JPH0282960A - 超音波診断装置 - Google Patents
超音波診断装置Info
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- JPH0282960A JPH0282960A JP63235943A JP23594388A JPH0282960A JP H0282960 A JPH0282960 A JP H0282960A JP 63235943 A JP63235943 A JP 63235943A JP 23594388 A JP23594388 A JP 23594388A JP H0282960 A JPH0282960 A JP H0282960A
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- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 3
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims 1
- 230000015654 memory Effects 0.000 abstract description 26
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 21
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
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- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 description 1
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- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、被検体に放射状に超音波ビームを送受信して
1qられた反射データを画像表示に供する超音波診断装
置に関する。
1qられた反射データを画像表示に供する超音波診断装
置に関する。
(従来の技術)
例えばメカニカルセクタ超音波診断装置は、第7図に示
すように、超音波振動子(以下型に撮動子と称する)1
をCを支点としてθ方向に回転しながら往復を行って超
音波ビームA、Bを被検体に対して送受してエコーデー
タを得るものである。このように振動子1を回転しなが
ら超音波ビームの送受を行う場合、送信ビームは短時間
で発射されるので略直線とみなぜるが、受信ビームは発
射時と異なった回転位置にある撮動子1によって受信さ
れるので曲線となりこの度合は深い位置から反射される
受信ビーム程著しくなる。第8図はこの様子を示すもの
で、Tcは往時の送信ビーム、RGは往時の受信ビーム
、Tcは復時の送信ビーム、Rcは復時の受信ビームを
示している。
すように、超音波振動子(以下型に撮動子と称する)1
をCを支点としてθ方向に回転しながら往復を行って超
音波ビームA、Bを被検体に対して送受してエコーデー
タを得るものである。このように振動子1を回転しなが
ら超音波ビームの送受を行う場合、送信ビームは短時間
で発射されるので略直線とみなぜるが、受信ビームは発
射時と異なった回転位置にある撮動子1によって受信さ
れるので曲線となりこの度合は深い位置から反射される
受信ビーム程著しくなる。第8図はこの様子を示すもの
で、Tcは往時の送信ビーム、RGは往時の受信ビーム
、Tcは復時の送信ビーム、Rcは復時の受信ビームを
示している。
また、メカニカルセクタ走査を行う場合の送信ビームの
中心点と受信ビームの中心軸とは一致せず、この場合の
送受の音場DTRは第9図のように送信の音場DTと受
信の音場DRの掛算によって表され、略両者の中間に位
置される。従ってこの音場特性に基いて第8図でTRG
が往時の送受ビーム、TRcが復時の送受ビームとして
表される。尚、縦軸は音圧、横軸は回転角度である。一
方、電子セクタ走査を行う場合は第10図に示すように
送信ビームBTと受信ビームBRとの中心軸は一致して
いる。
中心点と受信ビームの中心軸とは一致せず、この場合の
送受の音場DTRは第9図のように送信の音場DTと受
信の音場DRの掛算によって表され、略両者の中間に位
置される。従ってこの音場特性に基いて第8図でTRG
