JPH0288940A - 自動試料調製装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 の 本発明は、複数種類の塊状及び粉状の原料を１基の装置
により計量・破砕・縮分・乾燥を行い、汚染の少ない分
析用試料の調製並びに粉状原料の粒度分布の測定及び付
着水分分析用試料の調製を自動釣に実施するための自動
試料調製装置に関するものである。

従】！と改韮− 製鉄所などにおいては、従来、鉱石や、石炭などの購入
原料の受は入れ検査及びコークス工場、焼結工場などに
おいて生産されるコークスや、焼結鉱の組成や、粒度分
布などの性状を把握するための分析試料のｉｌｌ製は、
人手により行われていたが、近来、省力化の観点から、
これらの作業の機械化や、自動化が進められて来ている
。

例えば、特開昭５３−１２６８９号公報には、鉱石をコ
ンベヤにより移送しながら乾燥し、次いで、破砕と縮分
とを繰り返して分析試料を調製する装置において、鉱石
乾燥室内に加熱手段として赤外線照射装置を配置すると
共に乾燥室出口側のホッパ排出口部に開閉自在なホッパ
ゲートを設け、鉱石乾燥工程及び搬送工程において発生
する粉じんの散逸を防止し、鉱石の成分組成の変動を防
止する手段が開示されており、また、実開昭５３−４７
８８７号公報には、スラグ組成などの分析試料を調製す
るための装置として、試料を粉末に破砕するディスクグ
ラインダの構造を改良して、非回転ディスクをその軸心
方向に移動可能とし、更に、非回転ディスクと、回転駆
動ディスクの対向面間に気体を噴出するように構成し、
ディスク内の清掃を迅速に行うと共に他の試料の混入を
防止する手段が開示されている。その外、特開昭５７−
５４８３６号公報には、高水分、高粘結性の石炭を水分
の飛散を少なくシ、定められた粒度に試料を調製する石
炭分析用自動試料調製装置が、更に、実開昭５２−９３
５８３号公報には、ターンテーブルの上において、この
ターンテーブルの回転に伴って回転移動をする試料容器
に自動的にふたをすることにより、水分の発散を未然に
防止し、鉱石類の水分測定精度を向上させる手段が開示
されている。

が　　　　　よ　゛ しかしながら、上に例示した従来技術は、分析用試料の
乾燥工程、試料を破砕する破砕装置、試料の水分散逸防
止装置のような試料調製装置の部分的ないしは断片的な
手段を開示しているに過ぎず、総合的な分析試料調製装
置に関するものではない。

そこで、本発明は、組成を異にする複数種類の塊状の原
料を１基の調製装置により、水分測定用、成分分析用及
び粒度分布検定用試料をＦ［すると共に粒度分布検定を
も自動的に行うことが可能である。必要な諸工程を総合
的に自動化した試料調製装置を得ることを、その課題と
するものである。

めの 本発明は、この課題を解決するために、添付図面の第１
図にブロック図により示すように■調製しようとする試
料を秤量するための１次秤量機構（Ａ）と、 ■１次秤量機ｆｉｌ（Ａ）により秤量後の試料の内、粉
砕を必要とするものを粗粉砕するための粗粉砕機構（Ｂ
）と、 ■粗粉砕機構（Ｂ）により粗粉砕された試料又は粗粉砕
すること無しにこの機ｉ　（ＩＩ）を通過した試料を、
用途別に複数種類に縮分するための１次縮分ｍｍ＜ｃ＞
と、 ■１１次縮機構（Ｃ）により縮分され、乾燥を必要とす
る試料を乾燥するための乾燥機１（Ｄ）と、■乾燥機１
　（Ｄ）を通過した試料を２分割し、その内の一方を細
粉砕するための２分割及び細粉砕機構（Ｅ）と、 ■２分割及び細粉砕機構（Ｅ）により細粉砕された後の
試料を縮分するための２次縮分機１　（Ｆ）と、■２２
次縮機楕（ｆ）により２次縮分された試料を微粉砕する
ための微粉砕機構（Ｇ）と、■２分割及び細粉砕機ｉｌ
ｌ　（Ｅ）により、乾燥後に２分割された試料の内の他
方の試料をふるい分けし、秤量し、粒度分布を算出する
ための粒度検定機１（Ｇ）と、 ■各ｆｉｆｌｌ（八〜Ｉ＋）の作動を制御するための制
御機構（■）、と、 から成り立つことを特徴とするものである。

