JPH0625716B2 - 自動試料調製装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、複数種類の塊状及び粉状の原料を1基の装置
により計量・破砕・縮分・乾燥を行い、汚染の少ない分
析用試料の調製並びに粉状原料の粒度分布の測定及び付
着水分分析用試料の調製を自働的に実施するための自働
試料調製装置に関するものである。

従来の技術 製鉄所などにおいては、従来、鉱石や、石炭などの購入
原料の受け入れ検査及びコークス工場、焼結工場などに
おいて生産されるコークスや、焼結鉱の組成や、粒度分
布などの性状を把握するための分析試料の調製は、入手
により行われていたが、近来、省力化の観点から、これ
らの作業の機械化や、自動化が進められて来ている。

例えば、特開昭53−12689号公報には、鉱石をコンベヤ
により移送しながら乾燥し、次いで、破砕と縮分とを繰
り返して分析試料を調製する装置において、鉱石乾燥室
内に加熱手段として赤外線照射装置を配置すると共に乾
燥室出口側のホッパ排出口部に開閉自在なホッパゲート
を設け、鉱石乾燥工程及び搬送工程において発生する粉
じんの散逸を防止し、鉱石の成分組成の変動を防止する
手段が開示されており、また、実開昭53−47887号公報
には、スラグ組成などの分析試料を調製するための装置
として、試料を粉末に破砕するディスクグラインダの構
造を改良して、非回転ディスクをその軸心方向に移動可
能とし、更に、非回転ディスクと、回転駆動ディスクの
対抗面間に気体を噴出するように構成し、ディスク内の
清掃を迅速に行うと共に他の試料の混入を防止する手段
が開示されている。その外、特開昭57−54836号公報に
は、高水分、高粘結性の石炭を水分の飛散を少なくし、
定められた粒度の試料を調製する石炭分析用自動試料調
製装置が、更に、実開昭52−93583号公報には、ターン
テーブルの上において、このターンテーブルの回転に伴
って回転移動をする試料容器に自動的にふたをすること
により、水分の発散を未然に防止し、鉱石類の水分測定
精度を向上させる手段が開示されている。

発明が解決しようとする課題 しかしながら、上に例示した従来技術は、分析用試料の
乾燥工程、試料を破砕する破砕装置、試料の水分散逸防
止装置のような試料調製装置の部分的ないしは断片的な
手段を開示しているに過ぎず、総合的な分析試料調製装
置に関するものではない。

そこで、本発明は、組成を異にする複数種類の塊状の原
料を1基の調製装置により、水分測定用、成分分析用及
び粒度分布検定用試料を調製すると共に粒度分布検定を
も自動的に行うことが可能である、必要な諸工程を総合
的に自動化した試料調製装置を得ることを、その課題と
するものである。

課題を解決するための手段 本発明は、この課題を解決するために、添付図面の第1
図にブロック図により示すように 調製しようとする試料を秤量するための1次秤量機構
(A)と、 1次秤量機構(A)により秤量後の試料の内、粉砕を必要
とするものを粗粉砕するための粗粉砕機構(B)と、 粗粉砕機構(B)により粗粉砕された試料又は粗粉砕す
ること無しにこの機構(B)を通過した試料を、用途別に
複数種類に縮分するための1次縮分機構(C)と、 1次縮分機構(C)により縮分され、乾燥を必要とする試
料を乾燥するための乾燥機構(D)と、 乾燥機構(D)を通過した試料を2分割し、その内の一方
を細粉砕するための2分割及び細粉砕機構(E)と、 2分割及び細粉砕機構(E)により細粉砕された後の試料
を縮分するための2次縮分機構(F)と、 2次縮分機構(f)により2次縮分された試料を微粉砕す
るための微粉砕機構(G)と、 2分割及び細粉砕機構(E)により、乾燥後に2分割され
た試料の内の他方の試料をふるい分けし、秤量し、粒度
分布を算出するための粒度検定機構(G)と、 各機構(A〜H)の作動を制御するための制御機構(I)，
と、 から成り立つことを特徴とするものである。