が往時の送受ビーム、TRcが復時の送受ビームとして
表される。尚、縦軸は音圧、横軸は回転角度である。一
方、電子セクタ走査を行う場合は第10図に示すように
送信ビームBTと受信ビームBRとの中心軸は一致して
いる。
このためメカニカルセクタ走査を行う場合のエコーデー
タの表示は、第9図の音場特性に基いて曲線の受信ビー
ムを、往時の送受ビームTReと復時の送受ビームTR
cとの中間位置を通過する直線1と仮定して行うように
している。
タの表示は、第9図の音場特性に基いて曲線の受信ビー
ムを、往時の送受ビームTReと復時の送受ビームTR
cとの中間位置を通過する直線1と仮定して行うように
している。
またこのような超音波診断装置で得られたエコーデータ
をTV等のデイスプレィに表示するには、第6図のよう
に振動子1によってセクタ状にビームを送受して得られ
る距離方向の1次元画像データをA/D変換器2を介し
てディジタル信号に変換した後、一方の高速バッファメ
モリ3Aに格納すると共に他方の高速バッフ7メモリ3
Bに格納されている前回のデータを読出し、X、Y座標
で表示される2次元マトリックス構造を持つ画像メモリ
(フレームメモリ)4に書込み、このフレームメモリ4
内に格納された画像データ5を読出してデイスプレィに
表示するようになっている。
をTV等のデイスプレィに表示するには、第6図のよう
に振動子1によってセクタ状にビームを送受して得られ
る距離方向の1次元画像データをA/D変換器2を介し
てディジタル信号に変換した後、一方の高速バッファメ
モリ3Aに格納すると共に他方の高速バッフ7メモリ3
Bに格納されている前回のデータを読出し、X、Y座標
で表示される2次元マトリックス構造を持つ画像メモリ
(フレームメモリ)4に書込み、このフレームメモリ4
内に格納された画像データ5を読出してデイスプレィに
表示するようになっている。
この場合高速バッファメモリ3から読出したデータをフ
レームメモリ4に書込むには、予めバッフ7メモリ3に
フレームメモリ4の1画素に相当した周期でサンプリン
グされて書込まれているデータをビームの中心点からの
距離に応じて読出して、書込むことが行われている。
レームメモリ4に書込むには、予めバッフ7メモリ3に
フレームメモリ4の1画素に相当した周期でサンプリン
グされて書込まれているデータをビームの中心点からの
距離に応じて読出して、書込むことが行われている。
(発明が解決しようとする課題)
ところで従来の超音波診断装置では、実際の受信ビーム
は曲線なのにこれを直線と仮定してエコーデータの表示
を行っているので、診断対象物の形が歪んだり往復セク
タ走査での位置がゆれるようになるため、診断能が低下
するという問題がある。また往復スキャンで超音波ラス
タの軌線が異なるので、それに沿って書込んだ際にデー
タの書込みが行われない空画素が生じてくると、時相の
異なる画像が混在してしまうという問題もある。
は曲線なのにこれを直線と仮定してエコーデータの表示
を行っているので、診断対象物の形が歪んだり往復セク
タ走査での位置がゆれるようになるため、診断能が低下
するという問題がある。また往復スキャンで超音波ラス
タの軌線が異なるので、それに沿って書込んだ際にデー
タの書込みが行われない空画素が生じてくると、時相の
異なる画像が混在してしまうという問題もある。
本発明は以上のような事情に対処してなされたもので、
空画素を発生することなく曲線の受信ビームに沿ってデ
ータの門込みが行われるようにした超音波診断装置を提
供することを目的とするものである。
空画素を発生することなく曲線の受信ビームに沿ってデ
ータの門込みが行われるようにした超音波診断装置を提
供することを目的とするものである。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
上記目的を達成するために本発明は、バッファ記憶手段
へのデータ格納を画像記憶手段における1画素よりも細
かくサンプリングして格納し、画像記憶手段に書込むべ
きデータのアドレスをビームの始点座標を基にY方向に
常に一定値を累積加算すると共にX方向にその都度異な
る値を累積加算するようにして演算するようにしたもの
である。
へのデータ格納を画像記憶手段における1画素よりも細
かくサンプリングして格納し、画像記憶手段に書込むべ
きデータのアドレスをビームの始点座標を基にY方向に
常に一定値を累積加算すると共にX方向にその都度異な