及−１−１ 以下、本発明をその１実施例を示す添付図面の第１〜１
２図に基づいて、詳細に説明をする。

まず、第１図には、本発明装置を系統図により、また、
第２図には、その１実施例の全体に配置を平面図により
、それぞれ、示しであるあるように、調製しようとする
試料、例えば、焼結鉱などの製銑原料の試料を、後述す
るように、試料缶ごとに秤量するための１次秤量機構＾
と、この１次秤量機構八により秤量を行った後の試料の
内、粉砕を必要とするものを粗粉砕するための粗粉砕機
構Ｂと、この粗粉砕機構Ｂにより粗粉砕された試料又は
粗粉砕すること無しにこのｆｉ楕Ｂ通過した試料を用途
別に複数種類、例えば、３種類に縮分するための１次縮
分機１ｃと、この１次組分機ｌ’ｉｃにより縮分された
数種類の試料の内、乾燥を必要とする１種類以上の試料
を乾燥するための乾燥機楕りと、乾燥機構りを通過した
試料を２分割し、その内で、更に粉砕を必要とする試料
を細粉砕するための２分割及び細粉砕機構Ｅと、２分割
及び細粉砕機ｉＥにより細粉砕後の試料を更に縮分する
ための２成縮分機ｔＩＩＩＦと、２次組分機ｌｌ！Ｆに
より２成縮分された試料を更に微粉砕するための微粉砕
ＩＲｍｃと、２分割及び細粉砕機構Ｅにより屹燥後に２
分割された試料の内の他方の試料をふるい分けし、秤量
し、粒度分布を算出するための粒度検定機構Ｈと、これ
らの各機構Ａ〜Ｈの作動を制御するための制御機Ｉ’ｌ
ｌとから構成されている。

次ぎに、これらの各機構へ〜■の構成及びその作動など
について、順次説明をする。

■１次秤量機構＾（第３図）： （Ｉ）　ｉｌｌｌ機成及びその作動の概要１）回転テー
ブル１ これは、モータによりタイミングベルトを介して駆動さ
れる減速機の垂直出力軸（図示されていない）に直結さ
れた回転可能なテーブルであり、１７７回転づつ間欠回
転するようにされている。なお、テーブル１には、試料
缶５０が、６個まで載置されることが可能とされている
。

２）昇降装置２ これは、流体シリンダ５１のピストン棒の先端部に直結
された軸にローラ５２と、これに係合するカム５３と、
このカム５３が下部に取り付けられている昇降テーブル
５４とから構成されており、ローラ５２は、カム５３を
介して昇降テーブル５４の自重を、支持しており、また
、昇降テーブル５４の上には、回転テーブル１が載置さ
れている。流体シリンダ５１のピストン棒が前進すると
、ローラ５２及びカム５３を介して昇降テーブル５４は
上昇（第３図ａ）シ、また、流体シリンダ５１のピスト
ン棒が後退すると、昇降テーブル５４は降下する（第３
図ｂ）。

この昇降装ｒｅｔ２は、回転テーブル１を昇降させるた
めのものであり、回転テーブル１は、上記のとおり、昇
降テーブル５４の上に据え付けられている。

３）１次秤量機３ これは、ロードセル形式の秤ｉ機であり、調製すべき試
料の重量を測定するものである。

（２）総合的な作動の説明 第３図ａに示すように、回転テーブル１に、ｒｌＪ製す
べき試料を入れた試料缶５０を設置し、制御機構■がら
運転指令を与えると、昇降装置２が下降し、第３図すに
示すように、試料缶５０は、１次秤量機３の上に設置さ
れている架台５５に乗り、回転テーブル１がら離される
。そして、試料缶５０の全型Ｉが、１次秤量機３に加わ
り、秤゛量され、風袋を自動的に差し引いた正味の重量
が、制ｍ機楕■に電気的に記憶される。