実施例 以下、本発明をその1実施例を示す添付図面の第1〜12図
に基づいて、詳細に説明をする。

まず、第1図には、本発明装置を系統図により、また、
第2図には、その1実施例の全体に配置を平面図により、
それぞれ、示してあるように、調製しようとする試料、
例えば、焼結鉱などの製銑原料の試料を、後述するよう
に、試料缶ごとに秤量するための1次秤量機構Aと、この
1次秤量機構Aにより秤量を行った後の試料を内、粉砕を
必要とするものを粗粉砕するための粗粉砕機構Bと、こ
の粗粉砕機構Bにより粗粉砕された試料又は粗粉砕する
こと無しにこの機構B通過した試料を用途別に複数種
類、例えば、3種類に縮分するための1次縮分機構Cと、
この1次縮分機構Cにより縮分された数種類の試料の内、
乾燥を必要とする1種類以上の試料を乾燥するための乾
燥機構Dと、乾燥機構Dを通過した試料を2分割し、その
内で、更に粉砕を必要とする試料を細粉砕するための2
分割及び細粉砕機構Eと、2分割及び細粉砕機構Eにより
細粉砕後の試料を更に縮分するための2次縮分機構Fと、
2次縮分機構Fにより2次縮分された試料を更に微粉砕す
るための微粉砕機構Gと、2分割及び細粉砕機構Eにより
乾燥後に2分割された試料の内の他方の試料をふるい分
けし、秤量し、粒度分布を算出するための粒度検定機構
Hと、これらの各機構A〜Hの作動を制御するための制御
機構Iとから構成されている。

次ぎに、これらの各機構A〜Iの構成及びその作動などに
ついて、順次説明をする。

1次秤量機構A（第3図）： (1) 構成機器及びその作動の概要 1) 回転テーブル 1 これは、モータによりタイミングベルトを介して駆動さ
れる減速機の垂直出力軸(図示されていない)に直結され
た回転可能なテーブルであり、1/7回転づつ間欠回転す
るようにされている。なお、テーブル1には、試料缶50
が、6個まで載置されることが可能とされている。

2) 昇降装置 2 これは、流体シリンダ51のピストン棒の先端部に直結さ
れた軸にローラ52と、これに係合するカム53と、このカ
ム53が下部に取り付けられている昇降テーブル54とから
構成されており、ローラ53は、カム53を介して昇降テー
ブル54の自重を、支持しており、また、昇降テーブル54
の上には、回転テーブル1が載置されている。流体シリ
ンダ51のピストン棒が前進すると、ローラ52及びカム53
を介して昇降テーブル54は上昇(第3図a)し、また、流体
シリンダ51のピストン棒が後退すると、昇降テーブル54
は降下する(第3図b)。

この昇降装置２は、回転テーブル1を昇降させるための
ものであり、回転テーブル1は、上記のとおり、昇降テ
ーブル54の上に据え付けられている。

3) 1次秤量機 3 これは、ロードセル形式の秤量機であり、調製すべき試
料の重量を測定するものである。

(2) 総合的な作動の説明 第3図aに示すように、回転テーブル1に、調製すべき試
料を入れた試料缶50を設置し、制御機構Iから運転指令
を与えると、昇降装置2が下降し、第3図bに示すよう
に、試料缶50は、1次秤量機3の上に設置されている架台
55に乗り、回転テーブル1から離される。そして、試料
缶50の全重量が、1次秤量機3に加わり、秤量され、、風
袋を自動的に差し引いた正味の重量が、制御機構Iに電
気的に記憶される。

秤量が終了すると、回転テーブル1は上昇し、試料缶50
は、回転テーブル1の上の所定の位置に収まる。

それから、回転テーブル1は 1/7回転を行い、試験缶50
を次ぎの位置へ送る。

粗粉砕機構 B（第4図）： (1) 構成機器及びその作動の概要 1) 試料缶昇降用リフト 4 これは、第4図に示すように、回転テーブル1の上に設置
されたピン付きの試料缶50をつかむためのクランプ金具
56を設けられたコンベヤチェーンを左右に2条配置した
リフトである。クランプ金具53によりピンの部分をつか
まれた試料缶50は、試料缶昇降用リフト4の上限位置に
おいて反転し、その内部の試料を排出するが、この時、
試料缶50が落下することを防止するために、上部のスプ
ロケット軸と一緒に回転するストッパ57が、設けられて
いる。第5図は、第4図のVの部分の拡大図である。

2) 1次ベルトフィーダ 5 これは、試料を次工程の粗粉砕機６に、単位時間当たり
定量ずつ連続的に供給する装置であり、粒度分布検定用
試料のように、粉砕の必要の無い試料は、粉砕機6をバ
イパスさせるために、逆転することができる機構となっ
ている。なお、正転・逆転によるベルトのだ行を防止す
るために、つば付きのサイド・ローラを設けてある。粉
砕を必要とする試料と、粉砕を必要としない試料とは、
あらかじめ、制御機構Iにより記憶させておくものとす
る。