る値を累積加算するようにして演算するようにしたもの
である。
(作 用)
2次元のフレームメモリに書込むべきデータのアドレス
を、ビームの始点座標を基にY方向に常に一定値をまた
X方向にその都度異なる値を累積加算することにより、
ビームの中心点から曲線の受信ビームに沿ったアドレス
を設定することができるようになる。また細かくサンプ
リングしたデータがバッフ7メモリに格納される。これ
によりフレームメモリに対して曲線の受信ビームに沿っ
て細かい位置精度でデータの書込みを行うことができる
。
を、ビームの始点座標を基にY方向に常に一定値をまた
X方向にその都度異なる値を累積加算することにより、
ビームの中心点から曲線の受信ビームに沿ったアドレス
を設定することができるようになる。また細かくサンプ
リングしたデータがバッフ7メモリに格納される。これ
によりフレームメモリに対して曲線の受信ビームに沿っ
て細かい位置精度でデータの書込みを行うことができる
。
(実施例)
先ず本発明の原理を第2図及び第3図を用いて説明する
。
。
従来は第2図に示す様に画素Pを通るビームBMをほぼ
画素間隔でサンプル点(図示大きな黒丸)を決め、その
データを画素中心部の書込み点(図示白丸)に書込む様
にしていたが、本発明ではサンプル点に更に細かくした
追加サンプル点(図示小さな黒丸)を設け、ビームの出
発点が画素Pの中心位置迄の距離と同一の距離にあるサ
ンプル点のデータを基にフィルタ演算を行い、その結果
によって前記画素の中心(白丸)を埋める様にしている
。この場合のフィルタ演算は次式(1)によって行われ
る。
画素間隔でサンプル点(図示大きな黒丸)を決め、その
データを画素中心部の書込み点(図示白丸)に書込む様
にしていたが、本発明ではサンプル点に更に細かくした
追加サンプル点(図示小さな黒丸)を設け、ビームの出
発点が画素Pの中心位置迄の距離と同一の距離にあるサ
ンプル点のデータを基にフィルタ演算を行い、その結果
によって前記画素の中心(白丸)を埋める様にしている
。この場合のフィルタ演算は次式(1)によって行われ
る。
上記(1)式から明らかな様に、フィルタ演算を決定す
るのはフィルタ関数h(x)の形と、たたみ込みの範囲
Nである。この場合、フィルタ関数は設計法に応じて無
数に変化するものであるから特定されず任意に決めるこ
とができ、また、たたみ込みの範囲Nもスキャン及びハ
ード構成の規模に応じて無限に変化できるものであるか
ら任意に決められる。以上のことを第3図をを参照して
説明する。同図において例えば画素P2 、 P3 、
P4はビームが通らない範囲である。この場合には各
画素の中心点02.03.04のそれぞれビーム発生点
からの距離に対応する円弧L2 、 L3 。
るのはフィルタ関数h(x)の形と、たたみ込みの範囲
Nである。この場合、フィルタ関数は設計法に応じて無
数に変化するものであるから特定されず任意に決めるこ
とができ、また、たたみ込みの範囲Nもスキャン及びハ
ード構成の規模に応じて無限に変化できるものであるか
ら任意に決められる。以上のことを第3図をを参照して
説明する。同図において例えば画素P2 、 P3 、
P4はビームが通らない範囲である。この場合には各
画素の中心点02.03.04のそれぞれビーム発生点
からの距離に対応する円弧L2 、 L3 。
L4を引き、各ラインと交差する隣接ビームBMnとB
Mn−tの交点に位置するサンプル点32゜32’ 、
S3 、S3’ 、34.34’の各組み合わせによる
データを基にフィルタ演算を行い、その結果を各画素の
中心位置02.03.0+に書込むようにしている。同
様にしてビームが通過する画素P1についても同様に同
一円弧L1上のサンプル点31 、 St ’のデータ
を基にして中心位置01に書込む。又、更に外のビーム
例えばBMn−t・・・及びBMn−z・・・のサンプ
ル点データ演算を行ってもよい。
Mn−tの交点に位置するサンプル点32゜32’ 、
S3 、S3’ 、34.34’の各組み合わせによる
データを基にフィルタ演算を行い、その結果を各画素の
中心位置02.03.0+に書込むようにしている。同
様にしてビームが通過する画素P1についても同様に同
一円弧L1上のサンプル点31 、 St ’のデータ
を基にして中心位置01に書込む。又、更に外のビーム
例えばBMn−t・・・及びBMn−z・・・のサンプ
ル点データ演算を行ってもよい。
ここで、上記フィルタ演算の基になるサンプル点の選択