秤量が終了すると、回転テーブル１は上昇し、試料缶５
０は、回転テーブル１の上の所定の位置に収まる。

それから、回転テーブル１は１７７回転を行い、試験缶
５０を次ぎの位置へ送る。

■粗粉砕機構Ｂ（第４図）： （Ｉ）構成機器及びその作動の概要 １）試料缶昇降用リフト４ これは、第４図に示すように、回転テーブル１の上に設
置されたビン付きの試料缶５０をつかむためのクランプ
金具５６を設けられたコンベヤチェーンを左右に２条配
置したリフトである。クランプ金具５３によりビンの部
分をつかまれた試料缶５０は、試料缶昇降用リフト４の
上限位置において反転し、その内部の試料を排出するが
、この時、試料缶５０が落下することを防止するために
、上部のスプロケット軸と一緒に回転するストッパ５７
が、設けられている。第５図は、第４図のＶの部分の拡
大図である。

２）１次ベルトフィーダ５ これは、試料を次工程の粗粉砕機６に、単位時間当たり
定量ずつ連続的に供給する装置であり、粒度分布検定用
試料のように、粉砕の必要の無い試料は、粉砕機６をバ
イパスさせるために、逆転することができる機構となっ
ている。なお、正転・逆転によるベルトのだ行を防止す
るために、つば付きのサイド・ローラを設けである。粉
砕を必要とする試料と、粉砕を必要としない試料とは、
あらがしめ、制御機構１により記憶させておくものとす
る。

３）　Ｉ粉砕機に れは、投入された試料を粗粉砕するものである。

（２）総合的な作動の説明 第４図に示すように、１次秤量を終了した試料缶５０は
、試料缶用リフト４に捕らえられて持ち上げられ、その
上限において反転し、１次ベルトフィーダ５のホッパ５
＾の中へ試料を投入する。そして、リフト４の逆転によ
り、試料缶５０は下降し、回転テーブル１の上の所定の
位置は収まる。１次ベルトフィーダ５へ投入された試料
は、粗粉砕ｍｓへ切り出され、粉砕され、パケット付き
チェーン駆動方式のリフト７多こより１成縮分ＲＭＣへ
送られる。

粗粉砕を必要としなり試料は、１次ベルトフィーダ５を
逆転させ、粗粉砕機６と反対側に送り出し、リフト７の
中間において止めたパケット５０＾に受け、次ぎの１法
線分機楕Ｃの２次フィーダ８へ送られる。

■１次縮分機構Ｃ（第６図）： （Ｉ）構成機器及びその作動 １）２次フィーダ８ これは、投入試料の量が、５〜１５に、の範囲内で任意
量が投入されても、常に、一定時間で切り出しが終了す
るように速度ＭｔＲされるベルト式フィーダであり、次
工程の１成縮分機９に試料を、単位時間当たり定量ずつ
、連続的に切り出すための装置である。

２）１成縮分機９ これは、５〜１５ｋｇの範囲内で任意量を投入された試
料を、常に、成分・粒度試料２ｋｇ、水分試料１　ｋｇ
。

残りを廃棄に３分割するための装置である。

このために、流体シリンダ５８のピストン棒により駆動
される可動シュート５９の出口を、１列に配置された３
個のジュードロ６０（成分・粒度試料用、水分試料用及
び廃棄試料用）の上を往復させ、試料の流れを３個に振
り分けるものであり、各、ジュードロ６０の直上に、可
動シュート５９のジュードロを停止させる時間を変える
ことにより、縮分量を制御するものであるが、この縮分
量は、１次秤量１１１３により秤量された値と、試料の
かさ密度とに基づいて、制御機構■により制御するよう
にする。

３）ターンテーブル１０ これは、テーブルの上に試料容器を６個配置されており
、また、テーブルは、２本の流体シリンダにより１ピツ
チ〈すなわち、１７６回転〉ずつ間欠回転をするように
なっている。

