
において曲線すで示す溶媒揮発と曲線Cで示す固化とが
ほぼ同時進行する形となるものであった。従って、被処
理物1の表面に塗られた感光性PiQ液の内部から溶媒
が揮発するときは、既に上記感光性PiQ液の表面では
熱架橋反応により膜が固化し始め、その固化し始めた膜
の下に残っている溶媒は気泡状態で内部に残ってしまう
ものであった。これでは、感光性PiQ液が完全に乾燥
せず、安定した膜質の絶縁膜は生成されないものであっ
た。
光性PiQ液が表面に塗られたウェハ等の被処理物1を
カートリッジ2の中に複数枚積層してベーク炉3の中に
入れ、そのベーク炉3の周囲をヒータ4,4.・・・で
加熱して昇温することにより、上記感光性PiQ液を乾
燥して被処理物1の表面に絶縁膜を生成するものであっ
た。このときの上記ヒータ4,4.・・・による加熱昇
温のカーブは、第5図に曲線aで示すように、処理時間
の当初から徐々に加熱を始め、所定時間後に一定の温度
、例えば約400℃に到達するようにしていた。このと
き、ある温度まで昇温すると、被処理物1の表面に塗ら
れた感光性PiQ液が熱架橋反応(加熱するとアミドが
イミド化して硬化すること)により固化し始め、絶縁膜
が生成されるものであった・ 〔発明が解決しようとする課題〕 しかし、このような従来のベーク方法においては、第4
図に示すようにベーク炉3の中に被処理物1を入れて単
に加熱昇温するだけであったので、第5図に示すように
処理時間の当初は徐々に加熱昇温させたとしても、例え
ば約145℃で感光性PiQ液の溶媒が揮発し始め、約
165℃でアミドがイミド化して硬化し始めて、第6図
において曲線すで示す溶媒揮発と曲線Cで示す固化とが
ほぼ同時進行する形となるものであった。従って、被処
理物1の表面に塗られた感光性PiQ液の内部から溶媒
が揮発するときは、既に上記感光性PiQ液の表面では
熱架橋反応により膜が固化し始め、その固化し始めた膜
の下に残っている溶媒は気泡状態で内部に残ってしまう
ものであった。これでは、感光性PiQ液が完全に乾燥
せず、安定した膜質の絶縁膜は生成されないものであっ
た。
このように膜質が安定していないと、被処理物1の下地
と絶縁膜との接着性が悪くなって剥がれ易くなったり、
気泡の部分で耐熱性が悪くなったり。
と絶縁膜との接着性が悪くなって剥がれ易くなったり、
気泡の部分で耐熱性が悪くなったり。
或いは眉間の配線の絶縁が悪くなったりして、製品(I
C等の電子部品)として不良品となると共に、歩留まり
も低下するものであった。
C等の電子部品)として不良品となると共に、歩留まり
も低下するものであった。
そこで1本発明は、このような問題点を解決することが
できるベーク方法を提供することを目的とする。
できるベーク方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために1本発明によるベーク方法は
、感光性ポリイミド系塗布液が表面に塗られた被処理物
をベーク炉の中に入れ、そのベーク炉の周囲をヒータで
加熱して昇温することにより、上記感光性ポリイミド系
塗布液を乾燥して被処理物の表面に絶縁膜を生成するベ
ーク方法において、上記被処理物が入れられたベーク炉
内の空気を吸引し真空度を上げて感光性ポリイミド系塗
布液の溶媒を揮発させ、その後所定時間経過後に上記ベ
ーク炉の周囲をヒータで加熱昇温するものである。
、感光性ポリイミド系塗布液が表面に塗られた被処理物
をベーク炉の中に入れ、そのベーク炉の周囲をヒータで
加熱して昇温することにより、上記感光性ポリイミド系
塗布液を乾燥して被処理物の表面に絶縁膜を生成するベ
ーク方法において、上記被処理物が入れられたベーク炉
内の空気を吸引し真空度を上げて感光性ポリイミド系塗
布液の溶媒を揮発させ、その後所定時間経過後に上記ベ
ーク炉の周囲をヒータで加熱昇温するものである。
以下、本発明の実施例を添付図面を参照して説明する。
第1図は本発明によるベーク方法を説明するための処理
時間と真空度及び加熱温度との関係を示すグラフである
。このベーク方法が適用されるベーク装置は、第2図に
示すように、ロータリポンプ5及びバルブ6を介して内
部の空気を吸引し真空を作り出すようにしたベーク炉3
′と、このベーク炉3′の周囲に設けられたヒータ4,
4.・・・とから成る。そして、感光性PiQ液が表面
に塗られたウェハ等の被処理物1をカートリッジ2の中
に複数枚積層してベーク炉3′の中に入れ、そのベーク
炉3′の周囲をヒータ4,4.・・・で加熱して昇温す
ることにより、上記感光性PiQ液を乾燥して被処理物
10表面に絶縁膜を生成するようになっている。
時間と真空度及び加熱温度との関係を示すグラフである
。このベーク方法が適用されるベーク装置は、第2図に
示すように、ロータリポンプ5及びバルブ6を介して内
部の空気を吸引し真空を作り出すようにしたベーク炉3
′と、このベーク炉3′の周囲に設けられたヒータ4,
4.・・・とから成る。そして、感光性PiQ液が表面
に塗られたウェハ等の被処理物1をカートリッジ2の中