原理について第4図を参照して説明する。
原理について第4図を参照して説明する。
隣接するビームBMnとB M n−1の間隔をLとし
、書込み目的画素をP3とし、その中心位置を03とし
、この03を通る水平線とビームBMnの交点に位置す
るサンプル点Sa迄の距離をxBとし、中心位置03か
らビーム8Mn上に引いた垂線の交点に位置するサンプ
ル点を83とし、ビームの偏向角をθとすると、ビーム
MBn上のサンプル点Soから他のサンプル点S3迄の
距離rBは次式(2)によって求められる。
、書込み目的画素をP3とし、その中心位置を03とし
、この03を通る水平線とビームBMnの交点に位置す
るサンプル点Sa迄の距離をxBとし、中心位置03か
らビーム8Mn上に引いた垂線の交点に位置するサンプ
ル点を83とし、ビームの偏向角をθとすると、ビーム
MBn上のサンプル点Soから他のサンプル点S3迄の
距離rBは次式(2)によって求められる。
rB=Xa ・Sinθ −(2)尚、
サンプル点SoはX方向の累積加算によって求められる
座標であり、図示のrは半径方向の累積加算によって求
められる半径である。
サンプル点SoはX方向の累積加算によって求められる
座標であり、図示のrは半径方向の累積加算によって求
められる半径である。
上記(2)式によって求められたr3に前記rを加える
ことによってサンプル点S3の位置を知ることができる
。
ことによってサンプル点S3の位置を知ることができる
。
同様にして隣接するビームB M n−tのサンプル点
S3’を求め、両者のデータを基にフィルタ演算を行い
、その結果を画素P3の中心03に書込む。
S3’を求め、両者のデータを基にフィルタ演算を行い
、その結果を画素P3の中心03に書込む。
この場合のフィルタ係数は前記XBとLを入力すること
によって書込み点と隣りのビームとの位置関係が分るの
でそれとフィルタ特性を与えることによって決定できる
。これによって、データと係数が出力できるので両者を
基に、たたみ込み演算を行いその出力を対象とする画素
に書込むことができるわけである。
によって書込み点と隣りのビームとの位置関係が分るの
でそれとフィルタ特性を与えることによって決定できる
。これによって、データと係数が出力できるので両者を
基に、たたみ込み演算を行いその出力を対象とする画素
に書込むことができるわけである。
また、本発明では空画素が生じないようにするため、全
画素を埋めるような処理を行っている。
画素を埋めるような処理を行っている。
これを第5図を参照して説明する。ここではn木目のビ
ームBMnとn−1木目のビームBM旧の間の全てを埋
める場合について説明する。
ームBMnとn−1木目のビームBM旧の間の全てを埋
める場合について説明する。
先ず、ベクトル発生部を2系統用意しておき、Y方向は
+1ずつ加算し、X方向はYが1ずつ変化する毎に異な
る成る値を加算することでアドレスを発生する。例えば
Y方向が2ステツプ(1十1)変化する場合、X方向が
△X1 、Δx2の2ステツプ変化するとすると、これ
らΔX1゜ΔX2はΔXx >Δx2又はΔX1くΔx
2の関係に設定される。この点従来においては、これら
X方向の変化分はすべて同一値ΔXに設定されている。
+1ずつ加算し、X方向はYが1ずつ変化する毎に異な
る成る値を加算することでアドレスを発生する。例えば
Y方向が2ステツプ(1十1)変化する場合、X方向が
△X1 、Δx2の2ステツプ変化するとすると、これ
らΔX1゜ΔX2はΔXx >Δx2又はΔX1くΔx
2の関係に設定される。この点従来においては、これら
X方向の変化分はすべて同一値ΔXに設定されている。
YアドレスY、XアドレスXn、Xn−tを演算した後
、Xn −Xn−tの演算を行い字画素数を計算する。
、Xn −Xn−tの演算を行い字画素数を計算する。
そして、(Y、Xn >に書込みを行った後、Xnに+
1し、(Y、Xn+1)に書込みを行う。
1し、(Y、Xn+1)に書込みを行う。
この動作をXn−Xn−を回行った後、新しいアドレス
を Yn 、 m = Yn 、 m−t+1Xn 、m
−X口 2.+ΔXn*m4X rH* m = X
n−t # l11−1+ΔXr)Is If)1(但
し、nはn番目のビームを示し、mは1ずつ増加する値
である。) として発生し、上記の動作を繰り返すことによって第5
図の如くビームで囲まれた範囲の画素1乃至36全てを
埋めることができる。