（２）総合的な作動の説明 ２次フィーダ８により、単位時間当たり定量ずつ連続的
に切り出される試料の流れを、１成縮分機９の可動シュ
ート５９を往復移動させることにより、３個のジュード
ロ６０に順次に流し込むもので、各ジュードロ６０に流
し込まれる試料の量は、可動シュート５９がジュードロ
６０の上に停止している時間により制御されるが、停止
時間は、１次秤量機３の秤量値により演算される。

縮分の際における偏りを少なくするために、最低６往復
（６カツト）する。

■乾燥機構Ｄ（第６図）： （Ｉ）構成機器及びその作用 １）乾燥機１１ これは、加振器を使用した均し装置６１を有しており、
遠赤外線ヒータ６２を熱源とするスチールベルト式乾燥
機である。

（２）総合的な作動の説明 スチールベルト６３に投入された試料は、短時間乾燥の
ための均し装置６１により、薄い層に広げられ、遠赤外
線ヒータ６２の下部に来ると、スチールベルト６３は停
止する。そして、所定の時間の加熱乾燥を行った後、再
び、スチールベルト６３を運転して乾燥試料を排出する
。

なお、加熱時間は、乾燥の要否、試料の水分含有率など
に応じて、あらかじめ設定しておき、制御機構■により
制御する。また、乾燥の必要の無い試料は、そのまま通
過させる。

■２分割及び粉砕ｔ１１ｔＩ　Ｅ　（第７図）：（Ｉ）
構成機器及びその作動 １）１次２分器１２ これは、リッフル式２分器である。

２）１次ダンパ１３ これは、流体シリンダにより駆動される切り換え羽根に
より、試料の流れを、第７図で見て、右が、左かに切り
換える二またダンパである。

３）２次ダンパ１４ これは、１次ダンパ１３と同様の構成を有している。

４）２次２分器　１５ これは、１次２分器１２と同様の構成を有している。

５）３次フィーダ　１に れは、電磁式振動フィーダである。

６）細粉砕機１７ これは、粗粉砕された試料を、細粉砕するための粉砕機
である。

（２）総合的な作動の説明 乾燥された試料は、リフトにより１次２分器１２に投入
され、成分用試料と、粒度検定用試料とに２分割される
１粒度検定用試料は、粒度検定が必要である場合には、
１次ダンパ１３により、粒度側へ、また、不必要の場合
には、廃棄側に切り換えられる。

成分分析用試料は、成分試料をｒｌＪ製する場合には、
次の２次ダンパ１４により成分側に、また、調製の不必
要の場合には、廃棄側へ切り換えられる。

更に、成分側に切り換えられた試料は、次の２次２分器
１５により更に２分割され、その一つは、直線状に細粉
砕機１７に流れ込み、洗い試料として粉砕され、３次ダ
ンパ１８により廃棄側へ流れる。一方、残りの半分は、
いったん、３次フィーダ１６に貯蔵され、３次ダンパ１
８が水分側に切り換わった後、３次フィーダ１６を始動
させ、細粉砕機１７に投入し、粉砕する。

粉砕された成分試料は、３次ダンパ１８を経て次の２成
縮分機楕Ｆへ送られる。

なお、以上の作動は、制御機構■により、あらかじめ設
定しておくものとする。

■２次縮分機ＩＩＦ（第８図）： （Ｉ）構成機器及びその作動 １）　４次フィーダ　１９ これは、電磁式震動フィーダである。

２）２成縮分機２０ これは、流体シリンダにより駆動される切り換え羽根に
より試料の流れを、第８図で見て、左か、右かに切り換
える二またダンパであり、縮分比は、羽根が左右に倒れ
ている時間を変えることにより、制御されるようになっ
ている。

（２）総合的な作動の説明 ４次フィーダ１９により、単位時間当たり定量ずつ連続
的に切り出される試料の流れを、２成縮分機２０により
縮分し、採取された試料は、次の微粉砕機構Ｇへ送り、
残りは、廃棄コンベヤ２７の方へ送られる。