3) 粗粉砕機 6 これは、投入された試料を粗粉砕するものである。

(2) 総合的な作動の説明 第4図に示すように、1次秤量を終了した試料缶50は、試
料缶用リフト4に捕らえられて持ち上げられ、その上限
において反転し、1次ベルトフィーダ5のホッパ5Aの中へ
試料を投入する。そして、リフト4の逆転により、試料
缶50は下降し、回転テーブル1の上の所定の位置は収ま
る。1次ベルトフィーダ5へ投入された試料は、粗粉砕機
6へ切り出され、粉砕され、バケット付きチェーン駆動
方式のリフト7により1次縮分機構Cへ送られる。

粗粉砕を必要としない試料は、1次ベルトフィーダ5を逆
転させ、粗粉砕機6と反対側に送り出し、リフト7の中間
において止めたバケット50Aに受け、次ぎの1次縮分機構
Cの2次フィーダ8へ送られる。

1次縮分機構 C（第6図）： (1) 構成機器及びその作動 1) 2次フィーダ 8 これは、投入試料の量が、 5〜15kgの範囲内で任意量が
投入されても、常に、一定時間で切り出しが終了するよ
うに速度制御されるベルト式フィーダであり、次工程の
1次縮分機9に試料を、単位時間当たり定量ずつ、連続的
に切り出すための装置である。

2) 1次縮分機 9 これは、5〜15kgの範囲内で任意量を投入された試料
を、常に、成分・粒度試料 2kg，水分試料 1kg,残りを
廃棄に 3分割するための装置である。

このために、流体シリンダ58のピストン棒により駆動さ
れる可動シュート59の出口を、1列に配置された3個のシ
ュート口60(成分・粒度試料用、水分試料用及び廃棄試
料用)の上を往復させ、試料の流れを3個に振り分けるも
のであり、各シュート口60の直上に、可動シュート59の
シュート口を停止させる時間を変えることにより、縮分
量を制御するものであるが、この縮分量は、1次秤量機3
により秤量された値と、試料のかさ密度とに基づいて、
制御機構Iにより制御するようにする。

3) ターンテーブル 10 これは、テーブルの上に試料容器を6個配置されてお
り、また、テーブルは、2本の流体シリンダにより1ピッ
チ（すなわち、1/6 回転）ずつ間欠回転をするようにな
っている。

(2) 総合的な作動の説明 2次フィーダ8により、単位時間当たり定量ずつ連続的に
切り出される試料の流れを、1次縮分機9の可動シュート
59を往復移動させることにより、3個のシュート口60に
順次に流し込むもので、各シュート口60に流し込まれる
試料の量は、可動シュート59がシュート口60の上に停止
している時間により制御されるが、停止時間は、1秤量
機3の秤量値により演算される。

縮分の際における偏りを少なくするために、最低6往復
(6カット)する。

乾燥機構 D（第6図）： (1) 構成機器及びその作用 1) 乾燥機 11 これは、加振器を使用した均し装置61を有しており、遠
赤外線ヒータ62を熱源とするスチールベルト式乾燥機で
ある。

(2) 総合的な作動の説明 スチールベルト63に投入された試料は、短時間乾燥のた
めの均し装置61により、薄い層に広げられ、遠赤外線ヒ
ータ62の下部に来ると、スチールベルト63は停止する。
そして、所定の時間の加熱乾燥を行った後、再び、スチ
ールベルト63を運転して乾燥試料を排出する。

なお、加熱時間は、乾燥の要否、試料の水分含有率など
に応じて、あらかじめ設定しておき、制御機構Iにより
制御する。また、乾燥の必要の無い試料は、そのまま通
過させる。

2分割及び粉砕機構 E（第7図）： (1) 構成機器及びその作動 1) 1次2分器 12 これは、リッフル式2分器である。

2) 1次ダンパ 13 これは、流体シリンダにより駆動される切り換え羽根に
より、試料の流れを、第7図で見て、右か、左かに切り
換える二またはダンパである。

3) 2次ダンパ 14 これは、1次ダンパ13と同様の構成を有している。

4) 2次2分器 15 これは、1次2分器12と同様の構成を有している。

5) 3次フィーダ 16 これは、電磁式振動フィーダである。

6) 細粉砕機 17 これは、粗粉砕された試料を、細粉砕するための粉砕機
である。

(2) 総合的な作動の説明 乾燥された試料は、リフトにより1次2分器12に投入さ
れ、成分用試料と、粒度検定用試料とに2分割される。
粒度検定用試料は、粒度検定が必要である場合には、1
次ダンパ13により、粒度側へ、また、不必要の場合に
は、廃棄側に切り換えられる。