を Yn 、 m = Yn 、 m−t+1Xn 、m
−X口 2.+ΔXn*m4X rH* m = X
n−t # l11−1+ΔXr)Is If)1(但
し、nはn番目のビームを示し、mは1ずつ増加する値
である。) として発生し、上記の動作を繰り返すことによって第5
図の如くビームで囲まれた範囲の画素1乃至36全てを
埋めることができる。
次に前記原理を実現するための一実施例回路を第1図に
示して説明する。
示して説明する。
この回路は、反射超音波エコー信号をディジタル信号に
変換するA/D変換器(ADC>12と、走査されるビ
ームのディジタルデータをスイッチSW1を介してそれ
ぞれ1ライン毎に格納する複数の高、速バッフ7メモリ
13A乃至13Nを備えた高速バッファメモリ群13と
、各高速バッファメモリからスイッチSW2を介して読
出されるデータにフィルタ演算のための係数を掛ける複
数のフィルタ演算器15A乃至15Nを備えたフィルタ
演算器群15と、各フィルタ演算器15A乃至15Nの
出力を加算する加算器16と、この加算器16の出力を
格納し1フレ一ム分の画像データを作成するフレームメ
モリ14とを有する。このフレームメモリ14へのデー
タ書込み時のアドレスは次に述べる各回路からの信号に
よって選択される。
変換するA/D変換器(ADC>12と、走査されるビ
ームのディジタルデータをスイッチSW1を介してそれ
ぞれ1ライン毎に格納する複数の高、速バッフ7メモリ
13A乃至13Nを備えた高速バッファメモリ群13と
、各高速バッファメモリからスイッチSW2を介して読
出されるデータにフィルタ演算のための係数を掛ける複
数のフィルタ演算器15A乃至15Nを備えたフィルタ
演算器群15と、各フィルタ演算器15A乃至15Nの
出力を加算する加算器16と、この加算器16の出力を
格納し1フレ一ム分の画像データを作成するフレームメ
モリ14とを有する。このフレームメモリ14へのデー
タ書込み時のアドレスは次に述べる各回路からの信号に
よって選択される。
即ち、各回路の基本クロックを発生するクロックジェネ
レータと、このクロックジェネレータ17のクロック信
号CK1を+1ずつカウントしてYアドレス選択信号を
出力するYアドレス用カウンタ18と、同じくクロック
信号CK1を入力し、Yアドレス用カウンタ18の出力
と何番目かのラスターかを入力して、ΔXn 、mを出
力するΔXn 、m発生回路30の出力を累積加算する
Xアドレス(n)用累積加算器19及びクロックジェネ
レータ17からの2つのクロック信号のうち第1のクロ
ック信号CK1をクリア信号として第2のクロック信号
CK2を+1ずつカンウドして+αとなる出力を発生す
るカウンタ22と、このカウンタ22の出力+αと前記
Xアドレス用累積加算器19からの出力ΔXとを加算し
てX方向選択信号を出力する加算器21とによって構成
され、X、Yアドレスが選択されるようになっている。
レータと、このクロックジェネレータ17のクロック信
号CK1を+1ずつカウントしてYアドレス選択信号を
出力するYアドレス用カウンタ18と、同じくクロック
信号CK1を入力し、Yアドレス用カウンタ18の出力
と何番目かのラスターかを入力して、ΔXn 、mを出
力するΔXn 、m発生回路30の出力を累積加算する
Xアドレス(n)用累積加算器19及びクロックジェネ
レータ17からの2つのクロック信号のうち第1のクロ
ック信号CK1をクリア信号として第2のクロック信号
CK2を+1ずつカンウドして+αとなる出力を発生す
るカウンタ22と、このカウンタ22の出力+αと前記
Xアドレス用累積加算器19からの出力ΔXとを加算し
てX方向選択信号を出力する加算器21とによって構成
され、X、Yアドレスが選択されるようになっている。
ここで、ΔXn 、m発生回路30は実際にはROM、
RAMにデータを拡納しておくかビームの方程式からΔ
Xnを発生させる関数を発生する回路等によって構成さ
れる。また、Xアドレス用累積加算器は2系統を有し、
前述のn番目のビーム用のビーム用の累積加算器の他に
、その1本手前n−1番目のビーム用累積加算器20が
あり、これは前記クロック信号CK1とn−1番目のビ
ームの単位選択信号ΔXr)−1との累積加算を行うよ
うになっている。これは次に説明するように前述の第4
図の計算を実現するために設けられたものである。
RAMにデータを拡納しておくかビームの方程式からΔ
Xnを発生させる関数を発生する回路等によって構成さ