なお、これらの作動は、制御機構Ｉにより制御される。

■微粉砕機構Ｃ（第８図）： （Ｉ）構成機器及びその作動 ｌ）微粉砕機２１ これは、試料の汚染を防止するために、内部を熱湯によ
り洗い、温風により乾燥させる機能を有している振動ミ
ルであり、試料の投入から、回収までを自動的に行うも
のである。

（２）総合的な作動の説明 シュートから送られて来た試料を、いったん、投入容器
に受けた後、振動ミル内に投入して粉砕する。粉砕した
試料を回収用容器に収納した後、振動ミル内を熱湯によ
り洗浄する。洗浄が終了したならば、温風を送り込み、
短時間内に乾燥させる。

以上の作動が１サイクルで、このサイクルを必要回数自
動的に縁り返すものである。

また、汚染を少なくするために、洗い試料を流すシーケ
ンスも選択することができる構成となっている。

なお、これらの洗浄、乾燥、粉砕に必要とされるそれぞ
れの時間は、制ｗａｓ　ｒにより任意に選択することが
可能となっている。

■粒度検定機構■（第９及び１０図）：（Ｉ）構成機器
及びその作動 １）振動ふるい２２ これは、２段・３段式振動ふるい機を３台組み合わせ、
９サイズに、ふるい分けする装置であり、ふるい効率を
高めるために、各段の網目には、うず巻状の案内を設け
である。

２）回転テーブル２３ これは、モータによりタイミングベルトを介して駆動さ
れる減速機の出力軸に直結されたテーブルであり、ｌ／
１０回転ずつ間欠回転をするようになっている０回転テ
ーブル２３の上には、サイズ別にふるい分けされた試料
を収納するための容器６４を等ピッチに配置しである。

容器６４は、試料を排出するために、反転する際の回転
軸となるように、左右１個ずつのビン６５と、カム６８
とにより、回転力を生じさせる、第１Ｏ図で見て、左右
１個ずつのローラ６６を有するプレート６７に収り付け
られている。

３）昇降袋Ｈｚ＾ これは、流体シリンダ８１のピストン棒の先端に取り付
けられたローラ８２と、このローラ８２に係合するカム
８３と、このカム８３を取り付けた昇降テーブル８４と
から成り立っており、ローラ８２は昇降テーブル８４の
重量を支持している。このようにして、流体シリンダ８
１のピストン棒が前進すると、カム８３を介して昇降テ
ーブルル８４は上昇し、流体シリンダ８１のピストン棒
が後退すると、昇降テーブル８４は、降下する。

この昇降装置２４は、回転テーブル２３を昇降させるた
めのものであるが、回転テーブル２３は昇降テーブル８
４の上に据え付けられている。

４）容器反転機構２４ これは、容器８４の反転用と、復帰用とのカム６８を、
台車６９の左右に２個取り付けたものであり、この台車
６９は、流体シリンダ７０のピストン棒の先端に取り付
けられており、往復運動をする。

５）２次秤量機２５ これは、ロードセル型式の秤量機であり、ふるい分けさ
れた試料の重量を秤量するものである。

（２）総合的な作動の説明 振動ふるい２２により、ふるい分けされた試料は、各サ
イズ別にシュー１〜を介して回転テーブル２３の上の容
器６４の中に収納される１回転テーブル２３が昇降装置
２＾により下降すると、容器６４は、２次秤量機２５の
上に設置しである架台７１に乗り、回転テーブル２３か
ら離れる。そして、容器６４及び付属のル−ト６７など
の全重量が、２次秤量機２５に加わり、秤量され、試料
の秤量に先立って秤量されている風袋を差し引いたＩに
より、制御装置Ｉのコンピュータによりデータ処理され
る。

秤量が終了すると、昇降装置２４は、上昇し、容器６４
は回転テーブル２３の上の所定の位置に収まる。

次に、回転テーブル２３がｊ／１０回転し、容器６４が
容器反転機構２４の中心上に来ると、容器反転機構２４
の流体シリンダフＯのピストン棒が退き、カム６８の反
転側が、容器取り付はプレート６７のローラ６６を押圧
する。これにより、容器６４は、ピン６５を軸として取
り付はプレート６７と一緒に所定の角度だけ回転し、容
器６４内の試料を排出する（第１１図）。