に複数枚積層してベーク炉3′の中に入れ、そのベーク
炉3′の周囲をヒータ4,4.・・・で加熱して昇温す
ることにより、上記感光性PiQ液を乾燥して被処理物
10表面に絶縁膜を生成するようになっている。
そして、このようなベーク装置におけるベーク方法は、
まず、第1図に曲線dで示すように上記被処理物1が入
れられたベーク炉3′内の空気をロータリポンプ5で吸
引し真空度を上げて感光性PiQ液の溶媒を揮発させ、
その後所定時間tが経過後に第1図に曲線eで示すよう
に上記ベーク炉3′の周囲をヒータ4,4.・・・で加
熱昇温する。
まず、第1図に曲線dで示すように上記被処理物1が入
れられたベーク炉3′内の空気をロータリポンプ5で吸
引し真空度を上げて感光性PiQ液の溶媒を揮発させ、
その後所定時間tが経過後に第1図に曲線eで示すよう
に上記ベーク炉3′の周囲をヒータ4,4.・・・で加
熱昇温する。
このとき、第1図に曲線dで示すように処理時間の当初
は真空度だけを上げることにより、第3図に曲線b′で
示すように処理時間の当初は溶媒の揮発だけが先行して
始まり、かつ第6図に示す従来の溶媒揮発の曲線すより
も強いカーブで立ち上がる。このときは、上記感光性P
iQ液の表面ではまだ熱架橋反応は始まっていない。こ
れにより、常圧時よりも感光性PiQ液の溶媒が揮発し
易くなると共に、その溶媒中の気泡も抜は出し易くなる
。その後、所定時間tが経過して上記感光性PiQ液の
溶媒が大部分揮発したところで、第1図に曲線eで示す
ようにベーク炉3′をヒータ4゜4、・・・で加熱して
約400℃まで昇温する。すると、被処理物1の表面に
塗られた感光性PiQ液が熱架橋反応により、第3図に
曲線Cで示すように主として時間を以後に固化し始める
。
は真空度だけを上げることにより、第3図に曲線b′で
示すように処理時間の当初は溶媒の揮発だけが先行して
始まり、かつ第6図に示す従来の溶媒揮発の曲線すより
も強いカーブで立ち上がる。このときは、上記感光性P
iQ液の表面ではまだ熱架橋反応は始まっていない。こ
れにより、常圧時よりも感光性PiQ液の溶媒が揮発し
易くなると共に、その溶媒中の気泡も抜は出し易くなる
。その後、所定時間tが経過して上記感光性PiQ液の
溶媒が大部分揮発したところで、第1図に曲線eで示す
ようにベーク炉3′をヒータ4゜4、・・・で加熱して
約400℃まで昇温する。すると、被処理物1の表面に
塗られた感光性PiQ液が熱架橋反応により、第3図に
曲線Cで示すように主として時間を以後に固化し始める
。
すなわち、第1図に示すように処理時間の当初はベーク
炉3′内の真空度だけを上げ(曲線d参照)、所定時間
tの経過後に上記ベーク炉3′内を加熱昇温する(曲線
e参照)ことにより、第3図に示すように感光性PiQ
液の溶媒の揮発(曲線b′参照)と、熱架橋反応による
同化(曲線C参照)とを処理の時間軸上で分けるもので
ある。
炉3′内の真空度だけを上げ(曲線d参照)、所定時間
tの経過後に上記ベーク炉3′内を加熱昇温する(曲線
e参照)ことにより、第3図に示すように感光性PiQ
液の溶媒の揮発(曲線b′参照)と、熱架橋反応による
同化(曲線C参照)とを処理の時間軸上で分けるもので
ある。
これにより、第6図に示す従来例のように溶媒揮発と同
化とが同時進行する形となるのを防止し、感光性PiQ
液の溶媒が大部分揮発し除去された後に、熱架橋反応に
より固化されることとなり、上記感光性PiQ液を完全
に乾燥して被処理物lの表面に絶縁膜を生成することが
できる。
化とが同時進行する形となるのを防止し、感光性PiQ
液の溶媒が大部分揮発し除去された後に、熱架橋反応に
より固化されることとなり、上記感光性PiQ液を完全
に乾燥して被処理物lの表面に絶縁膜を生成することが
できる。
本発明は以上のように構成されたので、感光性PiQ液
の溶媒の揮発と、熱架橋反応による絶縁膜の固化とを処
理の時間軸上で分けることができる。従って、従来のよ
うに溶媒揮発と同化とが同時進行する形となるのを防止
し、感光性PiQ液の溶媒が大部分揮発し除去された後
に、熱架橋反応により絶縁膜を固化することができる。
の溶媒の揮発と、熱架橋反応による絶縁膜の固化とを処
理の時間軸上で分けることができる。従って、従来のよ
うに溶媒揮発と同化とが同時進行する形となるのを防止
し、感光性PiQ液の溶媒が大部分揮発し除去された後
に、熱架橋反応により絶縁膜を固化することができる。
このことから、上記感光性PiQ液の溶媒及び溶媒中の
気泡をほぼ完全に追い出し、その感光性PiQ液を完全
に乾燥して安定した膜質の絶縁膜を生成することができ
る。従って、被処理物1の下地と絶縁膜との接着性を良
くして剥がれにくくすると共に、眉間の配線の絶縁を良
くして、製品の品質を向上できると共に歩留まりも向上
することができる。なお、本発明のベータ方法では、被
処理物1について、バッチ処理または枚葉処理のどちら
でも適用することができる。
気泡をほぼ完全に追い出し、その感光性PiQ液を完全