成分分析用試料は、成分試料を調製する場合には、次の
2次ダンパ14により成分側に、また、調製の不必要の場
合には、廃棄側へ切り換えられる。

更に、成分側に切り換えられた試料は、次の2次2分器15
により更に2分割され、その一つは、直線状に細粉砕器1
7に流れ込み、洗い試料として粉砕され、3次ダンパ18に
より廃棄側へ流れる。一方、残りの半分は、いったん、
3次フィーダ16に貯蔵され、3次ダンパ18が水分側に切り
換わった後、3次フィーダ16を始動させ、細砕機17に投
入し、粉砕する。粉砕された成分試料は、3次ダンパ18
を経て次の２次縮分機構 F へ送られる。

なお、以上の作動は、制御機構Iにより、あらかじめ設
定しておくものとする。

2次縮分機構 F（第8図）： (1) 構成機器及びその作動 1) 4次フィーダ 19 これは、電磁式震動フィーダである。

2) 2次縮分機 20 これは、流体シリンダにより駆動される切り換え羽根に
より試料の流れを、第8図で見て、左か、右かに切り換
せる二またダンパであり、縮分比は、羽根が左右に倒れ
ている時間を変えることにより、制御されるようになっ
ている。

(2) 総合的な作動の説明 4次フィーダ19により、単位時間当たり定量ずつ連続的
に切り出される試料の流れを、2次縮分機20により縮分
し、採取された試料は、次の微粉砕機構 Gへ送り、残り
は、廃棄コンベヤ27の方へ送られる。

なお、これらの作動は、制御機構 Iにより制御される。

微粉砕機構 G（第8図）： (1) 構成機器及びその作動 1) 微粉砕機 21 これは、試料の汚染を防止するために、内部を熱湯によ
り洗い、温風により乾燥させる機能を有している振動ミ
ルであり、試料の投入から、回収までを自動的に行うも
のである。

(2) 総合的な作動の説明 シュートから送られて来た試料を、いったん、投入容器
に受けた後、振動ミル内に投入して粉砕する。粉砕した
試料を回収用容器に収納した後、振動ミル内を熱湯によ
り洗浄する。洗浄が終了したならば、温風を送り込み、
短時間内に乾燥させる。

以上の作動が1サイクルで、このサイクルを必要回数自
動的に繰り返すものである。

また、汚染を少なくするために、洗い試料を流すシーケ
ンスも選択することができる構成となっている。

なお、これらの洗浄、乾燥、粉砕に必要とされるそれぞ
れの時間は、制御機構 Iにより任意に選択することが可
能となっている。

粒度検出機構 H（第9及び10図）： (1) 構成機器及びその作動 1) 振動ふるい 22 これは、2段・3段式振動ふるい機を3台組み合わせ、9サ
イズに、ふるい分けする装置であり、ふるい効率を高め
るために、各段の網目には、うず巻状の案内を設けてあ
る。

2) 回転テーブル 23 これは、モータによりタイミングベルトを介して駆動さ
れる減速機の出力軸に直結されたテーブルであり、1/10
回転ずつ間欠回転をするようになっている。回転テー
ブル23の上には、サイズ別にふるい分けされた試料を収
納するための容器64を等ピッチに配置してある。容器64
は、試料を排出するために、反転する際の回転軸となる
ように、左右1個ずつのピン65と、カム68とにより、回
転力を生じさせる、第10図で見て、左右1個ずつのロー
ラ66を有するプレート67に取り付けられている。

3) 昇降装置 2A これは、流体シリンダ81のピストン棒の先端に取り付け
られたローラ82と、このローラ82に係合するカム83と、
このカム83を取り付けた昇降テーブル84とから成り立っ
ており、ローラ82は昇降テーブル84の重量を支持してい
る。このようにして、流体シリンダ81のピストン棒が前
進すると、カム83を介して昇降テーブルル84は上昇し、
流体シリンダ81のピストン棒が後退すると、昇降テーブ
ル84は、降下する。

この昇降装置24は、回転テーブル23を昇降させるための
ものであるが、回転テーブル23は昇降テーブル84の上に
据え付けられている。

4) 容器反転機構 24 これは、容器64の反転用と、復帰用とのカム68を、台車
69の左右に2個取り付けたものであり、この台車69は、
流体シリンダ70のピストン棒の先端に取り付けられてお
り、往復運動をする。