なお、第１１図には、試料排出時の状態が示されている
。

更に、容器反転機構２４の流体シリンダ７０のピストン
ごが伸び、カム６８の復帰側が容器６４の取り付はプレ
ート６７のローラ６６を押圧すると、容３６４は、反転
の時とは逆方向に回転し、回転テーブル２３の上の元の
位置に収まる。排出された試料は、シュートフ２を介し
て排出コンベヤ２７に送られる（第１１図）。

なお、このような作動は、すべて、制御機構■により制
御されるものである。■制御機構！＝上記のΦ〜■にお
いて説明をした各機構へ〜■は、第１図に示すように、
制ｔ１機楕■により、それぞれの作動を電気的に制御さ
れ、あらかじめ設定しておかれたスケジュールに従って
順次作動させ、秤量値などの計量値を記憶し、各種の計
算に使用し、必要に応じて、表示及び記録を行うもので
ある。

以上には、本発明による各機横へ〜ｉについて、それぞ
れの構成機器並びにそれらの作動の説明を行ったが、本
発明装置には、その外に、付随的機構として処理を終了
した試料ないしは排鉱を搬送する機構及び各ｆｉ楢にお
いて試料の残留ないしは汚染を極力少なくするためのＲ
構が設けられている。

以下に、これらの付随機構の構成及び作動について、説
明をする。

［相］排鉱搬送機構Ｊ（第２図）； （Ｉ）構成機器及びその作動 １）パケット付きリフ？−２に れは、処理を終了した試料を次工程のホッパに自動投入
するために、左右２列に配置されたチェーンに、そ、れ
ぞれ、バケットを取り付けたリフトである。

２）排鉱ベルトコンベヤ２７ これは、ゴムベルト型式のポータプルコンベヤである。

３）排鉱スクリューコンベヤ２８ これは、スクリュー軸を回転させることにより、排出す
るコンベヤである。

（２）総合的な作動の説明 パケット付きリフト２６は、前工程において処理の終わ
った試料をパケットに受け、上昇し、リフトの上限にお
いて反転し、次工程のホッパへ排出した後、チェーンが
逆転し、パケットは元の位置に戻る。

この排鉱の搬送１ｆｉｆｆｌ　Ｊは、各機構の随所から
排出される試料を、複数のコンベヤ２７．２８を乗り継
がせて所定の場所へ排出させるためのものである。

なお、本装置が設置される室内の作業空間を広く確保す
るために、これらのコンベヤ２７．２８は、地下に設置
されている。

■試料残留防止機ｆｌｌＫ（第１２図）：（Ｉ）　ｆｉ
ｌ成機器及びその作動 １）エアブロ−装置 これは、試料の汚染を少なくするために、試料の残留し
やすい箇所、すなわち、第１２図の柱により示される箇
所に圧縮空気を瞬間的に噴出させ、残留物を除去するた
めの装置であり、噴出調整弁を備えている。

２）バイブレータ これは、試料の残留を少なくするために、第１２図にお
いて！により示す箇所のシュートや、ホッパに取り付け
て加振させるための装置である。

３）セラミックライナ ホッパ内における試料の残留をすくなくさせるために、
第１２図において１により示す箇所に取り付けるもので
ある。

（２）総合的な作動の説明 エアブロ−装置は、試料が通過し終わった後に圧縮空気
を間欠的に噴射し、残留試料を飛散させ、また、この時
に生ずる粉じんは、集じん機により集じんするものとす
る。

バイブレータは、試料が通過する間運転し、シュートや
、ホッパを加振し、試料の残留を防止するものである。

以上には、本発明の原理と、この原理に基づいて実施さ
れた１実施例とを詳細に説明をしたが、ここに図示され
、説明をされた各８１楕ないしは構成機器は、必ずしも
、それらに限定されるものでは無く、必要に応じて、適
宜に変更を加えることのできることは、無論のことであ
る。