れる。また、Xアドレス用累積加算器は2系統を有し、
前述のn番目のビーム用のビーム用の累積加算器の他に
、その1本手前n−1番目のビーム用累積加算器20が
あり、これは前記クロック信号CK1とn−1番目のビ
ームの単位選択信号ΔXr)−1との累積加算を行うよ
うになっている。これは次に説明するように前述の第4
図の計算を実現するために設けられたものである。
即ち、2つのXアドレス累積加算器19.20の出力を
引算する引算器23を設けて第4図に示したような隣接
する2本のビーム8MnとBMn−tに交差する目的画
素P3の中心03を通る線の距離りを求め、この出力り
を後述するフィルタ演算器15のパラメータとして入力
すると共に、次段の比較器24に出力している。比較器
24では前記距1i1tLと前記+1カウンタ22の出
力子αとが比較され、両者が一致したときの出力により
クロックジェネレータ17にクリア信号を出力するよう
になっている。この結果、Xアドレスは距離りを限度と
して順次選択されるが、クリアされると再び基の位置に
戻って次のYアドレス選択信号との関係でアドレス選択
が行われるようになる。また、前記+1カウンタ22か
らの出力子αは前記Xアドレス(n)用累積加算器19
の出力と共に加算器25に導かれ、この加算器25から
前記第4図に示したビームMBnのサンプル点Soから
目的画素P3の中心03迄の距離xBが出力される。こ
の出力XBはビーム偏向角θと共にXY−Rθ変換器2
6に入力され、この変換器26によって第4図における
基準サンプル点Soから目的サンプル点S3迄の距@r
s (sinθ・XB)が算出される。
引算する引算器23を設けて第4図に示したような隣接
する2本のビーム8MnとBMn−tに交差する目的画
素P3の中心03を通る線の距離りを求め、この出力り
を後述するフィルタ演算器15のパラメータとして入力
すると共に、次段の比較器24に出力している。比較器
24では前記距1i1tLと前記+1カウンタ22の出
力子αとが比較され、両者が一致したときの出力により
クロックジェネレータ17にクリア信号を出力するよう
になっている。この結果、Xアドレスは距離りを限度と
して順次選択されるが、クリアされると再び基の位置に
戻って次のYアドレス選択信号との関係でアドレス選択
が行われるようになる。また、前記+1カウンタ22か
らの出力子αは前記Xアドレス(n)用累積加算器19
の出力と共に加算器25に導かれ、この加算器25から
前記第4図に示したビームMBnのサンプル点Soから
目的画素P3の中心03迄の距離xBが出力される。こ
の出力XBはビーム偏向角θと共にXY−Rθ変換器2
6に入力され、この変換器26によって第4図における
基準サンプル点Soから目的サンプル点S3迄の距@r
s (sinθ・XB)が算出される。
高速バッファ13A乃至13Nは次に述べる様な信号に
よってアドレスが選択される。先ず前記クロックジェネ
レータ17からのクロック信号CK1とサンプリング間
隔信号Δrとを累積加算することによって第4図に示し
た半径信号rを出力する高速バッファアドレス選択用累
積加算器27と、この累積加算器27からの出力信号r
と前記XY−Rθ変換器26からの出力信号rBとを加
算する加算器28を備え、この加算器28の出力に基づ
いてサンプル点S3が選択されることになる。尚、サン
プリング間隔Δrは従来の数十分の1の細かさに設定し
である。
よってアドレスが選択される。先ず前記クロックジェネ
レータ17からのクロック信号CK1とサンプリング間
隔信号Δrとを累積加算することによって第4図に示し
た半径信号rを出力する高速バッファアドレス選択用累
積加算器27と、この累積加算器27からの出力信号r
と前記XY−Rθ変換器26からの出力信号rBとを加
算する加算器28を備え、この加算器28の出力に基づ
いてサンプル点S3が選択されることになる。尚、サン
プリング間隔Δrは従来の数十分の1の細かさに設定し
である。
一方、フィルタ演算器15(例えば15N)は前記引算
器23の出力信号り、前記加算器25の出力信号XB、
フィルタ特性を3人力とする係数決定回路15aと、こ
れによって決定されたフィルタ係数と前記スイッチSW
2を介して得られるデータとを乗算する乗算器(たたみ
込み演算部)15bとによって構成され、選択されたサ
ンプル点についてのフィルタ演算が行われるようになっ
ている。
器23の出力信号り、前記加算器25の出力信号XB、