5) 2次秤量機 25 これは、ロードセル型式の秤量機であり、ふるい分けさ
れた試料の重量を秤量するものである。

(2) 総合的な作動の説明 振動ふるい22により、ふるい分けされた試料は、各サイ
ズ別にシュートを介して回転テーブル23の上の容器64の
中に収納される。回転テーブル23が昇降装置2Aにより下
降すると、容器64は、2次秤量機25の上に設置してある
架台71に乗り、回転テーブル23から離れる。そして、容
器64及び付属のプレート67などの全重量が、2次秤量機2
5に加わり、秤量され、試料の秤量に先立って秤量され
ている風袋を差し引いた量により、制御装置 Iのコンピ
ュータによりデータ処理される。

秤量が終了すると、昇降装置24は、上昇し、容器64は回
転テーブル23の上の所定の位置に収まる。

次に、回転テーブル23が、1/10回転し、容器64が容器反
転機構24の中心上に来ると、容器反転機構24の流体シリ
ンダ70のピストン棒が退き、カム68の反転側が、容器取
り付けプレート67のローラ66を押圧する。これにより、
容器64は、ピン65を軸として取り付けプレート67と一緒
に所定の角度だけ回転し、容器64内の試料を排出する
（第11図）。

なお、第11図には、試料排出時の状態が示されている。

更に、容器反転機構24の流体シリンダ70のピストンごが
伸び、カム68の復帰側が容器64の取り付けプレート67の
ローラ66を押圧すると、容器64は、反転の時とは逆方向
に回転し、回転テーブル23の上の元の位置に収まる。排
出された試料は、シュート72を介して排出コンベヤ27に
送られる（第11図）。

なお、このような作動は、すべて、制御機構 Iにより制
御されるものである。制御機構 I： 上記の〜において説明をした各機構A〜Hは、第1図
に示すように、制御機構 Iにより、それぞれの作動を電
気的に制御され、あらかじめ設定しておかれたスケジュ
ールに従って順次作動させ、秤量値などの計量値を記憶
し、各種の計算に使用し、必要に応じて、表示及び記録
を行うものである。

以上には、本発明による各機構 A〜I について、それぞ
れの構成機器並びにそれらの作動の説明を行ったが、本
発明装置には、その外に、付随的機構として処理を終了
した試料ないしは排鉱を搬送する機構及び各機構におい
て試料の残留ないしは汚染を極力少なくするための機構
が設けられている。

以上にこれらの付随機構の構成及び作動について、説明
をする。

排鉱搬送機構 J（第2図）： (1) 構成機器及びその作動 1) バケット付きリフト 26 これは、処理を終了した試料を次工程のホッパに自動投
入するために、左右2列に配置されたチェーンに、そ，
れぞれ、バケットを取り付けたリフトである。

2) 排鉱ベルトコンベヤ 27 これは、ゴムベルト型式のポータブルコンベヤである。

3) 排鉱スクリューコンベヤ 28 これは、スクリュー軸を回転させることにより、排出す
るコンベヤである。

(2) 総合的な作動の説明 バケット付きリフト26は、前工程において処理の終わっ
た試料をバケットに受け、上昇し、リフトの上限におい
て反転し、次工程のホッパへ排出した後、チェーンが逆
転し、バケットは元の位置に戻る。

この排鉱の搬送機構 Jは、各機構の随所から排出される
試料を、複数のコンベヤ27,28を乗り継がせて所定の場
所へ排出させるためのものである。なお、本装置が設置
される室内の作業空間を広く確保するために、これらの
コンベヤ27,28は、地下に設置されている。

試料残留防止機構 K（第12図）： (1) 構成機器及びその作動 1) エアブロー装置 これは、試料の汚染を少なくするために、試料の残留し
やすい箇所、すなわち、第12図のABにより示される箇所
に圧縮空気を瞬間的に噴出させ、残留物を除去するため
の装置であり、噴出調整弁を備えている。

2) バイブレータ これは、試料の残留を少なくするために、第12図におい
てVにより示す箇所のシュートや、ホッパに取り付けて
加振させるための装置である。

3) セラミックライナ ホッパ内における試料の残留をすくなくさせるために、
第12図においてLにより示す箇所に取り付けるものであ
る。

(2) 総合的な作動の説明 エアブロー装置は、試料が通過し終わった後に圧縮空気
を間欠的に噴射し、残留試料を飛散させ、また、この時
に生ずる粉じんは、集じん機により集じんするものとす
る。