に乾燥して安定した膜質の絶縁膜を生成することができ
る。従って、被処理物1の下地と絶縁膜との接着性を良
くして剥がれにくくすると共に、眉間の配線の絶縁を良
くして、製品の品質を向上できると共に歩留まりも向上
することができる。なお、本発明のベータ方法では、被
処理物1について、バッチ処理または枚葉処理のどちら
でも適用することができる。
第1図は本発明によるベーク方法を説明するための処理
時間と真空度及び加熱温度との関係を示すグラフ、第2
図は本発明のベーク方法が適用されるベーク装置の概要
を示す説明図、第3図は本発明の処理プロファイルを示
すグラフ、第4図は従来のベータ方法が適用されるベー
ク装置の概要を示す説明図、第5図は従来のベーク方法
を説明するための処理時間と加熱温度との関係を示すグ
ラフ、第6図は従来の処理プロファイルを示すグラフで
ある。 1・・・被処理物、 2・・・カートリッジ、 3
′・・・ベーク炉、 4・・・ヒータ、 5・・・
ロータリポンプ、6・・・バルブ。 出願人 日立電子エンジニアリング株式会社同 株式会
社日立製作所
時間と真空度及び加熱温度との関係を示すグラフ、第2
図は本発明のベーク方法が適用されるベーク装置の概要
を示す説明図、第3図は本発明の処理プロファイルを示
すグラフ、第4図は従来のベータ方法が適用されるベー
ク装置の概要を示す説明図、第5図は従来のベーク方法
を説明するための処理時間と加熱温度との関係を示すグ
ラフ、第6図は従来の処理プロファイルを示すグラフで
ある。 1・・・被処理物、 2・・・カートリッジ、 3
′・・・ベーク炉、 4・・・ヒータ、 5・・・
ロータリポンプ、6・・・バルブ。 出願人 日立電子エンジニアリング株式会社同 株式会
社日立製作所
Claims (1)
- 感光性ポリイミド系塗布液が表面に塗られた被処理物を
ベーク炉の中に入れ、そのベーク炉の周囲をヒータで加
熱して昇温することにより、上記感光性ポリイミド系塗
布液を乾燥して被処理物の表面に絶縁膜を生成するベー
ク方法において、上記被処理物が入れられたベーク炉内
の空気を吸引し真空度を上げて感光性ポリイミド系塗布
液の溶媒を揮発させ、その後所定時間経過後に上記ベー
ク炉の周囲をヒータで加熱昇温することを特徴とするベ
ーク方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23906088A JPH0289059A (ja) | 1988-09-26 | 1988-09-26 | ベーク方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23906088A JPH0289059A (ja) | 1988-09-26 | 1988-09-26 | ベーク方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0289059A true JPH0289059A (ja) | 1990-03-29 |
Family
ID=17039269
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23906088A Pending JPH0289059A (ja) | 1988-09-26 | 1988-09-26 | ベーク方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0289059A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0557846U (ja) * | 1992-01-09 | 1993-07-30 | 東レエンジニアリング株式会社 | 半導体チップの樹脂封止用硬化炉 |
WO2015001936A1 (ja) * | 2013-07-05 | 2015-01-08 | 東京エレクトロン株式会社 | 塗布膜の形成方法及びコンピュータ記憶媒体 |
-
1988
- 1988-09-26 JP JP23906088A patent/JPH0289059A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0557846U (ja) * | 1992-01-09 | 1993-07-30 | 東レエンジニアリング株式会社 | 半導体チップの樹脂封止用硬化炉 |
WO2015001936A1 (ja) * | 2013-07-05 | 2015-01-08 | 東京エレクトロン株式会社 | 塗布膜の形成方法及びコンピュータ記憶媒体 |
JP2015015370A (ja) * | 2013-07-05 | 2015-01-22 | 東京エレクトロン株式会社 | 塗布膜の形成方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体 |
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