フィルタ特性を3人力とする係数決定回路15aと、こ
れによって決定されたフィルタ係数と前記スイッチSW
2を介して得られるデータとを乗算する乗算器(たたみ
込み演算部)15bとによって構成され、選択されたサ
ンプル点についてのフィルタ演算が行われるようになっ
ている。
以上の如く構成された回路の動作は前記原理説明中に述
べたので、以下その概要動作のみを説明する。
べたので、以下その概要動作のみを説明する。
フレームメモリ(FM>14へデータを書込む際にYア
ドレス用カウンタ18の出力と、Xアドレス用カウンタ
19及び加算器21の出力によりX、Yアドレスを選択
する。このとき、2系統有するXアドレス用累積加算器
19.20の出力の差を引算器23によって求め距離り
内の空画素が全て埋まる迄Xアドレスに順次1を加えて
行く。
ドレス用カウンタ18の出力と、Xアドレス用カウンタ
19及び加算器21の出力によりX、Yアドレスを選択
する。このとき、2系統有するXアドレス用累積加算器
19.20の出力の差を引算器23によって求め距離り
内の空画素が全て埋まる迄Xアドレスに順次1を加えて
行く。
そして、Xアドレスを決定する度に加算器25によって
求めた値xBと角度θに基づいてXY−Rθ変換器26
により値rBを求め、この結果と半径rとを加算器28
によって加算して、加算結果を高速バッファアドレス選
択信号とすることにより目的画素の書込み点と同じ半径
上にあるサンプルデータを周囲の数本(少なくとも2本
)の高速バッファメモリから読出しフィルタ演算を行う
。
求めた値xBと角度θに基づいてXY−Rθ変換器26
により値rBを求め、この結果と半径rとを加算器28
によって加算して、加算結果を高速バッファアドレス選
択信号とすることにより目的画素の書込み点と同じ半径
上にあるサンプルデータを周囲の数本(少なくとも2本
)の高速バッファメモリから読出しフィルタ演算を行う
。
フィルタ係数は前記値XB、Lを入力することによって
目的の書込み点と隣のビームとの位置関係が分るので、
その値とフィルタ特性とを与えることによって決定する
ことができる。このフィルタ係数とデータとを基にたた
み込み演算を行い、演算結果を目的画素の中心点に書込
む。その俊Xアドレスに+1を行い、2本のビームに挟
まれた水平方向の空画素を埋めて行く。距離りだけ繰り
返した復、次に垂直方向下段の空画素を埋める動作に移
行する。以上のようにして2本のビームに囲まれた範囲
の画素を全て埋める。
目的の書込み点と隣のビームとの位置関係が分るので、
その値とフィルタ特性とを与えることによって決定する
ことができる。このフィルタ係数とデータとを基にたた
み込み演算を行い、演算結果を目的画素の中心点に書込
む。その俊Xアドレスに+1を行い、2本のビームに挟
まれた水平方向の空画素を埋めて行く。距離りだけ繰り
返した復、次に垂直方向下段の空画素を埋める動作に移
行する。以上のようにして2本のビームに囲まれた範囲
の画素を全て埋める。
ここで前記ΔXn 、mの与え方によってどのような曲
線のベクタ(ビーム)でも発生可能であり、メカニカル
セクタ超音波診断装置特有の曲線の受信ビームに対処さ
せることができる。
線のベクタ(ビーム)でも発生可能であり、メカニカル
セクタ超音波診断装置特有の曲線の受信ビームに対処さ
せることができる。
[発明の効果]
以上述べたように本発明によれば、バッファメモリに格
納すべきデータをフレームメモリの1画素周期の数分の
1に設定し、またフレームメモリにおけるデータ書込み
アドレスを曲線の受信ビームに沿って設定することがで
きるので、空画素を生じさせることがなくなりまた診断
対象物の形が歪んだり往復セクタ走査での位置のゆれが
小さくなるため診断能を向上することができる。
納すべきデータをフレームメモリの1画素周期の数分の
1に設定し、またフレームメモリにおけるデータ書込み
アドレスを曲線の受信ビームに沿って設定することがで
きるので、空画素を生じさせることがなくなりまた診断
対象物の形が歪んだり往復セクタ走査での位置のゆれが
小さくなるため診断能を向上することができる。
第1図は本発明の一実施例ブロック図、第2図乃至第5
図は本発明の詳細な説明するための説明図、第6図は従
来の超音波診断装置の概要ブロック図、第7図及び第8
図はメカニカルセクタ走査の説明図、第9図はメカニカ
ルセクタ走査の音場特性図、第10図は電子セクタ走査
の説明図である。 1・・・超音波プローブ(WX動子)、BM・・・ビー