発訓Ｉと舛り一 本発明は、上記のような構成及び作用を有しているので
、次ぎのような効果を発揮することのできることは、明
らかなところである。すなわち■製銑原料などの塊状、
粒状又は粉状の試料を、水分分析用、成分分析用及び粒
度検定用の各試料として調製すること並びにその粒度分
布を検定することを、１台の装置により自動的に行うこ
とができること ■従って、これらの試料の′ＩＲ製に際して省力化を図
ることができること ■組成の異なる複数の種類の試料のｍ製を、従来の人手
により行う場合に比べて、それと同等若しくはそれ以上
の精度で行うことが可能であるので、実用性の面から見
て大きな意義を有していること ■この種の試料の調製の際に普通である粉じん多い職場
環境を、画期的に向上させることが可能であること などである。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の概要を示すブロック線図、第２図は
、本発明の１実施例の全体の配置を示す平面図、第３図
は、第２図に示す配置の内で、１次秤量機楕を、試料缶
のセット時の、状態（同図ａ）と、秤量時の状態（同図
ｂ）において示す正面図、第４図は、第２図に示す配置
の内で、■粉砕機構を示す正面図、第５図は、そのＶの
部分を示す拡大図、第６図は、第２図に示す配置の内で
、１成縮分機楕及び屹燥機楕を示す正面図、第７図は、
同じく２分割及び細粉砕機構を示す略正面図、第８図は
、同じく微粉砕機構を示す略正面図、第９図は、同じく
粒度検定機構を、試料投入時の状Ｒ（同図ａ）及び秤量
時の状態（同図ｂ）において示す正面図、第１０図は、
そのＸの部分を示す拡大図、第１１図は、第２図に示す
配置の内の容器反転ｆｉｔｌｌを示す正面図、第１２図
は、第２図に示す配置において、試料残留防止機構の設
置箇所を示すプロッり＆Ｉ図である。 ＾・・・１次秤量機構、Ｂ・・・粗粉砕機構、Ｃ・・・
１成縮分機梢、Ｄ・・・屹燥機横、Ｅ・・・２分割及び
細粉砕機構、Ｆ・・・２成縮分機構、Ｇ・・・微粉砕機
構、Ｈ・・・粒度検定機構、■・・・制御機構、Ｊ・・
・排鉱搬送機構、Ｋ・・・試料残留防止機構。 特許出願人　新日本製鐵株式會社 同　　　　三菱長崎機工株式会社 代　　理　　人　　曽　　我　　道　　照り吃燥磯講

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、調製しようとする試料を秤量する１次秤量機構（Ａ
   ）と、１次秤量機構（Ａ）により秤量された後の試料の
   内で粉砕を必要とするものを粗粉砕する粗粉砕構機（Ｂ
   ）と、粗粉砕機構（Ｂ）により粗粉砕された試料又は粗
   粉砕されること無しに粗粉砕機構（Ｂ）を通過した試料
   を用途別に複数種類に縮分する１次縮分機構（Ｃ）と、
   １次縮分機構（Ｃ）により縮分された試料の内で乾燥を
   必要とする試料を乾燥するための乾燥機構（Ｄ）と、乾
   燥機構（Ｄ）により乾燥された試料を２分割し、２分割
   された試料の内の一方の試料を細粉砕する２分割及び細
   粉砕機構（Ｅ）と、２分割及び細粉砕機構（Ｅ）により
   細粉砕された試料を縮分する２次縮分機構（Ｆ）と、２
   次縮分機構（Ｆ）により２次縮分された試料を微粉砕す
   るための微粉砕機構（Ｇ）と、２分割及び細粉砕機構（
   Ｅ）により２分割された試料の内の他方の試料をふるい
   分けし、秤量し、粒度分布を算出するための粒度検定機
   構（Ｈ）と、各機構（Ａ〜Ｈ）の作動を制御するための
   制御機構（Ｉ）とから成り立っていることを特徴とする
   自動試料調製装置。