バイブレータは、試料が通過する間運転し、シュート
や、ホッパを加振し、試料の残留を防止するものであ
る。

以上には、本発明の原理と、この原理に基づいて実施さ
れた1実施例とを詳細に説明をしたが、ここに図示さ
れ、説明をされた各機構ないし構成機器は、必ずしも、
それらに限定されるものでは無く、必要に応じて、適宜
に変更を加えることのできることは、無論のことであ
る。

発明の効果 本発明は、上記のような構成及び作用を有しているの
で、次ぎのような効果を発揮することのできることは、
明らかなところである。すなわち 製銑原料などの塊状、粒状又は粉状の試料を、水分分
析用、成分分析用及び粒度検定用の各試料として調製す
ること並びにその粒度分布を検定することを、1台の装
置により自動的に行うことができること 従って、これらの試料の調製に際して省力化を図るこ
とができること 組成の異なる複数の試験の種類の調製を、従来の人手
により行う場合に比べて、それと同等若しくはそれ以上
の精度で行うことが可能であるので、実用性の面から見
て大きな意義を有していること この種の試料の調製の際に普通である粉じん多い職場
環境を、画期的に向上させることが可能であること などである。

【図面の簡単な説明】

第1図は、本発明の概要を示すブロック線図、第2図は、
本発明の1実施例の全体の配置を示す平面図、第3図は、
第2図に示す配置の内で、1次秤量機構を、試料缶のセッ
ト時の状態(同図a)と、秤量時の状態(同図b)において示
す正面図、第４図は，第2図に示す配置の内で、粗粉砕
機構を示す正面図、第5図は、そのVの部分を示す拡大
図、第6図は、第2図に示す配置の内で、1次縮分機構及
び乾燥機構を示す正面図、第7は、同じく2分割及び細粉
砕機構を示す略正面図、第8図は、同じく微粉砕機構を
示す略正面図、第9図は、同じく粒度検定機構を、試料
投入時の状態(同図a)及び秤量時の状態(同図b)において
示す正面図、第10図は、そのXの部分を示す拡大図、第1
1図は、第2図に示す配置の内の容器反転機構を示す正面
図、第12図は、第2図に示す配置において、試料残留防
止機構の設置箇所を示すブロック線図である。 A……１次秤量機構、B……粗粉砕機構、C……1次縮分機
構、D……乾燥機構、E……2分割及び際粉砕機構、F……
2次縮分機構、G……微粉砕機構、H……粒度検定機構、I
……制御機構、J……排鉱搬送機構、K……試料残留防止
機構。

フロントページの続き (72)発明者 瀬戸 天次 千葉県君津市君津１番地 新日本製鐡株式 会社君津製鐡所内 (72)発明者 山道 正登 長崎県長崎市深堀町１丁目２番地１ 三菱 長崎機工株式会社内 (72)発明者 名執 正文 長崎県長崎市深堀町１丁目２番地１ 三菱 長崎機工株式会社内 (56)参考文献 特開 昭51−23194（ＪＰ，Ａ) 特開 昭53−12689（ＪＰ，Ａ) 特開 昭54−39682（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−54836（ＪＰ，Ａ) 実公 昭50−4386（ＪＰ，Ｙ１)

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】調製しようとする試料を秤量する1次秤量
   機構(A)と、1次秤量機構(A)により秤量された後の試料
   の内で粉砕を必要とするものを粗粉砕する粗粉砕構機
   (B)と、粗粉砕機構(B)により粗粉砕された試料又は粗粉
   砕されること無しに粗粉砕機構(B)を通過した試料を用
   途別に複数種類に縮分する１次縮分機構(C)と、1次縮分
   機構(C)により縮分された試料の内で乾燥を必要とする
   試料を乾燥するための乾燥機構(D)と、乾燥機構(D)によ
   り乾燥された試料を2分割し、2分割された試料の内の一
   方の試料を細粉砕する2分割及び細粉砕機構(E)と、2分
   割及び細粉砕機構(E)により細粉砕された試料を縮分す
   る2次縮分機構(F)と、2次縮分機構(F)により2次縮分さ
   れた試料を微粉砕するための微粉砕機構(G)と、2分割及
   び細粉砕機構(E)により2分割された試料の内の他方の試
   料をふるい分けし、秤量し、粒度分布を算出するための
   粒度検定機構(H)と、各機構(A〜H)の作動を制御するた
   めの制御機構(I)とから成り立っていることを特徴とす
   る自動試料調製装置。