ム、12・・・A/D変換器、 13・・・高速バッファメモリ群、 14・・・フレームメモリ、 15・・・フィルタ演算器群、16・・・加算器、17
・・・クロックジェネレータ、 18・・・Yアドレス用カウンタ、 19.20.27・・・アドレス用累積加算器、15a
・・・フィルタ係数決定回路、 15b・・・乗算機、SWt 、5W230・・・ΔX
n 、m発生回路。 ・・・スイッチ、 第 第 図 第 図 第 図
図は本発明の詳細な説明するための説明図、第6図は従
来の超音波診断装置の概要ブロック図、第7図及び第8
図はメカニカルセクタ走査の説明図、第9図はメカニカ
ルセクタ走査の音場特性図、第10図は電子セクタ走査
の説明図である。 1・・・超音波プローブ(WX動子)、BM・・・ビー
ム、12・・・A/D変換器、 13・・・高速バッファメモリ群、 14・・・フレームメモリ、 15・・・フィルタ演算器群、16・・・加算器、17
・・・クロックジェネレータ、 18・・・Yアドレス用カウンタ、 19.20.27・・・アドレス用累積加算器、15a
・・・フィルタ係数決定回路、 15b・・・乗算機、SWt 、5W230・・・ΔX
n 、m発生回路。 ・・・スイッチ、 第 第 図 第 図 第 図
Claims (2)
- (1)放射状に超音波ビームを送受信し、得られた反射
データを高速バッファ記憶手段を介してX、Y方向の2
次元の画像記憶手段に格納し、画像記憶手段に格納され
たデータを画像表示に供する超音波診断装置において、
高速バッファ記憶手段へのデータ格納の際に画像記憶手
段における1画素よりも細かいサンプリングを行つて格
納する手段と、画像記憶手段の格納目的画素近傍の複数
のビームにおける前記目的画素を同一距離にあるサンプ
ル点のデータを基にフィルタ演算を行う手段と、画像記
憶手段におけるビームの始点座標を基にX、Y方向に所
定の値の累積加算を行って書込みアドレスを演算するア
ドレス発生手段と、前記フィルタ演算の結果を前記アド
レスの目的画素内に格納する処理を行い、同様な処理を
繰り返してビーム間に位置する全画素内にデータを格納
する手段とを備えたことを特徴とする超音波診断装置。 - (2)アドレス発生手段がY方向に常に一定値を累積加
算すると共に、X方向にその都度異なる値を累積加算す
る請求項1記載の超音波診断装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63235943A JPH0282960A (ja) | 1988-09-20 | 1988-09-20 | 超音波診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63235943A JPH0282960A (ja) | 1988-09-20 | 1988-09-20 | 超音波診断装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0282960A true JPH0282960A (ja) | 1990-03-23 |
Family
ID=16993525
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63235943A Pending JPH0282960A (ja) | 1988-09-20 | 1988-09-20 | 超音波診断装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0282960A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007132770A (ja) * | 2005-11-10 | 2007-05-31 | Idemitsu Eng Co Ltd | 板状部材検査方法、および、板状部材検査装置 |
-
1988
- 1988-09-20 JP JP63235943A patent/JPH0282960A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007132770A (ja) * | 2005-11-10 | 2007-05-31 | Idemitsu Eng Co Ltd | 板状部材検査方法、および、板状部材検査装置 |
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